JP2012047502A - 分光画像取得装置及び方法 - Google Patents
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Abstract
EEMイメージングを短時間で実施可能な分光画像取得装置及び方法を提供すること。また、装置全体を小型化することが可能な分光画像取得装置を提供すること。
【解決手段】
複数の異なる波長の励起光を試料に照射する励起光照射手段と、該励起光の波長毎に該試料からの蛍光のスペクトル分布を計測する蛍光計測手段とを有する分光画像取得装置において、該励起光照射手段は、空間的に異なる位置に異なる波長の励起光を同時に照射するように構成され、該蛍光計測手段は、前記異なる位置毎に蛍光の光路を分離し、分離された蛍光をスペクトル分光し、スペクトル分光された蛍光の少なくとも一部を、前記異なる位置毎に同時に計測するように構成されていることを特徴とする。
【選択図】図5
Description
照射手段は、光源と、該光源からの放射光を分光する、回折格子、プリズム又はフィルタのいずれかと、異なる波長がストライプ状に照射されるように、該放射光又は該分光のいずれかの光路を調整するレンズ又はミラーとを有することを特徴とする。ただし、この場合、光源は広帯域の単一光源、複数の単色光源を集合した光源のいずれでも良い。
しかも、ストライプ状に配列された方向(スリットの幅方向(長手方向に対して垂直な方向))に試料を相対的に一度移動させることにより、試料全体のEEMを得ることも可能である。
本発明の分光画像取得装置は、複数の異なる波長の励起光を試料に照射する励起光照射手段と、該励起光の波長毎に該試料からの蛍光のスペクトル分布を計測する蛍光計測手段とを有する分光画像取得装置において、図5に示すように、該励起光照射手段は、空間的に異なる位置に異なる波長の励起光を同時に照射するように構成され、該蛍光計測手段は、前記異なる位置毎に蛍光の光路を分離し、分離された蛍光をスペクトル分光し、スペクトル分光された蛍光の少なくとも一部を、前記異なる位置毎に同時に計測するように構成されていることを特徴とする。
ことができる。また、異なる波長毎に励起光の照射領域を明確に区分するため、試料に照射する前に、光路上に各波長に対応する複数のスリットを配置することも可能である。
Claims (7)
- 複数の異なる波長の励起光を試料に照射する励起光照射手段と、該励起光の波長毎に該試料からの蛍光のスペクトル分布を計測する蛍光計測手段とを有する分光画像取得装置において、
該励起光照射手段は、空間的に異なる位置に異なる波長の励起光を同時に照射するように構成され、
該蛍光計測手段は、前記異なる位置毎に蛍光の光路を分離し、分離された蛍光をスペクトル分光し、スペクトル分光された蛍光の少なくとも一部を、前記異なる位置毎に同時に計測するように構成されていることを特徴とする分光画像取得装置。 - 請求項1に記載の分光画像取得装置において、前記異なる位置は、ストライプ状に区分された領域であり、該試料と該励起光の照射位置とは、該ストライプ状の配列方向に相対的に移動するよう構成されていることを特徴とする分光画像取得装置。
- 請求項1又は2に記載の分光画像取得装置において、該励起光照射手段は、光源と、該光源からの放射光を分光する、回折格子、プリズム又はフィルタのいずれかと、異なる波長がストライプ状に照射されるように、該放射光又は該分光のいずれかの光路を調整するレンズ又はミラーとを有することを特徴とする分光画像取得装置。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載の分光画像取得装置において、該蛍光計測手段は、前記異なる位置がストライプ状に区分された領域であり、前記異なる位置毎に蛍光を並列した各スリット状に結像する第1の光学系と、前記スリット状に結像した蛍光を分光する、回折格子、プリズム又はフィルタのいずれかと、該分光を二次元配列の受光素子に結像させる第2の光学系とを有することを特徴とする分光画像取得装置。
- 請求項4に記載の分光画像取得装置において、該第2の光学系に対して該受光素子を相対的に移動させ、分光された異なる波長を受光素子の同一部分で検知することを特徴とする分光画像取得装置。
- 請求項4又は5に記載の分光画像取得装置において、該第1の光学系は、走査ミラーを備え、該走査ミラーを動作させることにより、スリット状に結像される該試料の観察位置を変更することを特徴とする分光画像取得装置。
- 請求項1乃至6のいずれかに記載の分光画像取得装置を用いる分光画像取得方法において、該装置から出力される計測信号を蓄積及び処理し、励起光及び蛍光に係るマトリックス画像を該試料の空間分布として得ることを特徴とする分光画像取得方法。
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