JP2012010831A - 超音波診断装置の受信入力保護回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】受信入力保護回路10は、互いに直列的に接続された2つのデプレッション型FET(M1,M2)を備えている。そして、比較的小さな受信信号に対して、デプレッション型FET(M1,M2)が非飽和領域で動作し、入力端子INから受信アンプ20まで受信信号を通過させる。一方、比較的大きな送信信号に対しては、デプレッション型FET(M1,M2)が飽和領域で動作して送信信号の通過を制限する。
【選択図】図1
Description
Claims (6)
- 超音波を送受する振動素子と受信回路の間に設けられる受信入力保護回路であって、
ドレイン端子とソース端子とゲート端子とを備えたデプレッション型FETと、
前記ソース端子と前記ゲート端子を互いに電気的に接続する抵抗と、
を有し、
前記振動素子から得られる比較的小さな受信信号を受け、前記デプレッション型FETを非飽和領域で動作させてドレイン電流を流すことにより、前記受信回路まで受信信号を通過させ、
前記振動素子で利用される比較的大きな送信信号を受け、前記デプレッション型FETを飽和領域で動作させてドレイン電流を飽和させることにより、送信信号の通過を制限して前記受信回路を保護する、
ことを特徴とする超音波診断装置の受信入力保護回路。 - 請求項1に記載の受信入力保護回路において、
前記デプレッション型FETのソース端子とドレイン端子の間に設けられ、ソース端子側からドレイン端子側へ流れる電流をバイパスさせるダイオードをさらに有する、
ことを特徴とする超音波診断装置の受信入力保護回路。 - 請求項2に記載の受信入力保護回路において、
互いに直列的に接続された第1デプレッション型FETおよび第2デプレッション型FETからなる2つの前記デプレッション型FETと、
第1デプレッション型FETのソース端子とゲート端子を互いに電気的に接続する第1抵抗と、
第1デプレッション型FETのソース端子とドレイン端子の間に設けられて当該ソース端子側から当該ドレイン端子側へ流れる電流をバイパスさせる第1ダイオードと、
第2デプレッション型FETのソース端子とゲート端子を互いに電気的に接続する第2抵抗と、
第2デプレッション型FETのソース端子とドレイン端子の間に設けられて当該ソース端子側から当該ドレイン端子側へ流れる電流をバイパスさせる第2ダイオードと、
を有する、
ことを特徴とする超音波診断装置の受信入力保護回路。 - 請求項3に記載の受信入力保護回路において、
前記第1デプレッション型FETのドレイン端子と前記第2デプレッション型FETのドレイン端子とが互いに接続される、
ことを特徴とする超音波診断装置の受信入力保護回路。 - 請求項3に記載の受信入力保護回路において、
前記第1デプレッション型FETのソース端子と前記第2デプレッション型FETのソース端子とが前記第1抵抗と第2抵抗を介して互いに接続される、
ことを特徴とする超音波診断装置の受信入力保護回路。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の受信入力保護回路において、
前記受信回路の入力インピーダンスに対して並列的に設けられた互いに逆向きに並列接続された2つのダイオードをさらに有する、
ことを特徴とする超音波診断装置の受信入力保護回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP5558938B2 JP5558938B2 (ja) | 2014-07-23 |
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