JP2011515143A - 位相コントラストイメージングのための回転x線装置 - Google Patents
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Abstract
Description
a)X線を生成するための少なくとも2つのX線源。X線源は好ましくは選択的に制御可能である、すなわち、例えば連続的に及び/又は互いに独立して活性化されることができる。さらに、2つのみではなくそれ以上のX線源が利用可能であることが好ましく、典型的な数は3及び8のX線源の間にある。
b)以下"DOE"と略される回折光学素子。DOEはX線源にさらされる、すなわち、X線源がアクティブである場合にX線源の放射によって衝突されるように配置される。
c)DOEによって生成される干渉パターンを検出するためのX線検出器。この目的のため、X線検出器はX線源の視点から見てDOEの後ろに配置される。
d)DOEの周期に対応する(例えばDOEの周期のほぼ二倍)、この検出器の空間感度を調節するためにX線検出器の前に配置されるアナライザ。こうしたアナライザの適用は、特に通常のX線感受性素子(例えば関連光検出器を備えるシンチレータを有するピクセル、又は直接変換材料を有するピクセル)と併せて有用であるが、これは通常のX線感受性素子が典型的に干渉パターンのピッチよりもかなり大きいサイズを持つためである。この場合、アナライザは干渉パターンの周期によって与えられる限度にX線検出器の空間分解能を増加させるために使用されることができる。アナライザは例えばUS 2007/0183580 A1に記載されているような吸収格子又はシンチレーション構造によって実現され得る。
X線源、X線検出器、並びに、DOE及びアナライザのうちの一方(のみ)は、対象物が置かれることができる中心領域に対して回転軸周りに共通に回転可能である。DOE又はアナライザのいずれかはかかる回転に参加しないので(そうではなく通常は対象物に対して静止している)、DOEとアナライザの間には相対的回転がある。さらに、X線源、X線検出器、及びDOE/アナライザの回転は中心領域のみに対することに留意すべきである。すなわち、環境に対して、列挙された構成要素は静止し得る(一方対象物を有する中心領域は絶対運動をする)。
DOE及びアナライザは、これらが互いに対して回転軸周りに回転されるときに変化する相対位相及び/又は相対周期を持つ。この文脈において"位相"及び"周期"とは、それぞれDOE及びアナライザの光学活性構造、例えば線格子の場合は平行線のパターンをあらわす。さらに、この変化は、DOE又はアナライザ上の少なくとも1つの固定位置と、他の光学素子上の対応する最近点(上記最近点は素子の相対的回転に従って変化する)について判断される。
a)複数のX線源から選択される第一のX線源で上記対象物を照射するステップ。
b)対象物の後ろに配置される("後ろ"という語は第一のX線源に位置する視点をあらわす)、"DOE"と呼ばれる回折光学素子で干渉パターンを生成するステップ。
c)X線検出器を用いて、DOEの周期に対応する、検出器の空間感度を調節するアナライザを通して、前述の干渉パターンをサンプリングするステップ。
d)複数のX線源、X線検出器、及び、DOE又はアナライザのいずれかを、対象物に対して回転軸周りに同調して回転させ、それによってDOE及びアナライザの相対位相及び/又は周期を変化させるステップ。
e)複数のX線源から選択される第二のX線源を用いて、この第二のX線源が、前のステップa)において第一のX線源によってとられた位置をとるときに、ステップa)、b)、c)を繰り返すステップ。
X線装置100は、回転軸A(図面におけるz軸)周りの円弧上に配置される複数のX線源11,11'を有する。
X線源11,11'、ピクセル化X線検出器30、及びアナライザ格子G2は回転ガントリ20に取り付けられる。
位相格子G1は固定され、対象物1を有する中心領域の周りに完全なリング(図面には部分的にしか示されていない)としてのびる。
位相格子G1とアナライザ格子G2の相対的パターン位相は回転軸A周りに円周方向に変化する。
Claims (15)
- 対象物の位相コントラスト画像を生成するための回転X線装置であって、
a)少なくとも2つのX線源と、
b)前記X線源にさらされる、DOEと呼ばれる回折光学素子と、
c)前記DOEによって生成される干渉パターンを検出するためのX線検出器と、
d)前記DOEの周期に対応する、前記X線検出器の空間感度を調節するために前記X線検出器の前に配置されるアナライザとを有し、
前記X線源、前記X線検出器、及び、前記DOE又は前記アナライザのいずれかが、前記対象物が置かれることができる中心領域に対して回転軸周りに回転可能であり、
前記DOE及び前記アナライザが、前記回転軸周りに互いに対して回転されるときに変化する相対位相及び/又は周期を持つ、X線装置。 - 前記X線検出器がX線感受性素子のアレイを有する、請求項1に記載のX線装置。
- 前記DOEが位相格子を有する、請求項1に記載のX線装置。
- 前記アナライザが吸収格子を有する、請求項1に記載のX線装置。
- 前記DOEと前記アナライザが同一又は同様の光学的パターンを有し、そのうちの少なくとも一方は前記回転軸に垂直な面に対して傾斜される、請求項1に記載のX線装置。
- 前記DOE又は前記アナライザがリング上で前記回転軸周りに円周方向にのびる、請求項1に記載のX線装置。
- 前記X線源が、前記リングに対して軸方向にシフトされて、及び/又は前記リングの内部に配置される、請求項6に記載のX線装置。
- 前記X線源が前記回転軸周りの円弧上に配置される、請求項1に記載のX線装置。
- 少なくとも1つのX線源がカーボンナノチューブを備える少なくとも1つのカソードを有する、請求項1に記載のX線装置。
- 第一及び第二のX線源がそれぞれ前記中心領域に対する所定位置を通過するときにX線被爆の収集を引き起こすための制御装置を有する、請求項1に記載のX線装置。
- 前記X線源のうちの少なくとも1つが、格子の前に配置される空間的に広がった放射体を有する、請求項1に記載のX線装置。
- 前記X線源から前記X線検出器へのX線の経路において対象物によって生じる位相シフトを決定するための評価装置を有する、請求項1に記載のX線装置。
- 前記評価装置が、対象物の断面位相コントラスト画像及び/又は吸収画像を、異なる方向からとられる前記対象物の投影から再構成するための再構成モジュールを有する、請求項12に記載のX線装置。
- 対象物の位相コントラスト画像を生成するための方法であって、
a)複数のX線源から第一のX線源で前記対象物を照射するステップと、
b)前記対象物の後ろのDOEと呼ばれる回折光学素子で干渉パターンを生成するステップと、
c)X線検出器を用いて、前記DOEの周期に対応する、前記検出器の空間感度を調節するアナライザを通して、前記干渉パターンをサンプリングするステップと、
d)前記複数のX線源、前記X線検出器、及び、前記DOE又は前記アナライザのいずれかを、前記対象物に対して回転軸周りに同調して回転させ、それによって前記DOE及び前記アナライザの相対位相及び/又は周期を変化させるステップと、
e)前記複数のX線源のうちの第二のX線源を用いて、これが前記第一のX線源の前の位置をとるときに、ステップa)からc)を繰り返すステップとを有する方法。 - 請求項14に記載の方法を実行することを可能にするためのコンピュータプログラム。
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---|---|---|---|
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PCT/IB2009/051051 WO2009115966A1 (en) | 2008-03-19 | 2009-03-13 | Rotational x ray device for phase contrast imaging |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011500331A Expired - Fee Related JP5539307B2 (ja) | 2008-03-19 | 2009-03-13 | 位相コントラストイメージングのための回転x線装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
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CN (1) | CN101978257B (ja) |
WO (1) | WO2009115966A1 (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011022134A (ja) * | 2009-06-18 | 2011-02-03 | Canon Inc | X線撮像装置およびx線撮像方法 |
JP2012254294A (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-27 | General Electric Co <Ge> | 多焦点x線位相コントラスト・イメージング・システム |
KR101450443B1 (ko) | 2013-04-15 | 2014-10-13 | 연세대학교 원주산학협력단 | 고해상도의 영상화 단층 촬영 방법 및 그 장치 |
JP2015503988A (ja) * | 2012-01-24 | 2015-02-05 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 多方向位相コントラストx線撮像 |
JP2015522154A (ja) * | 2012-06-27 | 2015-08-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 画像診断システム及び作動方法 |
KR20150090375A (ko) * | 2014-01-28 | 2015-08-06 | 경북대학교 산학협력단 | 체렌코프 복사 기반 방사선 검출기 |
Families Citing this family (63)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010150136A1 (en) * | 2009-06-22 | 2010-12-29 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Grating-based phase contrast x-ray imaging apparatus and methods |
CN102656644B (zh) * | 2009-12-10 | 2016-11-16 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 具有即时相位步进的非平行光栅装置、x射线系统及使用 |
JP5739902B2 (ja) * | 2009-12-10 | 2015-06-24 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | X線デバイス及び方法 |
JP5213923B2 (ja) * | 2010-01-29 | 2013-06-19 | キヤノン株式会社 | X線撮像装置およびx線撮像方法 |
DE102010018715A1 (de) * | 2010-04-29 | 2011-11-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgenaufnahmesystem |
DE102010019991A1 (de) * | 2010-05-10 | 2011-11-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Computertomographiesystem |
JP5610885B2 (ja) | 2010-07-12 | 2014-10-22 | キヤノン株式会社 | X線撮像装置および撮像方法 |
WO2012029048A1 (en) * | 2010-09-03 | 2012-03-08 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Regularized phase retrieval in differential phase-contrast imaging |
CN103189739B (zh) * | 2010-10-19 | 2015-12-02 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 微分相位对比成像 |
EP2630476B1 (en) * | 2010-10-19 | 2017-12-13 | Koninklijke Philips N.V. | Differential phase-contrast imaging |
JP2012095865A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Fujifilm Corp | 放射線撮影装置、放射線撮影システム |
RU2013126110A (ru) * | 2010-11-08 | 2014-12-20 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Дифракционная решетка для получения фазоконтрастного изображения |
CN103460251A (zh) * | 2010-12-13 | 2013-12-18 | 保罗·谢勒学院 | 利用对具有光栅布置的相衬成像的约束优化的图像积分的方法和系统 |
WO2012155201A1 (en) | 2011-05-19 | 2012-11-22 | Newsouth Innovations Pty Ltd | A method and apparatus for generating a representation of an internal structure of an object |
RU2585801C2 (ru) | 2011-06-01 | 2016-06-10 | Тоталь Са | Устройство рентгеновской томографии |
WO2012164092A1 (en) * | 2011-06-01 | 2012-12-06 | Total Sa | An x-ray tomography device |
WO2013004574A1 (en) * | 2011-07-04 | 2013-01-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V | Phase contrast imaging apparatus |
US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
WO2014137325A1 (en) * | 2012-03-05 | 2014-09-12 | University Of Rochester | Methods and apparatus for differential phase-contrast cone-beam ct and hybrid cone-beam ct |
DE102012005767A1 (de) * | 2012-03-25 | 2013-09-26 | DüRR DENTAL AG | Phasenkontrast-Röntgen-Tomographiegerät |
DE102012213876A1 (de) * | 2012-08-06 | 2014-02-06 | Siemens Aktiengesellschaft | Anordnung und Verfahren zur inversen Röntgen-Phasenkontrast-Bildgebung |
KR101378757B1 (ko) * | 2012-08-30 | 2014-03-27 | 한국원자력연구원 | 물질 원소 정보 획득 및 영상 차원의 선택이 가능한 방사선 영상화 장치 |
US8989347B2 (en) | 2012-12-19 | 2015-03-24 | General Electric Company | Image reconstruction method for differential phase contrast X-ray imaging |
CN103901493B (zh) * | 2012-12-27 | 2016-12-28 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种无机架ct装置 |
EP2827339A1 (en) * | 2013-07-16 | 2015-01-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Source grating, interferometer, and object information acquisition system |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
CN104837409B (zh) * | 2013-09-30 | 2019-08-13 | 皇家飞利浦有限公司 | 具有可移动光栅的微分相位衬度成像装置 |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
JP2015166676A (ja) * | 2014-03-03 | 2015-09-24 | キヤノン株式会社 | X線撮像システム |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
RU2674650C2 (ru) * | 2014-08-05 | 2018-12-12 | Конинклейке Филипс Н.В. | Устройство-решетка для устройства рентгеновской визуализации |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
EP3314576B1 (en) * | 2015-06-26 | 2019-11-27 | Koninklijke Philips N.V. | Robust reconstruction for dark-field and phase contrast ct |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US11337663B2 (en) | 2016-04-08 | 2022-05-24 | Rensselaer Polytechnic Institute | Rapid filtration methods for dual-energy X-ray CT |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
JP6753342B2 (ja) * | 2017-03-15 | 2020-09-09 | 株式会社島津製作所 | 放射線格子検出器およびx線検査装置 |
WO2018175570A1 (en) | 2017-03-22 | 2018-09-27 | Sigray, Inc. | Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system |
EP3382719A1 (en) * | 2017-03-27 | 2018-10-03 | Koninklijke Philips N.V. | Detector arrangement for an x-ray phase contrast system and method for x-ray contrast imaging |
CN107144583A (zh) * | 2017-06-21 | 2017-09-08 | 兰州大学 | 一种用于x射线相衬成像平板探测器及其使用方法 |
WO2019056309A1 (en) * | 2017-09-22 | 2019-03-28 | Shenzhen United Imaging Healthcare Co., Ltd. | METHOD AND SYSTEM FOR GENERATING A PHASE CONTRAST IMAGE |
JP6835242B2 (ja) * | 2017-10-11 | 2021-02-24 | 株式会社島津製作所 | X線位相差撮影システムおよび位相コントラスト画像補正方法 |
CN107748341A (zh) * | 2017-10-23 | 2018-03-02 | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 | 高衬度低剂量相位衬度ct成像装置 |
EP3740130B1 (en) | 2018-01-19 | 2023-09-27 | Koninklijke Philips N.V. | Scan parameter adaption during a contrast enhanced scan |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
US10845491B2 (en) | 2018-06-04 | 2020-11-24 | Sigray, Inc. | Energy-resolving x-ray detection system |
GB2591630B (en) | 2018-07-26 | 2023-05-24 | Sigray Inc | High brightness x-ray reflection source |
CN112534247A (zh) * | 2018-07-27 | 2021-03-19 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 多源锥束计算机断层扫描 |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
DE112019004433T5 (de) | 2018-09-04 | 2021-05-20 | Sigray, Inc. | System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung |
CN112823280A (zh) | 2018-09-07 | 2021-05-18 | 斯格瑞公司 | 用于深度可选x射线分析的系统和方法 |
WO2021046059A1 (en) | 2019-09-03 | 2021-03-11 | Sigray, Inc. | System and method for computed laminography x-ray fluorescence imaging |
US11175243B1 (en) | 2020-02-06 | 2021-11-16 | Sigray, Inc. | X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples |
WO2021162947A1 (en) | 2020-02-10 | 2021-08-19 | Sigray, Inc. | X-ray mirror optics with multiple hyperboloidal / hyperbolic surface profiles |
CN113038024B (zh) * | 2020-04-16 | 2022-12-23 | 北京纳米维景科技有限公司 | 一种图像校正方法 |
JP7395775B2 (ja) | 2020-05-18 | 2023-12-11 | シグレイ、インコーポレイテッド | 結晶解析装置及び複数の検出器素子を使用するx線吸収分光法のためのシステム及び方法 |
JP2023542674A (ja) | 2020-09-17 | 2023-10-11 | シグレイ、インコーポレイテッド | X線を用いた深さ分解計測および分析のためのシステムおよび方法 |
WO2022126071A1 (en) | 2020-12-07 | 2022-06-16 | Sigray, Inc. | High throughput 3d x-ray imaging system using a transmission x-ray source |
US20230293128A1 (en) * | 2022-03-15 | 2023-09-21 | Sigray, Inc. | System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector |
US11885755B2 (en) | 2022-05-02 | 2024-01-30 | Sigray, Inc. | X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5812629A (en) * | 1997-04-30 | 1998-09-22 | Clauser; John F. | Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging |
JP2004511884A (ja) * | 2000-10-06 | 2004-04-15 | ザ ユニバーシティ オブ ノース カロライナ − チャペル ヒル | 電子電界放出カソードを使用するx線発生機構 |
WO2004058070A1 (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-15 | Atsushi Momose | X線撮像装置および撮像方法 |
JP2006255089A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
EP1731099A1 (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-13 | Paul Scherrer Institut | Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source |
US20070183580A1 (en) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Stefan Popescu | Focus/detector system of an x-ray apparatus for generating phase contrast recordings |
JP2007206075A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点−検出器装置 |
JP2007203042A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | 投影式および断層撮影式位相コントラスト画像の作成用のx線ctシステム |
JP2008145111A (ja) * | 2006-12-06 | 2008-06-26 | Univ Of Tokyo | X線撮像装置、これに用いるx線源、及び、x線撮像方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6876724B2 (en) | 2000-10-06 | 2005-04-05 | The University Of North Carolina - Chapel Hill | Large-area individually addressable multi-beam x-ray system and method of forming same |
JP2007097610A (ja) | 2005-09-30 | 2007-04-19 | Konica Minolta Medical & Graphic Inc | X線画像撮影システム |
DE102006063048B3 (de) | 2006-02-01 | 2018-03-29 | Siemens Healthcare Gmbh | Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen |
DE102006015356B4 (de) | 2006-02-01 | 2016-09-22 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System |
CN101011256A (zh) * | 2006-02-01 | 2007-08-08 | 西门子公司 | 通过x射线无破坏地分析检查对象的方法和测量装置 |
US20070189459A1 (en) * | 2006-02-16 | 2007-08-16 | Stellar Micro Devices, Inc. | Compact radiation source |
EP1879020A1 (en) * | 2006-07-12 | 2008-01-16 | Paul Scherrer Institut | X-ray interferometer for phase contrast imaging |
US7864415B2 (en) * | 2007-09-17 | 2011-01-04 | U Chicago Argonne, Llc | Use of a focusing vortex lens as the objective in spiral phase contrast microscopy |
-
2009
- 2009-03-13 US US12/933,143 patent/US8565371B2/en not_active Expired - Fee Related
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- 2009-03-13 JP JP2011500331A patent/JP5539307B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5812629A (en) * | 1997-04-30 | 1998-09-22 | Clauser; John F. | Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging |
JP2004511884A (ja) * | 2000-10-06 | 2004-04-15 | ザ ユニバーシティ オブ ノース カロライナ − チャペル ヒル | 電子電界放出カソードを使用するx線発生機構 |
WO2004058070A1 (ja) * | 2002-12-26 | 2004-07-15 | Atsushi Momose | X線撮像装置および撮像方法 |
JP2006255089A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Toshiba Corp | X線コンピュータ断層撮影装置 |
EP1731099A1 (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-13 | Paul Scherrer Institut | Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source |
JP2008545981A (ja) * | 2005-06-06 | 2008-12-18 | パウル・シェラー・インスティトゥート | 非干渉性多色x線源を用いた定量的位相コントラスト画像法及び断層撮影法のための干渉計 |
US20070183580A1 (en) * | 2006-02-01 | 2007-08-09 | Stefan Popescu | Focus/detector system of an x-ray apparatus for generating phase contrast recordings |
JP2007206075A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | X線装置の焦点−検出器装置 |
JP2007203042A (ja) * | 2006-02-01 | 2007-08-16 | Siemens Ag | 投影式および断層撮影式位相コントラスト画像の作成用のx線ctシステム |
JP2008145111A (ja) * | 2006-12-06 | 2008-06-26 | Univ Of Tokyo | X線撮像装置、これに用いるx線源、及び、x線撮像方法 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011022134A (ja) * | 2009-06-18 | 2011-02-03 | Canon Inc | X線撮像装置およびx線撮像方法 |
JP2012254294A (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-27 | General Electric Co <Ge> | 多焦点x線位相コントラスト・イメージング・システム |
JP2015503988A (ja) * | 2012-01-24 | 2015-02-05 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 多方向位相コントラストx線撮像 |
JP2015522154A (ja) * | 2012-06-27 | 2015-08-03 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 画像診断システム及び作動方法 |
KR101450443B1 (ko) | 2013-04-15 | 2014-10-13 | 연세대학교 원주산학협력단 | 고해상도의 영상화 단층 촬영 방법 및 그 장치 |
KR20150090375A (ko) * | 2014-01-28 | 2015-08-06 | 경북대학교 산학협력단 | 체렌코프 복사 기반 방사선 검출기 |
KR101634426B1 (ko) | 2014-01-28 | 2016-06-29 | 경북대학교 산학협력단 | 체렌코프 복사 기반 방사선 검출기 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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