JP2012049599A - スイッチドキャパシター回路、検出装置及び電子機器 - Google Patents

スイッチドキャパシター回路、検出装置及び電子機器 Download PDF

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Abstract

【課題】負荷電流による電圧ドロップを抑制するスイッチドキャパシター回路、検出装置及び電子機器等を提供すること。
【解決手段】スイッチドキャパシター回路は、出力用の演算増幅器OPBと、スイッチドキャパシター動作を行うための複数のスイッチ素子SB1〜SB8と、スイッチドキャパシター動作を行うための複数のキャパシターCB1,CB2と、スイッチドキャパシター回路の出力端子ノードNTと第1のスイッチ素子SB6との間に設けられる静電保護用の抵抗素子RB1と、を含む。
【選択図】図2

Description

本発明は、スイッチドキャパシター回路、検出装置及び電子機器等に関する。
携帯電話機やカーナビゲーションシステム等の電子機器には、角速度等の物理量を検出するためのジャイロセンサーが組み込まれている。このジャイロセンサーは、例えば手振れ補正や姿勢制御、GPS自律航法等に用いられる。
ジャイロセンサーからの所望信号は検出装置により検出され、その所望信号として、ジャイロセンサーの角速度に応じたDC電圧が検出装置から出力される(例えば特許文献1)。このDC電圧は角速度に応じて増減する電圧であり、その角速度に対する電圧変化率がジャイロセンサーの検出感度となる。
特開2008−224230号公報 昭64−16010号公報
しかしながら、検出装置に対する負荷電流によってDC電圧に電圧ドロップが生じ、その電圧ドロップにより検出角速度に誤差が生じるという課題がある。例えば、検出装置の出力アンプとしてスイッチドキャパシター回路(例えば特許文献2)によるローパスフィルターが用いられる。この出力アンプの出力端子には、一般的に静電保護用の抵抗素子が設けられ、その抵抗素子に負荷電流が流れることでDC電圧が電圧ドロップしてしまう。
本発明の幾つかの態様によれば、負荷電流による電圧ドロップを抑制するスイッチドキャパシター回路、検出装置及び電子機器等を提供できる。
本発明の一態様は、出力用の演算増幅器と、スイッチドキャパシター動作を行うための複数のスイッチ素子と、スイッチドキャパシター動作を行うための複数のキャパシターと、スイッチドキャパシター回路の出力端子ノードと、前記複数のスイッチ素子のうちの第1のスイッチ素子との間に設けられる静電保護用の抵抗素子と、を含むスイッチドキャパシター回路に関係する。
本発明の一態様によれば、静電保護用の抵抗素子が出力端子ノードと第1のスイッチ素子との間に設けられる。これにより、演算増幅器を保護するための静電保護用の抵抗素子を演算増幅器のフィードバックループの中に設けることが可能になるため、出力端子ノードの電圧をフィードバック制御し、負荷電流による電圧ドロップを抑制することが可能になる。
また、本発明の一態様では、前記演算増幅器の第1の入力ノードに一端が接続されるフィードバックキャパシターを含み、前記フィードバックキャパシターの他端は、静電保護用の抵抗素子を介さずに前記スイッチドキャパシター回路の前記出力端子ノードに接続されてもよい。
このようにすれば、出力端子ノードから演算増幅器の第1の入力ノードへのフィードバックを静電保護用の抵抗素子を介さずに行うことができる。また、フィードバックキャパシターの他端が出力端子ノードに接続されることで、出力端子ノードの電圧をフィードバック制御し、負荷電流による電圧ドロップを抑制できる。
また、本発明の一態様では、前記複数のスイッチ素子は、スイッチ素子領域にレイアウト配置され、前記複数のキャパシターと前記フィードバックキャパシターは、前記スイッチ素子領域の第1の方向側に設けられるキャパシター領域にレイアウト配置され、前記演算増幅器は、前記キャパシター領域の前記第1の方向側に設けられる演算増幅器領域にレイアウト配置されてもよい。
このようにすれば、スイッチ素子領域と演算増幅器領域との間にキャパシター領域を配置できる。これにより、スイッチドキャパシター動作を行うためのスイッチ素子とキャパシターを接近して配置し、その間の配線を短縮することが可能になる。
また、本発明の一態様では、前記第1の方向の反対方向を第2の方向とする場合に、前記複数のスイッチ素子を制御するための制御信号線は、前記スイッチ素子領域に対して前記第2の方向側から配線されてもよい。
また、本発明の一態様では、前記制御信号線は、前記第1の方向に沿った方向に配線されてもよい。
これらの本発明の一態様によれば、スイッチ素子領域に対してキャパシター領域の反対側から制御信号線を配線できる。これにより、制御信号線がスイッチドキャパシター回路の他の配線とカップリングしてノイズ等を生じることを抑止できる。
また、本発明の一態様では、前記静電保護用の抵抗素子は、前記スイッチ素子領域と前記演算増幅器領域との間にレイアウト配置されてもよい。
また、本発明の一態様では、前記静電保護用の抵抗素子は、前記スイッチ素子領域と前記キャパシター領域との間にレイアウト配置されてもよい。
これらの本発明の一態様によれば、スイッチ素子領域と演算増幅器領域との間あるいはスイッチ素子領域とキャパシター領域との間にレイアウト配置される。これにより、第1のスイッチ素子と静電保護用の抵抗素子との間の配線を短縮することが可能になる。
また、本発明の一態様では、前記演算増幅器の出力ノードと、前記スイッチドキャパシター回路の前記出力端子ノードとの間に設けられる第2の静電保護用の抵抗素子を含んでもよい。
このようにすれば、第2の静電保護用の抵抗素子を、演算増幅器の出力ノードとスイッチドキャパシター回路の出力端子ノードとの間に設けることができる。これにより、フィードバックキャパシターによるフィードバックループ内に第2の静電保護用の抵抗素子が設けられるため、第2の静電保護用の抵抗素子による電圧ドロップを抑止できる。
また、本発明の一態様では、前記第2の静電保護用の抵抗素子は、前記キャパシター領域と前記演算増幅器領域との間にレイアウト配置されてもよい。
このようにすれば、第2の静電保護用の抵抗素子を、キャパシター領域と演算増幅器領域との間に配置できる。これにより、演算増幅器と第2の静電保護用の抵抗素子との間の配線を短縮することが可能になる。
また、本発明の一態様では、少なくとも1つのフィードバックキャパシターを含み、前記少なくとも1つのフィードバックキャパシターの各フィードバックキャパシターの容量値の合計をCfとし、スイッチドキャパシター回路の出力端子のパッド容量をCpとし、前記スイッチドキャパシター動作の動作周波数をFとし、前記第2の静電保護用の抵抗素子の抵抗値をR2とする場合に、R2≦1/(4π・F・(Cf+Cp))を満たしてもよい。
このようにすれば、抵抗値R2がR2≦1/(4π・F・(Cf+Cp))を満たすことで、2・F≦1/(2π・R2・(Cf+Cp))を満たすことができる。これにより、動作周波数の半周期の間にキャパシターの充放電を完了することが可能になる。
また、本発明の他の態様は、上記のいずれかに記載のスイッチドキャパシター回路を含み、センサーデバイスからの所望信号を検出する検出装置に関係する。
また、本発明の他の態様では、前記センサーデバイスは、ジャイロセンサーであってもよい。
また、本発明の他の態様では、前記スイッチドキャパシター回路は、前記ジャイロセンサーによりセンシングされた角速度に対応するDC電圧を出力するフィルター回路であってもよい。
このようにすれば、スイッチドキャパシター回路が負荷電流による電圧ドロップを抑制可能であることで、検出装置が角速度に対応するDC電圧を高精度に出力することが可能になる。
また、本発明の他の態様では、スイッチドキャパシター回路の出力負荷電流に対する前記DC電圧の変動値Y[V]は、前記角速度に対する検出装置の感度X[V/dps]以下であってもよい。
このようにすれば、出力負荷電流に対するDC電圧の変動値を検出装置の感度以下にできる。
また、本発明の他の態様では、スイッチドキャパシター回路の出力負荷電流に対する前記DC電圧の変動値Y[V]は、前記DC電圧についてのA/D変換器の1LSBに対応する電圧値VLSB[V]以下であってもよい。
このようにすれば、出力負荷電流に対するDC電圧の変動値をA/D変換器の1LSBに対応する電圧値以下にできる。
また、本発明のさらに他の態様は、上記のいずれかに記載の検出装置を含む電子機器に関係する。
比較例のスイッチドキャパシター回路。 本実施形態のスイッチドキャパシター回路の構成例。 本実施形態のスイッチドキャパシター回路の第2の構成例。 第2の構成例の動作説明図。 レイアウト配置例。 検出装置の構成例。 検出装置の信号波形例。 電子機器の構成例。
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
1.比較例
まず、図1を用いて本実施形態の比較例について説明する。図1に示す比較例は、例えばセンサーデバイスからの所望信号を検出する検出回路の出力アンプとして用いられるスイッチドキャパシター回路である。
この比較例では、キャパシターCA3により演算増幅器OPAの出力ノードNQから負極性入力ノードN1へのフィードバックが行われ、出力ノードNQと出力端子TQとの間に静電保護用の抵抗素子RAが設けられる。そのため、出力端子TQに負荷電流が流れると、静電保護用の抵抗素子RAにより電圧VTと電圧VQとの間に電圧ドロップが生じるという課題がある。本来の出力電圧はフィードバック制御された電圧VQであるため、この電圧ドロップは検出装置の出力電圧誤差となってしまう。
例えば、センサーデバイスがジャイロセンサーであり、検出装置の検出感度が1mV/dps(dps: degree per second)であるとすると、数mVの出力電圧誤差であっても検出精度が劣化してしまう。また、負荷電流は、検出装置の後段に接続される回路等の外部要因によって変化するものであるため、その外部要因の変化によって出力電圧誤差が変化し、角速度ゼロに対応する基準電圧が定まらなくなってしまう。
2.スイッチドキャパシター回路
図2に、負荷電流による出力電圧の電圧ドロップを抑制できるスイッチドキャパシター回路の構成例を示す。このスイッチドキャパシター回路は、演算増幅器OPB、キャパシターCB1〜CB3、スイッチ素子SB1〜SB8、第1,第2の静電保護用の抵抗素子RB1,RB2を含む。
このスイッチドキャパシター回路では、サンプリング期間(第1期間)においてスイッチ素子SB1,SB2,SB5,SB6がオンになり、スイッチ素子SB3,SB4,SB7,SB8がオフになる。そして、入力電圧VIをサンプリングし、入力電圧に対応する出力電圧VTを出力する。一方、ホールド期間(第2期間)においてスイッチ素子SB1,SB2,SB5,SB6がオフになり、スイッチ素子SB3,SB4,SB7,SB8がオンになる。そして、出力電圧VTをホールドして出力する。
この構成例では、静電保護用の抵抗素子RB2は、演算増幅器OPBの出力ノードNQと、出力端子TQに接続される出力端子ノードNTとの間に設けられる。そして、キャパシターCB3が、出力端子ノードNTから演算増幅器OPBの負極性入力ノードN1(第1入力ノード)へのフィードバック(負帰還)を行う。出力端子ノードNTの電圧VTがフィードバック制御されるため、出力端子TQに負荷電流が印加されても抵抗素子RB2による電圧ドロップが生じない。
また、静電保護用の抵抗素子RB1は、出力端子ノードNTとスイッチ素子SB6の一端側のノードNB5との間に設けられる。この抵抗素子RB1は、静電保護用の抵抗素子RB2をフィードバックループの中に入れるために必要な静電保護用の抵抗素子である。すなわち、この抵抗素子RB1により、出力端子TQに印加されたESD(Electrostatic Discharge)からスイッチ素子SB6を保護することができる。
なお、上記のスイッチ素子SB1〜SB8は、例えばCMOSトランジスターにより構成され、例えば図6に示す制御部112からの制御信号(クロック信号)によりオン・オフ制御される。また、演算増幅器OPAの正極性入力ノードN2(第2入力ノード)には、例えばグランド電圧等の基準電圧VAが入力される。
さて上述のように、検出装置の出力電圧を外部に出力するスイッチドキャパシター回路では、静電保護用の抵抗素子に負荷電流が流れることで、出力電圧に電圧ドロップが生じるという課題がある。
この点、本実施形態のスイッチドキャパシター回路は、図2に示すように、出力用の演算増幅器OPBと、スイッチドキャパシター動作を行うための複数のスイッチ素子SB1〜SB8と、スイッチドキャパシター動作を行うための複数のキャパシターCB1,CB2と、スイッチドキャパシター回路の出力端子ノードNTと第1のスイッチ素子SB6との間に設けられる静電保護用の抵抗素子RB1と、を含む。
このようにすれば、静電保護用の抵抗素子RB1が出力端子ノードNTと第1のスイッチ素子SB6との間に設けられる。これにより、静電保護用の抵抗素子による出力電圧VTの電圧ドロップを抑制することが可能になる。すなわち、スイッチ素子SB6を静電保護するための抵抗素子RB1が、キャパシターCB3によりフィードバック制御されるポイント(RB2→TQの経路とRB2→RB1の経路の分岐点)とスイッチ素子SB6との間に設けられる。これにより、静電保護用の抵抗素子RD2を演算増幅器OPBのフィードバックループの中に設け、出力端子ノードNTの電圧VTをフィードバック制御することが可能になる。
ここで、スイッチドキャパシター動作とは、キャパシターに接続されたスイッチ素子をオン・オフ制御することで、キャパシターによる入力電圧のサンプリングや、キャパシター間のチャージ分配や、キャパシターによる電圧のホールドを行う動作である。
また、本実施形態スイッチドキャパシター回路は、演算増幅器OPBの第1の入力ノードN1に一端が接続されるフィードバックキャパシターCB3を含む。そして、フィードバックキャパシターCB3の他端は、静電保護用の抵抗素子を介さずにスイッチドキャパシター回路の出力端子ノードNTに接続される。
このようにすれば、出力端子ノードNTから演算増幅器の第1の入力ノードN1へのフィードバックを静電保護用の抵抗素子を介さずに行うことができる。これにより、フィードバックループの周波数特性の劣化を抑止できる。また、キャパシターCB3の他端が出力端子ノードNTに接続されることで、電圧VTを演算増幅器OPBによりフィードバック制御できる。
また、本実施形態スイッチドキャパシター回路は、演算増幅器OPBの出力ノードNQとスイッチドキャパシター回路の出力端子ノードNTとの間に設けられる第2の静電保護用の抵抗素子RD2を含む。より具体的には、第2の静電保護用の抵抗素子RD2は、キャパシターCB3によりフィードバック制御されるポイントと出力ノードNQとの間に設けられる。
このようにすれば、キャパシターCB3によりフィードバック制御されるポイントと出力端子TQとの間に静電保護用の抵抗素子を設ける必要がなくなるため、静電保護用の抵抗素子に負荷電流が流れることで生じる電圧ドロップを抑止できる。
3.スイッチドキャパシター回路の第2の構成例
図3に、スイッチドキャパシター回路の第2の構成例を示す。このスイッチドキャパシター回路は、第1,第2の演算増幅器OPD1,OPD2、キャパシターCD1〜CD8、スイッチ素子SD1〜SD18、第1,第2の静電保護用の抵抗素子RD1,RD2を含む。
図3に示すように、第1期間においてスイッチ素子SD1,SD3,SD5,SD8,SD9,SD13,SD15,SD17,SD18がオンになり、スイッチ素子SD2,SD4,SD6,SD7,SD10,SD11,SD12,SD14,SD16がオフになる。そして、キャパシターCD1とCD2の間でチャージ分配を行い、キャパシターCD1とCD2により入力電圧VIをサンプリングし、キャパシターCD5により電圧VQ1をサンプリングする。また、キャパシターCD4とCD8の間でチャージ分配を行い、出力電圧VTを出力する。
一方、図4に示すように、第2期間においてスイッチ素子SD1,SD3,SD5,SD8,SD9,SD13,SD15,SD17,SD18がオフになり、スイッチ素子SD2,SD4,SD6,SD7,SD10,SD11,SD12,SD14,SD16がオンになる。そして、キャパシターCD2により入力電圧VIをサンプリングし、キャパシターCD4とCD5の間でチャージ分配を行い、キャパシターCD4とCD5により電圧VQ1をサンプリングする。また、キャパシターCD1とCD6とCD7の間でチャージ分配を行い、出力電圧VTを出力する。
この構成例では、静電保護用の抵抗素子RD2は、演算増幅器OPD2の出力ノードNQ2と、出力端子ノードNTとの間に設けられる。そして、キャパシターCD8が、出力端子ノードNTから演算増幅器OPD2の負極性入力ノードN21へのフィードバックを行う。また、キャパシターCD7が、出力端子ノードNTから演算増幅器OPD1の負極性入力ノードN11へのフィードバックを行う。このように抵抗素子RD2がフィードバックループの中に設けられることで、抵抗素子RB2による電圧ドロップを抑制できる。
また、静電保護用の抵抗素子RD1は、出力端子ノードNTとスイッチ素子SD9の一端側のノードND11との間に設けられる。この抵抗素子RD1により、出力端子TQに印加されたESDからスイッチ素子SD9を保護することができる。
ここで、各フィードバックキャパシターCD7,CD8の容量値の合計をCf(Cf=CD7+CD8)とし、スイッチドキャパシター回路の出力端子TQのパッド容量をCpとし、スイッチドキャパシター動作の動作周波数をFとし、第2の静電保護用の抵抗素子RD2の抵抗値をR2とする。この場合に、R2≦1/(4π・F・(Cf+Cp))を満たす。
このようにすれば、2・F≦1/(2π・R2・(Cf+Cp))を満たすことができる。すなわち、フィードバックキャパシターCD7,CD8と静電保護用の抵抗素子RD2により構成されるローパスフィルターの帯域を、スイッチドキャパシター回路のサンプリング周波数Fの2倍以上にできる。これにより、第1期間や第2期間においてキャパシターCD7,CD8の充放電を完了して正確な出力端子電圧VTを出力できる。
なお、本実施形態のスイッチドキャパシター回路は、少なくとも1つのフィードバックキャパシターを含む。すなわち、図2に示すように、1つのフィードバックキャパシターCB3を含んでもよく、図3に示すように、2以上のフィードバックキャパシターCD7,CD8を含んでもよい。ここで、フィードバックキャパシターとは、出力端子ノードNTの電圧VTを演算増幅器OPD1,OPD2の入力ノードN11,N21にフィードバックするキャパシターである。
また、本実施形態では、静電保護用の抵抗素子RD1の抵抗値をR1とし、スイッチドキャパシター回路の最大ゲイン誤差(例えば設計仕様における最大ゲイン誤差)をGeとする場合に、R1・F・CD1≦Geを満たす。
このようにすれば、静電保護用の抵抗素子RD1によるスイッチドキャパシター回路のゲイン誤差R1・F・CD1を最大ゲイン誤差Ge以下にできる。
なお、上記のスイッチ素子SD1〜SD18は、例えばCMOSトランジスターにより構成され、例えば図6に示す制御部112からの制御信号(クロック信号)によりオン・オフ制御される。また、演算増幅器OPD1,OPD2の正極性入力ノードN12,N22には、例えばグランド電圧等の基準電圧VAが入力される。
4.レイアウト配置
図5に、図3で上述したスイッチドキャパシター回路のレイアウト配置例を示す。図5に示すように、第1の方向D1の反対方向を第2の方向D2とし、方向D1に直交する方向を第3の方向D3及び第4の方向D4とする。
図5に示すように、スイッチ素子SD1〜SD18は、スイッチ素子領域SWRに配置(レイアウト配置)される。キャパシターCD1〜CD8は、キャパシター領域CRに配置される。演算増幅器OPD1,OPD2は、演算増幅器領域OPRに配置される。これらの領域は、方向D1に沿った方向にスイッチ素子領域SWR、キャパシター領域CR、演算増幅器領域OPRの順番で配置される。
より具体的には、キャパシター領域CRにおいてキャパシターCD6〜CD8は方向D4に沿った方向に順次配置される。キャパシターCD1〜CD5は、キャパシターCD7の方向D2側に配置され、方向D4に沿った方向に順次配置される。また、演算増幅器領域OPRにおいて演算増幅器領域OPD1,OPD2は方向D4に沿った方向に順次配置される。また、静電保護用の抵抗素子RD1は、スイッチ素子領域SWRとキャパシター領域CRとの間に配置され、静電保護用の抵抗素子RD2は、キャパシター領域CRと演算増幅器領域OPRとの間に配置される。
図5のA1に示すように、スイッチ素子SD1〜SD18をオン・オフ制御する制御信号を伝送するラインは、スイッチ素子領域SWRの方向D2側から配線(レイアウト配線)される。また、A2に示すように、スイッチ素子SD1〜SD18とキャパシターCD1〜CD5との間のラインは、スイッチ素子領域SWRの方向D1側に配線される。また、A3に示すように、抵抗素子RD1とRD2との間には出力端子ノードNTのラインが配線される。また、A4に示すように、抵抗素子RD2と演算増幅器OPD2との間には、演算増幅器OPD2の出力ノードNQ2のラインが配線される。
上記の実施形態によれば、図5に示すように、スイッチドキャパシター動作用の複数のスイッチ素子SD1〜SD18は、スイッチ素子領域SWRにレイアウト配置される。スイッチドキャパシター動作用の複数のキャパシターCD1〜CD5は、スイッチ素子領域SWRの第1の方向D1側に設けられるキャパシター領域CRにレイアウト配置される。そして、演算増幅器OPD1,OPD2は、キャパシター領域CRの第1の方向D1側に設けられる演算増幅器領域OPRにレイアウト配置される。
このようにすれば、スイッチ素子領域SWRと演算増幅器領域OPRとの間にキャパシター領域CRが配置される。そのため、スイッチドキャパシター動作用の複数のスイッチ素子SD1〜SD18と複数のキャパシターCD1〜CD5を接近して配置することが可能になる。これにより、図5のA2に示す配線を短縮することが可能になり、配線抵抗を削減し、演算増幅器の配線等の他の配線とのカップリング(配線間の寄生容量による電圧カップリング)を抑止できる。
また、本実施形態では、図5のA1に示すように、複数のスイッチ素子SD1〜SD18を制御するための制御信号線は、スイッチ素子領域SWRに対して第2の方向D2側から配線される。例えばその制御信号線は、第1の方向D1に沿った方向に配線される。
このようにすれば、スイッチ素子領域SWRに対してキャパシター領域CRの反対側から制御信号線を配線できるため、例えばA2に示す配線等の他の配線と制御信号線との間のカップリングを回避できる。これにより、制御信号線とのカップリングによりキャパシターのチャージ量に誤差が生じたり、スイッチドキャパシター回路の出力信号にノイズが乗ったりすることを抑止できる。
また、本実施形態では、静電保護用の抵抗素子RD1は、スイッチ素子領域SWRと演算増幅器領域OPRとの間にレイアウト配置される。より具体的には、静電保護用の抵抗素子RD1は、スイッチ素子領域SWRとキャパシター領域CRとの間にレイアウト配置される。また、本実施形態では、第2の静電保護用の抵抗素子RD2は、キャパシター領域CRと演算増幅器領域OPRとの間にレイアウト配置される。
このようにすれば、スイッチ素子領域SWR、静電保護用の抵抗素子RD1、第2の静電保護用の抵抗素子RD2、演算増幅器領域OPRを方向D1に沿った方向に順次配置できる。そのため、抵抗素子RD1をスイッチ素子SD9に接近して配置し、抵抗素子RD2を演算増幅器OPD2の出力に接近して配置することが可能になる。これにより、演算増幅器OPD2の出力からスイッチ素子SD9への経路の配線を短縮することが可能になり、演算増幅器OPD2の出力電圧が、他の配線に対してノイズ源となることを抑止できる。
また、本実施形態では、図5のA3に示すように、出力端子ノードNTのラインはフィードバックキャパシターCD7の上に配線される。
このようにすれば、フィードバックキャパシターCD7はその一端が出力端子ノードNTに接続されるキャパシターであるため、キャパシターCD7と出力端子ノードNTとの間のカップリングの影響を抑止できる。
5.検出装置
図6に、上述のスイッチドキャパシター回路が適用された検出装置の構成例を示す。この検出装置30は、駆動回路40、検出回路60を含む。ここで、検出装置30は図6の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
センサーデバイス10は、ジャイロセンサー等の物理量トランスデューサーである。例えばジャイロセンサーとしては、振動子が回転することによるコリオリ力から角速度を検出する振動型の角速度センサーや、静電容量の変化や慣性力の変化から角加速度を検出する角加速度センサー等を採用できる。なお以下では、センサーデバイス10が振動型ジャイロセンサーである場合を例に説明するが、本実施形態ではこれに限定されない。
ここで、物理量トランスデューサーとは、物理量(物の性質の度合いを表す量であり、その単位が定義されているもの)を他の物理量に変換するための素子である。変換対象となる物理量としては、コリオリ力以外にも重力などの力や、加速度、質量などが考えられる。また変換により得られる物理量としては、電流以外にも電圧等であってもよい。
駆動回路40は、駆動信号VD(駆動電圧、駆動電流)を出力してセンサーデバイス10を駆動し、センサーデバイス10からフィードバック信号IFD(出力電流)を受ける。このようにして発振ループを形成し、センサーデバイス10を励振させる。
検出回路60は、駆動信号VDにより駆動されるセンサーデバイス10から検出信号ISP、ISM(差動電流信号)を受け、検出信号ISP、ISMから所望信号を検出する。所望信号は、センサーデバイス10の検出軸に対する回転方向と回転速度を表す信号であり、例えばセンサーデバイス10の回転により発生するコリオリ力を表す信号である。
より具体的には、駆動回路40は、増幅回路42、2値化回路46、AGC(Automatic Gain Control)回路50を含む。
増幅回路42は、センサーデバイス10からのフィードバック信号IFDを増幅する。具体的には、増幅回路42は、I/V変換回路であり、フィードバック信号IFDである出力電流を増幅して電圧に変換し、増幅後の信号VD2を出力する。
2値化回路46は、正弦波である増幅後の信号VD2の2値化処理を行い、2値化処理により得られた同期信号(参照信号)CLKを、検出回路60に出力する。例えば、この2値化回路46は、正弦波の信号VD2が入力されて、矩形波の同期信号CLKを出力するコンパレーターにより実現できる。
AGC回路50は、駆動信号VDのゲインの自動調整を行う。具体的には、AGD回路50は、増幅後の信号VD2を監視し、発振ループのゲインを制御する。例えば、AGC回路50は、センサーデバイス10の駆動振幅を検出し、検出された駆動振幅に応じた制御電圧を出力し、その制御電圧に基づいて駆動信号のゲインを制御する。このようにしてAGC回路50は、駆動信号VDの振幅が一定となるようにゲインを自動調整し、ジャイロセンサーの振動子の振動速度を一定に制御する。
検出回路60は、I/V変換回路70(増幅回路)、ハイパスフィルター80、同期検波回路90、ゲインアンプ100、スイッチドキャパシター回路110を含む。
I/V変換回路70は、センサーデバイス10からの検出信号ISP,ISMをQV変換(電荷電圧変換)し、変換後の電圧信号を差動アンプによりシングルエンドの電圧信号VS1に変換して出力する。
ハイパスフィルター80は、電圧信号VS1のオフセット成分(DC成分)をカットし、キャリア周波数の信号を透過して電圧信号VS2を出力する。
同期検波回路90は、同期信号CLKに基づいて電圧信号VS2の検波を行い、電圧信号VS3を出力する。例えば、同期検波回路90は、同期信号CLKがハイレベルの期間において正転の電圧信号VS2を透過し、同期信号CLKがローレベルの期間において反転の電圧信号VS2を透過することで検波を行う。
ゲインアンプ100は、検波された電圧信号VS3のローパスフィルター処理を行い、ゲイン調整を行って電圧信号VS4を出力する。
スイッチドキャパシター回路110は、電圧信号VS4のローパスフィルター処理を行い、出力電圧信号VTを出力端子TQに出力する。例えばスイッチドキャパシター回路110は、図3等に示す2次のローパスフィルターにより構成される。スイッチドキャパシター回路110は、スイッチ素子をオン・オフ制御する制御部112を含む。
検出装置30の後段には、電圧信号VTをA/D変換してデジタル信号ADQを出力するA/D変換部200が接続される。このA/D変換部200は、ローパスフィルター210、A/D変換器220を含む。
図7に、上記の検出装置30の信号波形例を示す。図7に示すように、駆動信号VDとして正弦波の信号を出力し、センサーデバイス10を駆動する。同期信号CLKは、駆動信号VDを2値化した信号であり、同期信号CLKと同じ周波数のクロック信号である。センサーデバイス10は、検出信号(ISP−ISM)として、コリオリ力に応じて振幅変調された信号を出力する。この検出信号のキャリア信号は、駆動信号VDと同じ周波数の信号である。そして、検出信号を同期検波して電圧信号VS3を出力し、その電圧信号VS3をローパスフィルター処理して電圧信号VTを出力する。この電圧信号VTは、検出対象である角速度に比例した所望信号である。
上記の実施形態によれば、検出装置30は、センサーデバイス10からの所望信号を検出するものであり、スイッチドキャパシター回路110を含む。センサーデバイス10はジャイロセンサーである。そして、スイッチドキャパシター回路110は、ジャイロセンサーによりセンシングされた角速度に対応するDC電圧(直流電圧)を出力するフィルター回路である。
本実施形態によれば、スイッチドキャパシター回路110は、検出装置30の負荷電流に依らず正確な電圧を出力できるため、角速度に対応するDC電圧を高精度に出力することが可能になる。
また、本実施形態では、スイッチドキャパシター回路の出力負荷電流に対するDC電圧の変動値Y[V]は、例えば角速度に対する検出装置の感度X[V/dps]以下である。あるいは変動値Y[V]は、DC電圧についてのA/D変換器220の1LSBに対応する電圧値VLSB[V]以下であってもよい。あるいは変動値Y[V]は、出力端子TQに出力されるノイズのピークトゥーピーク電圧以下であってもよい。
このようにすれば、感度X[V/dps]以下の精度でDC電圧を出力できる。あるいは、電圧値VLSB[V]以下の精度でDC電圧を出力できる。あるいは、ノイズのピークトゥーピーク電圧以下の精度でDC電圧を出力できる。
ここで、出力負荷電流とは、A/D変換部200等の検出装置30の外部回路により出力端子TQに流れる負荷電流である。例えば出力負荷電流は、設計仕様における負荷電流の最大値である。また、DC電圧についてのA/D変換器とは、A/D変換器がDC電圧を直接A/D変換してもよく、他の回路(例えばローパスフィルター210)を通過したDC電圧をA/D変換器がA/D変換してもよいという意味である。他の回路にゲインがある場合、1LSBに対応する電圧値VLSBはそのゲインに応じて変動する。
6.電子機器
図8に、上記の検出装置30が適用された電子機器の構成例を示す。この電子機器は、センサーデバイス10、検出装置30(広義には、集積回路装置)、処理部510、記憶部520、無線回路530、アンテナ540を含む。なお、本実施形態の電子機器は図8の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
この電子機器では、センサーデバイス10が、各種の物理量(力、加速度、質量等)を検出する。そして、物理量を電流(電荷)や電圧等に変換して、検出信号として出力する。検出装置30は、センサーデバイス10からの検出信号を受けて、その検出信号の検波やA/D変換を行う。処理部510は、検出装置30からのデジタルデータを受けて、そのデジタルデータに対する信号処理を行う。記憶部520は、検出装置30からのデジタルデータや処理部510からのデジタルデータを記憶する。無線回路530は、検出装置30や処理部510からのデジタルデータに対して変調処理などを行い、アンテナ540を用いて外部機器(相手側の電子機器)に送信する。またアンテナ540を用いて、外部機器からのデータを受信し、ID認証を行ったり、センサーデバイス10の制御等を行ってもよい。
上記の構成例によれば、煙センサー、光センサー、人感センサー、圧力センサー、生体センサー、ジャイロセンサー等を内蔵した様々な電子機器を実現できる。また、無線通信を利用して非接触でデータの書き込みと読み出しを行うRFID(Radio Frequency Identification)に用いられるICタグ(RFタグ)などの電子機器を実現できる。
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義又は同義な異なる用語(センサーデバイス、第1入力ノード、第2入力ノード等)と共に記載された用語(ジャイロセンサー、負極性入力ノード、正極性入力ノード等)は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。またスイッチドキャパシター回路、検出装置、電子機器等の構成、動作も本実施形態で説明したものに限定に限定されず、種々の変形実施が可能である。
10 センサーデバイス、30 検出装置、40 駆動回路、42 増幅回路、
46 2値化回路、50 AGC回路、60 検出回路、70 I/V変換回路、
80 ハイパスフィルター、90 同期検波回路、100 ゲインアンプ、
110 スイッチドキャパシター回路、112 制御部、200 A/D変換部、
210 ローパスフィルター、220 A/D変換器、510 処理部、
520 記憶部、530 無線回路、540 アンテナ、
ADQ デジタル信号、CB1〜CB3,CD1〜CD8 キャパシター、
CLK 同期信号、CR キャパシター領域、D1〜D4 第1〜第4の方向、
IFD フィードバック信号、ISP,ISM 検出信号、
N1,N11,N21 負極性入力ノード、
N2,N12,N22 正極性入力ノード、
NI スイッチドキャパシター回路の入力ノード、
NQ,NQ1,NQ2 演算増幅器の出力ノード、
NT 出力端子ノード、OPB,OPD1,OPD2 演算増幅器、
OPR 演算増幅器領域、RB1,RD1 静電保護用の抵抗素子、
RB2,RD2 第2の静電保護用の抵抗素子、
SB1〜SB8,SD1〜SD18 スイッチ素子、SWR スイッチ素子領域、
TQ 出力端子、VA 基準電圧、VD 駆動信号、VD2 信号、VI 入力電圧、
VQ,VQ1,VQ2 演算増幅器の出力電圧、VT 出力端子電圧

Claims (16)

  1. 出力用の演算増幅器と、
    スイッチドキャパシター動作を行うための複数のスイッチ素子と、
    スイッチドキャパシター動作を行うための複数のキャパシターと、
    スイッチドキャパシター回路の出力端子ノードと、前記複数のスイッチ素子のうちの第1のスイッチ素子との間に設けられる静電保護用の抵抗素子と、
    を含むことを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  2. 請求項1において、
    前記演算増幅器の第1の入力ノードに一端が接続されるフィードバックキャパシターを含み、
    前記フィードバックキャパシターの他端は、
    静電保護用の抵抗素子を介さずに前記スイッチドキャパシター回路の前記出力端子ノードに接続されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  3. 請求項2において、
    前記複数のスイッチ素子は、
    スイッチ素子領域にレイアウト配置され、
    前記複数のキャパシターと前記フィードバックキャパシターは、
    前記スイッチ素子領域の第1の方向側に設けられるキャパシター領域にレイアウト配置され、
    前記演算増幅器は、
    前記キャパシター領域の前記第1の方向側に設けられる演算増幅器領域にレイアウト配置されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  4. 請求項3において、
    前記第1の方向の反対方向を第2の方向とする場合に、
    前記複数のスイッチ素子を制御するための制御信号線は、
    前記スイッチ素子領域に対して前記第2の方向側から配線されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  5. 請求項4において、
    前記制御信号線は、
    前記第1の方向に沿った方向に配線されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  6. 請求項3乃至5のいずれかにおいて、
    前記静電保護用の抵抗素子は、
    前記スイッチ素子領域と前記演算増幅器領域との間にレイアウト配置されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  7. 請求項6において、
    前記静電保護用の抵抗素子は、
    前記スイッチ素子領域と前記キャパシター領域との間にレイアウト配置されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  8. 請求項3乃至7において、
    前記演算増幅器の出力ノードと、前記スイッチドキャパシター回路の前記出力端子ノードとの間に設けられる第2の静電保護用の抵抗素子を含むことを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  9. 請求項8において、
    前記第2の静電保護用の抵抗素子は、
    前記キャパシター領域と前記演算増幅器領域との間にレイアウト配置されることを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  10. 請求項8または9において、
    少なくとも1つのフィードバックキャパシターを含み、
    前記少なくとも1つのフィードバックキャパシターの各フィードバックキャパシターの容量値の合計をCfとし、スイッチドキャパシター回路の出力端子のパッド容量をCpとし、前記スイッチドキャパシター動作の動作周波数をFとし、前記第2の静電保護用の抵抗素子の抵抗値をR2とする場合に、
    R2≦1/(4π・F・(Cf+Cp))を満たすことを特徴とするスイッチドキャパシター回路。
  11. 請求項1乃至10のいずれかに記載のスイッチドキャパシター回路を含み、
    センサーデバイスからの所望信号を検出することを特徴とする検出装置。
  12. 請求項11において、
    前記センサーデバイスは、
    ジャイロセンサーであることを特徴とする検出装置。
  13. 請求項12において、
    前記スイッチドキャパシター回路は、
    前記ジャイロセンサーによりセンシングされた角速度に対応するDC電圧を出力するフィルター回路であることを特徴とする検出装置。
  14. 請求項13において、
    スイッチドキャパシター回路の出力負荷電流に対する前記DC電圧の変動値Y[V]は、
    前記角速度に対する検出装置の感度X[V/dps]以下であることを特徴とする検出装置。
  15. 請求項13において、
    スイッチドキャパシター回路の出力負荷電流に対する前記DC電圧の変動値Y[V]は、
    前記DC電圧についてのA/D変換器の1LSBに対応する電圧値VLSB[V]以下であることを特徴とする検出装置。
  16. 請求項11乃至15のいずれかに記載の検出装置を含むことを特徴とする電子機器。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016152495A (ja) * 2015-02-17 2016-08-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
JP2016528854A (ja) * 2013-12-04 2016-09-15 シーエスエムシー テクノロジーズ エフエイビー1 カンパニー リミテッド センサ制御回路及び電子装置
CN107632169A (zh) * 2016-07-15 2018-01-26 精工爱普生株式会社 物理量检测电路、物理量检测装置、电子设备和移动体
US10914583B2 (en) 2018-02-20 2021-02-09 Analog Devices, Inc. Sense amplifiers for gyroscopes and related systems and methods

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6416010A (en) * 1987-07-09 1989-01-19 Oki Electric Ind Co Ltd Switched capacitor filter
JPH01162922U (ja) * 1988-05-07 1989-11-14
JPH01297855A (ja) * 1988-05-25 1989-11-30 Ricoh Co Ltd Cmos半導体装置の出力回路
JP2002151652A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2003046349A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Sharp Corp スイッチトキャパシタ回路
JP2005156251A (ja) * 2003-11-21 2005-06-16 Matsushita Electric Works Ltd センサ信号処理装置
JP2007042711A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Seiko Epson Corp 静電気保護部を備えるオペアンプ回路
JP2008516511A (ja) * 2004-10-08 2008-05-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Mosトランジスタによってスイッチングされるキャパシタのアレイ
JP2009200809A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Seiko Epson Corp 集積回路装置及び電子機器
JP2011244236A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Panasonic Corp デジタル−アナログ変換器及びデジタル−アナログ変換装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6416010A (en) * 1987-07-09 1989-01-19 Oki Electric Ind Co Ltd Switched capacitor filter
JPH01162922U (ja) * 1988-05-07 1989-11-14
JPH01297855A (ja) * 1988-05-25 1989-11-30 Ricoh Co Ltd Cmos半導体装置の出力回路
JP2002151652A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置
JP2003046349A (ja) * 2001-07-30 2003-02-14 Sharp Corp スイッチトキャパシタ回路
JP2005156251A (ja) * 2003-11-21 2005-06-16 Matsushita Electric Works Ltd センサ信号処理装置
JP2008516511A (ja) * 2004-10-08 2008-05-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Mosトランジスタによってスイッチングされるキャパシタのアレイ
JP2007042711A (ja) * 2005-08-01 2007-02-15 Seiko Epson Corp 静電気保護部を備えるオペアンプ回路
JP2009200809A (ja) * 2008-02-21 2009-09-03 Seiko Epson Corp 集積回路装置及び電子機器
JP2011244236A (ja) * 2010-05-19 2011-12-01 Panasonic Corp デジタル−アナログ変換器及びデジタル−アナログ変換装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016528854A (ja) * 2013-12-04 2016-09-15 シーエスエムシー テクノロジーズ エフエイビー1 カンパニー リミテッド センサ制御回路及び電子装置
JP2016152495A (ja) * 2015-02-17 2016-08-22 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
CN107632169A (zh) * 2016-07-15 2018-01-26 精工爱普生株式会社 物理量检测电路、物理量检测装置、电子设备和移动体
US10914583B2 (en) 2018-02-20 2021-02-09 Analog Devices, Inc. Sense amplifiers for gyroscopes and related systems and methods

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