JP2012150322A - フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法 - Google Patents
フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012150322A JP2012150322A JP2011009551A JP2011009551A JP2012150322A JP 2012150322 A JP2012150322 A JP 2012150322A JP 2011009551 A JP2011009551 A JP 2011009551A JP 2011009551 A JP2011009551 A JP 2011009551A JP 2012150322 A JP2012150322 A JP 2012150322A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photomask
- light
- parallax
- substrate
- optical path
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 29
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 23
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims abstract description 13
- 238000003754 machining Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 31
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 4
- WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M tetramethylammonium hydroxide Chemical compound [OH-].C[N+](C)(C)C WGTYBPLFGIVFAS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 210000001525 retina Anatomy 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N bis($l^{2}-silanylidene)molybdenum Chemical class [Si]=[Mo]=[Si] YXTPWUNVHCYOSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000009740 moulding (composite fabrication) Methods 0.000 description 1
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
【解決手段】透明基板11上の開口部13を囲む遮光膜パターン12と、開口部を通して照射される光3を斜め方向に屈折させる光路傾斜機構部14と、露光対象基板との間隔を保持するスペーサ15と、からなるフォトマスク1を用いて、基板21上の感光性材料22に選択的に露光することにより、感光性材料面に対して傾斜した加工部23を設ける。
【選択図】図1
Description
透明基板上の開口部を囲む遮光膜パターンと、開口部を通して照射される光を斜め方向に屈折させる光路傾斜機構部と、露光対象基板との間隔を保持するスペーサと、からなるフォトマスクである。
図1は、本発明のフォトマスクを用いた視差クロストークフィルタの製造方法を説明するための模式断面図である。
透明基板11上に開口部13を囲む遮光膜パターン12を、成膜、フォトリソグラフィー、エッチングの各プロセスにより形成後、レンズ材料となる透明樹脂である感光性ポジ型レジストを上記の遮光膜パターンを覆って塗布形成する。その後、プレベイク、選択的露光後、有機アルカリ現像水溶液、例えば、TMAH(水酸化テトラメチルアンモニウム)0.5%水溶液にて現像し、熱処理工程を加えて熱リフロー挙動を利用することにより、微小なレンズ形状を所定の位置に形成する。前述のように、マイクロレンズ14の中心軸の位置を開口部13の中心位置とずらして相対位置を変えることが重要であり、上記工程の選択的露光に用いるフォトマスクパターンのアライメントマークにより、前工程の遮光膜パターン12の露光工程で用いるフォトマスクパターンとの相対位置関係を正確に規定することができる。
(a)、(b)いずれも、2方向に傾斜した4箇所の加工部23を有する視差クロストークフィルタ2を作る方法を模式的に示しており、(a)のフォトマスク1と(b)のフォトマスク1’とは、光路傾斜機構部を形成するマイクロレンズ14、16のみが異なり、他は同一である。一例として、マイクロレンズ14がそれぞれ一つの開口部13に対応して個別形成された4個のマイクロレンズからなるのに対して、マイクロレンズ16は二つの開口部に対応するマイクロレンズを2個形成している。
に応じて個別に設計されなければならない。視差クロストークフィルタ2の内部の傾斜した加工部23(図示せず)が、本発明のフォトマスクにより形成できる。視差クロストークフィルタ2を選択的に通る画像光は、それぞれの画素に対応して、破線矢印で表現される右眼用画素からの画像光61R〜67Rと、実線矢印で表現される左眼用画素からの画像光61L〜67Lとなる。
2・・・視差クロストークフィルタ
3・・・直進照射光
4R・・・観察者(右眼)
4L・・・観察者(左眼)
5・・・画像
5R・・・右眼用画素
5L・・・左眼用画素
6R・・・右眼用画素からの画像光
6L・・・左眼用画素からの画像光
11・・・透明基板
12・・・遮光膜パターン
13・・・開口部
14、16・・・光路傾斜機構部(マイクロレンズ)
15・・・スペーサ
21・・・透明基板
22・・・感光性材料
23・・・傾斜した加工部
31・・・屈折光
41R〜47R・・・異なる位置の観察者(右眼)
41L〜47L・・・異なる位置の観察者(左眼)
51R〜57R・・・異なる観察位置に対応する右眼用画素
51L〜57L・・・異なる観察位置に対応する左眼用画素
61・・・パララックスバリア
62・・・レンティキュラレンズ
61R〜67R・・・異なる観察位置に対応する右眼用画素からの画像光
61L〜67L・・・異なる観察位置に対応する左眼用画素からの画像光
Claims (5)
- 基板上の感光性材料に対して選択的にパターン露光するためのフォトマスクであって、該フォトマスクが、透明基板上の開口部を囲む遮光膜パターンと、開口部を通して照射される光を斜め方向に屈折させる光路傾斜機構部と、露光対象基板との間隔を保持するスペーサと、からなるフォトマスク。
- 前記光路傾斜機構部を設ける平面位置と前記開口部の中心位置との相対位置を変えることにより、前記開口部を通して照射される光の屈折方向を制御することを特徴とする請求項1に記載のフォトマスク。
- 前記光路傾斜機構部がレンズまたはプリズムにより形成されることを特徴とする請求項1または2に記載のフォトマスク。
- 前記スペーサが遮光性材料を含み形成されることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のフォトマスク。
- 請求項1〜4のいずれかに記載のフォトマスクを用いて、基板上の感光性材料に選択的にパターン露光した後、現像することにより、感光性材料面に対して傾斜した加工部を設けたことを特徴とする視差クロストークフィルタの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011009551A JP5668488B2 (ja) | 2011-01-20 | 2011-01-20 | フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011009551A JP5668488B2 (ja) | 2011-01-20 | 2011-01-20 | フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012150322A true JP2012150322A (ja) | 2012-08-09 |
JP5668488B2 JP5668488B2 (ja) | 2015-02-12 |
Family
ID=46792615
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011009551A Active JP5668488B2 (ja) | 2011-01-20 | 2011-01-20 | フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5668488B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103048717A (zh) * | 2013-01-08 | 2013-04-17 | 福州大学 | 一种对狭缝光栅设计的参数优化方法 |
TWI716217B (zh) * | 2019-12-09 | 2021-01-11 | 幻景啟動股份有限公司 | 集成式立體影像顯示裝置 |
TWI734640B (zh) * | 2019-12-09 | 2021-07-21 | 幻景啟動股份有限公司 | 集成式立體影像顯示裝置 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05281712A (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-29 | Kuraray Co Ltd | フォトマスク |
JPH07287388A (ja) * | 1994-04-18 | 1995-10-31 | Ricoh Opt Ind Co Ltd | 露光用マスク |
JPH0918897A (ja) * | 1995-07-03 | 1997-01-17 | Canon Inc | 立体画像表示装置 |
JPH1165090A (ja) * | 1997-08-26 | 1999-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | マスクおよびマスクの製造方法 |
JPH11285031A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-15 | Mr System Kenkyusho:Kk | 立体画像表示装置 |
JP2002228980A (ja) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Mixed Reality Systems Laboratory Inc | 立体画像表示装置 |
JP2004144841A (ja) * | 2002-10-22 | 2004-05-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 撮像装置と撮像装置における屈折部の形成方法 |
JP2007079368A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Dainippon Printing Co Ltd | パターン形成体の製造方法、および真空紫外光用フォトマスク |
US20070117247A1 (en) * | 2005-11-23 | 2007-05-24 | Delta Electronics, Inc. | Manufacturing method of microstructure |
JP2008026384A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Alps Electric Co Ltd | フォトマスク及びこれを用いた感光体の露光方法 |
JP2008281996A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-11-20 | Korea Advanced Inst Of Sci Technol | 物質のパターン、それを利用した金型、金属薄膜パターン、金属パターン、および、それらの形成方法 |
JP2009230017A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-08 | Omron Corp | レジスト露光方法 |
-
2011
- 2011-01-20 JP JP2011009551A patent/JP5668488B2/ja active Active
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05281712A (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-29 | Kuraray Co Ltd | フォトマスク |
JPH07287388A (ja) * | 1994-04-18 | 1995-10-31 | Ricoh Opt Ind Co Ltd | 露光用マスク |
JPH0918897A (ja) * | 1995-07-03 | 1997-01-17 | Canon Inc | 立体画像表示装置 |
JPH1165090A (ja) * | 1997-08-26 | 1999-03-05 | Mitsubishi Electric Corp | マスクおよびマスクの製造方法 |
JPH11285031A (ja) * | 1998-03-26 | 1999-10-15 | Mr System Kenkyusho:Kk | 立体画像表示装置 |
JP2002228980A (ja) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Mixed Reality Systems Laboratory Inc | 立体画像表示装置 |
JP2004144841A (ja) * | 2002-10-22 | 2004-05-20 | Dainippon Printing Co Ltd | 撮像装置と撮像装置における屈折部の形成方法 |
JP2007079368A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Dainippon Printing Co Ltd | パターン形成体の製造方法、および真空紫外光用フォトマスク |
US20070117247A1 (en) * | 2005-11-23 | 2007-05-24 | Delta Electronics, Inc. | Manufacturing method of microstructure |
JP2008026384A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Alps Electric Co Ltd | フォトマスク及びこれを用いた感光体の露光方法 |
JP2008281996A (ja) * | 2007-04-04 | 2008-11-20 | Korea Advanced Inst Of Sci Technol | 物質のパターン、それを利用した金型、金属薄膜パターン、金属パターン、および、それらの形成方法 |
JP2009230017A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-08 | Omron Corp | レジスト露光方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103048717A (zh) * | 2013-01-08 | 2013-04-17 | 福州大学 | 一种对狭缝光栅设计的参数优化方法 |
TWI716217B (zh) * | 2019-12-09 | 2021-01-11 | 幻景啟動股份有限公司 | 集成式立體影像顯示裝置 |
TWI734640B (zh) * | 2019-12-09 | 2021-07-21 | 幻景啟動股份有限公司 | 集成式立體影像顯示裝置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5668488B2 (ja) | 2015-02-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10007122B2 (en) | Three-dimensional display substrate, its Manufacturing method and three-dimensional display device | |
Hua et al. | Foveated glasses-free 3D display with ultrawide field of view via a large-scale 2D-metagrating complex | |
JP4450076B2 (ja) | 三次元画像再生装置 | |
CN108139591B (zh) | 三维显示面板、包括其的三维显示设备、及其制造方法 | |
US20150192780A1 (en) | Stereoscopic LED display with dual barrier and its fabrication | |
US20060202910A1 (en) | 2D/3D switchable display | |
KR890702075A (ko) | 광투과 스크린을 이용하는 표시 장치 및 그 제조방법 | |
JP2000102039A (ja) | 立体画像表示装置 | |
JP2017010014A (ja) | 画像表示装置 | |
JP2004506231A (ja) | 3次元hlcdシステムおよび製造方法 | |
JP5668488B2 (ja) | フォトマスクおよびそれを用いた視差クロストークフィルタの製造方法 | |
JP2012042879A (ja) | レンズシート、面光源装置、透過型表示装置、レンズシートの製造方法 | |
CN103513311A (zh) | 一种立体光栅和裸眼3d显示装置 | |
CN101107545A (zh) | 折射率分布透镜以及折射率分布透镜的制造方法 | |
CN101609174B (zh) | 用于消除叠纹干涉并控制视角的光学膜片 | |
US8730311B2 (en) | Manufacturing device of a film patterned retarder for a three dimensional display device | |
JP6606184B2 (ja) | 立体表示装置 | |
JP2006259058A (ja) | 三次元画像表示装置 | |
Su et al. | Demonstration of an autostereoscopic three-dimensional light-emitting diode display using diffractive optical elements sheet | |
CN111413755A (zh) | 基于uv打印的柱状光栅材料 | |
JP2008046525A (ja) | 立体像撮影装置と表示装置 | |
CN107991782A (zh) | 裸眼3d显示装置 | |
TWI505243B (zh) | A device that can display 2D and 3D images at the same time | |
JP2007156055A (ja) | グレイスケールマスク、マイクロレンズの製造方法、マイクロレンズ、空間光変調装置及びプロジェクタ | |
JPH02149837A (ja) | 投影型画像表示装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20131219 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140826 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140829 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141024 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141118 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5668488 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |