JP2012078342A - 画像相関変位センサ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の一態様にかかる画像相関変位センサは、照射光を出射する照射部130'と、ターゲット面300で生成したスペックルフィールドを複数回に亘って撮像するために用いられ、ターゲット面近傍においてターゲット面の法線方向から傾斜した光線路Aと、光線路B'と、光線路A,B'の少なくとも一方を偏向する素子110'と、を有する撮像部240と、光線路Aにおいて撮像することにより得られた複数画像と光線路B'において撮像することにより得られた複数画像とに基づいて、ターゲット面300の法線成分を含む方向の変位を計算する処理部200と、を備えている。
【選択図】図5
Description
試料面と垂直な成分を含む方向の変位量を正確に測定することができる安価な画像相関変位センサが望まれている。
なお、以下の説明において、特に言及がない限り、法線とは、ターゲット面300の法線を指し、通常は、光学系250の入射光軸に対応するものである。さらに、図1に示すように、ターゲット面300中の1点を原点Oと定義している。変位センサ100は、X方向、Y方向、Z方向、ヨー方向、ロール方向、及びピッチ方向の位置変位を測定することができる。変位センサ100は、安価でコンパクトな構成を用いて、微小な2自由度から6自由度までの変位を高精度で測定するための構成を有している。なお、ヨー方向の位置変位はZ軸周りの回転角に対応し、ロール方向の位置変位はX軸周りの回転角に対応し、ピッチ方向の位置変位はY軸周りの回転角に相当する。
図1に示された形態において、偏向角はXZ面において光線路を偏向する。素子110によって偏向したスペックルイメージ光は、レンズ140に入射する。レンズ140は、例えば、凸レンズであり、スペックルイメージ光を屈折及び/又は集光する。レンズ140で屈折及び/又は集光されたスペックルイメージ光は、アパーチャ板150に到達する。アパーチャ板150の中央には、開口したアパーチャ152が配置されている。
検出器160は、ターゲット面300で生成されたスペックルフィールドを撮像する。図1に示す形態においては、検出器160は、単一の2次元画素アレイの光検出器であり、例えば、CCD(Charged Coupled Device)カメラやCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)画像センサ等である。
ターゲット面300の近傍において、光線路C、及び光線路Dは、Z方向と平行になっている。よって、対応する角度AngC、及び角度AngDは0°となる。図1に示す形態において、光線路Aと光線路Bは、同一のYZ平面上において、法線から同じ角度だけ傾斜しており、傾斜方向が反対になっている。換言すると、X方向における、光線路A及び光線路Bと領域TA及び領域TBと、の位置はターゲット面300近傍において実質的に同一になっている。光線路Aとターゲット面300の交点から延びる法線と、光線路Aとを含む平面PAと、光線路Bとターゲット面300の交点から延びる法線と、光線路Bとを含む平面PBとは、同一平面上に配置されている。ターゲット面300の近傍において、光線路Aと光線路Eとは平行になっている。光線路Eとターゲット面300の交点から延びる法線と、光線路Eとを含む平面PEは、平面PAと平行になっている。従って、この特定の形態において、角度AngA、角度AngB、及び角度AngEとは互いに同じ角度になっており、この角度をθODAとする。最も一般的には、θODAは0°から90°までの角度範囲に入っている。しかしながら、様々な形態において、45°以下の角度範囲とすることが好ましい。
X=KX×MEAN(XA,XB,XC,XD) ・・・(1)
回転位置変位θrollによって、ターゲット面300がX軸周りに回転する。この変位によって、領域TA、領域TBを生成するスペックルの位置がZ方向に変化する。さらに、撮像に使用される傾斜角度AngAと角度AngB(例えば、角度θODA)によって、Z変位は、Y方向に沿って領域TA、領域TBの撮像された部分に反映される。よって、ロール方向の回転位置変位θrollは、式(7)に示されるように、YAとYBの和及びY方向に沿ったそれらの距離間隔を用いて表すことができる。微小な回転角については、式(7)で十分な精度を得るようにすることが好ましい。ある特定の用途及び又は大きい回転角については、より高い精度を得るために、簡素化する近似がより少ない数式を用いるようにしてもよい。
実施の形態2にかかる変位センサについて、図5を用いて説明する。図5は、実施の形態2に係る変位センサ100の構成を示す図である。実施の形態2に係る変位センサ100は、以下に説明する照射部130の第2形態を含んでいる。別の方法として、本実施の形態2では、実施の形態1で示した変位センサ100を簡略化して、並進方向の自由度である3自由度の測定を行うために、より少ない光線路を用いる構成としている。ヨー変位の自由度(4番目の自由度)は、以下に説明されるように、ある用途において決定されていてもよい。3自由度の測定を行うために、2つの光線路A、B'のみを使用している。このため、素子110'が単一の光学偏向素子DefAを有している。また、検出器160は、検出部DA,検出部DB'を有している。照射部130'の第2形態は、素子110'とレンズ140の間に配置されたビームスプリッタ130B(例えば、半透過面)、及び光源130A(例えば、レーザ)を備えている。ビームスプリッタ130Bは、照明光が素子110'を通してターゲット面に放射されるよう、光源130Aからの照明光を受光し、偏向するために配置されている。照明光は素子110'を通過するので、これにより、動作間隔に関わらずターゲット面の所望の領域を照明するため、照明光は様々な光線路とほぼ平行に偏向されてもよい。照射部130'が、ここに開示される形態のいくつかの組み合わせで使用される配置となっていることが望ましい。あるスペックルイメージ光は、ビームスプリッタ130Bで失われるが、光線路に沿って伝播したイメージ光のかなりの部分は、所望のスペックルイメージを提供するため、ビームスプリッタ130Bを通過する。また、本実施形態にかかる変位センサ100の基本的構成は、実施の形態1と同様であり、同様の符号及び/又は配置された素子は、同様に理解される。
X=KX×XB' 又は X=KX×MEAN(XB',XA) ・・・(8)
Y=KY×YB' ・・・(9)
Z≒KZ×(YB'−KNIYA)/(tanθODA) ・・・(10)
ヨー回転位置変位θyawは、Z軸に関して許されているとすると、微小なヨー回転位置変位θyawに付いて式(11)を用いることが可能である。
θyaw≒asin(KX×(XB'−XA)/(dyaw−ZtanθODA) ・・・(11)
Z軸測定の高い感度を提供するため、素子110を用いることで、2つの光線路A、B'のうち少なくとも1つが法線方向から傾いた方向に向かっている。図5では、ターゲット面300近傍において、光線路B'が法線方向と平行になっているが、必要に応じて光線路B'を偏向して、光線路B'を光線路Aのそれと異なる撮像方向に向かわせてもよい。光線路A及びB'の両方が偏向された場合、XY面に沿った変位の決定に、より複雑な式が要求される。そのような式はこの開示の技術に基づいて、当業者によって決定されてもよい。2つの光線路A、及び光線路B'においてスペックル画像を複数回に亘って撮像する。こうすることで、上記のように、X方向、Y方向、Z方向及びヨー方向(必要に応じて)の変位を測定することができる。
本実施形態に係る変位センサ400について、図6を用いて説明する。本実施の形態では、実施の形態1の構成に対して、テレセントリック光学系の構成が異なっている。なお、変位センサ400の基本的構成については、実施の形態1と同様であるため説明を適宜省略する。以下、撮像部440の構成を中心に説明する。
本実施形態に係る変位センサ500について、図7を用いて説明する。本実施の形態では、アパーチャの形状とその効果という点のみにおいて、テレセントリック光学系の構成が実施の形態3で示した構成と異なっている。なお、変位センサ500の基本的構成については、実施の形態3と同様であるため、共通の説明を適宜省略する。以下、撮像部540の構成を中心に説明する。
本実施の形態4では、シリンドリカルレンズと、スリット開口部を用いて、1次元のスペックル画像を取得している。1次元のスペックル画像に基づいて、相関処理を行うことで、計算時間を短縮することができる。
上記の実施形態では、測定する変位の方向を、3次元直交座標系に基づいて決定したが、測定する変位の方向は、上記に限られるものではない。すなわち、X方向、Y方向、Z方向、ヨー方向、ピッチ方向、ロール方向以外の方向の変位を測定するようにしてもよい。例えば、厳密にZ方向における変位を測定するのではなく、Z成分を含む方向における変位を測定するようにしてもよい。Z成分を含む方向における変位も、異なる角度を有する2つの光線路によって、測定することができる。また、上記の説明において、変位とは、測定対象と測定ヘッドの相対移動に基づくものに限らず、測定対象の変形によるものも含む。
110 素子
130 照射部
132 信号線
134 照明光
138 照明スポット
140 レンズ
142 光
144 偏向素子
150 アパーチャ板
152 アパーチャ
154 光
160 検出器
164 信号線
200 処理部
240 撮像部
250 光学系
300 ターゲット面
400 変位センサ
440 撮像部
450B テレセントリック光学系
500 画像相関変位センサ
540 撮像部
550B テレセントリック光学系
Claims (21)
- ターゲット面に対する相対的な位置変位を測定する画像相関変位センサであって、
スペックルフィールドを生成するために前記ターゲット面に対して照射光を出射する照射部と、
前記ターゲット面で生成した前記スペックルフィールドを複数回に亘って撮像するために用いられ、前記ターゲット面近傍において前記ターゲット面の法線方向から傾斜した第1の光線路と、前記ターゲット面で生成した前記スペックルフィールドを複数回に亘って撮像するために用いられ、前記ターゲット面近傍において前記第1の光線路から傾斜した第2の光線路と、前記第1及び第2の光線路の少なくとも一方を偏向する素子と、を有する撮像部と、
前記第1の光線路において撮像することにより得られた複数画像と前記第2の光線路において撮像することにより得られた複数画像とに基づいて、前記ターゲット面の法線成分を含む方向の変位を測定する処理部とを備えた画像相関変位センサ。 - 前記処理部は、ターゲット面の法線方向の変位を計算することを特徴とする請求項1記載の画像相関変位センサ。
- 前記撮像部は、さらに、前記スペックルフィールドの前記第1の光線路において撮像した部分とは異なる部分を複数回に亘って撮像するために用いられ、前記ターゲット面の近傍において前記ターゲット面の法線方向から傾斜した第3の光線路を有し、
前記処理部は、前記第1の光線路において撮像することにより得られた複数画像と、前記第2の光線路において撮像することにより得られた複数画像と、前記第3の光線路において撮像することにより得られた複数画像に基づいて、前記ターゲット面と平行な軸回りの回転変位を計算することを特徴とする請求項1、又は2に記載の画像相関変位センサ。 - 前記第1の光線路と前記ターゲット面の法線との間の第1の角度が前記第3の光線路と前記ターゲット面の法線との間の第3の角度と等しくなっている請求項3に記載の画像相関変位センサ。
- 前記撮像部は、さらに、前記スペックルフィールドの前記第1の光線路において撮像した部分とは異なり、かつ前記第3の光線路において撮像した部分とは異なる部分を複数回に亘って撮像するために用いられ、前記ターゲット面の近傍において前記ターゲット面の法線から傾斜した第4の光線路を有し、
前記処理部は、前記第1の光線路において撮像することにより得られた複数画像と、前記第2の光線路において撮像することにより得られた複数画像と、前記第3の光線路において撮像することにより得られた複数画像と、前記第4の光線路において撮像することにより得られた複数画像に基づいて、前記ターゲット面と水平なロール軸回りの回転変位と、前記ターゲット面と水平なピッチ軸回りの回転変位を計算することを特徴とする請求項3、又は4に記載の画像相関変位センサ。 - 前記第1及び第2の光線路がテレセントリック光学系を備え、
前記素子が前記ターゲット面と前記テレセントリック光学系の入射側との間に配置されている請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載の画像相関変位センサ。 - 前記テレセントリック光学系において、前記第1及び第2の光線路が実質的に平行である請求項6に記載の画像相関変位センサ。
- 前記テレセントリック光学系がレンズとアパーチャと、を備え、
前記第1及び前記第2の光線路が前記レンズの異なる部分と、前記アパーチャの開口部を通過する請求項6に記載の画像相関変位センサ。 - 前記撮像部が、第1のレンズ、第2のレンズ、及びアパーチャ、を備え、
前記第1の光線路が前記第1のレンズ、及び前記アパーチャの第1の開口部を通過し、
前記第2の光線路が前記第2のレンズ、及び前記アパーチャの第2の開口部を通過する請求項6、又は7に記載の画像相関変位センサ。 - 前記第1及び第2のレンズのそれぞれがシリンドリカルレンズである請求項9に記載の画像相関変位センサ。
- 前記第1及び第2の開口部のそれぞれがスリット開口部である請求項9、又は10に記載の画像相関変位センサ。
- 前記撮像部が1次元ディテクタを用いて前記スペックルフィールドを撮像する請求項9、10、又は11に記載の画像相関変位センサ。
- 前記撮像部が画素アレイを有する単一ディテクタを備え、
前記第1及び前記第2の光線路が前記単一ディテクタの異なる部分に入射する請求項6〜請求項9のいずれか1項に記載の画像相関変位センサ。 - 前記ターゲット面近傍において、前記第2の光線路が前記ターゲット面に対して実質的に垂直である請求項1〜請求項13のいずれか1項に記載の画像相関変位センサ。
- 前記第1及び前記第2の光線路が実質的に第1の平面中に配置されている請求項1〜請求項14のいずれか1項に記載の画像相関変位センサ。
- 前記第1の平面が実質的に前記ターゲット面に垂直である請求項15に記載の画像相関変位センサ。
- 前記第1の光線路が前記素子の第1の光学偏向素子を通過し、
前記第2の光線路が前記素子の第2の光学偏向素子を通過する請求項1〜請求項13のいずれか1項に記載の画像相関変位センサ。 - 前記ターゲット面近傍における前記第1の光線路と前記ターゲット面の法線との間の第1の角度が、前記ターゲット面近傍における前記第2の光線路と前記ターゲット面の法線との間の第2の角度と、実質的に等しくなっている請求項17に記載の画像相関変位センサ。
- 前記第1及び第2の光線路が前記ターゲット面に向かって集束している請求項17、又は18に記載の画像相関変位センサ。
- 前記第1及び第2の光線路が前記ターゲット面に向かって発散している請求項17、又は18に記載の画像相関変位センサ。
- 前記撮像部が前記第1及び第2の光線路が通過するレンズを少なくとも1つ備え、
前記素子が前記ターゲット面と前記レンズの入射側との間に配置され、
前記照射部が光源とビームスプリッタとを備え、
前記ビームスプリッタが前記素子と前記レンズの入射側の間に配置され、
前記照明光が前記素子を介して前記ターゲット面に入射するように、前記ビームスプリッタが前記光源からの照明光を受光して、偏向する請求項1〜請求項20のいずれか1項に記載の画像相関変位センサ。
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