JP2012053949A - 円盤状基板の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】一表面のみを情報の記録等に使用し、他表面を使用しない円盤状基板を製造する場合において、円盤状基板の生産能力をより向上させることができる円盤状基板の製造方法を提供する。
【解決手段】一表面に情報を記録するガラス基板10の製造方法であって、ガラス基板10の一表面、他表面、外周面、内周面を研削する研削工程と、ガラス基板10の内周面を研磨する内周研磨工程と、ガラス基板10の外周面を研磨する外周研磨工程と、一表面が研磨面となった2枚のガラス基板10を、ガラス基板10が合わせられた際の間隔を定める間隔規制部材を含む接着剤を用いて一表面とは反対側の他表面で接合する接合工程と、接合工程により接合された2枚のガラス基板10の各々の一表面を同時に研磨する研磨工程と、を有することを特徴とするガラス基板10の製造方法。
【選択図】図1−2
【解決手段】一表面に情報を記録するガラス基板10の製造方法であって、ガラス基板10の一表面、他表面、外周面、内周面を研削する研削工程と、ガラス基板10の内周面を研磨する内周研磨工程と、ガラス基板10の外周面を研磨する外周研磨工程と、一表面が研磨面となった2枚のガラス基板10を、ガラス基板10が合わせられた際の間隔を定める間隔規制部材を含む接着剤を用いて一表面とは反対側の他表面で接合する接合工程と、接合工程により接合された2枚のガラス基板10の各々の一表面を同時に研磨する研磨工程と、を有することを特徴とするガラス基板10の製造方法。
【選択図】図1−2
Description
本発明は、例えば磁気記録媒体用ガラス基板などの円盤状基板の製造方法に関する。
近年、記録メディアとしての需要の高まりを受け、磁気ディスク等の情報記録媒体の製造が活発化している。ここで磁気ディスク用の基板として用いられる円盤状基板としては、アルミ基板とガラス基板とが広く用いられている。このアルミ基板は加工性も高く安価である点に特長があり、一方のガラス基板は強度、表面の平滑性、平坦性に優れている点に特長がある。特に最近ではディスク基板の小型化と高密度化の要求が著しく高くなり、基板の表面の粗さが小さく高密度化を図ることが可能なガラス基板の注目度が高まっている。
特許文献1には、一方面が被処理面となった磁気ディスク基板などの平板状の基板を、それぞれの他方面つまり背面を対向させて接着して基板対として、接合された状態の2枚の基板のそれぞれの被処理面を両面研磨装置によって両面に研磨加工する平板状基板の製造方法が開示されている。
ここでガラス基板等の円盤状基板を、例えば磁気ディスク等の情報記録媒体にしたときに、その一表面のみを情報の記録等に使用し、他表面を使用しない場合がある。ところが研磨装置により円盤状基板の研磨を行う際には、通常円盤状基板は、その両面が同時に研磨される。そのため使用する一表面のみならず、使用しない他表面の研磨も行なわれることになり、円盤状基板の生産性向上の観点からは好ましいとは言えない。
本発明は、一表面のみを情報の記録等に使用し、他表面を使用しない円盤状基板を製造する場合において、円盤状基板の生産能力をより向上させることができる円盤状基板の製造方法を提供することを目的とする。
本発明は、一表面のみを情報の記録等に使用し、他表面を使用しない円盤状基板を製造する場合において、円盤状基板の生産能力をより向上させることができる円盤状基板の製造方法を提供することを目的とする。
かかる目的を達成するために、本発明の円盤状基板の製造方法は、一表面に情報を記録する円盤状基板の製造方法であって、円盤状基板の一表面、他表面、外周面、内周面を研削する研削工程と、円盤状基板の内周面を研磨する内周研磨工程と、円盤状基板の外周面を研磨する外周研磨工程と、一表面が研磨面となった2枚の円盤状基板を、2枚の円盤状基板が合わせられた際の間隔を定める間隔規制部材を含む接着剤を用いて一表面とは反対側の他表面で接合する接合工程と、接合工程により接合された2枚の円盤状基板の各々の一表面を同時に研磨する研磨工程と、を有することを特徴とする。
ここで、接合工程は、2枚の円盤状基板の少なくとも一方の他表面に印刷により接着剤を塗布し、接着剤により接合を行なうことができる。
また接合工程は、2枚の円盤状基板の他表面の一部に接着剤を塗布し、接着剤により接合を行なうことができる。
更に間隔規制部材は、形状が球状であるようにすることができる。
また更に接合工程において接合した2枚の円盤状基板を互いに分離する分離工程を更に有することができる。
また接合工程は、2枚の円盤状基板の他表面の一部に接着剤を塗布し、接着剤により接合を行なうことができる。
更に間隔規制部材は、形状が球状であるようにすることができる。
また更に接合工程において接合した2枚の円盤状基板を互いに分離する分離工程を更に有することができる。
本発明によれば、一表面のみを情報の記録等に使用し、他表面を使用しない円盤状基板を製造する場合において、円盤状基板の生産能力をより向上させることができる円盤状基板の製造方法を提供できる。
近年、磁気ディスクは大容量化が著しい。そのためガラス基板等の円盤状基板を、磁気ディスクに使用した場合、一表面のみ使用する場合でも十分な記憶容量が確保できることが多い。ここで磁気ディスクの両面を使用して情報の記録を行なう場合は、情報の読み書きを行なう磁気ヘッドは2つ必要である。一方、磁気ディスクの一表面を使用して情報の読み書きを行なう場合は、磁気ヘッドは1つでよい。そのため、一表面のみを使用する磁気ディスクを使用したハードディスクドライブ等の情報記録装置は、両面を使用する磁気ディスクを使用する場合より安価に製造できるという利点がある。
しかしながら、詳しくは後述するが1次ポリッシュ工程および2次ポリッシュ工程として例示する研磨工程において、ガラス基板は、その両面が同時に研磨される。そのためガラス基板の一表面のみ使用する場合でも、使用する一表面のみならず、使用しない他表面の研磨も行なわれる。研磨工程は、ガラス基板の製造を行なう各工程の中でも最も時間を要する工程であるため、この工程で、使用しない他表面の研磨も行なうことは、ガラス基板の生産性向上の観点からは、好ましくない。そこで本実施の形態では、ガラス基板を製造するのに、以下に説明するような工程を採る。
以下、添付図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。
図1−1(a)〜(c)、図1−2(d)〜(f)、図1−3(g)〜(i)、図1−4(j)〜(k)は、本実施の形態が適用される円盤状基板の製造工程を示した図である。
図1−1(a)〜(c)、図1−2(d)〜(f)、図1−3(g)〜(i)、図1−4(j)〜(k)は、本実施の形態が適用される円盤状基板の製造工程を示した図である。
(1次ラップ工程)
図1−1(a)は1次ラップ工程を示している。この工程でまず、研削機(研削装置、ラッピングマシン)40により1回目の研削(ラッピング)を行い、円盤状基板の一例としてのガラス基板(ワーク)10の表面11を平滑に研削する。
ここで図2は、研削機40の構造を説明した図である。
図2に示した研削機40は、ガラス基板10を載置する下定盤21aと、ガラス基板10を上部から押えつけ研削を行うために必要な圧力を加えるための上定盤21bとを備えている。
ここで、下定盤21aの外周部には歯部42が設けられ、下定盤21aの中央部には太陽歯車44が設けられている。さらに下定盤21aには、研削が行われる際にガラス基板10を位置決めする円盤状の保持具(キャリア)30が設置されている。
保持具30は、図2に示す研削機40では、5個設置されている。保持具30の外周部には歯部32が備えられ、下定盤21aの歯部42および太陽歯車44の双方に噛合している。また下定盤21aおよび上定盤21bには、これらを回転させるための回転軸46a,46bがそれぞれ中心部に設置されている。
図1−1(a)は1次ラップ工程を示している。この工程でまず、研削機(研削装置、ラッピングマシン)40により1回目の研削(ラッピング)を行い、円盤状基板の一例としてのガラス基板(ワーク)10の表面11を平滑に研削する。
ここで図2は、研削機40の構造を説明した図である。
図2に示した研削機40は、ガラス基板10を載置する下定盤21aと、ガラス基板10を上部から押えつけ研削を行うために必要な圧力を加えるための上定盤21bとを備えている。
ここで、下定盤21aの外周部には歯部42が設けられ、下定盤21aの中央部には太陽歯車44が設けられている。さらに下定盤21aには、研削が行われる際にガラス基板10を位置決めする円盤状の保持具(キャリア)30が設置されている。
保持具30は、図2に示す研削機40では、5個設置されている。保持具30の外周部には歯部32が備えられ、下定盤21aの歯部42および太陽歯車44の双方に噛合している。また下定盤21aおよび上定盤21bには、これらを回転させるための回転軸46a,46bがそれぞれ中心部に設置されている。
この1次ラップ工程においては、まず研削機40の下定盤21aに保持具30を利用してガラス基板10の載置を行う。
図3は、保持具30を更に詳しく説明した図である。図3に示した保持具30には、上述の通り、外周部に歯部32が備えられている。また、研削を行う際にガラス基板10が内部に載置される円形形状の孔部34が複数開けられている。この孔部34の直径は、ガラス基板10の直径よりわずかに大きく開けられる。このようにすることで、研削を行う際にガラス基板10の外周端の一部に余分な応力がかかるのを抑制することができるため、ガラス基板10の外周端が損傷しにくくなる。本実施の形態において、孔部34の直径はガラス基板10の直径より、例えば、約1mm大きくなっている。また孔部34は、ほぼ等間隔で並んでおり、本実施の形態の場合、孔部34は、例えば、35個開けられている。
図3は、保持具30を更に詳しく説明した図である。図3に示した保持具30には、上述の通り、外周部に歯部32が備えられている。また、研削を行う際にガラス基板10が内部に載置される円形形状の孔部34が複数開けられている。この孔部34の直径は、ガラス基板10の直径よりわずかに大きく開けられる。このようにすることで、研削を行う際にガラス基板10の外周端の一部に余分な応力がかかるのを抑制することができるため、ガラス基板10の外周端が損傷しにくくなる。本実施の形態において、孔部34の直径はガラス基板10の直径より、例えば、約1mm大きくなっている。また孔部34は、ほぼ等間隔で並んでおり、本実施の形態の場合、孔部34は、例えば、35個開けられている。
保持具30の材料としては、例えば、アラミド繊維やガラス繊維を混入することで強化されたエポキシ樹脂を使用することができる。また保持具30の厚さは、本工程において、研削を行う際に、上定盤21bに接触し、研削を阻害しないために、本工程におけるガラス基板10の仕上げ厚さより薄く作成されている。例えば、ガラス基板10の仕上げ厚さが1mmであるとすると、保持具30の厚さは、それより0.2mm〜0.6mm薄くなっている。
保持具30の孔部34にガラス基板10を載置した後は、上定盤21bをガラス基板10に接触するまで移動させ、研削機40を稼働させる。
この際の研削機40の動作を図2を用いて説明する。研削機40を稼働する際には、図の上方の回転軸46bを一方向に回転させ、上定盤21bを、同様な一方向に回転させる。また、図の下方の回転軸46aを、回転軸46bの回転とは逆方向に回転させ、下定盤21aを回転軸46aと同様な方向に回転させる。これにより下定盤21aの歯部42も回転軸46aと同様な方向に回転する。また中央部の太陽歯車44も、回転軸46aと同様な方向に回転する。
このように上定盤21b、下定盤21a、太陽歯車44を回転させることにより、これらの歯車に噛み合う保持具30は自転運動と、公転運動が組み合わされたいわゆる遊星運動を行う。同様に、保持具30にはめ込まれたガラス基板10も遊星運動を行う。このようにすることによりガラス基板10の研削をより精度よく、また迅速に行うことができる。
この際の研削機40の動作を図2を用いて説明する。研削機40を稼働する際には、図の上方の回転軸46bを一方向に回転させ、上定盤21bを、同様な一方向に回転させる。また、図の下方の回転軸46aを、回転軸46bの回転とは逆方向に回転させ、下定盤21aを回転軸46aと同様な方向に回転させる。これにより下定盤21aの歯部42も回転軸46aと同様な方向に回転する。また中央部の太陽歯車44も、回転軸46aと同様な方向に回転する。
このように上定盤21b、下定盤21a、太陽歯車44を回転させることにより、これらの歯車に噛み合う保持具30は自転運動と、公転運動が組み合わされたいわゆる遊星運動を行う。同様に、保持具30にはめ込まれたガラス基板10も遊星運動を行う。このようにすることによりガラス基板10の研削をより精度よく、また迅速に行うことができる。
本実施の形態において、研削は、研削剤を用いて行うことができる。研削剤としては、特に限定されるものではないが、例えば、アルミナやダイヤモンドからなる研削剤をスラリー化して使用することができる。または、上定盤21bや下定盤21aにこれらの研削剤が分散して含んだ砥石を使用してもよい。
(内外周研削工程)
図1−1(b)は内外周研削工程を示している。この工程では、ガラス基板10の開孔12の内周面および外周13の外周面の荒削りである研削を行う。また本実施の形態では、内周面と外周面の研削を同時に行う。具体的には、ガラス基板10の中心に設けられた開孔12を内周砥石22によって研削し、ガラス基板10の外周13を外周砥石23によって研削する。このとき、内周砥石22と外周砥石23でガラス基板10の内周面と外周面を挟み込んで同時加工する。これにより内径と外径の同心度を確保し易くすることができる。
本実施の形態において、内周砥石22および外周砥石23は、波状の表面を有している。そのため、ガラス基板10の開孔12の内周面および外周13の外周面を研削することができるだけでなく、開孔12および外周13における縁部の面取りを併せて行うことが可能となる。
図1−1(b)は内外周研削工程を示している。この工程では、ガラス基板10の開孔12の内周面および外周13の外周面の荒削りである研削を行う。また本実施の形態では、内周面と外周面の研削を同時に行う。具体的には、ガラス基板10の中心に設けられた開孔12を内周砥石22によって研削し、ガラス基板10の外周13を外周砥石23によって研削する。このとき、内周砥石22と外周砥石23でガラス基板10の内周面と外周面を挟み込んで同時加工する。これにより内径と外径の同心度を確保し易くすることができる。
本実施の形態において、内周砥石22および外周砥石23は、波状の表面を有している。そのため、ガラス基板10の開孔12の内周面および外周13の外周面を研削することができるだけでなく、開孔12および外周13における縁部の面取りを併せて行うことが可能となる。
(内周研磨工程)
図1−1(c)は内周研磨工程を示している。この工程では、図1−1(b)に示した内外周研削工程において、荒削りである研削を行ったガラス基板10の開孔12の内周面を更に平滑にする研磨を行う。
具体的には、まずガラス基板10を積層し、図示しないホルダにセットする。そして、このホルダにセットされたガラス基板10の開孔12の中心にブラシ24を挿入する。そして研磨液をガラス基板10の開孔12に流し込みながら、ブラシ24を高速で回転させることで、ガラス基板10の内周面を研磨する。本実施の形態では、研磨に際してブラシ24を使用しているので、ガラス基板10の内周面を研磨すると共に、上述した内外周研削工程において行った開孔12の縁部の面取りした部分も同様に研磨することができる。なお研磨液としては、例えば酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。
図1−1(c)は内周研磨工程を示している。この工程では、図1−1(b)に示した内外周研削工程において、荒削りである研削を行ったガラス基板10の開孔12の内周面を更に平滑にする研磨を行う。
具体的には、まずガラス基板10を積層し、図示しないホルダにセットする。そして、このホルダにセットされたガラス基板10の開孔12の中心にブラシ24を挿入する。そして研磨液をガラス基板10の開孔12に流し込みながら、ブラシ24を高速で回転させることで、ガラス基板10の内周面を研磨する。本実施の形態では、研磨に際してブラシ24を使用しているので、ガラス基板10の内周面を研磨すると共に、上述した内外周研削工程において行った開孔12の縁部の面取りした部分も同様に研磨することができる。なお研磨液としては、例えば酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。
図4は、内周研磨工程において使用するブラシ24の一例を示した図である。このブラシ24は、毛先が螺旋状に配列して形成されるブラシ部241と、このブラシ部241の両端部に連続して形成され、一端と他端とを形成する軸242とを備えている。ガラス基板10の開孔12として例えば0.85インチ等の小径ディスクの内周面を研磨するような場合は、ブラシ24の芯を細くする必要がある。その場合、本実施の形態では、例えば、複数本のワイヤ(材質:例えば、軟鋼線材(SWRM)、硬鋼線材(SWRH)、ステンレス線材(SUSW)、黄銅線(BSW)など、加工性、剛性などから適宜選定できる)の間に、ブラシの毛(材質:例えばナイロン(デュポン社の商品名))を挟み込み、この毛が挟み込まれたワイヤをねじることで、ブラシ部241を形成している。このワイヤをねじってブラシ部241を形成することで、ブラシ部241に形成されるブラシ毛先を螺旋状とすることができ、挿入されているガラス基板10の開孔12にて、研磨液を軸方向に流すことが可能となる。そのため研磨液の搬送を良好に行うことができる。
(2次ラップ工程)
図1−2(d)は2次ラップ工程を示している。この工程では、図1−1(a)に示した1次ラップ工程において、研削を行ったガラス基板10の表面11を再度研削を行うことにより更に平滑に研削する。
2次ラップ工程において、研削を行う装置としては、図1−1(a)に示した研削機40を使用することができる。また研削の方法、条件等は、図1−1(a)で説明した場合と同様に行うことができる。
図1−2(d)は2次ラップ工程を示している。この工程では、図1−1(a)に示した1次ラップ工程において、研削を行ったガラス基板10の表面11を再度研削を行うことにより更に平滑に研削する。
2次ラップ工程において、研削を行う装置としては、図1−1(a)に示した研削機40を使用することができる。また研削の方法、条件等は、図1−1(a)で説明した場合と同様に行うことができる。
(外周研磨工程)
図1−2(e)は外周研磨工程を示している。この工程では、図1−1(b)に示した内外周研削工程において、荒削りである研削を行ったガラス基板10の外周13の外周面を更に平滑にする研磨を行う。
具体的には、まずガラス基板10の開孔12の部分に治具25を通して積層させ、ガラス基板10を治具25にセットする。そして研磨液をガラス基板10の外周13の箇所に流し込みながら、ブラシ26を積層したガラス基板10に接触させ、高速で回転させる。これにより、ガラス基板10の外周面を研磨することができる。本実施の形態では、研磨に際してブラシ26を使用しているので、ガラス基板10の外周面を研磨すると共に、上述した内外周研削工程において行った外周13の縁部の面取りした部分も同様に研磨することができる。なお研磨液としては、内周研磨工程の場合と同様に、例えば酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。なお本実施の形態において、1次ラップ工程、内周研磨工程、2次ラップ工程、および外周研磨工程は、ガラス基板10の一表面、他表面、外周面、内周面を研削する研削工程として把握することができる。
図1−2(e)は外周研磨工程を示している。この工程では、図1−1(b)に示した内外周研削工程において、荒削りである研削を行ったガラス基板10の外周13の外周面を更に平滑にする研磨を行う。
具体的には、まずガラス基板10の開孔12の部分に治具25を通して積層させ、ガラス基板10を治具25にセットする。そして研磨液をガラス基板10の外周13の箇所に流し込みながら、ブラシ26を積層したガラス基板10に接触させ、高速で回転させる。これにより、ガラス基板10の外周面を研磨することができる。本実施の形態では、研磨に際してブラシ26を使用しているので、ガラス基板10の外周面を研磨すると共に、上述した内外周研削工程において行った外周13の縁部の面取りした部分も同様に研磨することができる。なお研磨液としては、内周研磨工程の場合と同様に、例えば酸化セリウム砥粒を水に分散してスラリー化したものを用いることができる。なお本実施の形態において、1次ラップ工程、内周研磨工程、2次ラップ工程、および外周研磨工程は、ガラス基板10の一表面、他表面、外周面、内周面を研削する研削工程として把握することができる。
(接合工程)
図1−2(f)は接合工程を示している。この工程では、2枚のガラス基板10を、情報の記録等に使用しない他表面同士を接合することで一体とする。
2枚のガラス基板10を、接合するためには、接着剤を使用する。また本実施の形態では、この際に接着剤に間隔規制部材の一例であるスペーサを混合する。スペーサを接着剤に混合することで、2枚のガラス基板10の各々をより平行な状態で接合しやすくなる。つまり本実施の形態では、この接合工程は、一表面が研磨面となった2枚のガラス基板10を、間隔規制部材を含む接着剤を用いて一表面とは反対側の他表面で接合する工程であると言うことができる。
図1−2(f)は接合工程を示している。この工程では、2枚のガラス基板10を、情報の記録等に使用しない他表面同士を接合することで一体とする。
2枚のガラス基板10を、接合するためには、接着剤を使用する。また本実施の形態では、この際に接着剤に間隔規制部材の一例であるスペーサを混合する。スペーサを接着剤に混合することで、2枚のガラス基板10の各々をより平行な状態で接合しやすくなる。つまり本実施の形態では、この接合工程は、一表面が研磨面となった2枚のガラス基板10を、間隔規制部材を含む接着剤を用いて一表面とは反対側の他表面で接合する工程であると言うことができる。
本実施の形態において使用する接着剤としては、特に限定されるものではないが、例えば、紫外線硬化樹脂を含む接着剤を使用する。この場合、接着剤をガラス基板10の少なくとも一方の他表面に塗布し、圧接した後で、紫外線を照射することで容易に2枚のガラス基板10の接合を行なうことができる。また接着剤を塗布する手法としては、印刷により行なうことが好ましい。これにより、接着剤をガラス基板10の他表面に、より均等に塗布することができる。更に接着剤は、ガラス基板10の他表面全体ではなく、一部に塗布してもよい。即ち、各々のガラス基板10の他表面全体が接合していると、後述する分離工程において、各々のガラス基板10の分離が困難になる場合がある。この場合、各々のガラス基板10の分離をより容易にするため、接着剤を、ガラス基板10の他表面に部分的に塗布し、他表面の他の箇所は、塗布しないようにすることが好ましい。また同様の観点から、分離工程までの各工程において接着強度が確保できれば、仮固定用の接着剤を使用してもよい。仮固定用の接着剤の場合、固化した後でも加熱や熱水への浸漬等により容易に接着剤が剥離できるものがある。このような接着剤を使用すれば、分離工程において各々のガラス基板10の分離をより容易に行なうことができる。
本実施の形態で使用できるスペーサとしては、特に限定されるものではないが、例えば、形状が球状である球状スペーサを使用することができる。本実施の形態の場合、この球状スペーサの直径は、例えば1mmである。またスペーサの材質としては、プラスチック材料、ガラス材料、金属材料等の各種の材料からなるものを使用することができる。
(1次ポリッシュ工程)
図1−3(g)は1次ポリッシュ工程を示している。この工程では、接合工程により接合された2枚のガラス基板10の各々の一表面を、研磨機(研磨装置、ポリッシングマシン)50を用いて同時に研磨(ポリッシング)する。これによりガラス基板10の一表面の平滑度を更に上げていく。この研磨機50は、上述した研削機40とほぼ同様な構成を有する。即ち、ガラス基板10を載置する下定盤21aと、ガラス基板10を上部から押えつけ研磨を行うために必要な圧力を加えるための上定盤21bとを備えている。そして研磨機50の下定盤21aにガラス基板10が内部に載置される円形形状の孔部34を有する保持具30を利用してガラス基板10を載置する。そして上定盤21b、下定盤21a、および太陽歯車44を回転させ、ガラス基板10の研磨を行なう。ただし、下記に示すように研磨に使用する材料等が一部異なる。
本実施の形態において、研磨を行うに際し、例えばウレタンにより形成された硬質研磨布を用い、酸化セリウム砥粒等を水に分散してスラリー化した研磨液を使用して行なうことができる。
図1−3(g)は1次ポリッシュ工程を示している。この工程では、接合工程により接合された2枚のガラス基板10の各々の一表面を、研磨機(研磨装置、ポリッシングマシン)50を用いて同時に研磨(ポリッシング)する。これによりガラス基板10の一表面の平滑度を更に上げていく。この研磨機50は、上述した研削機40とほぼ同様な構成を有する。即ち、ガラス基板10を載置する下定盤21aと、ガラス基板10を上部から押えつけ研磨を行うために必要な圧力を加えるための上定盤21bとを備えている。そして研磨機50の下定盤21aにガラス基板10が内部に載置される円形形状の孔部34を有する保持具30を利用してガラス基板10を載置する。そして上定盤21b、下定盤21a、および太陽歯車44を回転させ、ガラス基板10の研磨を行なう。ただし、下記に示すように研磨に使用する材料等が一部異なる。
本実施の形態において、研磨を行うに際し、例えばウレタンにより形成された硬質研磨布を用い、酸化セリウム砥粒等を水に分散してスラリー化した研磨液を使用して行なうことができる。
本実施の形態では、接合工程により2枚のガラス基板10の各々の他表面が互いに接合されているため、1次ポリッシュ工程では、ガラス基板10の使用する側である一表面は研磨されるが、使用しない側である他表面は研磨されない。また、2枚のガラス基板10を接合しない場合は、保持具30の孔部34には、1枚のガラス基板10が載置されるが、本実施の形態では、接合され一体となった2枚のガラス基板を載置することができる。つまり本実施の形態のようにすることで、ガラス基板10の生産性を向上させることができる。
(2次ポリッシュ工程)
図1−3(h)は2次ポリッシュ工程を示している。この工程では、図1−3(g)に示した1次ポリッシュ工程において、研磨を行ったガラス基板10の表面11を、精密研磨を行うことで更に研磨し、表面11の最終的な仕上げを行う。
本実施の形態において、この研磨を行うに際し、例えばスエード状の軟質研磨布を用い、酸化セリウム砥粒若しくはコロイダルシリカ等を水等の分散媒に分散してスラリー化した研磨液を使用して行なうことができる。なお2次ポリッシュ工程においても2枚のガラス基板10を接合した状態で研磨を行なうことができる。そのため1次ポリッシュ工程と同様にガラス基板10の生産性を向上させることができる。本実施の形態において、1次ポリッシュ工程および2次ポリッシュ工程は、接合工程により接合された2枚のガラス基板10の各々の一表面を同時に研磨する研磨工程として把握することができる。
図1−3(h)は2次ポリッシュ工程を示している。この工程では、図1−3(g)に示した1次ポリッシュ工程において、研磨を行ったガラス基板10の表面11を、精密研磨を行うことで更に研磨し、表面11の最終的な仕上げを行う。
本実施の形態において、この研磨を行うに際し、例えばスエード状の軟質研磨布を用い、酸化セリウム砥粒若しくはコロイダルシリカ等を水等の分散媒に分散してスラリー化した研磨液を使用して行なうことができる。なお2次ポリッシュ工程においても2枚のガラス基板10を接合した状態で研磨を行なうことができる。そのため1次ポリッシュ工程と同様にガラス基板10の生産性を向上させることができる。本実施の形態において、1次ポリッシュ工程および2次ポリッシュ工程は、接合工程により接合された2枚のガラス基板10の各々の一表面を同時に研磨する研磨工程として把握することができる。
(分離工程)
図1−3(i)は、分離工程を示している。この工程では、図1−2(f)で接合した2枚のガラス基板10を互いに分離する。具体的には、接合工程で使用した接着剤を溶解することができる溶液に、接合したガラス基板10を浸漬させたり、接合したガラス基板10を加熱することで接着剤を剥離させることで分離を行なう。
図1−3(i)は、分離工程を示している。この工程では、図1−2(f)で接合した2枚のガラス基板10を互いに分離する。具体的には、接合工程で使用した接着剤を溶解することができる溶液に、接合したガラス基板10を浸漬させたり、接合したガラス基板10を加熱することで接着剤を剥離させることで分離を行なう。
(最終洗浄・検査工程)
図1−4(j)は最終洗浄・検査工程を示している。最終洗浄では、上述した一連の工程において、使用した研磨剤等の汚れの除去を行う。洗浄には超音波を併用した洗剤(薬品)による化学的洗浄などの方法を用いることができる。
また、検査工程においては、例えばレーザを用いた光学式検査器により、ガラス基板10の表面の傷やひずみの有無等の検査が行われる。
図1−4(j)は最終洗浄・検査工程を示している。最終洗浄では、上述した一連の工程において、使用した研磨剤等の汚れの除去を行う。洗浄には超音波を併用した洗剤(薬品)による化学的洗浄などの方法を用いることができる。
また、検査工程においては、例えばレーザを用いた光学式検査器により、ガラス基板10の表面の傷やひずみの有無等の検査が行われる。
(梱包工程)
図1−4(k)は梱包工程を示している。梱包工程では、上記の検査工程において予め定められた品質基準に合格したガラス基板10の梱包が行なわれ、ガラス基板10の梱包体90となる。そして梱包体90は、磁気記録媒体(磁気ディスク)を製造する箇所まで輸送される。この梱包は、輸送の際にガラス基板10への塵埃等の異物の付着や表面の状態変化を抑制するために行なわれる。
図1−4(k)は梱包工程を示している。梱包工程では、上記の検査工程において予め定められた品質基準に合格したガラス基板10の梱包が行なわれ、ガラス基板10の梱包体90となる。そして梱包体90は、磁気記録媒体(磁気ディスク)を製造する箇所まで輸送される。この梱包は、輸送の際にガラス基板10への塵埃等の異物の付着や表面の状態変化を抑制するために行なわれる。
なお以上述べたガラス基板10の製造工程は、適宜変更することができる。例えば、図1−1(c)の内周研磨工程と、図1−2(e)の外周研磨工程とは逆にしてもよい。また図1−3(i)の分離工程は、行なわなくてもよい。即ち、2枚のガラス基板10を接合したまま、後段の工程を行ない、磁気ディスクを製造する箇所まで輸送してもよい。この場合は、磁気ディスクを製造する箇所において、2枚のガラス基板10を分離する作業を行なう。
10…ガラス基板、40…研削機、50…研磨機
Claims (5)
- 一表面に情報を記録する円盤状基板の製造方法であって、
前記円盤状基板の前記一表面、他表面、外周面、内周面を研削する研削工程と、
前記円盤状基板の前記内周面を研磨する内周研磨工程と、
前記円盤状基板の前記外周面を研磨する外周研磨工程と、
前記一表面が研磨面となった2枚の前記円盤状基板を、当該2枚の円盤状基板が合わせられた際の間隔を定める間隔規制部材を含む接着剤を用いて当該一表面とは反対側の他表面で接合する接合工程と、
前記接合工程により接合された2枚の前記円盤状基板の各々の前記一表面を同時に研磨する研磨工程と、
を有することを特徴とする円盤状基板の製造方法。 - 前記接合工程は、2枚の前記円盤状基板の少なくとも一方の他表面に印刷により前記接着剤を塗布し、当該接着剤により接合を行なうことを特徴とする請求項1に記載の円盤状基板の製造方法。
- 前記接合工程は、2枚の前記円盤状基板の他表面の一部に接着剤を塗布し、当該接着剤により接合を行なうことを特徴とする請求項1または2に記載の円盤状基板の製造方法。
- 前記間隔規制部材は、形状が球状であることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の円盤状基板の製造方法。
- 前記接合工程において接合した2枚の前記円盤状基板を互いに分離する分離工程を更に有することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の円盤状基板の製造方法。
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JP2010195689A JP2012053949A (ja) | 2010-09-01 | 2010-09-01 | 円盤状基板の製造方法 |
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Cited By (2)
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CN104002228A (zh) * | 2013-02-27 | 2014-08-27 | 正达国际光电股份有限公司 | 研磨机台及其加工方法 |
CN108789133A (zh) * | 2018-07-13 | 2018-11-13 | 航天精工股份有限公司 | 一种适用于轴承套圈的研磨载盘及研磨装置 |
-
2010
- 2010-09-01 JP JP2010195689A patent/JP2012053949A/ja active Pending
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