JP2012501557A - 多層金属薄膜製造方法及びその製造装置 - Google Patents

多層金属薄膜製造方法及びその製造装置 Download PDF

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Abstract

別途の熱処理工程を省略することができる多層金属薄膜製造方法及びその製造装置を提供する。多層金属薄膜製造方法は、(a)第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を形成する工程と、(b)第2反応容器に第2金属前駆体を流入して、前記第1金属膜上に第2金属膜を形成する工程とを含み、前記(b)工程は、前記第1金属膜が熱処理されながら前記第2金属膜が形成されるように、前記第1金属膜の熱処理温度の範囲内でなされる。

Description

本発明は、半導体製造工程で多層金属薄膜の製造に関するものであり、より詳細には、別途の熱処理工程を省略することができる多層金属薄膜製造方法及びその製造装置に関するものである。
多層金属薄膜の代表的な例で、コバルト/チタン/窒化チタン(Co/Ti/TiN)を挙げることができる。Co/Ti/TiNは金属酸化物半導体(MOS)素子が数十nm以下のスケールに微細化されながらソース/ドレイン領域とゲート間の接触抵抗を低めるためにたくさん利用されている。この時、コバルト膜(Co)、チタン(Ti)、チタン窒化膜(TiN)は一般的にそれぞれ異なる反応容器で形成されて、コバルト膜(Co)の蒸着後には接触抵抗を低めるために、熱処理またはプラズマ処理を実施してコバルト膜内に含まれた炭素を除去する。
図1は、従来のCo/Ti/TiNを製造する方法の例を示したものである。図2は、図1のCo/Ti/TiNを製造することができる装置200の例を示したものである。
図1及び図2を参照すれば、従来は第1反応容器210で、CVD方法でシリコン基板上にコバルト(Co)を蒸着して、コバルト膜を形成して(S110)、第2反応容器220で熱処理またはプラズマ処理を実施してコバルト膜の抵抗を低くする(S120)。以後、第3反応容器230でチタン(Ti)を蒸着してチタン膜を形成して(S130)、第4反応容器240でチタン窒化膜(TiN)を形成する(S140)。
しかし、前記のような方法は、第1反応容器210で、CVD方法でコバルト膜を形成した後、必要な熱処理またはプラズマ処理のための別途の第2反応容器220が必要である。また、熱処理またはプラズマ処理後に別途の第3反応容器230でウェハーを移送する時に空気中の露出による自然酸化膜の生成によって接触抵抗増加の原因になる。また、Co/Ti/TiNを形成するために4個の反応容器が必要である。これによって、Co/Ti/TiNの生産性が落ちる問題点がある。
このような問題点を解決するために、最近には第2反応容器220でなされる熱処理またはプラズマ処理と第3反応容器230でなされるチタン膜の形成が一つの反応容器でなされている。特に、一つの反応容器でコバルト膜の熱処理などをした後、チタン膜を形成する。しかし、このような方法はコバルト膜の熱処理とチタン膜の形成が別に進行されるので、Co/Ti/TiNを形成するのに相変らず長い時間が必要となる問題点がある。
本発明は、上部金属膜の蒸着温度を下部金属膜の熱処理温度の範囲内に設定して、下部金属膜の別途の熱処理過程を省略することができる多層金属薄膜製造方法及びその製造装置を提供する。
本発明の一実施例は、(a)第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を形成する工程、及び(b)第2反応容器に第2金属前駆体を流入して、前記第1金属膜上に第2金属膜を形成する工程を具備して、前記(b)工程は前記第1金属膜が熱処理されながら前記第2金属膜が形成されるように、前記第1金属膜の熱処理温度の範囲内でなされることを特徴とする。
また、本発明の他の一実施例は、(a)第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を蒸着する工程、及び(b)第2反応容器に第2金属前駆体及び窒素前駆体を流入して、前記第1金属膜上に窒素割合が5%〜35%である第2金属窒化膜及び第2金属割合が5%〜35%である第2金属窒化膜を順次形成する工程を具備して、前記(b)工程は前記第1金属膜が熱処理されながら前記第2金属窒化膜が形成されるように、前記第1金属膜の熱処理温度範囲でなされることを特徴とする。
本発明の一実施例は、複数の反応容器を含む多層金属薄膜製造装置を提供する。2個の反応容器では基板上にコバルト膜の形成がそれぞれなされて、他の2個の反応容器では前記コバルト膜上にチタン膜の形成が、前記コバルト膜の熱処理温度範囲でそれぞれなされる。
本発明の他の一実施例は、複数の反応容器を含む多層金属薄膜製造装置を提供する。2個の反応容器では基板上にコバルト膜の形成がそれぞれなされて、前記複数の反応容器のうちの他の2個の反応容器では前記コバルト膜上に窒素割合が5%〜35%であるチタン窒化膜(TiN)、及びチタン割合が5%〜35%であるチタン窒化膜の形成が順次前記コバルト膜の熱処理温度範囲でそれぞれなされる。
本発明の他の一実施例は、複数の反応容器を含む多層金属薄膜製造装置を提供する。2個の反応容器では基板上にコバルト膜の形成がそれぞれなされて、前記複数の反応容器のうちで他の一つの反応容器では、前記コバルト膜上にチタン膜の形成が前記コバルト膜の熱処理温度範囲でなされて、前記複数の反応容器のうちでまた他の一つの反応容器では前記チタン膜上にチタン窒化膜の形成がなされる。
本発明による多層金属薄膜製造方法及びその製造装置は、上部金属膜の蒸着温度を下部金属膜の熱処理温度領域で進行して、下部金属膜の別途の熱処理過程を省略することができるので、多層金属薄膜製造の効率を高めることができる。
また、本発明による多層金属薄膜製造方法及びその製造装置は、多層金属薄膜の蒸着工程進行に必要な反応容器の数を減らすことができるので、多層金属薄膜製造の生産性を高めることができる。
従来のコバルト/チタン/窒化チタン(Co/Ti/TiN)を製造する方法の例を示したものである。 図1のCo/Ti/TiNを製造することができる半導体製造装置の例を示したものである。 本発明による多層金属薄膜製造方法の一実施例を示したものである。 本発明による多層金属薄膜製造方法の他の一実施例を示したものである。 本発明による多層金属薄膜製造装置の一実施例を示したものである。 本発明による多層金属薄膜製造装置の一実施例を示したものである。 本発明による多層金属薄膜製造装置の一実施例を示したものである。
以下では、本発明の具体的な実施例を、図面を参照して詳しく説明するようにする。
図3は、本発明による多層金属薄膜製造方法の一実施例を示したものである。
図3に示された多層金属薄膜製造方法300は、第1金属膜形成工程(S310)、第2金属膜形成工程(S320)を具備してなされる。
第1金属膜形成工程(S310)では、第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を形成する。第2金属膜形成工程(S320)では、第2反応容器に第2金属前駆体を流入して、第1金属膜上に第2金属膜を形成する。
この時、第2金属膜形成工程(S320)は、第1金属膜の熱処理温度範囲でなされる。これは第1金属膜が熱処理されながら第2金属膜が形成されるようにするためである。第1金属膜の抵抗を低くするために従来には別途の熱処理またはプラズマ処理を行った。しかし、本発明では第2金属膜を第1金属膜の熱処理温度範囲で形成することで、第2金属膜の形成と第1金属膜の熱処理を同時に進行することができる。よって、第1金属膜の別途の熱処理時間を減らすことができるので、全体的に多層金属薄膜の製造時間を減らすことができる。
第2金属膜の形成以後、第2金属膜の表面処理のために第2金属膜の表面を窒化するか(S330−1)、または第2金属膜上に第2金属窒化膜をさらに形成(S330−2)することができる。
第2金属膜の表面を窒化(S330−1)する方法は、第2金属膜が形成される第2反応容器にNHとNのような窒素成分を含むガスをAr、Hなどと共に流入することでなされることができる。一例で、第2反応容器に1SLM(Standard Liters per Minute)以上のAr、1SLM以上のNH、4SLM以上のH及び1SLM以下のNを流入して、反応容器内部に1000W以上のパワーを印加して、反応容器内部を1torr以上の圧力で維持してチタン膜の表面を窒化することができる。
第2金属膜上に第2金属窒化膜をさらに形成(S330−2)する方法は、第2反応容器または別途の第3反応容器に第2金属前駆体及び窒素前駆体を流入して第2金属窒化物を蒸着することでなされることができる。この過程は、熱蒸着(Thermal Deposition)方式によってなされるので、第2反応容器よりは別途の第3反応容器でなされることが望ましい。
仮に、製造しようとする多層金属薄膜がコバルト/チタン/窒化チタン(Co/Ti/TiN)なら、図3に示された製造方法300にしたがって次のような過程でCo/Ti/TiNを製造することができる。
先ず、第1金属膜形成工程(S310)では、第1反応容器にコバルト(Co)前駆体を流入して、おおよそ100℃〜200℃の低温で基板上にコバルト膜を形成する。第2金属膜形成工程(S320)では第2反応容器にチタン(Ti)前駆体を流入して、コバルト膜上にチタン膜を形成する。この時、コバルト膜の熱処理温度は、おおよそ500℃程度であるので、第2反応容器でチタン膜の形成温度をおおよそ450℃〜550℃にすれば、コバルト膜の熱処理と同時にコバルト膜上にチタン膜を形成することができる。
以後、チタン膜の表面を窒化するか、またはチタン窒化膜(TiN)をさらに形成すれば、Co/Ti/TiNが製造される。よって、コバルト膜の別途の熱処理工程を略しても所望のCo/Ti/TiNを得ることができるので、別途のコバルト膜の熱処理工程に必要となる時間及び費用を減らすことができる。
図4は、本発明による多層金属薄膜製造方法の他の一実施例を示したものである。
図4に示された多層金属薄膜製造方法400は、第1金属膜形成工程(S410)及び第2金属窒化膜形成工程(S420)を具備してなされる。
第1金属膜形成工程(S410)では、第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を蒸着する。第2金属窒化膜形成工程(S420)では、第2反応容器に第2金属前駆体及び窒素前駆体を流入して、第1金属膜上に窒素割合が5%〜35%(以下、第2金属リッチと称する)である第2金属窒化膜及び第2金属割合が5%〜35%(以下、Nリッチと称する)である第2金属窒化膜を順次に形成する。この時、第2金属窒化膜形成工程(S420)は、第1金属膜が熱処理されながら第2金属窒化膜らが形成されるように、第1金属膜の熱処理温度範囲でなされる。
第2金属窒化膜形成工程(S420)で先に蒸着される第2金属リッチである第2金属窒化膜は第2金属膜の組成に近くするために窒素の割合を相対的に低くしたものである。このような方法は、第2反応容器で第2金属膜を形成して、別に窒化させる方法や、第2金属窒化膜を形成する方法に比べて第2反応容器内に流入される前駆体の流量を調節することで工程時間をさらに縮めることができる長所がある。
仮に、製造しようとする多層金属薄膜がCo/Ti/TiNなら、図4に示された製造方法400にしたがって次のような過程でCo/Ti/TiNを製造することができる。
第1金属膜形成工程(S410)では第1反応容器にコバルト前駆体を流入して、100℃〜200℃で基板上にコバルト膜を蒸着する。第2金属窒化膜形成工程(S420)ではコバルト膜の熱処理温度範囲に該当するおおよそ450℃〜550℃で第2反応容器にチタン前駆体及び窒素前駆体を流入して、コバルト膜上にチタン膜の組成に近接したTiリッチであるチタン窒化膜及びNリッチであるチタン窒化膜を順次に形成する。
図3に示された多層金属薄膜製造方法300で、第2反応容器で第2金属膜が形成されるうちに(S320)、第2反応容器にプラズマが印加されて、第2金属膜が形成されながら第1金属膜の熱処理がなされること以外に、追加的に第1金属膜のプラズマ処理がさらになされることができる。同じく、図4に示された多層金属薄膜製造方法400で、第2反応容器に第2金属窒化膜が順次形成されるうちに(S420)、プラズマが印加されることができる。この時、プラズマはH、NHのような水素(H)を含むガスを基盤にするプラズマであることができる。プラズマが印加される場合、第2金属膜または第2金属窒化膜が形成されながら下部の第1金属膜の熱処理がなされること以外に、追加的に第1金属膜のプラズマ処理がさらになされることで第1金属膜の抵抗を低くする効率を高めることができる。
図5は、本発明による多層金属薄膜製造装置の一実施例を示したものであり、具体的には、図3に記載した多層金属薄膜製造方法300、400を利用して、Co/Ti/TiNを製造することができる装置を示したものである。
図5に示されたCo/Ti/TiN製造装置500を参照すれば、複数の反応容器510〜540のうち、2個の反応容器510、520をコバルト膜形成(図3のS310)のための用途で、他の2個の反応容器530、540をチタン膜形成(図3のS320)のための用途で利用することができる。また、他の2個の反応容器530、540はチタン膜形成後、チタン膜表面の窒化(図3のS330−1)のための用途にも利用することができる。
図5に示されたCo/Ti/TiN製造装置500を利用すれば、EFEM(Equipment Front End Module)から2枚のウェハーがロードロック(Load lock)チャンバに具備されるウェハー移送用ロボットを通じてコバルト膜形成のための2個の反応容器510、520に移送される。コバルト膜が形成された2個のウェハーは、ウェハー移送用ロボットを通じてコバルト膜熱処理と同時にチタン膜形成のための他の2個の反応容器530、540に移送されて、EFEMから他の2枚のウェハーがコバルト膜形成のための2個の反応容器510、520に移送される。
したがって、図2に示された多層金属薄膜製造装置200を利用した時には4個の反応容器を順次経てCo/Ti/TiNを製造することができるが、図5に示された多層金属薄膜製造装置500を利用した時は2個の反応容器のみを経ってCo/Ti/TiNを製造することができるので、Co/Ti/TiNの製造効率をずっと高めることができる。
また、2個の反応容器510、520でコバルト膜が形成された後、真空状態で直接、チタン膜などの形成のための他の2個の反応容器530、540にウェハーが移送されるので、空気中にコバルト膜が露出しない。よって、自然酸化膜の形成などによるコバルト膜の比抵抗増加を阻むことができるので、良質のCo/Ti/TiNを製造することができる。
図6及び図7は、本発明による多層金属薄膜製造装置の一実施例を示したものであり、具体的には図3及び図4に記載した多層金属薄膜製造方法300、400を利用して、Co/Ti/TiNを製造することができる装置を示したものである。
図6に示されたCo/Ti/TiN製造装置600を参照すれば、複数の反応容器610〜640のうち2個の反応容器610、620をコバルト膜形成(図3のS310)のための用途で、他の一つの反応容器630をチタン膜形成(図3のS320)のための用途で、また他の一つの反応容器640をチタン窒化膜形成(図3のS330−2)のための用途で利用することができる。また、図7に示されたCo/Ti/TiN製造装置700を参照すれば、複数の反応容器710〜740のうち2個の反応容器710、720をコバルト膜形成(図4のS410)のための用途で、他の2個の反応容器730、740をチタン窒化膜形成(図4のS420)のための用途で利用することができる。
図5及び図6に示されたCo/Ti/TiN製造装置500、600で、チタン膜が形成される反応容器ら530、540、630には、チタン膜が形成されるうちにコバルト膜の接触抵抗を低くする効果を高めるためにプラズマが印加されて、チタン膜が形成されながらコバルト膜の熱処理がなされること以外に追加的にコバルト膜のプラズマ処理がさらになされることができる。同じく、図7に示されたCo/Ti/TiN製造装置700で、チタン窒化膜が形成される反応容器730、740にチタン窒化膜が順次形成されるうちにプラズマが印加されることができる。この時、プラズマはH、NHのような水素を含むガスを基盤にするプラズマであることができる。
以上では本発明に対する技術思想を添付図面とともに述べたが、これは本発明の望ましい実施例を例示的に説明したものであって、本発明を限定するものではない。また、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者なら誰でも本発明の技術的思想の範疇を離脱しない範囲内で多様な変形及び模倣が可能であることは明白な事実である。

Claims (9)

  1. (a)第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を形成する工程と、
    (b)第2反応容器に第2金属前駆体を流入して、前記第1金属膜上に第2金属膜を形成する工程と、を含み、
    前記(b)工程は、前記第1金属膜が熱処理されながら前記第2金属膜が形成されるように、前記第1金属膜の熱処理温度の範囲内でなされることを特徴とする多層金属薄膜製造方法。
  2. (c)前記第2反応容器で前記第2金属膜の表面を窒化する工程を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の多層金属薄膜製造方法。
  3. (c)第3反応容器に前記第2金属前駆体及び窒素前駆体を流入して、前記第2金属膜上に第2金属窒化膜を形成する工程を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の多層金属薄膜製造方法。
  4. 前記第1金属膜はコバルト膜であり、
    前記第2金属膜はチタン膜であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一つに記載の多層金属薄膜製造方法。
  5. (a)第1反応容器に第1金属前駆体を流入して、基板上に第1金属膜を蒸着する工程と、
    (b)第2反応容器に第2金属前駆体及び窒素前駆体を流入して、前記第1金属膜上に窒素割合が5%〜35%である第2金属窒化膜及び第2金属割合が5%〜35%である第2金属窒化膜を順次形成する工程と、を含み、
    前記(b)工程は、前記第1金属膜が熱処理されながら前記第2金属窒化膜が形成されるように、前記第1金属膜の熱処理温度の範囲内でなされることを特徴とする多層金属薄膜製造方法。
  6. 前記第1金属膜はコバルト膜であり、
    前記第2金属窒化膜はチタン窒化膜であることを特徴とする請求項5に記載の多層金属薄膜製造方法。
  7. 前記(b)工程で、前記第2反応容器内にプラズマを印加して、前記第1金属膜のプラズマ処理がさらになされることを特徴とする請求項1、2、3又は5のいずれか一つに記載の多層金属薄膜製造方法。
  8. 前記プラズマは、水素を含むガスを基盤とするプラズマであることを特徴とする請求項7に記載の多層金属薄膜製造方法。
  9. 前記水素を含むガスは、HまたはNHであることを特徴とする請求項8に記載の多層金属薄膜製造方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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US10094023B2 (en) 2014-08-01 2018-10-09 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for chemical vapor deposition of a cobalt layer

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07254574A (ja) * 1994-03-16 1995-10-03 Sony Corp 電極形成方法
JP2005504885A (ja) * 2001-07-25 2005-02-17 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 新規なスパッタ堆積方法を使用したバリア形成

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6258707B1 (en) * 1999-01-07 2001-07-10 International Business Machines Corporation Triple damascence tungsten-copper interconnect structure
US6656831B1 (en) * 2000-01-26 2003-12-02 Applied Materials, Inc. Plasma-enhanced chemical vapor deposition of a metal nitride layer
US20030029715A1 (en) * 2001-07-25 2003-02-13 Applied Materials, Inc. An Apparatus For Annealing Substrates In Physical Vapor Deposition Systems
US6720717B2 (en) 2001-09-25 2004-04-13 Matsushita Electric Works, Ltd. Field emission-type electron source
KR100555541B1 (ko) * 2003-12-23 2006-03-03 삼성전자주식회사 코발트 실리사이드막 형성방법 및 그 형성방법을 이용한반도체 장치의 제조방법
KR20060032919A (ko) * 2004-10-13 2006-04-18 삼성전자주식회사 플라즈마를 사용하여 반도체 소자의 오오믹층 및 장벽금속막을 형성하는 화학기상증착 방법
US8721846B2 (en) 2004-11-30 2014-05-13 Tokyo Electron Limited Method of forming film, film forming apparatus and storage medium
KR101334221B1 (ko) 2007-09-03 2013-11-29 주식회사 원익아이피에스 다층금속박막 제조 방법 및 장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07254574A (ja) * 1994-03-16 1995-10-03 Sony Corp 電極形成方法
JP2005504885A (ja) * 2001-07-25 2005-02-17 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 新規なスパッタ堆積方法を使用したバリア形成

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