JP2011512647A5 - - Google Patents
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Claims (21)
- 極紫外線及びX線放射用の光源−集光光学系であって、軸に沿って、
燃料ターゲットを有し、前記燃料ターゲットが前記軸に沿ったレーザビームにより照射されるとき放射を行うレーザ生成プラズマ(LPP)源と、
前記軸に沿って前記LPP源に相対的に配され、前記放射の一部を集光し、前記光軸上の中間焦点に向ける、斜入射集光器と、
を備える、光源−集光光学系。 - 前記燃料ターゲットは、Li、Sn、又はXeを含む、
請求項1に記載の光源−集光光学系。 - 前記燃料ターゲットは、燃料液滴ジェネレータから出される燃料液滴を含む、
請求項2に記載の光源−集光光学系。 - 前記光学系の軸に沿って配され、レーザ光を前記燃料ターゲットに向けるミラーを備える、
請求項1に記載の光源−集光光学系。 - 更に、前記燃料ターゲット上にレーザ光を合焦させるレンズを備える、
請求項4に記載の光源−集光光学系。 - 前記斜入射集光器は、斜入射集光器の温度分布を管理する熱管理システムを有する、
請求項1に記載の光源−集光光学系。 - 前記斜入射集光器は、同心に配され又は入れ子状の斜入射ミラーを備える、
請求項1に記載の光源−集光光学系。 - 前記斜入射ミラーは、電鋳金属から形成されてなる、
請求項7に記載の光源−集光光学系。 - 前記斜入射ミラーは、反射コーティングがなされた光学面をそれぞれ有する、
請求項8に記載の光源−集光光学系。 - 請求項1に記載の集光光学系と、
前記集光光学系に相対的に配され同光学系からの放射を受光する光学集光レンズと、
前記光学集光レンズからの放射を受光する反射マスクと、
を備える、リソグラフィシステム。 - 極紫外線及びX線放射用の光源−集光光学系であって、軸に沿って、
燃料ターゲットを有するレーザ生成プラズマ(LPP)源と、
前記燃料ターゲットに向けられ放射されるレーザ光を生成するレーザと、
前記軸に沿って前記LPP源に相対的に配され、前記放射の一部を集光し、中間焦点に向ける、入れ子状の電鋳ミラーを有する斜入射集光器と、
を備える、光源−集光光学系。 - 前記LPP源と前記中間焦点との間に前記軸に沿って配され、前記軸に沿ってレーザ光を反射するミラーを更に備える、
請求項11に記載の光源−集光光学系。 - 前記斜入射集光器に隣接して前記LPP源の反対側に軸に沿って配され、前記軸に沿って前記斜入射集光器を通ってレーザ光を反射するミラーを更に備える、
請求項11に記載の光源−集光光学系。 - 前記燃料ターゲットは、燃料液滴ジェネレータより出されるSnの液滴である、
請求項11に記載の光源−集光光学系。 - 各電鋳ミラーは、反射コーティングされた光学面を有する、
請求項11に記載の光源−集光光学系。 - 前記電鋳ミラーは、同心に配されている、
請求項11に記載の光源−集光光学系。 - 請求項7に記載の集光光学系と、
前記集光光学系に相対的に配され同光学系からの放射を受光する光学集光レンズと、
前記光学集光レンズからの放射を受光する反射マスクと、
を備える、リソグラフィシステム。 - 極紫外線又はX線放射を集光する方法であって、
集光器軸を有する斜入射集光器を設け、
前記集光器軸上であって前記斜入射集光器との相対位置に燃料ターゲットを配し、
軸に沿って走るレーザ光により前記燃料ターゲットを照射して、前記放射を行うレーザ生成プラズマ(LPP)源を形成し、
前記斜入射集光器で前記放射の一部を集光し、集光された放射を中間焦点に向ける、
方法。 - 前記燃料ターゲットを、燃料液滴ジェネレータより出されるSnの液滴とする、
請求項18に記載の方法。 - レーザ光が光軸に沿うようにミラーでレーザ光を反射させることを含み、ミラーを
(a)LPP源及び中間焦点の間に配すること、又は
(b)レーザ光が斜入射集光器を通るように斜入射集光器に隣接してLPP源の反対側に配すること、
を含む、請求項18に記載の方法。 - 前記斜入射集光器を同心に配された電鋳ミラーにより形成することを含む、
請求項18に記載の方法。
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CN102621815B (zh) * | 2011-01-26 | 2016-12-21 | Asml荷兰有限公司 | 用于光刻设备的反射光学部件及器件制造方法 |
US9632419B2 (en) | 2011-09-22 | 2017-04-25 | Asml Netherlands B.V. | Radiation source |
DE102013002064A1 (de) * | 2012-02-11 | 2013-08-14 | Media Lario S.R.L. | Quell-kollektor-module für euv-lithographie unter verwendung eines gic-spiegels und einer lpp-quelle |
JP2013211517A (ja) * | 2012-03-01 | 2013-10-10 | Gigaphoton Inc | Euv光集光装置 |
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EP2746850B1 (en) | 2012-12-20 | 2015-03-18 | USHIO Denki Kabushiki Kaisha | Method of manufacturing mirror shells of a nested shells grazing incidence mirror |
US8872143B2 (en) * | 2013-03-14 | 2014-10-28 | Asml Netherlands B.V. | Target for laser produced plasma extreme ultraviolet light source |
DE102014006265B4 (de) | 2013-05-03 | 2017-08-24 | Media Lario S.R.L. | Sn-dampf-euv-llp-quellsystem für die euv-lithographie |
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IT202000017086A1 (it) * | 2020-07-14 | 2022-01-14 | Istituto Naz Di Astrofisica | Procedimento per la realizzazione di elementi ottici per ottiche di telescopi utilizzabili in missioni spaziali |
Family Cites Families (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6586757B2 (en) * | 1997-05-12 | 2003-07-01 | Cymer, Inc. | Plasma focus light source with active and buffer gas control |
US6566668B2 (en) * | 1997-05-12 | 2003-05-20 | Cymer, Inc. | Plasma focus light source with tandem ellipsoidal mirror units |
US6278764B1 (en) | 1999-07-22 | 2001-08-21 | The Regents Of The Unviersity Of California | High efficiency replicated x-ray optics and fabrication method |
US6831963B2 (en) | 2000-10-20 | 2004-12-14 | University Of Central Florida | EUV, XUV, and X-Ray wavelength sources created from laser plasma produced from liquid metal solutions |
EP1152555A1 (en) | 2000-05-03 | 2001-11-07 | Media Lario S.r.L. | Telescope mirror for high bandwidth free space optical data transmission |
US7180081B2 (en) * | 2000-06-09 | 2007-02-20 | Cymer, Inc. | Discharge produced plasma EUV light source |
US7410265B2 (en) * | 2000-09-13 | 2008-08-12 | Carl Zeiss Smt Ag | Focusing-device for the radiation from a light source |
US7916388B2 (en) * | 2007-12-20 | 2011-03-29 | Cymer, Inc. | Drive laser for EUV light source |
US6633048B2 (en) | 2001-05-03 | 2003-10-14 | Northrop Grumman Corporation | High output extreme ultraviolet source |
DE10158216A1 (de) | 2001-11-28 | 2003-06-18 | Carlos Alberto Valenzuela | Spiegel, optisches Abbildungssystem und deren Verwendung |
DE10214259A1 (de) | 2002-03-28 | 2003-10-23 | Zeiss Carl Semiconductor Mfg | Kollektoreinheit für Beleuchtungssysteme mit einer Wellenlänge <193 nm |
TWI242690B (en) | 2002-08-15 | 2005-11-01 | Asml Netherlands Bv | Reflector assembly, lithographic projection apparatus, radiation system with the reflector assembly, and method of manufacturing an integrated structure by a lithographic process |
EP1573402B1 (en) * | 2002-12-19 | 2008-03-12 | Carl Zeiss SMT AG | Illumination system having a more efficient collector optic |
US7217940B2 (en) * | 2003-04-08 | 2007-05-15 | Cymer, Inc. | Collector for EUV light source |
US7075713B2 (en) * | 2003-05-05 | 2006-07-11 | University Of Central Florida Research Foundation | High efficiency collector for laser plasma EUV source |
US6841322B1 (en) | 2003-06-30 | 2005-01-11 | Intel Corporation | Detecting erosion in collector optics with plasma sources in extreme ultraviolet (EUV) lithography systems |
US7230258B2 (en) | 2003-07-24 | 2007-06-12 | Intel Corporation | Plasma-based debris mitigation for extreme ultraviolet (EUV) light source |
FR2860385B1 (fr) | 2003-09-26 | 2007-06-01 | Cit Alcatel | Source euv |
EP1692327A2 (en) | 2003-11-25 | 2006-08-23 | Media Lario S.r.L. | Fabrication of cooling and heat transfer systems by electroforming |
US7423275B2 (en) | 2004-01-15 | 2008-09-09 | Intel Corporation | Erosion mitigation for collector optics using electric and magnetic fields |
US7196342B2 (en) * | 2004-03-10 | 2007-03-27 | Cymer, Inc. | Systems and methods for reducing the influence of plasma-generated debris on the internal components of an EUV light source |
US7164144B2 (en) * | 2004-03-10 | 2007-01-16 | Cymer Inc. | EUV light source |
US7483223B2 (en) * | 2004-05-06 | 2009-01-27 | Carl Zeiss Smt Ag | Optical component having an improved transient thermal behavior and method for improving the transient thermal behavior of an optical component |
FR2871622B1 (fr) * | 2004-06-14 | 2008-09-12 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de generation de lumiere dans l'extreme ultraviolet et application a une source de lithographie par rayonnement dans l'extreme ultraviolet |
US7868304B2 (en) * | 2005-02-07 | 2011-01-11 | Asml Netherlands B.V. | Method for removal of deposition on an optical element, lithographic apparatus, device manufacturing method, and device manufactured thereby |
DE102005014433B3 (de) * | 2005-03-24 | 2006-10-05 | Xtreme Technologies Gmbh | Verfahren und Anordnung zur effizienten Erzeugung von kurzwelliger Strahlung auf Basis eines lasererzeugten Plasmas |
DE102005052257B4 (de) | 2005-11-02 | 2013-11-14 | Symrise Ag | Verfahren zur Herstellung von C1-C8-Alkancarbonsäure-C1-C4-alkylestern |
DE102005053415A1 (de) * | 2005-11-04 | 2007-05-10 | Carl Zeiss Laser Optics Gmbh | Optisches Bauelement mit verbessertem thermischen Verhalten |
US7372049B2 (en) | 2005-12-02 | 2008-05-13 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus including a cleaning device and method for cleaning an optical element |
DE102006027856B3 (de) * | 2006-06-13 | 2007-11-22 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung von extrem ultravioletter Strahlung mittels elektrischer Entladung an regenerierbaren Elektroden |
TW200808134A (en) * | 2006-07-28 | 2008-02-01 | Ushio Electric Inc | Light source device for producing extreme ultraviolet radiation and method of generating extreme ultraviolet radiation |
EP1882984B1 (en) * | 2006-07-28 | 2011-10-12 | Media Lario s.r.l. | Multi-reflection optical systems and their fabrication |
EP1901126B1 (en) * | 2006-09-15 | 2011-10-12 | Media Lario s.r.l. | A collector optical system |
WO2008043577A1 (en) * | 2006-10-13 | 2008-04-17 | Media Lario S.R.L. | Coated mirrors and their fabication |
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