JP2012002601A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4913075B2 (ja) * 2008-01-16 2012-04-11 京セラミタ株式会社 画像読取装置
JP5585228B2 (ja) * 2010-06-15 2014-09-10 株式会社リコー 画像検査装置、画像検査方法、及び画像形成装置
JP5636885B2 (ja) * 2010-11-08 2014-12-10 株式会社リコー 画像処理装置、画像形成装置、及び画像処理システム
JP5445983B2 (ja) * 2012-02-03 2014-03-19 横河電機株式会社 塗工寸法測定装置
JP5904454B2 (ja) * 2012-03-14 2016-04-13 株式会社リコー 画像形成装置及びトナー濃度検出方法
FI124434B (en) * 2012-10-31 2014-08-29 Metso Automation Oy Method and apparatus for track monitoring
US9156278B2 (en) 2013-06-18 2015-10-13 Ricoh Company, Ltd. Quality analysis of printheads with clear fluid
JP6477076B2 (ja) * 2014-03-18 2019-03-06 株式会社リコー 画像検査装置、画像形成システム、画像検査方法及び画像検査プログラム
DE102015114575B4 (de) * 2015-09-01 2017-05-24 Stephan Krebs Vorrichtung zur Druckbildkontrolle
KR20200126025A (ko) * 2016-05-30 2020-11-05 봅스트 맥스 에스에이 표면 검사 시스템 및 표면 검사 방법
JP6842615B2 (ja) * 2016-07-13 2021-03-17 株式会社小森コーポレーション 印刷品質検査装置
CN110268251A (zh) * 2017-04-25 2019-09-20 惠普发展公司，有限责任合伙企业 确定基底的特性
JP2020008542A (ja) * 2018-07-03 2020-01-16 株式会社リコー 検査装置、検査方法、及びプログラム
CN109708750A (zh) * 2018-12-11 2019-05-03 北京卫星环境工程研究所 空间电离层远紫外探测器灵敏度标定系统
JP7380596B2 (ja) * 2019-01-10 2023-11-15 コニカミノルタ株式会社 光学特性解析装置及びプログラム
JP7234800B2 (ja) * 2019-05-27 2023-03-08 マツダ株式会社 金属調質感の評価方法
JP2022016023A (ja) * 2020-07-10 2022-01-21 コニカミノルタ株式会社 光沢度検査装置、光沢度検査方法、及び画像形成装置
JP7775604B2 (ja) * 2021-09-16 2025-11-26 コニカミノルタ株式会社 光沢度検出装置、画像形成装置及び用紙搬送システム

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07325016A (ja) * 1994-05-31 1995-12-12 Shimadzu Corp 反射率測定装置
JP2001027604A (ja) * 1999-07-14 2001-01-30 Moritex Corp つや計
US6713775B2 (en) 2002-06-21 2004-03-30 Lexmark International, Inc. Method to correct for sensitivity variation of media sensors
US6819886B2 (en) 2002-10-23 2004-11-16 Nex Press Solutions Llc Gloss/density measurement device with feedback to control gloss and density of images produced by an electrographic reproduction apparatus
JP2004205463A (ja) * 2002-12-26 2004-07-22 Fuji Photo Film Co Ltd 光沢度測定装置、光沢度測定方法およびキャリブレーション方法
JP3964323B2 (ja) * 2002-12-27 2007-08-22 株式会社コーセー 毛髪のつや測定器具
US7139511B2 (en) * 2003-03-14 2006-11-21 Ricoh Company, Ltd. Image forming apparatus, method of calculating amount of toner transfer, methods of converting regular reflection output and diffuse reflection output, method of converting amount of toner transfer, apparatus for detecting amount of toner transfer, gradation pattern, and methods of controlling toner density and image density
JP2005053016A (ja) * 2003-08-08 2005-03-03 Fuji Xerox Co Ltd プリンタ装置
JP2005277678A (ja) 2004-03-24 2005-10-06 Fuji Xerox Co Ltd 画像読取装置
JP4842536B2 (ja) 2004-11-15 2011-12-21 株式会社リコー 画像形成装置
JP4782405B2 (ja) 2004-11-15 2011-09-28 株式会社リコー 画像形成装置
US7763876B2 (en) 2007-04-06 2010-07-27 Xerox Corporation Gloss and differential gloss measuring system
JP5288235B2 (ja) 2007-09-11 2013-09-11 株式会社リコー 画像形成装置
US20090231551A1 (en) * 2008-03-11 2009-09-17 Robe Show Lighting S.R.O. Digital imaging system
JP2010066566A (ja) * 2008-09-11 2010-03-25 Fuji Xerox Co Ltd 検出装置及び画像形成装置
JP5585228B2 (ja) * 2010-06-15 2014-09-10 株式会社リコー 画像検査装置、画像検査方法、及び画像形成装置

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