JP2012049251A - 太陽電池の製造装置および太陽電池の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】太陽電池を製造する際の真空予備加熱において、太陽電池用基板の温度が上昇して特性が低下することを防止する。
【解決手段】真空予備加熱室10に、太陽電池用基板WおよびトレイTを収納し、チャンバ内を減圧する。チャンバ内圧力を一旦、真空雰囲気にした後、真空雰囲気より高く大気圧よりも低い圧力にする。この雰囲気中で、ランプヒータ15による加熱を開始する。チャンバ内の圧力が高いため、太陽電池用基板Wから熱伝導によりチャンバ内に放射される熱量が増大し、図2に図示されるように太陽電池用基板Wの温度上昇を抑制することができる。
【選択図】図2
【解決手段】真空予備加熱室10に、太陽電池用基板WおよびトレイTを収納し、チャンバ内を減圧する。チャンバ内圧力を一旦、真空雰囲気にした後、真空雰囲気より高く大気圧よりも低い圧力にする。この雰囲気中で、ランプヒータ15による加熱を開始する。チャンバ内の圧力が高いため、太陽電池用基板Wから熱伝導によりチャンバ内に放射される熱量が増大し、図2に図示されるように太陽電池用基板Wの温度上昇を抑制することができる。
【選択図】図2
Description
この発明は、太陽電池の製造装置および太陽電池の製造方法に関する。
太陽電池を製造する場合、一般的には下記の方法で行っている。シリコン基板の受光面側にn型不純物拡散層を形成し、この上面に反射防止膜およびn型電極を形成する。シリコン基板の反対面側にp型不純物層を形成し、その上面にp型電極を形成する。シリコン基板として、単結晶シリコン基板を用いる場合と、ガラス基板上に成膜した多結晶シリコン基板を用いる場合がある。反射防止膜は、光電変換効率を向上する上でも重要である。
反射防止膜を、窒化シリコン膜により形成する場合もある。窒化シリコン膜を形成する場合、たとえば温度を200℃以上500℃以下で、圧力が10Pa以上200Pa以下としてプラズマCVD法により形成する方法が知られている。(例えば、特許文献1の第44段落参照)。
反射防止膜を、窒化シリコン膜により形成する場合もある。窒化シリコン膜を形成する場合、たとえば温度を200℃以上500℃以下で、圧力が10Pa以上200Pa以下としてプラズマCVD法により形成する方法が知られている。(例えば、特許文献1の第44段落参照)。
太陽電池の製造において、シリコン基板の処理は所定の温度内で行う必要がある。製造の処理中にシリコン基板の温度が処理温度を超えて上昇すると光電変換効率等の特性が低下する場合がある。したがって、プラズマCVD装置での基板処理においても、シリコン基板の温度が所定の温度以上とならないように、温度制御を行っている。
また、特許文献1には記載されていないが、太陽電池の製造処理は、通常、シリコン基板を搬送トレイ上に載置した状態で行う場合がある。搬送トレイはシリコン基板に比して、遥かに重量が大きく、従って熱容量も大きい。このため、シリコン基板を所定の温度に管理する場合、搬送トレイの温度も所定の温度に加熱することが望ましい。
ここで、熱容量の大きな搬送トレイと、搬送トレイと比較して熱容量の小さなシリコン基板とを同時に加熱する際、同じ熱源からの加熱であっても熱容量の差で搬送トレイよりもシリコン基板の昇温速度は速いので、シリコン基板の温度が所定の温度範囲を超えてしまい、シリコン基板の特性に影響を与え、光電変換効率を低下させる場合がある。
この発明の太陽電池の製造装置は、太陽電池用基板および太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納し、ランプヒータにより加熱する予備加熱室と、予備加熱室内で加熱された太陽電池用基板およびトレイを収納し、真空雰囲気中で太陽電池用基板に処理を行う真空処理室と、予備加熱室内におけるトレイの温度を検出する温度検出器と、予備加熱室内の圧力を、真空処理室内の真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する第1の手段と、加熱処理圧力に保持した状態でランプヒータによる加熱を開始する第2の手段と、トレイを所定温度範囲に保持する第3の手段と、予備加熱室内の圧力を減圧して予備加熱室から真空処理室に搬送する第4の手段とを有する制御手段と、を備えることを特徴とする。
また、この発明の太陽電池の製造方法は、予備加熱室に、太陽電池用基板および前記太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納する工程と、予備加熱室内の圧力を、真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する工程と、加熱処理圧力に保持した状態で、かつ、トレイが所定の温度に維持されるように監視しながら、ランプヒータにより太陽電池用基板およびトレイを加熱する工程と、予備加熱室を真空雰囲気に減圧して太陽電池基板およびトレイを真空処理室に搬送する工程と、真空処理室において、真空雰囲気で太陽電池用基板に処理を行う工程とを備えることを特徴とする。
この発明によれば、加熱処理圧力を真空雰囲気より高くした状態で加熱を行うので、太陽電池基板からの放熱量が増大し、太陽電池基板の温度上昇を抑制することができる。
―――実施形態1―――
(太陽電池製造装置の全体構成)
以下、本発明の太陽電池の製造装置および太陽電池の製造方法について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明における太陽電池の製造装置の一実施形態を模式的に示す全体構成図である。
この実施形態における太陽電池製造装置100は、ロード/アンロード室を兼ねる真空予備加熱室10と真空処理室20を有する。外部ステーション70は、太陽電池製造装置100とは別体のものとして配置されている。真空予備加熱室10内には、基板搬送装置11、13が上下2段に配置されるとともに、基板搬送装置11、13の上方にランプヒータ15が設置されている。ランプヒータ15は、ヒータ制御部41により制御される。
(太陽電池製造装置の全体構成)
以下、本発明の太陽電池の製造装置および太陽電池の製造方法について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明における太陽電池の製造装置の一実施形態を模式的に示す全体構成図である。
この実施形態における太陽電池製造装置100は、ロード/アンロード室を兼ねる真空予備加熱室10と真空処理室20を有する。外部ステーション70は、太陽電池製造装置100とは別体のものとして配置されている。真空予備加熱室10内には、基板搬送装置11、13が上下2段に配置されるとともに、基板搬送装置11、13の上方にランプヒータ15が設置されている。ランプヒータ15は、ヒータ制御部41により制御される。
真空予備加熱室10の一部には開口部が形成され、この開口部を覆って内面側に透明部材16が外部から密封するように設けられている。透明部材16に対向する外部には放射温度計(温度検出器)17が取り付けられている。ヒータ制御部41は、放射温度計17から送出される搬送トレイの温度に基づいて、PID制御によりランプヒータ15の温度を制御する。
真空予備加熱室10には、排気系10aとガス導入系10bが配管接続され、大気開放と真空密閉とを切り換え可能に構成されており、シリコン基板等の太陽電池用基板Wの加熱処理を行う。基板搬送装置11、13は、それぞれ、フレームに複数のローラが回転可能に軸支された構造を有する。基板搬送装置11、13は、それぞれ、フレームの端部または中間部を支持する支持軸(図示せず)により、時計方向回りおよび反時計方向回りに揺動可能に構成されている。基板搬送装置11、13上には、太陽電池用基板Wが搭載された状態でトレイTが載置される。
基板搬送装置11、13は、それぞれ、基板搬送装置駆動部43、44によって駆動される。基板搬送装置駆動部43は、図示しないモータを駆動して、基板搬送装置11を揺動し、水平状態、傾斜状態に保持する。また、ローラを回転させて、太陽電池用基板Wが搭載されたトレイTを、ローラ上で移送する。同様に、基板搬送装置駆動部44は、図示しないモータを駆動して、基板搬送装置13を揺動し、水平状態、傾斜状態に保持する。また、ローラを回転させて、太陽電池用基板Wが搭載されたトレイTを、ローラ上で移送する。
真空処理室20内には、基板搬送装置21とRF電極22と、シーズヒータ23が設置されている。RF電極22は、プラズマ放電制御部42に接続されている。真空処理室20には、排気系20aとガス導入系20bが配管接続されており、所定のガス圧力下での処理、例えば、プラズマCVD、エッチング、スパッタリング等の処理を行う。基板搬送装置21は、フレームに複数のローラが回転可能に軸支された搬送機構が、幅方向における左右に一対、配置された構造を有する。基板搬送装置21は、それぞれ、フレームの端部または中間部を支持する支持軸(図示せず)により、時計方向回りおよび反時計方向回りに揺動可能に構成されている。シーズヒータ23は、一対の搬送機構の幅方向における内側に配置されている。
基板搬送装置21は、基板搬送装置駆動部45によって駆動される。基板搬送装置駆動部45は、図示しないモータを駆動して、基板搬送装置21を揺動し、水平状態、傾斜状態に保持する。また、ローラを回転させて、太陽電池用基板Wが搭載されたトレイTを、ローラ上で移送する。
真空予備加熱室10には、外部ステーション70側に面してゲートG1が設けられ、真空予備加熱室10と真空処理室20の境界には、ゲートG2が設けられている。ゲートG1は、太陽電池用基板Wを搬送トレイと共に太陽電池製造装置100の外部に搬出入する際に開放され、搬出入以外のときには閉じて真空予備加熱室10を密閉している。ゲートG2は、太陽電池用基板Wを搬送トレイと共に真空予備加熱室10と真空処理室20との間で般出入する際に開放され、それ以外の時は閉じている。
外部ステーション70には、基板搬送装置71が備えられており、処理前の太陽電池用基板Wを保持して太陽電池製造装置100へ供給し、また、処理済の太陽電池用基板Wを太陽電池製造装置100から受け取って図示しないストッカに収納する。基板搬送装置71は、実線で記載された上部位置と、点線で記載された下部位置に移動可能に構成されている。
基板搬送装置71は、基板搬送装置駆動部46によって駆動される。基板搬送装置駆動部46は、図示しないモータを駆動して、基板搬送装置71を、水平状態に保持したまま上下に移動する。また、ローラを回転させて、太陽電池用基板Wが搭載されたトレイTを、ローラ上で移送する。
50は、ヒータ制御部41、プラズマ放電部42、基板搬送装置駆動部43〜46に接続された制御部である。制御部50は真空予備加熱室10に接続された排気系10a、ガス導入系10b、真空処理室20に接続された排気系20a、ガス導入系20bの各導入
系に設けられた流量調整弁(図示せず)に接続され、この流量調整弁の開閉を制御して、チャンバから/またはチャンバ内へのガスの流出入量を調整する。また、制御部50は、放射温度計17から送出されるトレイTの温度の検出値に基づいて、ヒータ制御部41を介してランプヒータ15の温度、すなわち、発熱量を制御する。
系に設けられた流量調整弁(図示せず)に接続され、この流量調整弁の開閉を制御して、チャンバから/またはチャンバ内へのガスの流出入量を調整する。また、制御部50は、放射温度計17から送出されるトレイTの温度の検出値に基づいて、ヒータ制御部41を介してランプヒータ15の温度、すなわち、発熱量を制御する。
(太陽電池用基板の搬送)
太陽電池基板Wの搬送について説明する。
先ず、基板搬送装置駆動部46により駆動されて、基板搬送装置71が、トレイTが載置された状態で、外部ステーション70の上段側に配置される。
この状態において、真空吸着搬送機等の図示しない搬送機により、未処理の太陽電池用基板WがトレイT上に搭載される。ここで、未処理の太陽電池用基板Wとは、この後、真空処理部20においてなされる処理がなされていない、というものであり、何らの処理もなされていないということではない。換言すれば、「処理前の」という意味合いである。
太陽電池基板Wの搬送について説明する。
先ず、基板搬送装置駆動部46により駆動されて、基板搬送装置71が、トレイTが載置された状態で、外部ステーション70の上段側に配置される。
この状態において、真空吸着搬送機等の図示しない搬送機により、未処理の太陽電池用基板WがトレイT上に搭載される。ここで、未処理の太陽電池用基板Wとは、この後、真空処理部20においてなされる処理がなされていない、というものであり、何らの処理もなされていないということではない。換言すれば、「処理前の」という意味合いである。
トレイTは、例えば、カーボンにより形成されており、太陽電池用基板Wに対し遥かに大きい重量、および熱容量を有するものである。
ゲートG1を開放し、基板搬送装置71のローラ、および真空予備加熱室10内の基板搬送装置11のローラを回転させることにより、トレイTは太陽電池用基板Wと共に矢印x1方向に移動して真空予備加熱室10内の基板搬送装置11上に搬送される。太陽電池用基板Wの予備加熱が完了すると、ゲートG2を開放し、基板搬送装置11、および真空処理装置20内の基板搬送装置21をx2方向と平行に傾斜させる。基板搬送装置11のローラ、および真空処理室20内の基板搬送装置21のローラを回転させることにより、トレイTは太陽電池用基板W共に矢印x2方向に移動して真空処理室20内の基板搬送装置21上に搬送される。
ゲートG1を開放し、基板搬送装置71のローラ、および真空予備加熱室10内の基板搬送装置11のローラを回転させることにより、トレイTは太陽電池用基板Wと共に矢印x1方向に移動して真空予備加熱室10内の基板搬送装置11上に搬送される。太陽電池用基板Wの予備加熱が完了すると、ゲートG2を開放し、基板搬送装置11、および真空処理装置20内の基板搬送装置21をx2方向と平行に傾斜させる。基板搬送装置11のローラ、および真空処理室20内の基板搬送装置21のローラを回転させることにより、トレイTは太陽電池用基板W共に矢印x2方向に移動して真空処理室20内の基板搬送装置21上に搬送される。
基板搬送装置21を水平にし、この状態で太陽電池用基板Wに処理を行う。所定の処理が完了したら、ゲートG2を開放し、基板搬送装置21、および真空予備加熱室10内の基板搬送装置31をx3方向と平行に傾斜させる。基板搬送装置21のローラ、および真空予備加熱室10内の基板搬送装置13のローラを回転させることにより、トレイTは処理済の太陽電池用基板W共に矢印x3方向に移動して真空予備加熱室10内の基板搬送装置13上に搬送される。
外部ステーション70内の基板搬送装置71は、トレイTを未処理の太陽電池用基板Wと共に基板搬送装置11に搬送した後、点線で示す如く、下段側に移動する。
基板搬送装置13を水平にし、ゲートG1を開放する。基板搬送装置13のローラ、および基板搬送装置71のローラを回転させることにより、トレイTは処理済の太陽電池用基板W共に矢印x4方向に移動して基板搬送装置71上に搬送される。
基板搬送装置13を水平にし、ゲートG1を開放する。基板搬送装置13のローラ、および基板搬送装置71のローラを回転させることにより、トレイTは処理済の太陽電池用基板W共に矢印x4方向に移動して基板搬送装置71上に搬送される。
そして、基板搬送装置71を上部側に移動して、トレイT上の処理済の太陽電池用基板Wを真空吸着搬送機等の図示しない搬送機により、図示しないストッカに収納する。この後、未処理の太陽電池用基板Wを基板搬送装置71上のトレイT上に搭載し、以下、同様な搬送を繰り返す。
上記において、各基板搬送装置11、13、21、71の傾動、ローラの回転・停止等の制御は対応する基板搬送装置駆動部43、44、45、46により行われる。また、上述したトレイTおよび太陽電池用基板Wの搬送は、処理済の太陽電池用基板Wを外部ステーション70から搬出後に、未処理の太陽電池用基板Wを外部ステーション70に搬入する、というシリアルな制御ではない。真空処理室20内において、太陽電池用基板Wに処理を行っている間に、処理済の太陽電池用基板Wを搬出し、次の太陽電池用基板Wを搬入して、真空予備加熱10内に搬入しておく、というパラレルな制御が行われる。
(真空予備加熱室内における処理)
次に、真空予備加熱室10内における処理について説明する。
真空予備加熱室10内に、トレイTと共に太陽電池用基板Wが搬入されると、ゲートG1を閉じ、チャンバ内が外部から密封される。
排気系10aの調整弁を制御してチャンバ内を、後述する真空処理室20内における処理圧力と同等の真空雰囲気にする。この場合のチャンバ内の圧力は、例えば、2〜10Pa程度とすれば十分である。
次に、真空予備加熱室10内における処理について説明する。
真空予備加熱室10内に、トレイTと共に太陽電池用基板Wが搬入されると、ゲートG1を閉じ、チャンバ内が外部から密封される。
排気系10aの調整弁を制御してチャンバ内を、後述する真空処理室20内における処理圧力と同等の真空雰囲気にする。この場合のチャンバ内の圧力は、例えば、2〜10Pa程度とすれば十分である。
そして、次に、ガス導入系10bの調整弁を制御して、不活性ガス、例えばN2を導入してチャンバ内を100〜50000Paにする。この場合、チャンバ内を、一旦、真空雰囲気にしているので、チャンバ内には殆ど不活性ガスのみが導入されており、大気中に含有される酸素、炭素等の他の成分は、実質的に含まれていない。従って、大気中に含まれる成分によって半導体材料である太陽電池用基板Wが有害な影響を受けることを防止することができる。
チャンバ内が所定の圧力に達した時点で、制御部50からヒータ制御部41に指令してヒータ制御部41によりランプヒータ15を駆動し、トレイTおよび太陽電池用基板Wの加熱を開始する。
ランプヒータ15が放熱を開始すると、ランプヒータ15からの赤外線が照射されるこことにより、太陽電池用基板WおよびトレイTの温度が上昇する。
トレイTの温度は、真空予備加熱室10の外部に設置された放射温度計17で検出される。
ランプヒータ15が放熱を開始すると、ランプヒータ15からの赤外線が照射されるこことにより、太陽電池用基板WおよびトレイTの温度が上昇する。
トレイTの温度は、真空予備加熱室10の外部に設置された放射温度計17で検出される。
太陽電池用基板Wがシリコン基板等の半導体材料で形成されている場合、ランプヒータ15から放射される赤外線は、大部分が半導体材料を透過してトレイTに吸収され、一部が半導体材料に吸収される。
搬送トレイはシリコン基板に比して、はるかに質量が大きく、従って熱容量も大きい。このため、シリコン基板を所定の温度に管理する場合、搬送トレイの温度も所定の温度に加熱することが望ましい。ここで、熱容量の大きな搬送トレイと、搬送トレイと比較して熱容量の小さなシリコン基板とを同時に加熱する際、同じランプヒータでの加熱であっても熱容量の差で搬送トレイよりもシリコン基板の昇温速度は速く、シリコン基板の温度が所定の温度範囲を超えてしまい、光電変換効率に悪影響を与える場合がある。
搬送トレイはシリコン基板に比して、はるかに質量が大きく、従って熱容量も大きい。このため、シリコン基板を所定の温度に管理する場合、搬送トレイの温度も所定の温度に加熱することが望ましい。ここで、熱容量の大きな搬送トレイと、搬送トレイと比較して熱容量の小さなシリコン基板とを同時に加熱する際、同じランプヒータでの加熱であっても熱容量の差で搬送トレイよりもシリコン基板の昇温速度は速く、シリコン基板の温度が所定の温度範囲を超えてしまい、光電変換効率に悪影響を与える場合がある。
従来では、真空予備加熱室10内を真空処理装置20内における真空度と同程度の真空雰囲気とした状態で、トレイTと太陽電池用基板Wを加熱していた。このため、太陽電池用基板Wに蓄積された熱量は、後述の試験結果に示されるように、トレイTおよびチャンバ内に放出される量が非常に少なくなることで、太陽電池用基板Wの温度が許容温度範囲以上に上昇していた。
これに対し、本発明においては、真空予備加熱室10内を、一旦、真空雰囲気とした後、それよりも高い圧力に戻した状態としてから、ランプヒータ15による加熱を開始する。このため、太陽電池用基板Wに蓄積された熱量は、トレイT、及びチャンバ内に不活性ガスを媒体として放出される量が多くなることで、太陽電池用基板Wの温度が許容範囲以上に上昇することを抑制することができる。
図2は、真空予備加熱室10内の圧力(チャンバ内圧力)が1000Paの場合の太陽電池用基板WとトレイTの温度上昇特性を示す図である。また、図3は、比較のため、従来の方法による太陽電池用基板WとトレイTの温度上昇特性を示す図であり、真空チャンバ内の圧力が5Paの場合である。
図2および図3において、実線A、Bはそれぞれ太陽電池用基板Wの温度変化を示し、点線がトレイTの温度変化を示す。実線Aは、図4に示すようにトレイ上に複数枚戴置されている太陽電池基板の内、外側にある太陽電池基板SAで測定した温度であり、実線Bはトレイ中央部に戴置された太陽電池基板SBで測定した温度である。
図2および図3において、実線A、Bはそれぞれ太陽電池用基板Wの温度変化を示し、点線がトレイTの温度変化を示す。実線Aは、図4に示すようにトレイ上に複数枚戴置されている太陽電池基板の内、外側にある太陽電池基板SAで測定した温度であり、実線Bはトレイ中央部に戴置された太陽電池基板SBで測定した温度である。
図2に図示されている如く、チャンバ内圧力Pが1000Paの場合には、太陽電池用基板Wは、目標とする加熱温度450℃に対し、トレイ外側に戴置された太陽電池基板SAでは最高温度が480℃、中央部の太陽電池SBでは最高温度が509℃であった。これに対し、図3に図示されているチャンバ内圧力が5Paの場合には、目標とする加熱温度450℃に対し、最高温度が太陽電池SAで612℃、太陽電池SBで637℃に達した。どちらの場合も、太陽電池用基板Wが最高温度に達する時点では、トレイTの温度は、目標温度450℃には達していない。
図2および図3に示された太陽電池用基板Wの温度上昇特性から、本発明では、太陽電池用基板Wの温度上昇を抑制することが確認される。また、トレイ上に戴置した太陽電池基板でトレイ外側および中央部の太陽電池基板でほぼ同様の温度加熱特性を示している。したがって、本発明によれば、太陽電池基板の過度の加熱が抑えられ、光電変換効率の低下を防止し、従来よりも光電変換効率の高い太陽電池を実現する、という効果を奏する。さらに、トレイ全面に渡ってほぼ均等な加熱が実現され、太陽電池基板の均等な処理がトレイ全面に渡って行うことが可能となっている。
本発明による太陽電池基板の加熱方法による、実際の太陽電池基板での効果を図5に示す。
図5は太陽電池基板のPN接合部におけるキャリアライフタイムを、従来の加熱方法で加熱した太陽電池基板と、本発明の加熱方法で加熱した太陽電池基板とで比較したものである。本発明の加熱方法で加熱した太陽電池基板でのキャリアライフタイムが、従来の加熱方法を用いた太陽電池基板に比べ大幅に延長されていることがわかる。この延長されたキャリアライフタイムは、太陽電池基板の発電効率を改善する効果をもたらす。
図5は太陽電池基板のPN接合部におけるキャリアライフタイムを、従来の加熱方法で加熱した太陽電池基板と、本発明の加熱方法で加熱した太陽電池基板とで比較したものである。本発明の加熱方法で加熱した太陽電池基板でのキャリアライフタイムが、従来の加熱方法を用いた太陽電池基板に比べ大幅に延長されていることがわかる。この延長されたキャリアライフタイムは、太陽電池基板の発電効率を改善する効果をもたらす。
なお、太陽電池基板Wの温度は、トレイTの温度と共に上昇するが、ランプヒータ15からの放射を停止すると、急速に、トレイTの温度まで下降する。このため、トレイTの目標設定温度を450℃よりも低い温度、例えば、400℃に設定した場合、太陽電池基板Wの到達最高温度を下げることはできる。しかし、ランプヒータ15による加熱処理が終了し、ランプヒータ15がオフすると、太陽電池基板Wの温度が急速にトレイTの温度である、400℃に下がってしまい、次の真空処理室20における処理を行うことができなくなる。
(太陽電池の製造方法)
<実施形態1>
図6は、本発明の太陽電池の製造方法の一実施形態としての処理フロー図である。この処理フロー図は、真空予備加熱室における加熱処理に関するものであり、太陽電池の製造装置全体の処理フローを示すものではない。
真空予備加熱室20における太陽電池用基板Wの加熱処理は、ステップS1で、ゲートG1を開放して真空予備加熱室10のチャンバ内を大気圧にする。
次に、ステップS2で、太陽電池用基板WをトレイTと共に、外部ステーション70内の基板搬送装置71から真空予備加熱室10内の基板搬送装置11上に搬送する。搬送する際の処理は、上述した通りであるので、ここでは説明を省略する。次に、ゲートG1を閉じ、真空予備加熱室19を外部から密封する。
<実施形態1>
図6は、本発明の太陽電池の製造方法の一実施形態としての処理フロー図である。この処理フロー図は、真空予備加熱室における加熱処理に関するものであり、太陽電池の製造装置全体の処理フローを示すものではない。
真空予備加熱室20における太陽電池用基板Wの加熱処理は、ステップS1で、ゲートG1を開放して真空予備加熱室10のチャンバ内を大気圧にする。
次に、ステップS2で、太陽電池用基板WをトレイTと共に、外部ステーション70内の基板搬送装置71から真空予備加熱室10内の基板搬送装置11上に搬送する。搬送する際の処理は、上述した通りであるので、ここでは説明を省略する。次に、ゲートG1を閉じ、真空予備加熱室19を外部から密封する。
ステップS3で、真空予備加熱室10の排気系10aの調整弁を制御して、真空予備加熱室を真空引きし、減圧する。
この処理は、真空予備加熱室10内の圧力を図示しない圧力検出器により監視しながら、チャンバ内圧力Pが所定の圧力(ここでは5Paとする)に達するまで継続する。
この処理は、真空予備加熱室10内の圧力を図示しない圧力検出器により監視しながら、チャンバ内圧力Pが所定の圧力(ここでは5Paとする)に達するまで継続する。
ステップS4において、真空予備加熱室10内の圧力Pが5Pa以下に低下したことが検出されたら、ステップS5に進み、排気系10aの調整弁を閉じて真空予備加熱室10の減圧を停止する。
ステップS6において、ガス導入系10bの調整弁を開放し、N2等の不活性ガスの導入を行う。不活性ガスの導入は、チャンバ内が加熱処理圧力に達するまで継続する。加熱処理圧力は、加熱処理を行うときの圧力であり、ここでは、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000±α(Pa)であるとして説明する。αは目標圧力1000Paに対する許容圧力であり、例えば、100Pa程度である。
ステップS5で、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000±α(Pa)となるまで、N2等の不活性ガスが真空予備加熱室10内に供給されたら、ステップS7に進む。
ステップS5で、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000±α(Pa)となるまで、N2等の不活性ガスが真空予備加熱室10内に供給されたら、ステップS7に進む。
ステップS7では、ヒータ制御部41によりランプヒータ15をOnにして発熱させ、太陽電池用基板WおよびトレイTの加熱を開始する。太陽電池用基板WおよびトレイTの加熱が開始されると、放射温度計17から、所定時間間隔で、トレイTの温度を測定し、その検出値が制御部50に送出される。
そして、ステップS8において、制御部50は、放射温度計17から送出されるトレイTの温度情報に基づいて、PID制御によりトレイTの温度が所定温度範囲に維持されるように、ランプヒータ15の温度を制御しながら加熱を継続する。ここでは、所定温度範囲を450±β(℃)とする。
トレイTの温度が所定温度範囲450±β(℃)であることが検出されたら、ステップS9で、所定温度範囲に所定時間、保持されたか否か判断する。これは、トレイTの温度が所定温度範囲に到達した時点では、太陽電池用基板Wは、まだ温度が上昇中であり、全体が確実に所定温度範囲になるようにするためである。
ステップS9において、所定時間経過していたと判断されると、ステップS10に進む。
ステップS10では、チャンバ内圧力Pを、真空処理室20と同じ真空雰囲気、例えば、5Paにするとともに加熱を停止する。なお、本明細書においては、真空雰囲気とは、真空処理室20内において、太陽電池用基板Wに処理を行う真空度と同じ程度の真空度を意味する。従って、具体的に何Pa以下というような限界値がある訳ではない。
そして、ステップS11において、ゲートG2を開放し、トレイTと共に太陽電池用基板Wを真空予備加熱室10から真空処理室10に搬送し、加熱処理を終了する。
ステップS10では、チャンバ内圧力Pを、真空処理室20と同じ真空雰囲気、例えば、5Paにするとともに加熱を停止する。なお、本明細書においては、真空雰囲気とは、真空処理室20内において、太陽電池用基板Wに処理を行う真空度と同じ程度の真空度を意味する。従って、具体的に何Pa以下というような限界値がある訳ではない。
そして、ステップS11において、ゲートG2を開放し、トレイTと共に太陽電池用基板Wを真空予備加熱室10から真空処理室10に搬送し、加熱処理を終了する。
真空処理室20における処理について、簡単に説明する。
真空処理室20では、例えば、太陽電池用基板Wに反射防止膜を形成する。
シリコン基板の受光面側にn型拡散領域が形成された太陽電池用基板Wを外部ステーション70に搬入し、上述した搬送を経て、真空処理室20内に搬入する。排気系20aの調整弁を開放し、真空引きを行って、真空処理室20のチャンバ内が所定の圧力、例えば、5〜10Pa程度になったら排気系20aを閉じる。次に、ガス導入系20bの調整弁を開放し、流量を調整しながら、N2ガス、O2ガス、SiH4等のプロセスガスを導入する。
真空処理室20では、例えば、太陽電池用基板Wに反射防止膜を形成する。
シリコン基板の受光面側にn型拡散領域が形成された太陽電池用基板Wを外部ステーション70に搬入し、上述した搬送を経て、真空処理室20内に搬入する。排気系20aの調整弁を開放し、真空引きを行って、真空処理室20のチャンバ内が所定の圧力、例えば、5〜10Pa程度になったら排気系20aを閉じる。次に、ガス導入系20bの調整弁を開放し、流量を調整しながら、N2ガス、O2ガス、SiH4等のプロセスガスを導入する。
シーズヒータ23により、太陽電池用基板Wの温度を450℃程度に維持した状態で、プラズマを発生し、ガス導入系20bよりSiH4ガスを導入して太陽電池用基板Wの受光面側のn型拡散領域上に反射防止膜としての窒化シリコン膜を成膜する。窒化シリコン膜は水素を含有し、この水素がシリコン基板の主面のダングリングボンドに結合するため、欠陥密度を小さくし、シリコン基板におけるキャリアライフを長くする効果を有する。
上記した本発明の実施形態1によれば下記の効果を奏する。
(1)予備加熱室10内を、真空雰囲気より高い気圧である加熱処理圧力にした状態でランプヒータ15による熱線を照射してトレイTおよび太陽電池用基板Wの加熱処理を行う。このため、熱伝導により太陽電池用基板WからトレイTおよびチャンバ内に拡散される熱量が大きくなり、太陽電池用基板Wの温度上昇を抑制することができる。これより、製造される太陽電池の光電変換効率を向上することができる。
(2)予備加熱室10内を、真空雰囲気より高い気圧であるが、大気圧よりも低い圧力である状態でランプヒータ15による熱線を照射してトレイTおよび太陽電池用基板Wの加熱処理を行う。大気圧では、ランプヒータ15から放射される熱線を吸収したトレイTおよび太陽電池用基板Wからチャンバ内に熱伝導により伝導される熱量が大き過ぎて、装置本体の構成部材を劣化あるいは損傷させる。しかし、本発明の実施形態によれば、このようなことを防止することができる。
(1)予備加熱室10内を、真空雰囲気より高い気圧である加熱処理圧力にした状態でランプヒータ15による熱線を照射してトレイTおよび太陽電池用基板Wの加熱処理を行う。このため、熱伝導により太陽電池用基板WからトレイTおよびチャンバ内に拡散される熱量が大きくなり、太陽電池用基板Wの温度上昇を抑制することができる。これより、製造される太陽電池の光電変換効率を向上することができる。
(2)予備加熱室10内を、真空雰囲気より高い気圧であるが、大気圧よりも低い圧力である状態でランプヒータ15による熱線を照射してトレイTおよび太陽電池用基板Wの加熱処理を行う。大気圧では、ランプヒータ15から放射される熱線を吸収したトレイTおよび太陽電池用基板Wからチャンバ内に熱伝導により伝導される熱量が大き過ぎて、装置本体の構成部材を劣化あるいは損傷させる。しかし、本発明の実施形態によれば、このようなことを防止することができる。
(3)予備加熱室10内を、真空雰囲気より高い気圧である加熱処理圧力にする前に、例えば、2〜10Paの真空雰囲気にし、不活性ガスを導入して加熱処理圧力にする。このため、大気中に含まれる酸素、炭素等の成分の作用に起因する太陽電池用基板の特性の低下を防止することができる。
(4)太陽電池用基板Wの温度を検出するのではなく、トレイTの温度を検出して加熱の制御を行うようにしている。太陽電池用基板Wは、赤外線を透過するので放射温度計による温度の検出が困難である。また、トレイTは移動するので、固定されて用いられる熱電対を温度検出器として用いるのは困難である。よって、トレイTの温度を検出して加熱の制御を行う方法により、生産性を向上する効果がある。
(4)太陽電池用基板Wの温度を検出するのではなく、トレイTの温度を検出して加熱の制御を行うようにしている。太陽電池用基板Wは、赤外線を透過するので放射温度計による温度の検出が困難である。また、トレイTは移動するので、固定されて用いられる熱電対を温度検出器として用いるのは困難である。よって、トレイTの温度を検出して加熱の制御を行う方法により、生産性を向上する効果がある。
<実施形態2>
図7は、本発明の太陽電池の製造方法の実施形態2としての処理フロー図である。図6と同様、この処理フロー図も、真空予備加熱室における予備加熱処理に関するものであり、太陽電池の製造装置全体の処理フローを示すものではない。
なお、図7における処理フロー図においては、図6と同一のステップについては、同一の参照番号が付されている。
図7は、本発明の太陽電池の製造方法の実施形態2としての処理フロー図である。図6と同様、この処理フロー図も、真空予備加熱室における予備加熱処理に関するものであり、太陽電池の製造装置全体の処理フローを示すものではない。
なお、図7における処理フロー図においては、図6と同一のステップについては、同一の参照番号が付されている。
図7に示された製造方法が図6に示された製造方法と相違する点は、図6におけるステップS4〜ステップS6に示す処理に代えて、ステップS21とステップS5の処理を行うようにした点である。
従って、実施形態2に関しては、主に、ステップS21とステップS5における処理について説明する。
従って、実施形態2に関しては、主に、ステップS21とステップS5における処理について説明する。
図6のステップS1〜S3に示すように、ゲートG1を開放して真空予備加熱室10のチャンバ内を大気圧にして、太陽電池用基板WをトレイT上に載置した状態で、外部ステーション70から真空予備加熱室10内に搬入し、真空予備加熱室10内を減圧する。
ステップS3の次に、ステップS21で、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000±α(Pa)に低下したか否かが判断される。ステップS21において、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000±α(Pa)に低下したと判断されれば、ステップS5に進む。
実施形態2においては、ステップS6おける不活性ガスの導入が行われない。このためステップS21では、真空予備加熱室10内の圧力Pは、大気の組成のガスの圧力を検出し、この圧力が減圧されて1000±α(Pa)に低下したことを判断する。
すなわち、実施形態2では、太陽電池用基板WをトレイT上に載置した状態で、真空予備加熱室10内に搬入し、真空予備加熱室10内の減圧を行う場合、実施形態1の如く、一旦、真空雰囲気にして、この後不活性ガスを導入することなく、直接、大気を加熱処理圧力にまで減圧するようにしたものである。
したがって、実施形態2では、一旦真空雰囲気にする工程がないことで、予備加熱全体の工程が短縮されている。
したがって、実施形態2では、一旦真空雰囲気にする工程がないことで、予備加熱全体の工程が短縮されている。
<実施形態3>
図8は、本発明の太陽電池の製造方法の実施形態3としての処理フロー図である。図6、図7と同様、この処理フロー図も、真空予備加熱室における予備加熱処理に関するものであり、太陽電池の製造装置全体の処理フローを示すものではない。
なお、図8における処理フロー図においては、図6、図7と同一のステップで、かつステップの実施順が変更されていないものについては、同一の参照番号が付されている。
図8は、本発明の太陽電池の製造方法の実施形態3としての処理フロー図である。図6、図7と同様、この処理フロー図も、真空予備加熱室における予備加熱処理に関するものであり、太陽電池の製造装置全体の処理フローを示すものではない。
なお、図8における処理フロー図においては、図6、図7と同一のステップで、かつステップの実施順が変更されていないものについては、同一の参照番号が付されている。
図8に示された製造方法が図6、図7に示された製造方法と相違する点は、図6におけるステップS4〜ステップS7、および図7におけるステップS21に示す処理に代えて、ステップS31〜ステップS36に示す処理を行うようにした点である。
従って、実施形態3に関しては、主に、ステップS31〜ステップS36における処理について説明する。
従って、実施形態3に関しては、主に、ステップS31〜ステップS36における処理について説明する。
図6、図7のステップS1〜S3と同様に、ゲートG1を開放して真空予備加熱室10のチャンバ内を大気圧にして、太陽電池用基板WをトレイT上に載置した状態で、外部ステーション70から真空予備加熱室10内に搬入し、真空予備加熱室10内を減圧する。
ステップS3の次に、ステップS31で、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000+α(Pa)以下に低下したか否かが判断される。ステップS31において、真空予備加熱室10内の圧力Pが1000+α(Pa)以下に低下したと判断されれば、ステップS32に進む。なおこの際αは上記の実施形態1、2の場合と同等である。
ステップS32では、ヒータ制御部41によりランプヒータ15をOnにして発熱させ、太陽電池用基板WおよびトレイTの加熱を開始する。
なおこのステップS32では図6、および図7のステップS7と同様に加熱を開始するが、真空予備加熱室10の減圧が継続されている。この処理は、真空予備加熱室10内の圧力を図示しない圧力検出器により監視しながら、チャンバ内圧力Pが所定の圧力(ここでは5Paとする)に達するまで継続する。
なおこのステップS32では図6、および図7のステップS7と同様に加熱を開始するが、真空予備加熱室10の減圧が継続されている。この処理は、真空予備加熱室10内の圧力を図示しない圧力検出器により監視しながら、チャンバ内圧力Pが所定の圧力(ここでは5Paとする)に達するまで継続する。
ステップS33において、真空予備加熱室10内の圧力Pが5Pa以下に低下したことが検出されたら、ステップ34に進む。
ステップS34では、排気系10aの調整弁を閉じ、真空予備加熱室10の減圧を停止する。
ステップS34では、排気系10aの調整弁を閉じ、真空予備加熱室10の減圧を停止する。
ステップS35では、ガス導入系10bの調整弁を開放し、N2等の不活性ガスの導入を行う。このステップは図6のステップS6と同様に、不活性ガスの導入を行うが、ステップS35では真空予備加熱室10での加熱既に開始されている(ステップS32)。
ステップS36では、図6のステップS8と同様に、制御部50は、放射温度計17から送出されるトレイTの温度情報に基づいて、PID制御によりトレイTの温度が所定温度範囲450±β(℃)に維持されるように、ランプヒータ15の温度を制御しながら加熱を継続する。
なお、図2、図3を参照して説明したように、真空予備加熱室10の加熱を開始してから、トレイTの温度が所定温度範囲450±β(℃)に安定するまで500秒以上の時間がかかる。実施形態3では、実施形態2に比べ、図7においてステップS32の加熱開始から、ステップS36のトレイ温度制御まで、3つのステップS33〜S35が追加されているが、これら3つのステップ実施に必要な時間は通常50秒程度以下である。
従って、実施形態1あるいは実施形態2に比べ、実施形態3では、真空予備加熱室10の加熱を、真空予備加熱室10の圧力を1000±αに調整する前から開始することで、真空予備加熱室10での全行程に必要な時間を短縮することができる。
従って、実施形態1あるいは実施形態2に比べ、実施形態3では、真空予備加熱室10の加熱を、真空予備加熱室10の圧力を1000±αに調整する前から開始することで、真空予備加熱室10での全行程に必要な時間を短縮することができる。
実施形態2ではランプヒータがOnになっている間全部が、またおよび実施形態3では目安として、図8のステップ33で真空予備加熱室10の圧力Pが5Pa以下になる程度までの間、酸素を含んだ大気を減圧した雰囲気で加熱が行われている。
したがって、実施形態2および実施形態3は大気中の含まれる酸素等の成分によって半導体材料である太陽電池基板W(図1参照)が有害な影響を受けないプロセスにおいて、製造工程を短縮することができる。
したがって、実施形態2および実施形態3は大気中の含まれる酸素等の成分によって半導体材料である太陽電池基板W(図1参照)が有害な影響を受けないプロセスにおいて、製造工程を短縮することができる。
従って、実施形態2、実施形態3による場合においても、実施形態1による場合の効果(1)、(2)および(4)を奏する。施形態2による場合においては、実施形態1による場合の効果(3)を奏するものではないが、真空雰囲気までの減圧を行うものではないから、生産効率を向上するという効果を奏する。
実施形態1、実施形態2、実施形態3のいずれを用いるかは、信頼性と生産効率の両面を考慮して決定すればよい。
実施形態1、実施形態2、実施形態3のいずれを用いるかは、信頼性と生産効率の両面を考慮して決定すればよい。
なお、上記各実施形態においては、真空処理室20において、太陽電池の反射防止膜を形成する場合で説明したが、この発明は、この工程に限定されるものではなく、PECVD処理で太陽電池を製造する際の他の工程に対しても適用することが可能である。
また、トレイTの温度検出器として、放射温度計を用いた場合で説明したが、熱電対など、他の温度センサを用いることができる。
その他、本発明の太陽電池の製造装置は、発明の趣旨の範囲において、種々、変形することが可能であり、要は、太陽電池用基板および太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納し、ランプヒータにより加熱する予備加熱室と、予備加熱室内で加熱された太陽電池用基板およびトレイを収納し、真空雰囲気中で太陽電池用基板に処理を行う真空処理室と、予備加熱室内におけるトレイの温度を検出する温度検出器と、予備加熱室内の圧力を、真空処理室内の真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する第1の手段と、加熱処理圧力に保持した状態でランプヒータによる加熱を開始する第2の手段と、トレイを所定温度範囲に保持する第3の手段と、予備加熱室内の圧力を減圧して予備加熱室から真空処理室に搬送する第4の手段とを有する制御手段と、を備えるものであればよい。
その他、本発明の太陽電池の製造装置は、発明の趣旨の範囲において、種々、変形することが可能であり、要は、太陽電池用基板および太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納し、ランプヒータにより加熱する予備加熱室と、予備加熱室内で加熱された太陽電池用基板およびトレイを収納し、真空雰囲気中で太陽電池用基板に処理を行う真空処理室と、予備加熱室内におけるトレイの温度を検出する温度検出器と、予備加熱室内の圧力を、真空処理室内の真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する第1の手段と、加熱処理圧力に保持した状態でランプヒータによる加熱を開始する第2の手段と、トレイを所定温度範囲に保持する第3の手段と、予備加熱室内の圧力を減圧して予備加熱室から真空処理室に搬送する第4の手段とを有する制御手段と、を備えるものであればよい。
また、この発明の太陽電池の製造方法は、予備加熱室に、太陽電池用基板および前記太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納する工程と、予備加熱室内の圧力を、真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する工程と、加熱処理圧力に保持した状態で、かつ、トレイが所定の温度に維持されるように監視しながら、ランプヒータにより太陽電池用基板およびトレイを加熱する工程と、予備加熱室を真空雰囲気に減圧して太陽電池基板およびトレイを真空処理室に搬送する工程と、真空処理室において、真空雰囲気で太陽電池用基板に処理を行う工程とを備えるものであればよい。
上述したごとく、本発明は、ランプヒータ15から放射された赤外線が、シリコン基板などの半導体基板を透過するため、トレイTからの熱伝導により、半導体基板の温度がトレイTよりも高温になる作用を緩和するようにしたことを趣旨とする。しかして、太陽電池用基板としてのシリコン基板は、集積回路が形成された半導体装置の製造に用いられるシリコン基板と同一のものである。従って、この発明は、集積回路が形成される半導体装置の製造装置および半導体装置の製造方法として適用することが可能である。
すなわち、本発明は、下記に示す半導体装置の製造装置および半導体装置の製造方法を含んでいる。
(1)半導体基板および半導体基板が搭載されるトレイを収納し、ランプヒータにより加熱する予備加熱室と、予備加熱室内で加熱された半導体基板およびトレイを収納し、真空雰囲気中で半導体基板に処理を行う真空処理室と、予備加熱室内におけるトレイの温度を検出する温度検出器と、予備加熱室内の圧力を、真空処理室内の真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する第1の手段と、加熱処理圧力に保持した状態で前記ランプヒータによる加熱を開始する第2の手段と、トレイを所定温度範囲に保持する第3の手段と、予備加熱室内の圧力を減圧して予備加熱室から真空処理室に搬送する第4の手段とを有する制御手段と、を備える半導体装置の製造装置。
(1)半導体基板および半導体基板が搭載されるトレイを収納し、ランプヒータにより加熱する予備加熱室と、予備加熱室内で加熱された半導体基板およびトレイを収納し、真空雰囲気中で半導体基板に処理を行う真空処理室と、予備加熱室内におけるトレイの温度を検出する温度検出器と、予備加熱室内の圧力を、真空処理室内の真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する第1の手段と、加熱処理圧力に保持した状態で前記ランプヒータによる加熱を開始する第2の手段と、トレイを所定温度範囲に保持する第3の手段と、予備加熱室内の圧力を減圧して予備加熱室から真空処理室に搬送する第4の手段とを有する制御手段と、を備える半導体装置の製造装置。
(2)予備加熱室に、半導体基板および半導体基板が搭載されるトレイを収納する工程と、予備加熱室内の圧力を、真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理用圧力に設定する工程と、加熱処理圧力に保持した状態で、かつ、トレイが所定の温度に維持されるように監視しながら、ランプヒータにより半導体基板およびトレイを加熱する工程と、予備加熱室を真空雰囲気に減圧して半導体基板および前記トレイを真空処理室に搬送する工程と、真空処理室において、真空雰囲気で半導体基板に処理を行う工程とを備える半導体装置の製造方法。
10 真空予備加熱室
11、13、21、71 基板搬送装置
15 ランプヒータ
20 真空処理室
22 RF電極
41 ヒータ制御部
42 プラズマ放電制御部
43〜46 基板搬送装置駆動部
T トレイ
W 太陽電池用基板
11、13、21、71 基板搬送装置
15 ランプヒータ
20 真空処理室
22 RF電極
41 ヒータ制御部
42 プラズマ放電制御部
43〜46 基板搬送装置駆動部
T トレイ
W 太陽電池用基板
Claims (9)
- 太陽電池用基板および太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納し、ランプヒータにより加熱する予備加熱室と、
前記予備加熱室内で加熱された太陽電池用基板およびトレイを収納し、真空雰囲気中で太陽電池用基板に処理を行う真空処理室と、
前記予備加熱室内におけるトレイの温度を検出する温度検出器と、
前記予備加熱室内の圧力を、前記真空処理室内の真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理圧力に設定する第1の手段と、前記加熱処理圧力に保持した状態で前記ランプヒータによる加熱を開始する第2の手段と、トレイを所定温度範囲に保持する第3の手段と、前記予備加熱室内の圧力を減圧して前記予備加熱室から前記真空処理室に搬送する第4の手段とを有する制御手段と、を備えることを特徴とする太陽電池の製造装置。 - 請求項1に記載された太陽電池の製造装置において、前記制御手段は、前記予備加熱室内の圧力を、前記真空処理室内の真空雰囲気よりも高い前記加熱処理圧力に設定する前に、前記加熱処理圧力よりも低い圧力にする第5の手段を有することを特徴とする太陽電池の製造装置。
- 請求項2に記載された太陽電池の製造装置において、前記制御手段が、前記第5の手段を用いて、前記予備加熱室内の圧力を、前記真空処理室内の真空雰囲気よりも高い前記加熱処理圧力に設定する前に、前記加熱処理圧力よりも低い圧力にしたのち、前記予備加熱室に不活性ガスを導入して、前記真空処理室内の真空雰囲気よりも高い前記加熱処理圧力に設定する第6の手段を有することを特徴とする太陽電池の製造装置。
- 請求項1乃至3に記載された太陽電池の製造装置において、前記加熱処理圧力は100〜50000Paであることを特徴とする太陽電池の製造装置。
- 予備加熱室に、太陽電池用基板および前記太陽電池用基板が搭載されるトレイを収納する工程と、
前記予備加熱室内の圧力を、真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理用圧力に設定する工程と、
前記加熱処理圧力に保持した状態で、かつ、前記トレイが所定の温度に維持されるように監視しながら、ランプヒータにより前記太陽電池用基板および前記トレイを加熱する工程と、
前記予備加熱室を真空雰囲気に減圧して前記太陽電池基板および前記トレイを真空処理室に搬送する工程と、
前記真空処理室において、真空雰囲気で前記太陽電池用基板に処理を行う工程とを備えることを特徴とする太陽電池の製造方法。 - 請求項5に記載の太陽電池の製造方法において、前記予備加熱室内の圧力を、真空雰囲気よりも高く大気圧よりも低い加熱処理用圧力に設定する工程の前に、前記予備加熱室内の圧力を、加熱処理用圧力よりも低い圧力にする工程を有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
- 請求項6に記載された太陽電池の製造方法において、前記予備加熱室内の圧力を、前記真空処理室内の真空雰囲気よりも高い前記加熱処理圧力に設定する工程の前に、前記加熱処理圧力よりも低い圧力にしたのち、前記予備加熱室に不活性ガスを導入して、前記真空処理室内の真空雰囲気よりも高い前記加熱処理圧力に設定する工程を有することを特徴とする太陽電池の製造方法。
- 請求項5乃至7に記載の太陽電池の製造方法において、前記加熱処理圧力は100〜50000Paであることを特徴とする太陽電池の製造方法。
- 請求項5乃至8のいずれか1項に記載の太陽電池の製造方法において、前記真空処理室内で前記太陽電池用基板に反射防止膜を形成することを特徴とする太陽電池の製造方法。
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JP2014130900A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Shimadzu Corp | 加熱装置 |
-
2010
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