JP2012073056A - X線検査装置 - Google Patents
X線検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012073056A JP2012073056A JP2010216634A JP2010216634A JP2012073056A JP 2012073056 A JP2012073056 A JP 2012073056A JP 2010216634 A JP2010216634 A JP 2010216634A JP 2010216634 A JP2010216634 A JP 2010216634A JP 2012073056 A JP2012073056 A JP 2012073056A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- luminance
- image
- unit
- ray
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- WFXPFAQKWQDDOA-YHYXMXQVSA-N CC/C=C1\C(C)C(C)CC1 Chemical compound CC/C=C1\C(C)C(C)CC1 WFXPFAQKWQDDOA-YHYXMXQVSA-N 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
【解決手段】X線検査装置100は、被検査物AにX線を照射するX線源200と、X線源200から照射される低エネルギー帯のX線を検知するセンサ310および高エネルギー帯のX線を検知するセンサ320を有するセンサユニット300と、センサ310により検知されたX線データに基づいて被検査物Aの透過画像を生成すると共に、センサ320により検知されたX線データに基づいて被検査物Aの透過画像を生成する画像生成部401と、2つの透過画像の輝度が一致または近似するように一方の透過画像の輝度を変換させる輝度変換テーブルを作成する輝度変換テーブル作成部406と、輝度変換テーブルを平滑化して平滑輝度変換テーブルを取得する平滑化部408と、を備える。
【選択図】図3
Description
特に、食品等の被検査物は、工業製品と異なり、内容物の材質が不均一であるので被検査物の輝度分布に個体差が生じる。このため、被検査物に共通する輝度の特性を現した平滑輝度変換関数を取得することにより、輝度分布に個体差が生じる食品等の被検査物に対する検査も可能となる。
搬送部500は、被検査物Aを検査位置に搬送するために設けられている。この搬送部500は、ベルトコンベア、トップチェーンコンベア、回転テーブルなど様々な搬送機構を適用することが可能である。
X線源200は、搬送部500により検査位置まで搬送される被検査物AにX線を照射する。このX線源200から照射されるX線には、低エネルギー(長波長)から高エネルギー(短波長)までの様々なエネルギー帯のX線が含まれている。なお、低エネルギーおよび高エネルギーと記載したが、この「高」および「低」は、X線源200から照射される複数のエネルギー帯の中で相対的に「高い」および「低い」のであって、特定の範囲を現すものではない。以下、同様である。
センサユニット300は、図2に示すように、X線源200から照射されるX線を検知するものであって、低エネルギー帯のX線を検知する低エネルギー用センサ310と、高エネルギー帯のX線を検知する高エネルギー用センサ320と、当該両センサの間に配置されるフィルタ330とを備えている。このセンサユニット300の低エネルギー用センサ310、フィルタ330、および、高エネルギー用センサ320は、X線源200に近い方からこの順に配置されている。低エネルギー用センサ310は、低エネルギー帯のX線を捕えるように設計されており、X線源200から照射されるX線は、低エネルギーであるほど当該低エネルギー用センサ310で吸収される。この低エネルギー用センサ310を突き抜けるX線は、高エネルギー帯のX線である。高エネルギー用センサ320は、高エネルギー帯のX線を捕えるように設計されている。フィルタ330は、低エネルギー用センサ310を突き抜けたX線の中で中エネルギー帯のX線を除去するために設けられている。
画像処理部400は、図3に示すように、センサユニット300から送信されるX線データに基づいてX線透過画像を作成し、その透過画像に対して、各種の画像処理を施す。この画像処理部400は、画像生成部401、画像拡縮部402、画像位置合わせ部403、ヒストグラム作成部404、ヒストグラム積算部405、輝度変換テーブル作成部406、データ補完部407、平滑化部408、画像変換部409、仮想データ調整部410、除算部411、フィルタ部412、及び、2値化部413、を有している。
画像生成部401は、低エネルギー用センサ310により検知されたX線データに基づいて被検査物Aの透過画像(以下、低エネルギー画像P100とする)を生成すると共に、高エネルギー用センサ320により検知されたX線データに基づいて被検査物Aの透過画像(以下、高エネルギー画像P200とする)を生成する。図4に示すように、この画像生成部401で生成された低エネルギー画像P100は、比較的コントラストが高く、全体的に暗くなっている。また、高エネルギー画像P200は、比較的コントラストが低く、全体的に明るくなっている。また、図4に示すように、低エネルギー画像P100における異物Sと被検査物A(被検査物Aの重なりの無い領域)とのコントラストに比べて、高エネルギー画像P200における異物Sと被検査物A(被検査物Aの重なりの無い領域)とのコントラストが、小さくなっている。これは、異物Sと被検査物Aとに、X線吸収率の違いがあることに起因する。
画像拡縮部402は、低エネルギー画像P100における被検査物Aと高エネルギー画像P200における被検査物Aとの大きさを合わせる。X線源200から照射されるX線は、扇状に放射されると共に(図1の2点鎖線参照)、X線源200から低エネルギー用センサ310までの距離とX線源200から高エネルギー用センサ320までの距離とが異なるので、低エネルギー画像P100における被検査物Aと高エネルギー画像P200における被検査物Aとの大きさが異なる。すなわち、高エネルギー画像P200における被検査物Aが、低エネルギー画像P100における被検査物Aより僅かに大きくなる。そこで、画像拡縮部402は、図5に示すように、低エネルギー画像P100を変換比Rだけセンサの長手方向に拡大する。この変換比Rは、X線源200から低エネルギー用センサ310までの距離をL1、X線源200から高エネルギー用センサ320までの距離をL2とすると、R=L2/L1で得られる。ここでは、低エネルギー画像P100を拡大する例について説明したが、当然、高エネルギー画像P200をRの逆数(1/R)の比率で縮小しても良い。
画像位置合わせ部403は、低エネルギー画像P100における被検査物Aと高エネルギー画像P200における被検査物Aとの位置を合わせる。具体的には、図6に示すように、低エネルギー画像P100を上下左右に移動させて、低エネルギー画像P100と高エネルギー画像P200との差異が最小になるようにしている。本実施形態の画像位置合わせ部403は、両画像を重ね合わせて、各画素において両画像の輝度値の差の絶対値の総和を算出し、その総和が最小となるように自動的に位置合わせを行う。図7(a)に示すように、画像位置合わせ部403による位置合わせ前では、被検査物Aのエッジ部分E1および異物Sのエッジ部分E2が現れる。なお、画像上のエッジ部分が、被対象物Aのエッジ部分E1か、異物Sのエッジ部分E2かは、判別不可能である。そして、図7(b)に示すように、画像位置合わせ部403による位置合わせ後では、被検査物Aおよび異物Sの位置ズレが解消されて、ほぼ黒一色の状態の画像となる。なお、この図7(b)の位置合わせ後の画像に示すように、単に低エネルギー画像P100の拡大および位置合わせだけでは、異物Sの領域についてもほぼ黒一色になり、異物Sの判別が不可能である。そこで、以下で説明するヒストグラム作成部404、ヒストグラム積算部405、輝度変換テーブル作成部406、データ補完部407、平滑化部408、画像変換部409、仮想データ調整部410、除算部411、フィルタ部412、及び、2値化部413により、低エネルギー画像P100の画像処理を施すことによって、異物Sの判別を可能にする。
ヒストグラム作成部404は、低エネルギー画像P100の輝度分布を示す低エネルギーヒストグラムH100を作成すると共に、高エネルギー画像P200の輝度分布を示す高エネルギーヒストグラムH200を作成する。上記したように、低エネルギー画像P100は、高エネルギー画像P200に比べて全体的に暗くなっているので、図8に示すように、低エネルギーヒストグラムH100は、高エネルギーヒストグラムH200に比べて、図中の左側(画素明暗が明るい側)に寄っている。
ヒストグラム積算部405は、図9に示すように、上記した低エネルギーヒストグラムH100を積分して低エネルギーヒストグラム積算曲線C100を算出すると共に、高エネルギーヒストグラムH200を積分して高エネルギーヒストグラム積算曲線C200を算出する。
輝度変換テーブル作成部406は、低エネルギーヒストグラム積算曲線C100と高エネルギーヒストグラム積算曲線C200とを比較して、低エネルギーヒストグラム積算曲線C100を高エネルギーヒストグラム積算曲線C200に一致または近似させる輝度変換テーブルT100を作成する。具体的には、図10に示すように、低エネルギーヒストグラム積算曲線C100の積算値I1と、高エネルギーヒストグラム積算曲線の積算値I2とが一致する輝度の変換比I=I1/I2を各輝度で求めることにより、図11に示した輝度変換テーブルT100を得る。
画像生成部401により生成された低エネルギー画像P100および高エネルギー画像P200に輝度値の低い画素(暗い画素)が無い場合には、当該輝度値の変換比Iを求めることができない。そのため、図11に示すように、上記した輝度変換テーブル作成部406により作成された輝度変換テーブルT100の輝度値の低い領域Sには、変換データが存在しない。この場合、輝度値の低い画素については、輝度変換を行うことができない。そこで、データ補完部407は、上記した輝度変換テーブルT100に、輝度値の低い領域Sにおいて仮想の変換データDを補完する。以下、仮想の変換データDが補完された輝度変換テーブルを、「補完後輝度変換テーブルT101」とする。
平滑化部408は、図12に示すように、補完後輝度変換テーブルT101を平滑化する。以下、この平滑化部408により平滑化された補完後平滑輝度変換テーブルを、「補完後平滑輝度変換テーブルT102」とする。上記した画像生成部401により生成された低エネルギー画像P100および高エネルギー画像P200の輝度分布が狭い場合等には、平滑化前の輝度変換テーブルT100が滑らかでない曲線でない場合がある。この場合、上記した低エネルギー画像P100および高エネルギー画像P200とは異なる輝度分布を有する被検査物Aを対象にした場合、妥当な輝度変換が行えない。そのため、平滑化部408は、種々の輝度分布を有する被検査物Aに対応可能な一般化された輝度変換テーブルを取得すべく、補完後輝度変換テーブルT101を平滑化して、滑らかな曲線を描く補完後平滑輝度変換テーブルT102を取得する。実験の結果から、2次関数で近似すれば十分実用的なテーブルを取得できたことから、本実施形態の平滑化部408は、補完後輝度変換テーブルT101を2次関数で近似して、補完後平滑輝度変換テーブルT102を取得する。
画像変換部409は、図13に示すように、補完後平滑輝度変換テーブルT102に基づいて、低エネルギー画像P100の輝度変換を行い、輝度変換後低エネルギー画像P101を取得する。
図14に示すように、輝度変換後低エネルギー画像P101のヒストグラムH101と、高エネルギー画像P200のヒストグラム(高エネルギーヒストグラム)H200とを比較すると、厳密には一致していない。そこで、この仮想データ調整部410は、輝度変換後低エネルギー画像P101の輝度分布の各輝度値と、高エネルギー画像P200の輝度分布の各輝度値と、の差の総和が最小(最小2乗法)になるように、当該補完後平滑輝度変換テーブルT102を取得するのに用いた仮想の変換データDの値を調整する。これにより、最適化された補完後平滑輝度変換テーブルT102を取得でき、当該テーブルT102により輝度変換された輝度変換後低エネルギー画像P101の輝度と、高エネルギー画像P200の輝度とが略一致するので、被検査物Aの消し込みが可能となる。なお、この最適化された補完後平滑輝度変換テーブルT102は、画像処理部400の記憶部(図示せず)に格納されている。
図15に示すように、除算部411は、最適化された補完後平滑輝度変換テーブルT102により輝度変換された輝度変換後低エネルギー画像P101の輝度値と、高エネルギー画像P200の輝度値とを各画素で除算することによって、被検査物Aの消し込みを行う。輝度変換後低エネルギー画像P101の各画素の輝度値と、高エネルギー画像P200の各画素の輝度値との差を求めることによって、被検査物Aの消し込みを行っても良いが、実験の結果から、除算する方が被検査物Aの消し込み精度が良いことが分かったので、本実施形態の除算部411は、除算を行うことにより、被検査物Aの消し込みを行う。ただし、単純に除算すると、画像処理部400が整数しか保持できない構成となっているので、ほとんどの演算結果が1となってしまう。例えば、その演算結果は、1.01、1.11、1.21等の値となる。そのため、除算部411は、両画像の輝度値を除算した結果を100倍にして、被検査物Aの消し込みがなされた結果画像P300を出力する。なお、当該結果画像P300は、後述するフィルタ部412による処理の後に、輝度値を100だけオフセットする処理が行われる。これにより、異物S以外の領域とは異なる輝度値を保持する異物Sが現れた結果画像P300を取得できる。
フィルタ部412は、当該結果画像P300に含まれるランダムノイズを除去するために設けられている。通常、X線透過画像には、ランダムノイズが含まれており、被検査物Aの消し込みを行った結果画像P300にも当該ランダムノイズが含まれている。被検査物Aに異物Sが含まれている場合、X線透過画像の異物Sがある領域は、ノイズより大きな値となっているので、本実施形態のフィルタ部412は、ガウシアンフィルタを用いて、細かいノイズを除去すると共に、上述したように輝度値を100だけオフセットすることによって、異物Sがある領域を抽出する。なお、整数値の桁数を減らすことができるので、簡易な演算処理装置で高速処理することができる。また、ノイズが除去された図16の結果画像P301は、全体が暗く(ほぼ黒一色に)なっているが、実際には、異物Sの領域は、異物S以外の領域(ほぼ黒一色の)とは異なるデータ値を保持している。
ノイズが除去された結果画像P301は、2値化部413により、一定の値を閾値として、2値化される。これにより、図16に示すように、異物Sのみが抽出された2値化画像P302を取得できる。この後、画像処理部400は、当該2値化画像P302と高エネルギー画像P200とを重ね合わせて、最終画像P400を作成する。なお、ここでは、2値化画像P302と高エネルギー画像P200とを重ね合わせたが、当然、2値化画像P302と低エネルギー画像P100とを重ね合わせても良い。
次に、図17のフローチャートに沿って、画像処理部400による画像処理方法について説明を行う。
(1)画像拡縮部402により、低エネルギー画像P100を変換比Rだけセンサの長手方向に拡大すると共に(図5参照)、
(2)画像位置合わせ部403により、低エネルギー画像P100と高エネルギー画像P200との位置合わせを行って(図6参照)、
低エネルギー画像P100と高エネルギー画像P200との調整を図る(ステップS2:画像アライメント)。なお、この画像の拡大と移動とは、アフィン変換により実現することができる。
次に、図18のフローチャートに沿って、画像処理部400による補完後平滑輝度変換テーブルT102の取得方法について説明を行う。本実施形態に係る画像処理部400は、記憶部(図示せず)に記憶される当該テーブルT102に基づいて、低エネルギー画像P100の輝度変換を行い、低エネルギー画像P100と高エネルギー画像P200とのコントラスト整合を図っている(ステップS3:コントラスト整合参照)。
以上のように、本実施形態に係るX線検査装置100においては、特定の透過画像(低エネルギー画像P100および高エネルギー画像P200)によって得られた輝度変換テーブルT100を平滑化することによって、被検査物Aに共通する輝度の特性を現した補完後平滑輝度変換テーブルT102を取得することができる。つまり、特定の透過画像の輝度分布にばらつきがある場合でも、当該平滑化によって、一般化された補完後平滑輝度変換テーブルT102を得ることができる。これにより、上記した特定の透過画像とは異なる輝度分布を有する被検査物Aについても(種々の輝度分布を有する被検査物Aに対応可能な)、一般化された当該補完後平滑輝度変換テーブルT102に基づいて、低エネルギー画像P100の輝度を高エネルギー画像P200の輝度に略一致させることができる。これにより、低エネルギー画像P100の被検査物Aの輝度と、高エネルギー画像P200の被検査物Aの輝度とが略一致するので、低エネルギー画像P100および高エネルギー画像P200から被検査物Aを消し込むことができる。その結果、被検査物Aと異物Sとのコントラストに差異がある低エネルギー画像P100および高エネルギー画像P200において、被検査物Aの消し込みが可能となるので、異物Sのみの抽出が可能となる。
上記実施形態においては、X線検査装置100が「X線検査装置」に相当し、被検査物Aが「被検査物」に相当し、X線源200が「X線源」に相当し、センサユニット300が「センサユニット」に相当し、低エネルギー用センサ310が「第1センサ」に相当し、高エネルギー用センサ320が「第2センサ」に相当し、低エネルギー画像P100が「第1透過画像」に相当し、高エネルギー画像P200が「第2透過画像」に相当し、画像生成部401が「画像生成部」に相当し、輝度変換テーブルT100が「輝度変換関数」に相当し、補完後輝度変換テーブルT101が「補完後輝度変換関数」に相当し、平滑化部408が「平滑化部」に相当し、補完後平滑輝度変換テーブルT102が「平滑輝度変換関数」および「補完後平滑輝度変換関数」に相当し、輝度変換テーブル作成部406が「輝度変換関数作成部」に相当し、データ補完部407が「データ補完部」に相当し、仮想の変換データDが「仮想の変換データ」に相当し、仮想データ調整部410が「仮想データ調整部」に相当する。
200 X線源
300 センサユニット
310 低エネルギー用センサ
320 高エネルギー用センサ
330 フィルタ
400 画像処理部
401 画像生成部
402 画像拡縮部
403 画像位置合わせ部
404 ヒストグラム作成部
405 ヒストグラム積算部
406 輝度変換テーブル作成部
407 データ補完部
408 平滑化部
409 画像変換部
410 仮想データ調整部
411 除算部
412 フィルタ部
413 2値化部
A 被検査物
S 異物
P100 低エネルギー画像
P200 高エネルギー画像
P101 輝度変換後低エネルギー画像
H100 低エネルギーヒストグラム
H200 高エネルギーヒストグラム
C100 低エネルギーヒストグラム積算曲線
C200 高エネルギーヒストグラム積算曲線
T100 輝度変換テーブル
T101 補完後輝度変換テーブル
T102 補完後平滑輝度変換テーブル
Claims (4)
- 被検査物にX線を照射するX線源と、
前記X線源から照射される第1エネルギー帯のX線を検知する第1センサおよび第2エネルギー帯のX線を検知する第2センサを有するセンサユニットと、
前記第1センサにより検知されたX線データに基づいて前記被検査物の第1透過画像を生成すると共に、前記第2センサにより検知されたX線データに基づいて前記被検査物の第2透過画像を生成する画像生成部と、
前記第1透過画像の輝度が前記第2透過画像の輝度に一致または近似するように前記第1透過画像の輝度を変換させる輝度変換関数を作成する輝度変換関数作成部と、
前記輝度変換関数を平滑化して平滑輝度変換関数を取得する平滑化部と、を備えることを特徴とする、X線検査装置。 - 前記平滑化部は、前記輝度変換関数を2次関数に近似して前記平滑輝度変換関数を取得することを特徴とする、請求項1に記載のX線検査装置。
- 前記輝度変換関数に特定の輝度についての変換データが存在しない場合に、当該輝度変換関数に当該特定の輝度または当該特定の輝度の近傍に仮想の変換データを補完するデータ補完部をさらに備え、
前記平滑化部は、前記データ補完部により当該仮想の変換データが補完された補完後輝度変換関数を平滑化して補完後平滑輝度変換関数を取得することを特徴とする、請求項1または2に記載のX線検査装置。 - 前記補完後平滑輝度変換関数により輝度が変換された前記第1透過画像の輝度分布の各輝度値と、前記第2透過画像の輝度分布の各輝度値と、の差の総和が最小になるように、当該補完後平滑輝度変換関数を取得するのに用いた前記仮想の変換データの値を調整する仮想データ調整部をさらに備えることを特徴とする、請求項3に記載のX線検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010216634A JP5616182B2 (ja) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | X線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010216634A JP5616182B2 (ja) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | X線検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012073056A true JP2012073056A (ja) | 2012-04-12 |
JP5616182B2 JP5616182B2 (ja) | 2014-10-29 |
Family
ID=46169400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010216634A Active JP5616182B2 (ja) | 2010-09-28 | 2010-09-28 | X線検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5616182B2 (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013069353A1 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 非破壊検査装置及び非破壊検査装置での位置ずれ検出方法 |
WO2013069354A1 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 非破壊検査装置及び非破壊検査装置での輝度データの補正方法 |
JP2015155830A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | 株式会社イシダ | 脂質含有率測定装置 |
JP2015532974A (ja) * | 2012-09-26 | 2015-11-16 | 同方威視技術股▲分▼有限公司 | Ctシステム及びctシステムに用いられる検知装置 |
JP2017072554A (ja) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2018155754A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | 株式会社イシダ | X線検出装置 |
JP2018155544A (ja) * | 2017-03-16 | 2018-10-04 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2020153777A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
WO2021210442A1 (ja) * | 2020-04-16 | 2021-10-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検査方法、放射線検査装置、放射線検査システム、及び放射線検査プログラム |
EP4191237A1 (en) | 2021-12-02 | 2023-06-07 | ISHIDA CO., Ltd. | X-ray inspection apparatus, x-ray inspection system, and x-ray inspection method |
EP4224153A1 (en) | 2022-02-02 | 2023-08-09 | ISHIDA CO., Ltd. | X-ray inspection apparatus |
EP4224154A1 (en) | 2022-02-02 | 2023-08-09 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection device |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61125281A (ja) * | 1984-11-21 | 1986-06-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像処理方法 |
JP2000121579A (ja) * | 1998-10-13 | 2000-04-28 | Nagoya Denki Kogyo Kk | X線撮像方法、x線撮像装置およびx線撮像制御プログラムを記録した媒体 |
JP2003069281A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-07 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 電磁波シールドシートおよびその製造方法 |
JP2007014525A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Hitachi Medical Corp | 医用画像診断システム |
JP2010190830A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出装置 |
-
2010
- 2010-09-28 JP JP2010216634A patent/JP5616182B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61125281A (ja) * | 1984-11-21 | 1986-06-12 | Fuji Photo Film Co Ltd | 画像処理方法 |
JP2000121579A (ja) * | 1998-10-13 | 2000-04-28 | Nagoya Denki Kogyo Kk | X線撮像方法、x線撮像装置およびx線撮像制御プログラムを記録した媒体 |
JP2003069281A (ja) * | 2001-08-30 | 2003-03-07 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 電磁波シールドシートおよびその製造方法 |
JP2007014525A (ja) * | 2005-07-07 | 2007-01-25 | Hitachi Medical Corp | 医用画像診断システム |
JP2010190830A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線検出装置 |
Cited By (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013069354A1 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 非破壊検査装置及び非破壊検査装置での輝度データの補正方法 |
WO2013069353A1 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-16 | 浜松ホトニクス株式会社 | 非破壊検査装置及び非破壊検査装置での位置ずれ検出方法 |
US9696266B2 (en) | 2011-11-08 | 2017-07-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Nondestructive inspection device and method for correcting luminance data with nondestructive inspection device |
KR101751196B1 (ko) | 2012-09-26 | 2017-06-26 | 눅테크 컴퍼니 리미티드 | Ct 시스템 및 ct 시스템에 사용되는 탐측장치 |
JP2015532974A (ja) * | 2012-09-26 | 2015-11-16 | 同方威視技術股▲分▼有限公司 | Ctシステム及びctシステムに用いられる検知装置 |
US9572540B2 (en) | 2012-09-26 | 2017-02-21 | Nuctech Company Limited | CT system and detection device for CT system |
JP2015155830A (ja) * | 2014-02-20 | 2015-08-27 | 株式会社イシダ | 脂質含有率測定装置 |
US20180321167A1 (en) * | 2015-10-09 | 2018-11-08 | Ishida Co., Ltd. | X-ray examination device |
US10788436B2 (en) | 2015-10-09 | 2020-09-29 | Ishida Co., Ltd. | X-ray examination device |
CN108449979A (zh) * | 2015-10-09 | 2018-08-24 | 株式会社石田 | X射线检查装置 |
WO2017061593A1 (ja) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP2017072554A (ja) * | 2015-10-09 | 2017-04-13 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
CN108449979B (zh) * | 2015-10-09 | 2021-07-09 | 株式会社石田 | X射线检查装置 |
JP2018155544A (ja) * | 2017-03-16 | 2018-10-04 | 株式会社イシダ | X線検査装置 |
JP7079966B2 (ja) | 2017-03-17 | 2022-06-03 | 株式会社イシダ | X線検出装置 |
JP2018155754A (ja) * | 2017-03-17 | 2018-10-04 | 株式会社イシダ | X線検出装置 |
EP3719483A1 (en) * | 2019-03-19 | 2020-10-07 | ISHIDA CO., Ltd. | Inspection apparatus |
CN111796336A (zh) * | 2019-03-19 | 2020-10-20 | 株式会社石田 | 检查装置 |
JP2020153777A (ja) * | 2019-03-19 | 2020-09-24 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
US11138716B2 (en) | 2019-03-19 | 2021-10-05 | Ishida Co., Ltd. | Inspection apparatus |
JP7328667B2 (ja) | 2019-03-19 | 2023-08-17 | 株式会社イシダ | 検査装置 |
CN111796336B (zh) * | 2019-03-19 | 2023-12-05 | 株式会社石田 | 检查装置 |
WO2021210442A1 (ja) * | 2020-04-16 | 2021-10-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線検査方法、放射線検査装置、放射線検査システム、及び放射線検査プログラム |
EP4191237A1 (en) | 2021-12-02 | 2023-06-07 | ISHIDA CO., Ltd. | X-ray inspection apparatus, x-ray inspection system, and x-ray inspection method |
EP4224153A1 (en) | 2022-02-02 | 2023-08-09 | ISHIDA CO., Ltd. | X-ray inspection apparatus |
EP4224154A1 (en) | 2022-02-02 | 2023-08-09 | Ishida Co., Ltd. | X-ray inspection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5616182B2 (ja) | 2014-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5616182B2 (ja) | X線検査装置 | |
US10788436B2 (en) | X-ray examination device | |
US20220178841A1 (en) | Apparatus for optimizing inspection of exterior of target object and method thereof | |
WO2015136620A1 (ja) | 錠剤検査装置、錠剤検査方法、錠剤検査プログラム | |
EP4191237A1 (en) | X-ray inspection apparatus, x-ray inspection system, and x-ray inspection method | |
JP4542666B2 (ja) | 画像処理による異物検出方法および装置 | |
JP2016156647A (ja) | 電磁波を使用した検査装置 | |
JP6979672B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP3737950B2 (ja) | X線異物検出装置及び該装置における不良品検出方法 | |
JP2020176893A (ja) | X線検査装置 | |
JP2015137858A (ja) | 検査装置 | |
EP4220142A1 (en) | X-ray inspection device and x-ray inspection method | |
JP2010281681A (ja) | X線検査装置 | |
JP4053032B2 (ja) | 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置 | |
JP3871333B2 (ja) | 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置 | |
JP4170366B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP3898144B2 (ja) | 異物検出方法、異物検出プログラムを記録した記録媒体及び異物検出装置 | |
JP6796052B2 (ja) | X線検査装置およびx線検査方法 | |
JP2008175691A (ja) | X線検査装置および検査方法 | |
JP5947674B2 (ja) | X線検査装置 | |
JP5328196B2 (ja) | X線異物検査装置 | |
JP2010281649A (ja) | 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム | |
EP4224153A1 (en) | X-ray inspection apparatus | |
US11221302B2 (en) | Product scanning | |
JP2021148645A (ja) | X線検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130830 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20130830 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140417 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140909 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140911 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5616182 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |