JP2012022232A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2012022232A5
JP2012022232A5 JP2010161444A JP2010161444A JP2012022232A5 JP 2012022232 A5 JP2012022232 A5 JP 2012022232A5 JP 2010161444 A JP2010161444 A JP 2010161444A JP 2010161444 A JP2010161444 A JP 2010161444A JP 2012022232 A5 JP2012022232 A5 JP 2012022232A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
scanning direction
image quality
abnormality
sub
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2010161444A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2012022232A (ja
JP5598130B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010161444A priority Critical patent/JP5598130B2/ja
Priority claimed from JP2010161444A external-priority patent/JP5598130B2/ja
Priority to US13/020,509 priority patent/US8564802B2/en
Publication of JP2012022232A publication Critical patent/JP2012022232A/ja
Publication of JP2012022232A5 publication Critical patent/JP2012022232A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5598130B2 publication Critical patent/JP5598130B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2010161444A 2010-07-16 2010-07-16 画質異常検査装置、画質異常検査システム及びプログラム Active JP5598130B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010161444A JP5598130B2 (ja) 2010-07-16 2010-07-16 画質異常検査装置、画質異常検査システム及びプログラム
US13/020,509 US8564802B2 (en) 2010-07-16 2011-02-03 Image defect inspection apparatus, image defect inspection system, image defect inspection method and non-transitory computer readable recording medium

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010161444A JP5598130B2 (ja) 2010-07-16 2010-07-16 画質異常検査装置、画質異常検査システム及びプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2012022232A JP2012022232A (ja) 2012-02-02
JP2012022232A5 true JP2012022232A5 (enExample) 2013-08-15
JP5598130B2 JP5598130B2 (ja) 2014-10-01

Family

ID=45466747

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010161444A Active JP5598130B2 (ja) 2010-07-16 2010-07-16 画質異常検査装置、画質異常検査システム及びプログラム

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8564802B2 (enExample)
JP (1) JP5598130B2 (enExample)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9143629B2 (en) * 2012-12-20 2015-09-22 Xerox Corporation Systems and methods for streak detection in image array scanning
US9090100B2 (en) 2013-04-11 2015-07-28 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Determination of a media malfunction event based on a shape of a media portion
JP6295612B2 (ja) * 2013-11-05 2018-03-20 株式会社リコー 画像形成システム、画像形成方法およびプログラム
JP6234181B2 (ja) 2013-11-20 2017-11-22 キヤノン株式会社 画像処理装置、情報処理装置、画像処理装置の制御方法、情報処理装置の制御方法、及びプログラム
JP6234185B2 (ja) 2013-11-22 2017-11-22 キヤノン株式会社 装置、装置を制御する方法ならびにプログラム
JP2017049328A (ja) * 2015-08-31 2017-03-09 富士ゼロックス株式会社 画像不良予兆診断装置、画像不良予兆診断システム、及び画像不良予兆診断プログラム
JP6672973B2 (ja) * 2016-04-12 2020-03-25 コニカミノルタ株式会社 画像形成システム、画像形成装置、画像形成方法及びプログラム
JP6752614B2 (ja) * 2016-04-28 2020-09-09 キヤノン株式会社 画像形成装置、画像形成システム、画像形成装置の制御方法、ならびにプログラム
JP7087792B2 (ja) * 2018-07-31 2022-06-21 株式会社リコー 画像データ生成装置、画像データ生成方法およびプログラム
JP7280552B2 (ja) * 2019-03-18 2023-05-24 コニカミノルタ株式会社 画像形成システムおよび異常紙情報表示方法
JP2020168821A (ja) * 2019-04-05 2020-10-15 コニカミノルタ株式会社 画像検査装置、画像検査方法、画像検査プログラム、および画像形成装置
JP2022029246A (ja) * 2020-08-04 2022-02-17 キヤノン株式会社 管理装置、管理装置の制御方法、プログラム、及び管理システム
US11240385B1 (en) 2020-12-21 2022-02-01 Xerox Corporation Defect detection for multi-function devices using machine learning
US11483435B2 (en) * 2020-12-21 2022-10-25 Xerox Corporation Machine state and defect detection meta data to execute maintenance routines on a multi-function device
US12056622B2 (en) * 2021-02-03 2024-08-06 International Business Machines Corporation Identifying influential effects to be adjusted in goal seek analysis
CN113256615B (zh) * 2021-06-22 2021-10-19 常州微亿智造科技有限公司 线形缺陷的检测方法和装置
JP7737608B2 (ja) * 2021-06-29 2025-09-11 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 画像処理装置、画像形成装置、および画像処理方法
JP7688822B2 (ja) * 2021-07-29 2025-06-05 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 画像処理装置、画像形成装置、および画像処理方法
JP2023165481A (ja) * 2022-05-06 2023-11-16 コニカミノルタ株式会社 画像形成装置、及び、画像形成方法
JP2024075903A (ja) * 2022-11-24 2024-06-05 コニカミノルタ株式会社 画像処理システム、画像形成システム、情報処理装置、検査方法、対応策特定プログラム、対応策特定システム、学習装置、および学習方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3279623B2 (ja) * 1992-02-10 2002-04-30 キヤノン株式会社 画像形成装置
JP2783940B2 (ja) * 1992-05-22 1998-08-06 三田工業株式会社 画像形成装置
JPH06262800A (ja) 1993-03-16 1994-09-20 Fuji Xerox Co Ltd 画像形成装置及びその自己診断方法
JPH08190630A (ja) * 1995-01-11 1996-07-23 Ricoh Co Ltd 画像処理装置
JP3581897B2 (ja) * 1997-10-02 2004-10-27 株式会社リコー 画像形成装置
JP4646287B2 (ja) * 2003-06-02 2011-03-09 株式会社リコー 画像形成システム、画像形成方法、画像形成プログラム、及び記録媒体
JP4538845B2 (ja) * 2004-04-21 2010-09-08 富士ゼロックス株式会社 故障診断方法および故障診断装置、画像形成装置、並びにプログラムおよび記憶媒体
JP4840126B2 (ja) * 2006-12-20 2011-12-21 富士ゼロックス株式会社 画像処理装置及び画像処理プログラム
JP2008173869A (ja) 2007-01-19 2008-07-31 Konica Minolta Business Technologies Inc 画像処理装置及びテスト制御方法
US8203750B2 (en) * 2007-08-01 2012-06-19 Xerox Corporation Color job reprint set-up for a printing system
US8339637B2 (en) 2007-08-03 2012-12-25 Ricoh Company, Ltd. Management apparatus, management system, operation status determination method, and image forming apparatus
JP2009037141A (ja) 2007-08-03 2009-02-19 Ricoh Co Ltd 画像形成装置の管理装置及び管理システム
JP5239275B2 (ja) * 2007-09-19 2013-07-17 セイコーエプソン株式会社 欠陥検出方法および欠陥検出装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2012022232A5 (enExample)
CN110400290A (zh) 一种太阳能电池片色差的检测方法、装置及存储介质
CN102353680B (zh) 小型工件表面缺陷的评估方法以及检测不合格工件的流程
CN103063167B (zh) 一种自动判断激光清洗效果的方法
CN101287073B (zh) 变光照环境中机器视觉系统稳定亮度图像自适应获取方法
CN104135660A (zh) 一种摄像模组脏污检测方法及检测系统
WO2010104800A3 (en) Methods and systems for generating an inspection process for a wafer
TW200604515A (en) Technique for detecting a defect of an object by area segmentation of a color image of the object
CN105321191B (zh) 用于处理图像中的反射区的方法和电子设备
WO2023149840A3 (en) Box detection for object attachment
CN107749057B (zh) 一种太阳能电池片外观漏浆缺陷检测的方法
CN106651831B (zh) 一种竹块缺陷检测方法和系统
JP2012016453A5 (enExample)
WO2019001191A1 (zh) 一种拼接票据的检测方法及拼接票据的检测装置
EP2259224A3 (en) Image processing apparatus, image processing method, and program
JP2010035162A5 (enExample)
IL281347B1 (en) Detection of defects in the logic area of the analyzer
CN105719275A (zh) 一种并行组合的图像缺陷分割方法
CN103759644A (zh) 一种滤光片表面缺陷的分离细化智能检测方法
JP2011095108A (ja) 木材欠陥検出装置およびその方法
JP6534278B2 (ja) 紙葉類判別装置及び紙葉類判別方法
CN107862689A (zh) 皮革表面明显破损自动识别方法及计算机可读存储介质
JP2008148072A5 (enExample)
JP5849397B2 (ja) 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法
MX2021014207A (es) Métodos y sistemas para medir la textura de una alfombra.