JP2012058098A - 光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ - Google Patents

光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ Download PDF

Info

Publication number
JP2012058098A
JP2012058098A JP2010202076A JP2010202076A JP2012058098A JP 2012058098 A JP2012058098 A JP 2012058098A JP 2010202076 A JP2010202076 A JP 2010202076A JP 2010202076 A JP2010202076 A JP 2010202076A JP 2012058098 A JP2012058098 A JP 2012058098A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
group
signal
order
photodetector array
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010202076A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5744446B2 (ja
Inventor
Yoshie Yoshioka
淑江 吉岡
Koji Funaoka
幸治 船岡
Suguru Matsuzawa
卓 松澤
Kengo Uchiyama
研吾 内山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2010202076A priority Critical patent/JP5744446B2/ja
Publication of JP2012058098A publication Critical patent/JP2012058098A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5744446B2 publication Critical patent/JP5744446B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Transform (AREA)

Abstract

【課題】 3次回折光による信号歪みを除去し、高精度な位置検出が可能な光検出器アレイおよび光学式エンコーダを得る。
【解決手段】 周期Tの干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有する第一のセット31aと、この第一のセットとT/6の位相差を有するように設けられ、干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有する第二のセット32aとからなる第一の検出器グループ51aを備えたものである。
【選択図】 図2

Description

この発明は、光検出器アレイおよびこの光検出器アレイを備えた光学式エンコーダに関する。
光学式エンコーダは、光源と、光学的干渉縞パターンを発生する回折格子と、この回折格子と相対移動可能に設けられた光検出器アレイとから構成されており、光検出器アレイで検出される光学的干渉縞パターン信号の変化に基づき、回折格子と光検出器アレイとの相対位置の変化量を検出している。
このような光学式エンコーダにおいては、1次回折ビームに加えて3次回折ビーム(3次回折光)等の高次回折ビームが発生する。この高次回折ビームは、光検出器アレイに入射すると検出信号に高調波歪みを生じさせ、光学式エンコーダの位置検出精度を低下させてしまう。このため従来は、光検出器アレイの各検出器の幅を3次回折ビーム間の干渉により発生する3次縞パターンの周期に一致させるように設定することで、3次回折ビームによって生じる信号歪みを除去していた(例えば、特許文献1参照)。
特表2005−524050号公報
ところが、この種の光検出器アレイは、例えば、ガラス基板上に堆積したアモルファスシリコン層にフォトレジストをパターニングし、これをマスクとしてエッチングして各検出器をアレイ状に分離することで作製されている。この場合、エッチングの際に各検出器の側面がテーパ形状になるなどして設計値に対して数μm程度の幅誤差が生じる。このため、従来のように3次縞パターンの周期と検出器幅とを一致させる方法では、3次回折ビームによる信号歪みを除去しきれずに位置検出の精度が低下してしまうという問題があった。
この発明は、上述のような点に着目してなされたもので、3次回折光による信号歪みを除去し、高精度な位置検出が可能な光検出器アレイおよび光学式エンコーダを得ることを目的とする。
この発明に係る光検出器アレイは、周期Tの干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器、第二の検出器、第三の検出器および第四の検出器を有する第一のセットと、この第一のセットとT/6の位相差を有するように設けられ、干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器、第二の検出器、第三の検出器および第四の検出器を有する第二のセットとからなる検出器グループを備えたものである。
また、この発明に係る光学式エンコーダは、光源と、周期Tの干渉縞を生成するスケール格子と、干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器、第二の検出器、第三の検出器および第四の検出器を有する第一のセットと、この第一のセットとT/6の位相差を有するように設けられ、干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器、第二の検出器、第三の検出器および第四の検出器を有する第二のセットとからなる検出器グループとを備えたものである。
この発明によれば、確実に3次回折光による信号歪みを除去して、高精度な位置検出が可能な光検出器アレイを得ることができる。
また、この発明によれば、確実に3次回折光による信号歪みを除去して、高精度に位置検出できる光学式エンコーダを得ることができる。
この発明の実施の形態1に係る光学式エンコーダの構成を示す概略図である。 この発明の実施の形態1に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示す図である。 この発明の実施の形態1に係る光検出器アレイに入射する干渉縞を示す図である。 各検出器が幅誤差を有する光検出器アレイに入射する干渉縞を示す図である。 この発明の実施の形態2に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示す図である。 この発明の実施の形態3に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示す図である。 この発明の実施の形態4に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示す図である。 この発明の実施の形態5に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示す図である。
実施の形態1.
図1ないし3は、この発明を実施するための実施の形態1を示すものであって、図1は光学式エンコーダの構成を示す概略図、図2は光検出器アレイ10aの拡大図、図3は光検出器アレイ10aに入射する干渉縞を示す図である。
本実施の形態に係る光学式エンコーダ1は、図1に示すように、点光源である光源21と、透過部と非透過部との割合(デューティ比)が1:1であり、光源から照射される光ビーム23によって周期Tの干渉縞11を発生するリニア型のスケール格子22と、該スケール格子22と相対移動可能に設けられ、干渉縞11の光学的信号を検出する検出器3を8個有するリニア型の光検出アレイ10aとを備えている。
なお、ここでは作図の都合上、光検出器アレイ10aは検出器3を8個とした単純な構成を示している。また、光源21は線光源やアレイ状の光源であってもよく、コヒーレント光源でもインコヒーレント光源でもよい。
干渉縞11は、スケール格子22に入射した光ビーム23の1次の回折光によって発生する1次の干渉縞成分の他にも、高次の回折光によって発生する高次の干渉縞成分を含んでおり、この高次の干渉縞成分が信号歪みを生じさせる。本実施の形態では、スケール格子22のデューティ比を1:1として高次の干渉縞成分のうち偶数次のものを消去しているので、3次の干渉縞成分が最大の信号歪み成分である。
光検出器アレイ10aは、図2に示すように、複数の第一の検出器グループ51aが一列に順次配設されており、各第一の検出器グループ51aは第一のセット31aと第二のセット32aとから構成されている。この第一のセット31aは、干渉縞11の基準位相信号を検出する第一の検出器3aと、基準位相信号に対して90度の位相差を持つ信号を検出する第二の検出器3bと、180度の位相差を持つ信号を検出する第三の検出器3cと、270度の位相差を持つ信号を検出する第四の検出器3dとを有している。また、第二のセット32aも同様に、該検出器3a、3b、3cおよび3dの4つの検出器を有している。
各検出器の配置は、まず、第一のセット31aの第一の検出器3aが配置されており、次いで検出器の中心間の距離(以下、各セットの検出器の中心間の距離をPとし、ピッチと称する)が3T/4毎に第四の検出器3d、第三の検出器3c、第二の検出器3bが順次配置されている。次に、この第一のセット31aの右端である第二の検出器3bから検出器の中心間の距離(以下、各検出器グループのセット間の隣り合う検出器の中心間の距離をBとする)が3T/4+T/6の位置に第二のセット32aの第一の検出器3aが配置され、次いで検出器の中心間の距離が3T/4毎に第四の検出器3d、第三の検出器3c、第二の検出器3bが順次配置されている。
そして、第一の検出器グループ51aの最右端である第二の検出器3bから検出器の中心間の距離(以下、隣接する検出器グループ間の隣り合う検出器の中心間の距離をCとする)が3T/4−T/6+Tとなる位置に次の第一の検出器グループ51aの最左端である第一の検出器3aが配置されており、同様にして、第一の検出器グループ51aが一列に順次並べられている。
また、前記検出器3a、3b、3cおよび3dのそれぞれの出力端子は、基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号、位相差270度の信号の各信号線にそれぞれ接続されており、各位相信号に対応した信号の総和がそれぞれ、S1、S2、S3およびS4となる。
なお、上記の光検出器アレイ10aはフォトダイオードアレイであり、このようなフォトダイオードアレイは、ガラス基板上に堆積したアモルファスシリコン層にフォトレジストをパターニングし、これをマスクとしてエッチングすることによって各検出器をアレイ状に分離することで作製されている(例えば、特開2002−208275号公報参照)。
上記各検出器の幅Wは、隣接する検出器とのクロストークが発生しない幅であれば任意に設定することができるが、できるだけ広くすることが望ましい。このようにすることで、検出器が光を検出する領域が増えるので、光利用効率が上がり、ノイズに対する検出信号比が向上し、より高分解能な光検出器アレイを得ることができる。また、検出器幅Wは、距離P、B、Cのうち最も個数の多い距離Pを最小に設定した場合に最も広くすることができる。本実施の形態では、距離P、B、CをP<B、Cとなるように設定しているので、高い光利用効率を有する光検出器アレイを得ることができる。
一例として、干渉縞11の周期Tを40μmとすると、P=30μm、B=36.7μm、C=63.3μmと設定することができ、各検出器の幅Wは13.3μm、各セットの検出器間の間隔は16.7μmとすることができる。また、光検出器アレイ10aは第一の検出器グループ51aを少なくとも一つのグループ備えていればよいが、例えば、四つのグループ備えたものを用いることができる。このように複数のグループを備えることでノイズに対する信号比が増加してより高分解能な光検出器アレイを得ることができる。
なお、ここでは隣り合う2つの検出器の中心間の距離をP、B、Cを決めることに使用しているが、隣り合う2つの検出器の左エッジ間の距離や右エッジ間の距離などを用いてもよい。
次に動作について説明する。
図3に示すように、第一のセット31aの第一の検出器3aに入射した干渉縞の11の基準位相信号は、第二のセット32aの第一の検出器3aに入射した干渉縞11の基準位相信号と足し合わされる。このとき、第一のセット31aと第二のセット32aとはT/6の位相差を有して設けられているので、第一のセット31aに入射した干渉縞11の3次の干渉縞成分11aは、第二のセット32aに入射した干渉縞11の3次の干渉縞成分11aと逆位相であり、各検出器からの出力信号は正負逆の値になって3次の干渉縞成分11aは相殺される。
同様に、第一のセット31aの第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dで検出される3次の干渉縞成分11aも、第二のセット32aの第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dで検出される3次の干渉縞成分11aとそれぞれ逆位相であるので、第一のセット31aの各検出器の検出信号と第二のセット32aの各検出器の検出信号とがそれぞれ足しあわされることにより、3次の干渉縞成分11aは相殺される。そして、各第一の検出器グループ51aの検出信号の総和S1、S2、S3およびS4から、スケール格子22の位置AがTan(A)=(S1−S3)/(S2−S4)によって算出される。このようにして、確実に3次回折光による信号歪みは除去され、高精度な位置検出が可能な光検出器アレイ10aを得ることができる。
次に、本実施の形態の光検出器アレイ10aの各検出器に幅誤差がある場合について図4を参照して以下に説明する。図4は、各検出器が幅誤差を有する光検出器アレイに入射する干渉縞を示す図である。
図4に示すように、光検出器アレイ10aは、その製造工程におけるエッチング工程によって各検出器の側面がテーパ形状になるなどするので、各検出器の検出器幅Wは設計値に対して数μmの誤差が生じる。また、エッチング工程においてはアモルファスシリコン層全面が一様に加工されるので、各検出器幅Wの誤差は光検出器アレイ10aの全ての検出器で一様である。このため幅誤差が生じても、各検出器の幅は同一であるとともに、各検出器間の中心距離P、B、Cの設計値に対する誤差は殆どない。また、P、B、Cの位置精度は、パターニングを行うフォトマスクの精度に依存するが、この種のフォトマスクは数nmオーダの精度を有するので、P、B、Cも数nmオーダの精度を有する。即ち、光検出器アレイ10aの各検出器の設計値に対する幅誤差は数μmオーダと大きいが、位置誤差は数nmオーダと小さい。
なお、上記の例のように干渉縞Tの周期を40μmとし、各検出器幅を13.3μmと設定した場合、光検出器アレイ10aの各検出器は一様に±3〜5μmの幅誤差を有する。
次に各検出器に幅誤差がある場合の動作について説明する。
上述のように幅誤差がある場合でも各検出器の幅は同一であり、各検出器間の中心距離P、B、Cは設計値に対する誤差は殆ど無いので、各第一の検出器グループ51aにおいて、第一のセット31aの各検出器で検出される3次の干渉縞成分11aと、第二のセット32aの各検出器で検出される3次の干渉縞成分11aとは逆位相である。したがって、これらの検出信号が足し合わされることにより、3次の干渉縞成分11aは相殺される。
この発明によれば、周期Tの干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有する第一のセット31aと、この第一のセット31aとT/6の位相差を有するように設けられ、第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有する第二のセット32aから第一の検出器グループ51aを構成し、第一のセット31aの各検出器の検出値と第二のセット32aの各検出器の検出値とを足し合わせるようにしたので、確実に3次回折光による信号歪みを除去し、高精度な位置検出が可能な光検出器アレイ10aを得ることができる。
また、この発明によれば、光源21と、周期Tの干渉縞を発生するスケール格子22と、上記光検出器アレイ10aとを用いて光学式エンコーダ1を構成したので、確実に3次回折光による信号歪みを除去し、高精度に位置検出できる光検出器アレイを得ることができる。
また、検出器に幅誤差があっても3次回折光による信号歪みを除去することができるので、検出器幅をより微細化した高分解能な光検出器アレイにおいても高精度な位置検出が可能となる。さらに、この光検出器アレイを備えるエンコーダにおいても高精度に位置検出することができる。
また、光検出器アレイ10aの各検出器は一列に並べられているので、スケール格子22の格子長手方向に平行な軸と光検出器アレイ10aの検出器長手方向に平行な軸との角度(アジマス角)に対して、各検出器の信号S1、S2、S3およびS4に誤差が生じにくく、スケール位置Aの位置誤差が小さく高精度な位置検出ができる。また、各検出器グループ内の各セット同士が近くに置かれているとともに、各位相差信号を検出する各検出器が交互に配設されているので、干渉縞11の強度プロファイルが均一でない場合においても、各位相信号間での出力差が抑えられ、スケール位置Aの位置誤差が小さく高精度な置検出ができる。
なお、本実施の形態では、C=3T/4−T/6+Tに設定したが、これはC=3T/4−T/6+nT(nは0または正の整数)にするようにしてもよい。また、B=T/4+T/6に設定したが、B=T/4−T/6としてもよい。この場合、C=3T/4−T/6+nTにする。また、本実施の形態では、第一のセット31aの検出器の並び順と第二のセット32aの検出器の並び順を一致させて各セットの構成を単純化させたが、各位相差信号が検出できれば異なる並び順にしてもよい。ただし、このような構成にすると各検出器を設置する位置が複雑になる。
実施の形態2.
図5は、この発明を実施するための実施の形態2に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示すものである。実施の形態1では、第一の検出器グループ50aを距離P、B、CをそれぞれP=3T/4、B=3T/4+T/6、C=3T/4−T/6+Tとなるように一列に配設するようにして光検出器アレイ10aを構成したが、図5に示すように、第一の検出器グループ51aと、第一のセット33aおよび第二のセット34aで構成された第二の検出器グループ52aとを、距離P、B、CをそれぞれP=3T/4、B=3T/4+T/6、C=3T/4−T/6+T/2となるように、第一の検出器グループ51a、第二の検出器グループ52aの順で順次配設するようにして光検出器アレイ10bを構成してもよい。なお、第一の検出器グループ51aの構成および各検出器の配置は実施の形態1と同様であるので説明を省略する。
第二の検出器グループ52aの第一のセット33aおよび第二のセット34aは、それぞれ第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有している。各検出器の配置は、まず隣接する第一の検出器グループ51aの最右端である第二の検出器3bからC=3T/4−T/6+T/2となる位置に第一のセット33aの第三の検出器3cが配置され、次いで、P=3T/4毎に第二の検出器3b、第一の検出器3a、第四の検出器3dが順次配置されている。そして、第一のセット33aの右端である第四の検出器3dからB=3T/4+T/6の位置に第二のセット34aの第三の検出器3cが配置され、次いでP=3T/4毎に第二の検出器3b、第一の検出器3a、第四の検出器3dが順次配置されている。そして、第二の検出器グループ52aの最右端である検出器3dからC=3T/4−T/6+T/2となる位置に次の第一の検出器グループ51aの最左端である第一の検出器3aが配置され、同様にして、第一の検出器グループ51aと第二の検出器グループ52aとが交互に順次配設されている。その他の構成および動作は実施の形態1と同様である。
本実施の形態によれば、各検出器が第一の検出器3a、第四の検出器3d、第三の検出器3c、第二の検出器3bの順で配置された第一の検出器グループ51aと各検出器が第三の検出器3c、第二の検出器3b、第一の検出器3a、第四の検出器3dの順で配置された第二の検出器グループ52aとを、第一の検出器グループ51a、第二の検出器グループ52aの順で順次配設して光検出器アレイ10bを構成したので、実施の形態1と比較してCをT/2だけ小さくすることできる。これによって、実施の形態1と同様の効果が得られるとともに、光利用効率が上がりノイズに対する信号比が向上して、より高分解能な光検出器アレイを得ることができる。
実施の形態3.
図6は、この発明を実施するための実施の形態3に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示すものである。実施の形態1では、第一の検出器グループ51aを距離P、B、CをそれぞれP=3T/4、B=3T/4+T/6、C=3T/4−T/6+Tとなるように一列に配設するようにして光検出器アレイ10aを構成したが、図6に示すように、第一の検出器グループ51aと、第二の検出器グループ52aと、第一のセット35aおよび第二のセット36aで構成された第三の検出器グループ53aと、第一のセット37aおよび第二のセット38aで構成された第四の検出器グループ54aとを、P=3T/4、B=3T/4+T/6、C=3T/4−T/6+T/4となるように、第一の検出器グループ51a、第三の検出器グループ53a、第二の検出器グループ52a、第四の検出器グループ54aの順で順次配設するようにして光検出器アレイ10cを構成してもよい。なお、第一の検出器グループ51aおよび第二の検出器グループ52aの構成と各検出器の配置は実施の形態1および2と同様であるので説明を省略する。
第三の検出器グループ53aの第一のセット35aおよび第二のセット36aは、それぞれ第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有している。また、第四の検出器グループ54aの第一のセット37aおよび第二のセット38aも同様に、それぞれ該検出器3a、3b、3cおよび3dを有している。
まず、第三の検出器グループ53aの各検出器の配置は、隣接する第一の検出器グループ51aの最右端である第二の検出器3bからC=3T/4−T/6+T/4となる位置に、第一のセット35aの第二の検出器3bが配置され、次いでP=3T/4毎に第一の検出器3a、第四の検出器3d、第三の検出器3cが順次配置されている。そして、この第一のセット35aの右端である第三の検出器3cからB=3T/4+T/6の位置に第二のセット36aの第二の検出器3bが配置され、次いでP=3T/4毎に第一の検出器3a、第四の検出器3d、第三の検出器3cが順次配置されている。
次に、第三の検出器グループ53aの最右端である第三の検出器3cからC=3T/4−T/6+T/4となる位置に第二の検出器グループ52aの最左端である第三の検出器3cが配置されている。そして、この第二の検出器グループ52aの最右端である第四の検出器3dからC=3T/4−T/6+T/4となる位置に、第四の検出器グループ54aの第一のセット37aの第四の検出器3dが配置され、次いでP=3T/4毎に第三の検出器3c、第二の検出器3b、第一の検出器3aが順次配置されている。そして、この第一のセット37aの右端である第一の検出器3aからB=3T/4+T/6の位置に第二のセット38aの第四の検出器3dが配置され、次いでP=3T/4毎に第三の検出器3c、第二の検出器3b、第一の検出器3aが順次配置されている。その他の構成および動作は実施の形態1と同様である。
本実施の形態によれば、各検出器が第一の検出器3a、第四の検出器3d、第三の検出器3c、第二の検出器3bの順で配置された第一の検出器グループ51aと、各検出器が第三の検出器3c、第二の検出器3b、第一の検出器3a、第四の検出器3dの順で配置された第二の検出器グループ52aと、各検出器が第二の検出器3b、第一の検出器3a、第四の検出器3d、第三の検出器3cの順で配置された第三の検出器グループ53aと、各検出器が第四の検出器3d、第三の検出器3c、第二の検出器3b、第一の検出器3aの順で配置された第四の検出器グループ54aとを、第一の検出器グループ51a、第三の検出器グループ53a、第二の検出器グループ52a、第四の検出器グループ54aの順に順次配設して光検出器アレイ10cを構成したので、実施の形態1と比較してCを3T/4だけ小さくすることができる。これによって、実施の形態1と同様の効果が得られるとともに、光利用効率が上がりノイズに対する信号比が向上して、より高分解能な光検出器アレイを得ることができる。
実施の形態4.
図7は、この発明を実施するための実施の形態4に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示すものである。実施の形態1では、第一の検出器グループ50aを距離P、B、CをそれぞれP=3T/4、B=3T/4+T/6、C=3T/4−T/6+Tとなるように一列に配設するようにして光検出器アレイ10aを構成したが、図7に示すように、各検出器が第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3c、第四の検出器3dの並び順で配置された第一のセット31bと、この第一のセットと検出器の並び順が同一である第二のセット32bとを有する第一の検出器グループ51bをP=T/4、B=T/4+T/6、C=T/4−T/6+Tとなるように一列に順次配設して光検出器アレイ10dを構成してもよい。このような構成でも実施の形態1と同様の効果を得ることができる。
なお、本実施の形態では、C=T/4−T/6+Tに設定したが、これはC=T/4−T/6+nT(nは0または正の整数)にするようにしてもよい。
また、B=T/4+T/6に設定したが、B=T/4−T/6としてもよい。この場合、C=3T/4−T/6+nTにする。
実施の形態5.
図8は、この発明を実施するための実施の形態5に係る光学式エンコーダの光検出器アレイを示すものである。実施の形態4では、第一の検出器グループ51bを距離P、B、CをそれぞれP=T/4、B=T/4+T/6、C=T/4−T/6+Tとなるように一列に配設するようにして光検出器アレイ10dを構成したが、図8に示すように、第一の検出器グループ51bと、第一のセット33bおよび第二のセット34bで構成された第二の検出器グループ52bと、第一のセット35bおよび第二のセット36bで構成された第三の検出器グループ53bと、第一のセット37bおよび第二のセット38bで構成された第四の検出器グループ54bとを、P=T/4、B=T/4+T/6、C=T/4−T/6+T/4となるように、第一の検出器グループ51b、第二の検出器グループ52b、第三の検出器グループ53b、第四の検出器グループ54bの順に順次配設して光検出器アレイ10eを構成してもよい。なお、第一の検出器グループ51bの構成および各検出器の配置は実施の形態4と同様であるので説明を省略する。
第二の検出器グループ52bの第一のセット33bおよび第二のセット34bは、それぞれ第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cおよび第四の検出器3dを有している。同様に、第三の検出器グループ53bの第一のセット35bおよび第二のセット36b並びに第四の検出器グループ54bの第一のセット37bおよび第二のセット38bも、該検出器3a、3b、3cおよび3dを有している。
まず、第二の検出器グループ52bの各検出器の配置は、隣接する第一の検出器グループ51bの最右端である第四の検出器3dからC=T/4−T/6+T/4となる位置に、第一のセット33bの第二の検出器3bが配置され、次いでP=T/4毎に第三の検出器3c、第四の検出器3d、第一の検出器3aが順次配置されている。そして、この第一のセット33bの右端の第一の検出器3aからB=T/4+T/6の位置に第二のセット34bの第二の検出器3bが配置され、次いでP=T/4毎に第三の検出器3c、第四の検出器3d、第一の検出器3aが順次配置されている。
次に、第二の検出器グループ52bの最右端である第一の検出器3aからC=T/4−T/6+T/4となる位置に第三の検出器グループ53bの第一のセット35bの第三の検出器3cが配置され、次いでT/4毎に第四の検出器3d、第一の検出器3a、第二の検出器3bが順次配置されている。そして、この第一のセット35bの右端である第二の検出器3bからB=T/4+T/6の位置に第二のセット36bの第三の検出器3cが配置され、次いでP=T/4毎に第四の検出器3d、第一の検出器3a、第二の検出器3bが順次配置されている。
さらに、第三の検出器グループ53bの最右端である第二の検出器3bからC=T/4−T/6+T/4となる位置に第四の検出器グループ54bの第一のセット37bの第四の検出器3dが配置され、次いでT/4毎に第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cが順次配置されている。そして、この第一のセット37bの右端である第三の検出器3cからB=T/4+T/6の位置に第二のセット38bの第四の検出器3dが配置され、次いでP=T/4毎に第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cが順次配置されている。その他の構成および動作は実施の形態1と同様である。
本実施の形態によれば、各検出器が第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3c、第四の検出器3dの順で配置された第一の検出器グループ51bと、各検出器が第二の検出器3b、第三の検出器3c、第四の検出器3d、第一の検出器3aの順で配置された第二の検出器グループ52bと、各検出器が第三の検出器3c、第四の検出器3d、第一の検出器3a、第二の検出器3bの順で配置された第三の検出器グループ53bと、各検出器が第四の検出器3d、第一の検出器3a、第二の検出器3b、第三の検出器3cの順で配置された第四の検出器グループ54bとを、第一の検出器グループ51b、第二の検出器グループ52b、第三の検出器グループ53b、第四の検出器グループ54bの順で順次配設して光検出器アレイ10eを構成したので、実施の形態4と比較してCを3T/4だけ小さくすることができる。これによって、実施の形態4と同様の効果が得られるとともに、光利用効率が上がりノイズに対する信号比が向上して、より高分解能な光検出器アレイを得ることができる。
なお、上記各実施形態では、光検出器アレイを透過型の光学式エンコーダに用いるものを示したが、反射型の光学式エンコーダに用いても同様の作用効果を奏する。また、上記各実施形態では、光源とスケール格子と光検出器アレイとを有する単純な構成の光学式エンコーダを示したが、アパーチャやレンズ、回折光学素子などの光学素子を設置してもよい。また、スケール格子および光検出器アレイはリニア型を用いたがロータリ型を用いてもよい。
1 光学式エンコーダ
3a 第一の検出器
3b 第二の検出器
3c 第三の検出器
3d 第四の検出器
10a、10b、10c、10d、10e 光検出器アレイ
11 干渉縞
21 光源
22 スケール格子
31a、33a、35a、37a、31b、33b、35b、37b 第一のセット
32a、34a、36a、38a、32b、34b、36b、38b 第二のセット
51a、51b 第一の検出器グループ
52a、52b 第二の検出器グループ
53a、53b 第三の検出器グループ
54a、54b 第四の検出器グループ

Claims (14)

  1. 周期Tの干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器、第二の検出器、第三の検出器および第四の検出器を有する第一のセットと、
    前記第一のセットとT/6の位相差を有するように設けられ、前記干渉縞信号の基準位相信号、位相差90度の信号、位相差180度の信号および位相差270度の信号をそれぞれ検出する第一の検出器、第二の検出器、第三の検出器および第四の検出器を有する第二のセットとからなる検出器グループを備えた光検出器アレイ。
  2. 前記第一および第二のセットの各検出器の並び順は同一であることを特徴とする請求項1に記載の光検出器アレイ。
  3. 前記検出器グループが複数配設されていることを特徴とする請求項2に記載の光検出器アレイ。
  4. 前記複数の検出器グループは、所定の並び順で各検出器が配置された第一の検出器グループで構成されていることを特徴とする請求項3に記載の光検出器アレイ。
  5. 前記複数の検出器グループは、
    所定の並び順で各検出器が配置された第一の検出器グループと、
    前記第一の検出器グループの検出器の並び順と異なる並び順で各検出器が配置された第二の検出器グループとで構成され、
    前記第一および第二の検出器グループは、前記第一の検出器グループ、前記第二の検出器グループの順に順次配設されていることを特徴とする請求項3に記載の光検出器アレイ。
  6. 前記複数の検出器グループは、
    各検出器が所定の並び順で配置された第一の検出器グループと、
    前記第一の検出器グループの検出器の並び順と異なる並び順で各検出器が配置された第二の検出器グループと、
    前記第一および第二の検出器グループの検出器の並び順と異なる並び順で各検出器が配置された第三の検出器グループと、
    前記第一、第二および第三の検出器グループの検出器の並び順と異なる並び順で各検出器が配置された第四の検出器グループとで構成され、
    前記第一、第二、第三および第四の検出器グループは、前記第一の検出器グループ、前記第二の検出器グループ、前記第三の検出器グループ、前記第四の検出器グループの順で順次配設されていることを特徴とする請求項3に記載の光検出器アレイ。
  7. 前記第一の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第一の検出器、前記第四の検出器、前記第三の検出器、前記第二の検出器の並び順で配置されたことを特徴とする請求項4に記載の光検出器アレイ。
  8. 前記第一の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第一の検出器、前記第四の検出器、前記第三の検出器、前記第二の検出器の並び順で配置され、
    前記第二の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第三の検出器、前記第二の検出器、前記第一の検出器、前記第四の並び順で配置されていることを特徴とする請求項5に記載の光検出器アレイ。
  9. 前記第一の検出器グループは、各セットの検出器が前記第一の検出器、前記第四の検出器、前記第三の検出器、前記第二の並び順で配置され、
    前記第二の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第二の検出器、前記第一の検出器、前記第四の検出器、前記第三の検出器の並び順で配置され、
    前記第三の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第三の検出器、前記第二の検出器、前記第一の検出器、前記第四の検出器の並び順で配置され、
    前記第四の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第四の検出器、前記第三の検出器、前記第二の検出器、前記第一の検出器の並び順で配置されていることを特徴とする請求項6に記載の光検出器アレイ。
  10. 前記第一の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第一の検出器、前記第二の検出器、前記第三の検出器、前記第四の検出器の並び順で配置されていることを特徴とする請求項4に記載の光検出器アレイ。
  11. 前記第一の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第一の検出器、前記第二の検出器、前記第三の検出器、前記第四の並び順で配置され、
    前記第二の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第二の検出器、前記第三の検出器、前記第四の検出器、前記第一の検出器の並び順で配置され、
    前記第三の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第三の検出器、前記第四の検出器、前記第一の検出器、前記第二の検出器の並び順で配置され、
    前記第四の検出器グループは、各セットの各検出器が前記第四の検出器、前記第一の検出器、前記第二の検出器、前記第三の検出器の並び順で配置されていることを特徴とする請求項6に記載の光検出器アレイ。
  12. 各セットの検出器のピッチは3T/4であることを特徴とする請求項1ないし9のいずれか一項に記載の光検出器アレイ。
  13. 各セットの検出器のピッチはT/4であることを特徴とする請求項1ないし4、6、10、11のいずれか一項に記載の光検出器アレイ。
  14. 光源と、
    前記光源の光を照射することにより周期Tの干渉縞を発生するスケール格子と、
    請求項1ないし13のいずれか一項に記載の光検出器アレイとを備えることを特徴とする光学式エンコーダ。
JP2010202076A 2010-09-09 2010-09-09 光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ Active JP5744446B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010202076A JP5744446B2 (ja) 2010-09-09 2010-09-09 光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010202076A JP5744446B2 (ja) 2010-09-09 2010-09-09 光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2012058098A true JP2012058098A (ja) 2012-03-22
JP5744446B2 JP5744446B2 (ja) 2015-07-08

Family

ID=46055369

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010202076A Active JP5744446B2 (ja) 2010-09-09 2010-09-09 光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5744446B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015105854A (ja) * 2013-11-29 2015-06-08 オークマ株式会社 光学式アブソリュートエンコーダ

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0348122A (ja) * 1989-07-17 1991-03-01 Okuma Mach Works Ltd 光学式エンコーダ
JPH0626885A (ja) * 1992-07-07 1994-02-04 Tamagawa Seiki Co Ltd 光学式エンコーダにおけるエンコーダ信号の歪除去方法
JP2001099684A (ja) * 1999-09-28 2001-04-13 Sharp Corp 光電式エンコーダ
JP2005524050A (ja) * 2001-08-30 2005-08-11 マイクロイー システムズ コーポレイション 高調波抑制光検出器アレイ

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0348122A (ja) * 1989-07-17 1991-03-01 Okuma Mach Works Ltd 光学式エンコーダ
JPH0626885A (ja) * 1992-07-07 1994-02-04 Tamagawa Seiki Co Ltd 光学式エンコーダにおけるエンコーダ信号の歪除去方法
JP2001099684A (ja) * 1999-09-28 2001-04-13 Sharp Corp 光電式エンコーダ
JP2005524050A (ja) * 2001-08-30 2005-08-11 マイクロイー システムズ コーポレイション 高調波抑制光検出器アレイ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015105854A (ja) * 2013-11-29 2015-06-08 オークマ株式会社 光学式アブソリュートエンコーダ

Also Published As

Publication number Publication date
JP5744446B2 (ja) 2015-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6312505B2 (ja) 光学式エンコーダおよびこれを備えた装置
KR101240413B1 (ko) 원점 검출 장치, 변위 측정 장치 및 광학 장치
US9024251B2 (en) Encoder having a scale that includes block patterns
JP5974329B2 (ja) 光電式エンコーダ
US8742322B2 (en) Encoder and interferometer that generate M-phase signals by multiplying N-phase signals by M coefficient sets, where N is not less than 6 and M is not smaller than 2
JP2011164029A (ja) 光電式エンコーダ
JP2010048607A (ja) 光電式エンコーダ
EP2889586B1 (en) Optical encoder
JP6386337B2 (ja) 光学式エンコーダ
JP5765968B2 (ja) 光学式エンコーダ
JP2017151093A (ja) 光学式の位置測定装置
JP7148337B2 (ja) 位置検出装置、リソグラフィ装置、力覚センサ及び力覚センサを有する装置
JP5744446B2 (ja) 光検出器アレイおよびこれを用いた光学式エンコーダ
JP5154072B2 (ja) 光電式エンコーダ
JP2007248299A (ja) 光電式インクリメンタル型エンコーダ
JP2007248302A (ja) 光電式インクリメンタル型エンコーダ
JP7063743B2 (ja) エンコーダ
JP7139045B2 (ja) 光学式エンコーダ
JP3738742B2 (ja) 光学式絶対値エンコーダ及び移動装置
JP5069364B2 (ja) 光電式インクリメンタル型エンコーダ
US20130112859A1 (en) Optical encoder readhead configured to block stray light
JP6684087B2 (ja) 光エンコーダ
JP7079670B2 (ja) 光学式エンコーダ
US10274344B2 (en) Displacement encoder
JP2007071634A (ja) 光電式エンコーダ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121023

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130425

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130514

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20130516

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130701

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140422

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140526

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141118

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20141217

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20150407

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20150430

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5744446

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250