JP2012093275A5 - - Google Patents

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  1. ギャップを介して対向する反射膜と、入力値に基づいて前記ギャップ寸法を変動させるギャップ可変部とを有する波長可変干渉フィルターと、
    アレイ状に配置される複数の検出素子を有し、前記波長可変干渉フィルターを透過した光を検出する検出部と
    前記ギャップ可変部に前記入力値を出力して、前記ギャップ寸法を制御する駆動制御部と、
    前記入力値に対する前記複数の検出素子で受光される光の波長が記録された相関データを記憶した記憶部と、
    前記相関データに基づいて、前記入力値に対して、前記測定対象波長の光を受光可能な前記検出素子を特定する素子特定部と、
    前記素子特定部により特定された前記検出素子で検出された前記測定対象波長の光の光量を取得する光量取得部と、
    を備えたことを特徴とする光測定装置。
  2. 請求項1に記載の光測定装置において、
    前記相関データは、前記入力値に対して同一波長域の光を受光する少なくとも1つ以上の前記検出素子である同波長検出素子群毎に、それぞれ設定されている
    ことを特徴とする光測定装置。
  3. 請求項1に記載の光測定装置において、
    前記相関データは、前記検出素子毎に、それぞれ設定されている
    ことを特徴とする光測定装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の光測定装置において、
    前記駆動制御部は、前記相関データに基づいて、測定対象波長の光に対する入力値を取得するとともに、取得した入力値を前記ギャップ可変部に出力する
    ことを特徴とする光測定装置。
  5. 請求項1から請求項4のいずれかに記載の光測定装置において、
    前記光量取得部により取得された各前記検出素子での測定対象波長の光の光量に基づいて、測定対象波長の光の強度分布を測定する強度分布測定部を備えている
    ことを特徴とする光測定装置。
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Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5919728B2 (ja) * 2011-10-26 2016-05-18 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置
JP5811789B2 (ja) * 2011-11-09 2015-11-11 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置
JP5983020B2 (ja) * 2012-05-18 2016-08-31 セイコーエプソン株式会社 波長可変干渉フィルター、光学フィルターデバイス、光学モジュール、及び電子機器
JP5988690B2 (ja) 2012-05-18 2016-09-07 浜松ホトニクス株式会社 分光センサ
JP5926610B2 (ja) * 2012-05-18 2016-05-25 浜松ホトニクス株式会社 分光センサ
JP5875936B2 (ja) 2012-05-18 2016-03-02 浜松ホトニクス株式会社 分光センサ
JP6098051B2 (ja) 2012-07-04 2017-03-22 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置
JP6142479B2 (ja) * 2012-08-07 2017-06-07 セイコーエプソン株式会社 分光装置
JP2014132304A (ja) * 2013-01-07 2014-07-17 Seiko Epson Corp 画像表示装置
JP6466851B2 (ja) 2013-10-31 2019-02-06 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置
JP2015099074A (ja) * 2013-11-19 2015-05-28 セイコーエプソン株式会社 分光測定装置及び分光測定方法
JP6255992B2 (ja) 2013-12-27 2018-01-10 セイコーエプソン株式会社 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法
JP2016011932A (ja) 2014-06-30 2016-01-21 セイコーエプソン株式会社 分光画像撮像装置、分光画像撮像方法
JP6467801B2 (ja) * 2014-07-31 2019-02-13 セイコーエプソン株式会社 分光画像取得装置、及び受光波長取得方法
US9372114B2 (en) * 2014-08-20 2016-06-21 William N. Carr Spectrophotometer comprising an integrated Fabry-Perot interferometer
JP6394189B2 (ja) 2014-08-29 2018-09-26 セイコーエプソン株式会社 分光画像取得装置、及び分光画像取得方法
JP6641883B2 (ja) 2015-10-28 2020-02-05 セイコーエプソン株式会社 測定装置、電子機器、及び測定方法
JP7313115B2 (ja) * 2017-11-24 2023-07-24 浜松ホトニクス株式会社 光検査装置及び光検査方法
CN109990898A (zh) * 2017-12-29 2019-07-09 谱钜科技股份有限公司 光谱仪与光谱采样装置及其光谱校正方法
US20220026274A1 (en) * 2018-11-26 2022-01-27 Unispectral Ltd. A tunable filter having different gaps
CN113454469A (zh) * 2019-02-18 2021-09-28 尤尼斯拜特罗有限责任公司 包括微机电可调滤波器的设备及操作所述设备的方法
JP2021056168A (ja) * 2019-10-01 2021-04-08 株式会社ジャパンディスプレイ 光学センサ及び光学センサを有する表示装置
WO2021146670A1 (en) * 2020-01-17 2021-07-22 Spectrove Inc. Mems device for interferometric spectroscopy

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5144498A (en) * 1990-02-14 1992-09-01 Hewlett-Packard Company Variable wavelength light filter and sensor system
JPH05340814A (ja) * 1992-06-08 1993-12-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 画像スペクトル分布測定装置
US5550373A (en) * 1994-12-30 1996-08-27 Honeywell Inc. Fabry-Perot micro filter-detector
JPH11142752A (ja) 1997-11-05 1999-05-28 Yokogawa Electric Corp 透過波長可変干渉フィルタ及びこれを用いた分光器
JP3417323B2 (ja) * 1998-02-03 2003-06-16 松下電器産業株式会社 エタロン評価方法及びエタロン評価装置並びにレーザ発振器
JP2002062491A (ja) 2000-08-15 2002-02-28 Canon Inc 干渉性変調素子を用いた撮像光学系及び光量制御装置
JP2006178320A (ja) 2004-12-24 2006-07-06 Olympus Corp 分光透過率可変素子、及び分光透過率可変素子を備えた内視鏡装置
US7242482B2 (en) * 2005-08-30 2007-07-10 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Capacitance gap calibration
US7289220B2 (en) * 2005-10-14 2007-10-30 Board Of Regents, The University Of Texas System Broadband cavity spectrometer apparatus and method for determining the path length of an optical structure
US7315667B2 (en) * 2005-12-22 2008-01-01 Palo Alto Research Center Incorporated Propagating light to be sensed
US7583418B2 (en) * 2006-09-26 2009-09-01 Xerox Corporation Array based sensor to measure single separation or mixed color (or IOI) patches on the photoreceptor using MEMS based hyperspectral imaging technology
JP5048992B2 (ja) * 2006-10-18 2012-10-17 オリンパス株式会社 可変分光素子および、それを備えた内視鏡システム
JP5446110B2 (ja) 2008-03-31 2014-03-19 セイコーエプソン株式会社 受光装置
JP5564759B2 (ja) 2008-04-02 2014-08-06 セイコーエプソン株式会社 光学フィルタ装置
IL201742A0 (en) * 2009-10-25 2010-06-16 Elbit Sys Electro Optics Elop Tunable spectral filter

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