JP2012120994A - 不良品の排出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さLに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想する。製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び/又は後側に位置するシフトレジスタの1個又は2個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出する。
【選択図】図5
Description
該装置は、該長尺帯状シートに含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品を、前記の裁断後に不良品として排出し、かつ製品の製造工程に連動してシフト信号を発生させるようになされており、
長尺帯状シートに欠陥が検出されたら、該装置の制御部に備えられたシフトレジスタに欠陥検出ビットを立て、
該シフトレジスタにおいて、前記シフト信号の発生ごとに、欠陥検出ビットを1ビットずつシフトさせていき、
シフトされた該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したら、そのときに該装置の不良品排出位置にある製品を不良品として排出する、不良品の排出方法であって、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さLに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想し、
(イ)製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は
(ロ−1)欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び/又は後側に位置するシフトレジスタの1個又は2個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出するか、若しくは
(ロ−2)欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び/又は後側に位置するシフトレジスタの1個又は2個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出する不良品の排出方法を提供するものである。
1’不良品
1c 介在物
10 製造装置
20 第1原反シート供給部
21 第1原反シート
25 受光センサ
30 第2原反シート供給部
31 第2原反シート
35 受光センサ
40 介在物供給部
50 シート重合部
60 封止部
61a,61b 位置合わせセンサ
70 裁断部
80 不良品排出部
82a,82b,82c 監視センサ
100 長尺帯状加工物
DP 予想された欠陥
DR 実際の欠陥
G1,G2 合体位置
Claims (3)
- 走行する長尺帯状シートに一又は二以上の加工を行い長尺帯状加工品を製造し、然る後、該加工品をその長手方向と交差する方向に裁断又は打ち抜いて個々の製品を製造する装置を用い、
該装置は、該長尺帯状シートに含まれる欠陥を検出し、該欠陥を含む製品を、前記の裁断後に不良品として排出し、かつ製品の製造工程に連動してシフト信号を発生させるようになされており、
長尺帯状シートに欠陥が検出されたら、該装置の制御部に備えられたシフトレジスタに欠陥検出ビットを立て、
該シフトレジスタにおいて、前記シフト信号の発生ごとに、欠陥検出ビットを1ビットずつシフトさせていき、
シフトされた該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したら、そのときに該装置の不良品排出位置にある製品を不良品として排出する、不良品の排出方法であって、
欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までの走行距離と、搬送方向の製品の長さLに基づき、検出された欠陥がどの製品のどこに位置するかを予想し、
(イ)製品中における予想された欠陥の位置に応じて、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて不良品と設定するか、又は
(ロ−1)欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、その前側及び/又は後側に位置するシフトレジスタの1個又は2個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、下流の不良品排出位置で該不良品を排出するか、若しくは
(ロ−2)欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに欠陥検出ビットを立てるのに加え、該欠陥検出ビットが、不良品の排出位置として予め該シフトレジスタに設定されたビットに到達したときに、該欠陥検出ビットの前側及び/又は後側に位置するシフトレジスタの1個又は2個以上に欠陥検出ビットを立てて不良品と設定し、該不良品を排出する不良品の排出方法。 - 欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までにおける長尺帯状シートの伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておき、
製品中における欠陥の位置と変動量との関係により下記の条件で不良品を排出する、請求項1記載の不良品の排出方法。
A:製品中における欠陥の位置であり、予想される製品の裁断位置の搬送方向の前側からの距離。
B1:予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値。
B2:予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの収縮時の変動の最大値。
L:製品の長さ(規定値)。
(B1+B2)≦Lのときは、
(i−1)A>B2であり、かつ(L−A)>B1ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタにのみ欠陥検出ビットを立てて1個の不良品を排出する。
(i−2)A≦B2ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の前側(下流側)に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計2個を不良品として排出する。
(i−3)(L−A)≦B1ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側(上流側)に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計2個を不良品として排出する。 - 欠陥の検出位置から長尺帯状シートの加工位置までにおける長尺帯状シートの伸長又は収縮に起因する長さの変動量を予め測定しておき、
製品中における欠陥の位置と変動量との関係により下記の条件で不良品を排出する、請求項1記載の不良品の排出方法。
A:製品中における欠陥の位置であり、予想される製品の裁断位置の搬送方向の前側からの距離。
B1:予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの伸長時の変動の最大値。
B2:予め測定した欠陥の検出位置から加工位置までの長尺帯状シートの収縮時の変動の最大値。
L:製品の長さ(規定値)。
(B1+B2)>Lの場合は(ただしB1及びB2はそれぞれL以下)、
(ii−1)A<B2かつ(L−A)<B1ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側(上流側)および前側(下流側)に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計3個を不良品として排出する。
(ii−2)A>B2ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の後側(上流側)に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計2個を不良品として排出する。
(ii−3)(L−A)>B1ならば、欠陥の検出位置に対応するシフトレジスタに加え、前記製品の搬送方向の前側(下流側)に対応するシフトレジスタにも欠陥検出ビット立て、合計2個を不良品として排出する。
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2010
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