JP2012225695A

JP2012225695A - 試験装置及び試験方法

Info

Publication number: JP2012225695A
Application number: JP2011091648A
Authority: JP
Inventors: Norihito Hama; 憲仁濱
Original assignee: Fujitsu Telecom Networks Ltd
Current assignee: Fujitsu Telecom Networks Ltd
Priority date: 2011-04-18
Filing date: 2011-04-18
Publication date: 2012-11-15
Anticipated expiration: 2031-04-18
Also published as: JP5627533B2

Abstract

【課題】ＩＣ，ＬＳＩやそれらを含む装置等を試験対象部として試験を行う試験装置及び試験方法に関する。
【解決手段】測定制御部３により制御されるＰＲＢＳ発生部１と、このＰＲＢＳ発生部１からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部４に入力し、この試験対象部４から出力されたＰＲＢＳ信号の正常性を検査するＰＲＢＳ検出部２とを備え、ＰＲＢＳ発生部１は、ＰＲＢＳパターン信号にＰＲＢＳパターンのヘッダーを付加した試験信号を出力して前記試験対象部４に入力する構成を有し、ＰＲＢＳ検出部２は、試験対象部４から出力された試験信号のヘッダーを検出し、このヘッダーのパターンに従ったＰＲＢＳ比較パターンを発生して、試験対象部４から出力されたＰＲＢＳパターンの試験信号と照合する構成及び処理過程を有する。
【選択図】図１

Description

本発明は、各種の回路や装置を試験対象部として試験を行う為の試験装置及び試験方法に関する。

各種構成の半導体集積回路（ＩＣ）や大規模半導体集積回路（ＬＳＩ）、又はそれらの回路を搭載した通信装置等の各種装置を試験対象部とし、この試験対象部に対して試験パターン発生部からの試験パターンを入力し、試験対象部からの出力信号を検査することにより、試験対象部の主信号疎通試験を行う手段は、既に、各種の構成や方法が提案されている。例えば、擬似ランダムパターン信号（ＰＲＢＳ；ＰｓｅｕｄｏＲａｎｄｏｍＢｉｔＳｅｑｕｅｎｃｅ）を試験信号として試験対象部に入力し、その試験対象部の出力信号を検出し、誤りの有無を検査して試験対象部の主信号疎通の正常性試験を行う手段が適用されている。

その場合の試験信号として使用される前述のＰＲＢＳ信号は、例えば、ＣＣＩＴＴ勧告による生成多項式Ｘ^１５＋Ｘ＋１に従って発生させた擬似ランダムパターンを適用することができる。この試験信号をＬＳＩ等の試験対象部に入力し、この試験対象部からの出力信号に位相同期させて、入力試験信号と同一パターンの信号を比較信号として発生させ、この比較信号と出力信号とを比較して、比較一致により試験対象部は正常に動作するものと判定する。その場合の試験対象部からの出力信号に位相同期したＰＲＢＳ信号を発生させて、そのＰＲＢＳ信号と試験対象部からの出力信号とを比較する手段が知られている。その場合、ＰＲＢＳ信号出力用の複数のフリップフロップに対して、被試験データとしてのＰＲＢＳ信号をシフトレジスタ構成の複数のフリップフロップにより順次シフトしてセットし、そのシフトレジスタ構成の各フリップフロップの出力信号を、ＰＲＢＳ信号出力用の複数のフリップフロップに並列的に一斉にセットして、ＰＲＢＳ信号を出力させることにより、逐次比較による構成に対して時間短縮を図る手段が提案されている（例えば、特許文献１参照）。

特開平７−３０５３０号公報

ＰＲＢＳ信号を試験信号としてＬＳＩ等の試験対象部に入力し、その試験対象部の出力信号と入力ＰＲＢＳ信号とを照合し、照合一致検出により、ＬＳＩ等の試験対象部の主信号疎通正常性を確認する場合、試験対象部の内部構成が大規模となるに伴って、試験に要する時間が長くなる問題がある。又ＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部に入力し、その試験対象部の出力信号位相を、パターン比較を行う為のＰＲＢＳ信号位相と一致させ、即ち、位相同期状態として、試験対象部に入力する試験信号のＰＲＢＳ信号と、試験対象部からの出力信号のＰＲＢＳ信号との照合を行うことにより、試験対象部の疎通試験を行う構成は、前述の先行技術文献に開示されており、シフトレジスタを構成する各フリップフロップから試験信号発生部の各フリップフロップに対して一斉にセットすることによって、試験過程の迅速化を図るものである。しかし、シフトレジスタを構成する各フリップフロップのセット出力信号の“１”，“０”が正しい試験信号パターンである保証がない問題がある。即ち、試験対象部からの出力試験データに対して、照合用試験データのパターンの正常性が保証されていないので、試験結果の信頼性が充分でない問題がある。

本発明は、前述の従来の問題点を解決することを目的とし、試験対象部に対する疎通試験等の試験を正確且つ迅速に実行可能とするものである。

本発明の試験装置は、測定制御部により制御されるＰＲＢＳ発生部と、該ＰＲＢＳ発生部からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部に入力し、該試験対象部から出力されたＰＲＢＳ信号の正常性を検査するＰＲＢＳ検出部とを備え、前記ＰＲＢＳ発生部は、ＰＲＢＳパターン信号にＰＲＢＳパターンのヘッダーを付加した試験信号を前記試験対象部に入力する構成を有し、前記ＰＲＢＳ検出部は、前記試験対象部から出力された前記試験信号の前記ヘッダーを検出し、該ヘッダーのパターンによるＰＲＢＳ比較パターンを発生して、前記試験対象部から出力された前記試験信号と照合する構成を有する。

又前記ＰＲＢＳ発生部は、ＰＲＢＳパターン生成部と、該ＰＲＢＳパターン生成部を構成する各フリップフロップの出力信号をヘッダー制御イネーブル信号のタイミングにヘッダーとするヘッダー生成部と、前記ＰＲＢＳパターン生成部からのＰＲＢＳパターン信号に前記ヘッダー生成部からのヘッダーを付加して、前記試験対象部に入力する試験信号とするヘッダー付加部とを備えている。

又前記ＰＲＢＳ検出部は、前記試験対象部から出力されたＰＲＢＳパターン信号を入力して前記ヘッダーを検出するヘッダー検出部と、該ヘッダー検出部により検出した前記ヘッダーのＰＲＢＳパターンを並列的に設定する複数のフリップフロップ構成のＰＲＢＳ比較パターン生成部と、該ＰＲＢＳ比較パターン生成部からのＰＲＢＳ比較パターンと前記ヘッダー検出部を介した前記ＰＲＢＳパターン信号とを比較する比較部と、該比較部による比較不一致をエラーとしてカウントするエラーカウンタとを備えている。

本発明の試験方法は、測定制御部により制御されるＰＲＢＳ発生部からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部に入力し、該試験対象部から出力されるＰＲＢＳ信号の正常性をＰＲＢＳ検出部により検査する試験方法であって、前記ＰＲＢＳ発生部のＰＲＢＳパターン生成部からのＰＲＢＳパターンをヘッダーとして、該ＰＲＢＳ発生部からのＰＲＢＳパターンの先頭に付加して前記試験対象部に入力し、該試験対象部から出力された前記ＰＲＢＳパターンのヘッダーを検出して、該ヘッダーのＰＲＢＳパターンに従ったＰＲＢＳ比較パターンを発生させて、前記試験対象部から出力された前記試験信号と照合する処理過程を含むものである。

ＰＲＢＳパターン信号をヘッダーとして付加した試験信号をＬＳＩ等の試験対象部に入力し、この試験対象部から出力された試験信号のヘッダーを検出して、そのヘッダーのＰＲＢＳパターンを比較パターンとして発生させ、試験対象部から出力された試験信号と照合を行うことにより、ＰＲＢＳ発生部からの試験信号位相に同期し、且つ試験信号パターンと同一のＰＲＢＳ比較パターンを直ちに発生させて試験を行うことができる。従って、試験対象部に対して、迅速且つ正確な試験が可能となる利点がある。

本発明の実施例の試験装置の説明図である。本発明の実施例のＰＲＢＳ発生部の機能ブロック図である。本発明の実施例のＰＲＢＳ検出部の機能ブロック図である。本発明の実施例のＰＲＢＳ発生部の動作説明フローチャートを示す。本発明の実施例のＰＲＢＳ検出部の動作説明フローチャートを示す。

本発明の試験装置は、図１を参照すると、測定制御部３により制御されるＰＲＢＳ発生部１と、該ＰＲＢＳ発生部１からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部４に入力し、この試験対象部４から出力されたＰＲＢＳ信号の正常性を検査するＰＲＢＳ検出部２とを備え、前記ＰＲＢＳ発生部１は、ＰＲＢＳパターン信号にＰＲＢＳパターンのヘッダーを付加した試験信号を前記試験対象部４に入力する構成を有し、前記ＰＲＢＳ検出部２は、前記試験対象部４から出力された前記試験信号の前記ヘッダーを検出し、該ヘッダーのパターンによるＰＲＢＳ比較パターンを発生して、前記試験対象部４から出力された前記試験信号と照合する構成を有する。

本発明の試験方法は、図１を参照して説明すると、測定制御部３により制御されるＰＲＢＳ発生部１からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部４に入力し、この試験対象部４から出力されるＰＲＢＳ信号の正常性をＰＲＢＳ検出部２により検査する試験方法であって、前記ＰＲＢＳ発生部１のＰＲＢＳパターン生成部からのＰＲＢＳパターンをヘッダーとして、該ＰＲＢＳ発生部１からのＰＲＢＳパターンの先頭に付加して前記試験対象部４に入力し、該試験対象部４から出力された前記ＰＲＢＳパターンのヘッダーを検出して、該ＰＲＢＳパターンに従ったＰＲＢＳ比較パターンを発生させて、前記試験対象部４から出力された前記試験信号と照合する処理過程を含むものである。

図１は、本発明の実施例の試験装置の説明図であり、１は擬似ランダム（ＰＲＢＳ；ＰｓｅｕｄｏＲａｎｄｏｍｂｉｔＳｅｑｕｅｎｃｅ）信号を発生するＰＲＢＳ発生部、２はＰＲＢＳ検出部、３は測定制御部、４はＬＳＩや各種装置等の試験対象部を示す。試験対象部４は、前述のように、半導体集積回路やこれらを含む装置等であり、ＰＲＢＳ発生部１とＰＲＢＳ検出部２との間に試験対象部４を接続する。測定制御部３は、ＰＲＢＳ発生部１を制御してＰＲＢＳ信号を発生させ、そのＰＲＢＳ信号にヘッダー部を付加した試験信号を試験対象部４に入力し、その試験対象部４の出力信号をＰＲＢＳ検出部２に入力する。ＰＲＢＳ検出部２は、試験対象部４の出力ＰＲＢＳ信号に付加したヘッダー部を検出して、試験信号に位相同期したＰＲＢＳ信号を発生し、試験対象部４の出力ＰＲＢＳ信号と照合し、試験対象部４の正常性の試験を行う。その場合、ヘッダー部は、ＰＲＢＳ信号により形成されている。

図２は、本発明の実施例のＰＲＢＳ発生部の説明図であり、１１はレジスタ、１２はヘッダー制御イネーブル生成部、１３はヘッダー付加部、１４はヘッダー生成部、１５はＰＲＢＳパターン生成部を示す。ＰＲＢＳ発生部１のレジスタ１１に対するパラメータ設定は、例えば、測定制御部３（図１参照）から行い、それによってヘッダー制御イネーブル生成部１２とヘッダー付加部１３とにＰＲＢＳイネーブル信号を入力する。それによって、ヘッダー制御イネーブル生成部１２は、ヘッダー生成部１４にヘッダー制御イネーブル信号を入力する。ＰＲＢＳパターン生成部１５は、例えば、前述の生成多項式Ｘ^１５＋Ｘ＋１に従ったＰＲＢＳパターンを出力する複数のフリップフロップＦＦと排他的オア回路とを含む構成を備えており、排他的オア回路からの出力信号をＰＲＢＳパターンとしてヘッダー付加部１３に入力し、且つ各フリップフロップＦＦの出力信号をヘッダー生成部１４へ入力して試験信号のＰＲＢＳパターンのヘッダーとする。それにより、ヘッダー付加部１３は、ＰＲＢＳパターンの先頭にヘッダーを付加して出力し、試験対象部４（図１参照）に入力する。

図３は、本発明の実施例のＰＲＢＳ検出部の説明図であり、２１はヘッダー検出部、２２は比較部、２３はＰＲＢＳ比較パターン生成部、２４はエラーカウンタを示す。ＰＲＢＳ比較パターン生成部２３は、ＰＲＢＳ発生部１（図２参照）のＰＲＢＳパターン生成部１５と同様な構成を有し、又ＰＲＢＳ検出部２のヘッダー検出部２１には、試験対象部４（図１参照）から出力されたＰＲＢＳパターンとヘッダーと、測定制御部３（図１参照）からのヘッダー制御イネーブル信号とが入力される。ヘッダー検出部２１は、ＰＲＢＳパターンの先頭に付加されたヘッダーを検出し、ＰＲＢＳ比較パターン生成部２３の各フリップフロップＦＦにヘッダー内容をセットする。それによって、ＰＲＢＳ比較パターン生成部２３により生成されたＰＲＢＳ比較パターンが比較部２２に入力される。この比較部２２による比較不一致のビットをエラーカウンタ２４によりカウントして、エラーレートを求めることができる。この場合、ヘッダー検出部２１により検出したヘッダー内容が、ＰＲＢＳパターンであって、そのＰＲＢＳパターンがＰＲＢＳ比較パターン生成部２３に設定されるから、エラーを含まないＰＲＢＳ比較パターンを即座に発生することが可能となる。更に、比較部２２によるＰＲＢＳパターンの比較結果の信頼性が高いものとなる。

図４は、本発明の実施例のＰＲＢＳ発生部の動作説明フローチャートであり、図１及び図２を参照すると、ＰＲＢＳ発生部１は、測定制御部３からのヘッダー制御イネーブル信号の受信により（Ａ１）、レジスタ値を取得してヘッダー生成処理を行い、既定パターン（ＰＲＢＳパターン）の前にヘッダーを付加し、そのヘッダーとＰＲＢＳパターンとを送信、即ち、試験対象部４に入力する（Ａ２）。又測定制御部３からヘッダー制御イネーブルを受信していない場合は、自走生成パターンを送出する（Ａ３）。この自走生成パターンは、任意パターンとすることができる。

図５は、本発明の実施例のＰＲＢＳ検出部の動作説明フローチャートであり、図１及び図３を参照すると、ＰＲＢＳ検出部２のヘッダー検出部２１によりヘッダー受信検出か否かを判定し（Ｂ１）、ヘッダー受信判定の場合は、そのヘッダー情報をレジスタにロード（Ｂ２）、即ち、ヘッダー抽出部２１から、抽出したヘッダー情報をＰＲＢＳ比較パターン生成部２３の各フリップフロップＦＦに設定する。そして、ＰＲＢＳパターンとＰＲＢＳ比較パターンとの比較結果が一致するか否かを判定し（Ｂ３）、一致した場合、正常なヘッダー受信の場合であるから、比較部２２に於ける比較結果をエラーカウンタ２４に入力し、エラー検出時は、エラーカウントを行う（Ｂ４）。又ステップ（Ｂ１）に於けるヘッダー未受信判定の場合、エラーカウントリセット、即ち、エラーカウンタ２４をリセットする（Ｂ５）。又ステップ（Ｂ３）に於いて、ＰＲＢＳパターンとＰＲＢＳ比較パターンとの比較結果、不一致の場合は、同期状態ではないから、エラーカウントリセットとし、ステップ（Ｂ１）に移行する。従って、エラーカウンタ２４のカウント内容は、試験対象部から出力された試験信号のビット誤りを正確にカウントしたものとなり、試験の信頼性の向上を図ることができる。

１ＰＲＢＳ発生部
２ＰＲＢＳ検出部
３測定制御部
４試験対象部
１１レジスタ
１２ヘッダー制御イネーブル生成部
１３ヘッダー付加部
１４ヘッダー生成部
１５ＰＲＢＳパターン生成部
２１ヘッダー検出部
２２比較部
２３ＰＲＢＳパターン生成部
２４エラーカウンタ

Claims

測定制御部により制御されるＰＲＢＳ発生部と、該ＰＲＢＳ発生部からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部に入力し、該試験対象部から出力されたＰＲＢＳ信号の正常性を検査するＰＲＢＳ検出部とを備えた試験装置に於いて、
前記ＰＲＢＳ発生部は、ＰＲＢＳパターン信号にＰＲＢＳパターンのヘッダーを付加した試験信号を前記試験対象部に入力する構成を有し、
前記ＰＲＢＳ検出部は、前記試験対象部から出力された前記試験信号の前記ヘッダーを検出し、該ヘッダーのパターンによるＰＲＢＳ比較パターンを発生して、前記試験対象部から出力された前記試験信号と照合する構成を有する
ことを特徴とする試験装置。
前記ＰＲＢＳ発生部は、ＰＲＢＳパターン生成部と、該ＰＲＢＳパターン生成部を構成する各フリップフロップの出力信号をヘッダー制御イネーブル信号のタイミングにヘッダーとするヘッダー生成部と、前記ＰＲＢＳパターン生成部からのＰＲＢＳパターン信号に前記ヘッダー生成部からのヘッダーを付加して、前記試験対象部に入力する試験信号とするヘッダー付加部とを備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
前記ＰＲＢＳ検出部は、前記試験対象部から出力されたＰＲＢＳパターン信号を入力して前記ヘッダーを検出するヘッダー検出部と、該ヘッダー検出部により検出した前記ヘッダーのＰＲＢＳパターンを並列的に設定する複数のフリップフロップ構成のＰＲＢＳ比較パターン生成部と、該ＰＲＢＳ比較パターン生成部からのＰＲＢＳ比較パターンと前記ヘッダー検出部を介した前記ＰＲＢＳパターン信号とを比較する比較部と、該比較部による比較不一致をエラーとしてカウントするエラーカウンタとを備えたことを特徴とする請求項１記載の試験装置。
測定制御部により制御されるＰＲＢＳ発生部からのＰＲＢＳ信号を試験信号として試験対象部に入力し、該試験対象部から出力されるＰＲＢＳ信号の正常性をＰＲＢＳ検出部により検査する試験方法に於いて、
前記ＰＲＢＳ発生部のＰＲＢＳパターン生成部からのＰＲＢＳパターンをヘッダーとして、該ＰＲＢＳ発生部からのＰＲＢＳパターンの先頭に付加して試験信号とし、該試験信号を前記試験対象部に入力し、該試験対象部から出力された前記ＰＲＢＳパターンのヘッダーを検出して、該ヘッダーのＰＲＢＳパターンに従ったＰＲＢＳ比較パターンを発生させて、前記試験対象部から出力された前記試験信号と照合する処理過程を含むことを特徴とする試験方法。