JP2012168159A5 - - Google Patents

Claims (8)

1. 凹凸形状を有する基板表面にプローブが配置されたマイクロアレイに励起光を照射し、励起光で励起された各プローブからの蛍光量を数値データとして得るマイクロアレイの解析方法であって、プローブの蛍光量を測定して蛍光画像データを取得するステップ（ａ）と、基板表面からの反射光及び／又は散乱光を受光して、該光の受光強度からマイクロアレイの基板表面の凹凸形状をアライメント用画像データとして取得するステップ（ｂ）と、前記アライメント用画像データに基づいて前記蛍光画像データにおける各プローブの位置を決定するステップ（ｃ）と、を含み、
   前記ステップ（ｃ）は、前記アライメント用画像データにおいて、受光強度の差に基づいて前記マイクロアレイの３つ以上の基準点Ａを検出するステップ（ｃ１）と、検出した基準点Ａを基に前記蛍光画像データの歪みを補正するステップ（ｃ２）とを含んでいる、マイクロアレイの解析方法。
2. 前記基板表面からの反射光及び／又は散乱光は、前記励起光を照射する光源からの光が前記マイクロアレイで反射及び／又は散乱した光である、請求項１に記載のマイクロアレイの解析方法。
3. 前記ステップ（ｃ１）は、少なくとも８つの所定の観察領域それぞれにおいて前記基板の輪郭線上の点である輪郭基準点aを算出するステップ（ｃ１１）と、重複しない所定の少なくとも２つの観察領域を組とし、各組において複数の輪郭基準点aに対する近似直線を求めるステップ（ｃ１２）と、各組で求めた近似直線の交点を算出して該交点を前記基準点Ａとするステップ（ｃ１３）とを含んでいる、請求項１又は２に記載のマイクロアレイの解析方法。
4. 前記ステップ（ｃ２）が、前記基準点Ａからプローブを配置しているスポットの配列角度θｘ、θｙを得て、該スポットの配列角度θｘ、θｙおよび下記式から、前記蛍光画像データの剪断変形歪みを補正するものである、請求項１〜３のいずれかに記載のマイクロアレイの解析方法。
   

   

   
5. 前記ステップ（ｃ１）は、４つの基準点Ａを検出し、その４つの基準点Ａを直線で結んで形成される四角形が平行四辺形でない場合には、さらに該四角形を平行四辺形に近似し、該平行四辺形の頂点を基準点Ａとして設定しなおす、請求項１〜４のいずれかに記載のマイクロアレイの解析方法。
6. 前記マイクロアレイがＤＮＡマイクロアレイである、請求項１〜５のいずれかに記載のマイクロアレイの解析方法。
7. 凹凸形状を有する基板表面にプローブが配置されたマイクロアレイに励起光を照射するレーザー光源と、前記基板表面で反射した励起光と前記プローブからの蛍光の光束を平行光にする対物レンズと、前記基板表面で反射した励起光をカットするとともに前記プローブからの蛍光を透過する光学フィルタと、前記光学フィルタを透過した蛍光を受光して蛍光画像データを取得する結像レンズおよび検出器と、を備えたマイクロアレイの読取り装置であって、前記結像レンズおよび検出器は、前記基板表面で反射及び／または散乱した光を受光して、マイクロアレイの基板表面の凹凸形状が表れたアライメント用画像データを取得可能であり、更に、前記アライメント用画像データにおいて、受光強度の差に基づいて前記マイクロアレイの３つ以上の基準点Ａを検出し、該検出した基準点Ａを基に前記蛍光画像データの歪みを補正することにより、前記蛍光画像データにおける各プローブの位置を検出する演算処理装置を備えているマイクロアレイの読取り装置。
8. 前記結像レンズと前記検出器の間に、被写体深度を制限するピンホールを有する、請求項７に記載のマイクロアレイの読取り装置。