JP2012051102A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012051102A5
JP2012051102A5 JP2011186665A JP2011186665A JP2012051102A5 JP 2012051102 A5 JP2012051102 A5 JP 2012051102A5 JP 2011186665 A JP2011186665 A JP 2011186665A JP 2011186665 A JP2011186665 A JP 2011186665A JP 2012051102 A5 JP2012051102 A5 JP 2012051102A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
mems device
cantilever
mems
cap layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011186665A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5930268B2 (ja
JP2012051102A (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from US12/873,195 external-priority patent/US8304275B2/en
Application filed filed Critical
Publication of JP2012051102A publication Critical patent/JP2012051102A/ja
Publication of JP2012051102A5 publication Critical patent/JP2012051102A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5930268B2 publication Critical patent/JP5930268B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

米国特許第7,475,597号 米国特許第7,661,318号 米国特許出願公開第2008/0022777号明細書
MEMSダイ22は、正面40と、基板厚44の分だけ正面40から離れた裏面42とを有する第1基板38を更に含む。MEMSデバイス36は、第1基板38の正面40の上に、または代替的には正面40に、形成される。MEMSデバイス36が存在するカンチレバー(片持ち梁)基板台46を形成するために、MEMSデバイス36を包囲する第1基板38の材料部分は除去される。カンチレバー基板台46は、基板台46から延在するアーム48を含む。アーム48の第1端部50は第1基板38に固定され、アーム48の第2端部52は基板台46に固定される。従って、第1基板38の材料部分が除去された後、開口54は第1基板38の基板厚44を貫通して延び、カンチレバー基板台46を部分的に包囲し、アーム48の第1端部50は周囲の第1基板38に対するカンチレバー基板台46の唯一の取付点である。また、アーム48には導電性トレース55が形成される可能である。トレース55が、カンチレバー基板台46に存在するMEMSデバイス36にボンドワイヤパッド26を電気接続する。特に明記しない限り、「第1」及び「第2」等の用語は、一連の可算な要素内の要素の順序又は優先順位付けを示そうとするものではなく、議論を明確にするための特定の要素を区別するために用いている。
タスク134に関連して図12(a),(b)を参照すると、図12(a),(b)は処理140の後の段階での図11の構造の上面図136および側断面図138を示す。側断面図138は図12(a)の上面図136の切断線12−12に沿って切り取られたものである。1実施形態において、キャップ層34は、キャビティ142を備えるように適切にエッチング、機械加工、または処理されたウェハ構造であってよい。キャップ層34は、処理の後の段階中および動作中、MEMSデバイス36に対する保護を提供し、キャビティ142は、キャップ層34の内壁がMEMSデバイス36のいかなる可動部分にも接触しないようMEMSデバイス36に対する自由空間を提供する。図には示されていないが、キャップ層34は、キャップ層34の内壁がボンドワイヤパッド26に接触しないようボンドワイヤパッド26上にキャビエィを更に備えてもよい。第1基板構造38に対するキャップ層34の結合は、ガラスフリット接着、金属共晶接着等を用いて達成可能である。

Claims (20)

  1. 微小電子機械システム(MEMS)デバイスを形成する方法であって、
    MEMSデバイスを基板に形成するステップと、
    MEMSデバイスが存在するカンチレバー基板台を形成するために、前記MEMSデバイスを部分的に包囲する前記基板の一部分を除去するステップと、
    前記MEMSデバイス上を覆うキャップ層を接続するステップと、
    からなる方法。
  2. 前記除去するステップが、前記台から延在するアームを有する前記カンチレバー基板台を形成することを含み、前記アームの第1端部は前記基板に固定され、前記アームの第2端部は前記カンチレバー基板台に固定され、前記アームは前記基板に対する前記カンチレバー基板台の唯一の取付点である、
    請求項1記載の方法。
  3. 前記カンチレバー基板台を形成するために、前記除去するステップが前記基板の厚さの全体を貫通するように前記一部分をエッチングすることを含む、
    請求項1記載の方法。
  4. 前記基板が正面と、前記基板の厚さの分だけ前記正面から離れた裏面とを備え、
    前記MEMSデバイスは前記正面に形成され、
    前記除去するステップが、前記基板の一部分の少なくとも1つの区画を前記正面から裏面に除去することを含む、
    請求項1記載の方法。
  5. 前記一部分の少なくとも1つの区画が前記基板の前記厚さより短い区画厚さを有し、
    前記方法が、前記基板の前記一部分の残りを前記裏面から前記正面に除去することを更に含む、
    請求項4記載の方法。
  6. 前記一部分は第1部分であり、前記MEMSデバイスがアクティブ領域を有し、
    前記除去するステップは、前記アクティブ領域まで前記基板を貫通するアパーチャを形成するために、前記アクティブ領域下の前記基板の第2部分を除去する、
    請求項1記載の方法。
  7. 前記基板が正面と、前記基板の厚さの分だけ前記正面から離れた裏面とを備え、
    前記MEMSデバイスは前記正面に形成され、
    前記除去するステップが、
    前記基板の前記第1部分の区画を除去するために前記正面から前記裏面まで第1除去工程を実行することであって、前記区画は前記基板の前記厚さより短い区画厚さを有することと、
    前記カンチレバー基板台を形成するため、かつ前記アパーチャを形成するように前記第2部分を同時に除去するために、前記正面から前記裏面まで第2除去工程を実行することを含む、
    請求項6記載の方法。
  8. 前記基板は第1基板であり、
    前記一部分は第1部分であり、
    前記MEMSデバイスは前記第1基板の第1正面に形成され、
    前記方法が、
    第2基板を提供するステップと、
    第2カンチレバー基板台を形成するために前記第2基板の第2部分を除去するステップと、
    積み重ね型カンチレバー台構造を形成するために前記第2カンチレバー基板台を前記カンチレバー基板台に垂直積み重ねるように前記第2基板の第2正面を前記第1基板の第1裏面に取り付けるステップと、
    を含む、
    請求項1記載の方法。
  9. MEMSデバイスがアクティブ領域を有し、
    前記除去するステップが、
    前記第1部分の区画を除去するために、前記第1基板の前記第1正面から前記第1基板の前記第1裏面まで第1除去工程を実行するステップであって、前記区画は前記第1基板の厚さより短い区画厚さを有することと、
    前記第1部分の残りを除去するために、かつ前記第1基板を貫通するアパーチャを形成するように前記アクティブ領域の下の前記第1基板の第3部分を同時に除去するために、前記第1基板の前記第1裏面から前記第1基板の第1正面まで第2除去工程を実行するステップと、
    を含み、
    前記方法は更に、
    前記第2除去工程後、前記取り付けるステップを実行するステップを更に含み、
    前記MEMSデバイスの前記アクティブ領域下に密封されたキャビティを形成するために前記第2基板が前記アパーチャを覆う、
    請求項8記載の方法。
  10. 前記第1部分及び前記第2部分を除去するステップが、前記積み重ね型カンチレバー台構造を部分的に包囲する前記第1基板及び前記第2基板を貫通する開口を生じ、
    前記方法が、
    前記開口をブロックするようにプラグ部材を前記第2基板の第2裏面に配置するステップと、
    前記MEMSデバイス及び前記接続されたキャップ層を実質的に封止するようにモールド成形化合物を施すステップであって、前記施すステップは前記配置するステップの後に実行されるステップと、
    前記施すステップの後に、前記開口の少なくとも一部分を露出するために前記プラグ部材を除去するステップと
    を更に含む、
    請求項8記載の方法。
  11. 前記方法が、
    前記MEMSデバイス及び前記接続されたキャップ層を実質的に封止するためにモールド成形化合物を施すステップであって、前記キャップ層は、モールド成形化合物が前記MEMSデバイスに接触することを防止するステップ
    を更に含む、
    請求項1記載の方法。
  12. 前記形成するステップが、前記基板にボンドワイヤパッドを形成し、
    前記ボンドワイヤパッドはトレースを介して前記MEMSデバイスに電気接続し、
    前記方法が、
    前記MEMSデバイスの前記ボンドワイヤパッドを前記キャップ層の外部に露出するステップと、
    前記ボンドワイヤパッドを導電性相互接続部を介して集積回路ダイに電気的に相互接続するステップと、を更に含み、
    前記施すステップが前記モールド成形化合物を用いて前記集積回路ダイ、前記導電性相互接続部、前記ボンドワイヤパッド、前記MEMSデバイス、および前記キャップ層を同時に封止する、請求項11記載の方法。
  13. 前記形成するステップが、MEMSデバイスのパネルを形成するために複数のMEMSデバイス及びボンドワイヤパッドを前記基板に形成し、
    前記ボンドワイヤパッドの個別の組は前記複数のMEMSデバイスの各々に接続され、
    前記除去するステップは、複数のカンチレバー基板台を形成するために前記MEMSデバイスを包囲する前記基板の前記一部分を除去し、
    前記MEMSデバイスの少なくとも1つは前記カンチレバー基板台の各々に存在し、
    前記キャップ層が複数のMEMSデバイスを覆い、
    前記露出するステップが前記複数のMEMSデバイスの各々の前記ボンドワイヤパッドを露出し、
    前記方法が、
    前記パネルの前記複数のMEMSデバイスを分割してMEMSデバイスを形成するステップであって、前記MEMSデバイスは前記複数のMEMSデバイスの1つであるステップと、
    を更に含む、
    請求項12記載の方法。
  14. アセンブリであって、
    基板と、前記基板が内部にカンチレバー基板台を含み、前記カンチレバー基板台が前記台から延びるアームを含み、前記アームの第1端部は前記基板に固定され、前記アームの第2端部はカンチレバー基板台に固定され、前記アームは前記カンチレバー基板台に対する前記基板の唯一取付点であることと、
    前記カンチレバー基板台に存在する前記微小電子機械(MEMS)デバイスと、
    前記MEMSデバイスの上を覆うキャップ層と、
    を備えたアセンブリ。
  15. 前記基板は第1基板であり、
    前記MEMSデバイスは前記第1基板の正面に形成され、
    前記アセンブリが、前記第1基板の裏面に取り付けられた第2基板を更に備え、
    前記第2基板が、積み重ね型カンチレバー台構造を形成するために前記カンチレバー基板台と共に垂直に積み重ねられた第2カンチレバー基板台を有する、
    請求項14記載のアセンブリ。
  16. 前記MEMSデバイスがアクティブ領域を備え、
    前記第1基板が、前記アクティブ領域下に配置されると共に、前記アクティブ領域まで前記第1基板を貫通して延びるアパーチャを有し、
    前記MEMSデバイスの前記アクティブ領域下に密封されたキャビティを形成するために前記第2カンチレバー基板台が前記アパーチャを覆うように、前記第2基板が前記第1基板に取り付けられる、
    請求項15記載のアセンブリ。
  17. 前記MEMSデバイス及び前記キャップ層を実質的に封止するモールド成形化合物を更に備え、前記キャップ層はモールド成形化合物が前記MEMSデバイスに接触するのを防止する、
    請求項14記載のアセンブリ。
  18. 前記MEMSデバイスが、前記基板に形成されたボンドワイヤパッドと、前記アームに形成されたトレースとを備え、
    前記トレースは前記ボンドワイヤパッドを前記MEMSデバイスと電気接続し、
    前記アセンブリが、導電性相互接続部を介してボンドワイヤパッドに相互接続された集積回路ダイを更に備え、
    前記モールド成形化合物が、前記集積回路ダイ、前記導電性相互接続部、前記ボンドワイヤパッド、前記MEMSデバイス、および前記キャップ層を実質的に封止する、
    請求項17記載のアセンブリ。
  19. 微小電子機械システム(MEMS)アセンブリをパッケージングする方法であって、
    前記MEMSアセンブリがカンチレバー基板台に形成されたMEMSデバイスと、前記MEMSデバイスの上を覆うキャップ層とを備え、前記カンチレバー基板台が前記カンチレバー基板台から延びるアームを有し、前記アームの第1端部は基板に固定され、前記アームの第2アームは前記カンチレバー基板台に固定され、前記アームは前記基板に対する前記カンチレバー基板台の唯一の取付点であり、
    前記方法は、
    前記MEMSデバイス及び前記キャップ層を実質的に封止するためにモールド成形化合物を施すステップであって、前記キャップ層は、モールド成形化合物が前記MEMSデバイスに接触することを防止するステップ
    を含む方法。
  20. 前記MEMSアセンブリが、
    前記MEMSデバイスに電気接続され、かつ前記キャップ層の外部に露出されたボンドワイヤパッドを更に含み、
    前記方法が、
    前記施すステップ前に、導電性相互接続部を介して前記ボンドワイヤパッドを集積回路ダイに電気接続するステップを更に含み、
    前記施すステップが前記集積回路ダイ、前記導電性相互接続部、および前記MEMSアセンブリを実質的に封止する、
    請求項19記載の方法。
JP2011186665A 2010-08-31 2011-08-30 Memsデバイスアセンブリ及びそのパッケージング方法 Expired - Fee Related JP5930268B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/873,195 US8304275B2 (en) 2010-08-31 2010-08-31 MEMS device assembly and method of packaging same
US12/873,195 2010-08-31

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012051102A JP2012051102A (ja) 2012-03-15
JP2012051102A5 true JP2012051102A5 (ja) 2014-10-16
JP5930268B2 JP5930268B2 (ja) 2016-06-08

Family

ID=44645550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011186665A Expired - Fee Related JP5930268B2 (ja) 2010-08-31 2011-08-30 Memsデバイスアセンブリ及びそのパッケージング方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8304275B2 (ja)
JP (1) JP5930268B2 (ja)
CN (1) CN102381678B (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8889451B2 (en) 2012-02-21 2014-11-18 Freescale Semiconductor, Inc. MEMS pressure transducer assembly and method of packaging same
DE102012010842A1 (de) * 2012-05-31 2013-12-05 Hella Kgaa Hueck & Co. Sensor mit von einem Substrat umhüllten Sensorelement
US9008590B2 (en) * 2012-09-10 2015-04-14 Broadcom Corporation Liquid MEMS component and RF applications thereof
US9980702B2 (en) * 2012-12-31 2018-05-29 Volcano Corporation Wirebonding fixture and casting mold
US9173024B2 (en) * 2013-01-31 2015-10-27 Invensense, Inc. Noise mitigating microphone system
US9676614B2 (en) * 2013-02-01 2017-06-13 Analog Devices, Inc. MEMS device with stress relief structures
US9266717B2 (en) 2013-03-15 2016-02-23 Versana Micro Inc Monolithically integrated multi-sensor device on a semiconductor substrate and method therefor
JP2014216782A (ja) * 2013-04-24 2014-11-17 小島プレス工業株式会社 マイク・カバー複合部材及びその製造方法
CN105430582A (zh) * 2014-06-05 2016-03-23 美商楼氏电子有限公司 Mems麦克风组件
US9472528B2 (en) * 2014-06-05 2016-10-18 Freescale Semiconductor, Inc. Integrated electronic package and method of fabrication
US20150355458A1 (en) * 2014-06-10 2015-12-10 Shuyun (Steve) Wu Micro-machined optical mirror switch
US10167189B2 (en) 2014-09-30 2019-01-01 Analog Devices, Inc. Stress isolation platform for MEMS devices
US9446940B2 (en) 2014-10-03 2016-09-20 Freescale Semiconductor, Inc. Stress isolation for MEMS device
US9837526B2 (en) 2014-12-08 2017-12-05 Nxp Usa, Inc. Semiconductor device wtih an interconnecting semiconductor electrode between first and second semiconductor electrodes and method of manufacture therefor
WO2016102922A1 (en) * 2014-12-23 2016-06-30 Cirrus Logic International Semiconductor Limited Mems transducer package
US9458008B1 (en) 2015-03-16 2016-10-04 Freescale Semiconductor, Inc. Method of making a MEMS die having a MEMS device on a suspended structure
US10131538B2 (en) 2015-09-14 2018-11-20 Analog Devices, Inc. Mechanically isolated MEMS device
US10348295B2 (en) 2015-11-19 2019-07-09 Nxp Usa, Inc. Packaged unidirectional power transistor and control circuit therefore
US10060820B2 (en) 2015-12-22 2018-08-28 Continental Automotive Systems, Inc. Stress-isolated absolute pressure sensor
US20170240418A1 (en) * 2016-02-18 2017-08-24 Knowles Electronics, Llc Low-cost miniature mems vibration sensor
US9856134B2 (en) 2016-02-26 2018-01-02 Infineon Technologies Ag Microelectromechanical system and a method of manufacturing a microelectromechanical system
KR102359943B1 (ko) * 2017-09-13 2022-02-07 현대자동차 주식회사 마이크로폰 장치
JP6745774B2 (ja) * 2017-09-20 2020-08-26 株式会社東芝 センサ及び電子機器
EP3651479B1 (de) * 2018-11-08 2022-06-01 Usound GmbH Herstellungsverfahren für zumindest eine membraneinheit eines mems-wandlers
WO2020204834A1 (en) * 2019-04-01 2020-10-08 Meridian Innovation Pte Ltd Heterogenous integration of complementary metal-oxide-semiconductor and mems sensors
US11498829B2 (en) 2020-01-16 2022-11-15 Nxp Usa, Inc. No-gel pressure sensor package
US11417611B2 (en) 2020-02-25 2022-08-16 Analog Devices International Unlimited Company Devices and methods for reducing stress on circuit components
US11981560B2 (en) 2020-06-09 2024-05-14 Analog Devices, Inc. Stress-isolated MEMS device comprising substrate having cavity and method of manufacture
CN112811387B (zh) * 2021-01-19 2023-12-26 潍坊歌尔微电子有限公司 防水气压计加工工艺和防水气压计
US20220242722A1 (en) * 2021-01-29 2022-08-04 Texas Instruments Incorporated Stress isolation using three-dimensional trenches
FR3123344A1 (fr) * 2021-05-31 2022-12-02 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Microsystème électromécanique

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06291334A (ja) * 1993-04-05 1994-10-18 Japan Aviation Electron Ind Ltd 加速度センサ
JPH09304211A (ja) * 1996-05-15 1997-11-28 Omron Corp 静電容量型圧力センサのパッケージング構造およびパッケージング方法
JP3392069B2 (ja) * 1999-02-15 2003-03-31 松下電工株式会社 半導体加速度センサおよびその製造方法
DE19929026B4 (de) * 1999-06-25 2011-02-24 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Drucksensors
AUPR245301A0 (en) * 2001-01-10 2001-02-01 Silverbrook Research Pty Ltd An apparatus (WSM06)
US7478559B2 (en) 2003-12-04 2009-01-20 National University Of Singapore Capacitive pressure sensor with a cantilever member
US20050172717A1 (en) * 2004-02-06 2005-08-11 General Electric Company Micromechanical device with thinned cantilever structure and related methods
JP4513758B2 (ja) * 2006-02-07 2010-07-28 株式会社デンソー モールドパッケージおよびその製造方法
US7475597B2 (en) 2006-02-27 2009-01-13 Auxitrol S.A. Stress isolated pressure sensing die
US7661318B2 (en) 2006-02-27 2010-02-16 Auxitrol S.A. Stress isolated pressure sensing die, sensor assembly inluding said die and methods for manufacturing said die and said assembly
TW200834830A (en) * 2007-02-06 2008-08-16 Advanced Semiconductor Eng Microelectromechanical system package and the method for manufacturing the same
NL2000566C2 (nl) * 2007-03-30 2008-10-02 Elmos Advanced Packaging B V Sensorelement en sensorsamenstel met omhulling.
US20080290430A1 (en) 2007-05-25 2008-11-27 Freescale Semiconductor, Inc. Stress-Isolated MEMS Device and Method Therefor
US9343242B2 (en) 2007-06-22 2016-05-17 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Method of making contact posts for a microelectromechanical device
CN101271124B (zh) * 2008-05-16 2010-09-29 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 L形梁压阻式微加速度计及其制作方法
CN101329361B (zh) * 2008-05-30 2011-06-15 无锡市纳微电子有限公司 兼有测量压强、温度变化功能的微型硅加速度计及其加工方法
JP2010008613A (ja) * 2008-06-25 2010-01-14 Panasonic Electric Works Co Ltd 半導体機械構造体及びそれを用いた光走査ミラー
JP5052459B2 (ja) * 2008-09-08 2012-10-17 トレックス・セミコンダクター株式会社 半導体センサー装置
TW201019453A (en) * 2008-11-05 2010-05-16 Windtop Technology Corp MEMS package
CN101551403B (zh) * 2009-05-22 2012-09-05 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种测试加速度,压力和温度的集成硅芯片及制作方法
CN101561510B (zh) * 2009-05-25 2011-09-28 西南石油大学 三维mems地震检波器芯片及其制备方法
US8569092B2 (en) * 2009-12-28 2013-10-29 General Electric Company Method for fabricating a microelectromechanical sensor with a piezoresistive type readout
JP5825258B2 (ja) * 2010-06-21 2015-12-02 大日本印刷株式会社 力学量センサ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012051102A5 (ja)
JP5930268B2 (ja) Memsデバイスアセンブリ及びそのパッケージング方法
US8399940B2 (en) Package structure having MEMS elements and fabrication method thereof
US20120306031A1 (en) Semiconductor sensor device and method of packaging same
CN104303262A (zh) 用于其中一部分暴露在环境下的密封mems设备的工艺
JP6271151B2 (ja) キャビティ型半導体パッケージおよびそのパッケージング方法
JP2010510663A (ja) 半導体デバイスおよび組み立てコネクタをパッケージングする方法
JP2004525778A5 (ja)
CN107265393B (zh) 包含mems管芯的半导体设备
US20130328176A1 (en) Emi-shielded semiconductor devices and methods of making
US20110250760A1 (en) Method for manufacturing a micro-electromechanical structure
JP5721742B2 (ja) ウェハ構造の電気的結合
TWI345289B (en) Microelectromechanical system package and the method for manufacturing the same
US7911043B2 (en) Wafer level device package with sealing line having electroconductive pattern and method of packaging the same
JP7144157B2 (ja) 半導体装置およびその製造方法
US20140374855A1 (en) Pressure sensor and method of packaging same
JP2018032896A (ja) トランスデューサ装置およびその製造方法
JP2010538847A (ja) 複数のチップの製造方法
KR101840626B1 (ko) 반도체 패키지 및 반도체 패키지의 제조 방법
TWI735843B (zh) 微機電系統麥克風封裝
JP4357278B2 (ja) 集積回路ダイ製作方法
JP2013154465A (ja) Memsデバイスアセンブリおよびそのパッケージング方法
TWI525763B (zh) 晶片封裝體及其形成方法
US11390519B2 (en) Method for manufacturing a MEMS sensor
US11710684B2 (en) Package with separate substrate sections