JP2011503628A - 座標測定機を校正するための方法 - Google Patents
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Abstract
【選択図】図3
Description
‐既知特性の基準測定対象を座標測定機の測定体積内に用意するステップと、
‐基準測定対象で多数の基準測定値を記録するステップと、
‐基準測定値と既知特性とに基づいて校正データを判定するステップとを含み、
‐校正データが、少なくとも1つの多項式変換に基づいて座標測定機の非線形測定誤差を修正するように形成された第1数の多項式係数を含むものに関する。
Claims (12)
- 座標測定機(10)を校正するための方法であって、
‐既知特性の基準測定対象(32)を前記座標測定機(10)の測定体積内に用意するステップ(48)と、
‐前記基準測定対象(32)で多数の基準測定値を記録するステップ(52)と、
‐前記基準測定値と前記既知特性とに基づいて校正データを判定するステップ(58、64、66)とを含み、
‐前記校正データが、少なくとも1つの多項式変換に基づいて前記座標測定機(10)の非線形測定誤差を修正するように形成された第1数の多項式係数(PK)を含むものにおいて、
前記第1数の多項式係数(PK)が反復法(70、72、74)で僅かな数の第2数に減らされ、多数の対の多項式係数が形成(80)され、一対の多項式係数の間の統計的依存度が規定された閾値よりも大きいとき、前記対の各一方の多項式係数が消去(88)されることを特徴とする、方法。 - 各対の多項式係数について相関値が統計的依存度の尺度として判定(82)され、前記相関値が前記対の多項式係数の間の相互相関を表すことを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記相関値が値の点で閾値と比較(84)され、前記閾値が0.4超、好ましくは0.6超、特別好ましくは約0.8超の相互相関を表すことを特徴とする、請求項2に記載の方法。
- 各多項式係数が多項式次数を表し(62)、前記対の多項式係数のうち高い多項式次数を表す多項式係数がそれぞれ消去されることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記校正データがさらに、前記基準測定値と前記既知特性との間の線形関係を表す変換行列の変換係数を含む(64)ことを特徴とする、請求項1ないし4のいずれか1項に記載の方法。
- さらに各1つの多項式係数と1つの変換係数とで多数の対が形成(92)され、対の多項式係数と変換係数との間の統計的依存度が規定された閾値よりも大きいときこの対の多項式係数が消去(98)されることを特徴とする、請求項5に記載の方法。
- 第1数と第2数との間の差に依存して、座標測定機の品質判定基準を表す特性値が用意(78)されることを特徴とする、請求項1ないし6のいずれか1項に記載の方法。
- 消去された多項式係数が、座標測定機を表すパラメータデータと共に知識ベース(60)内で用意されることを特徴とする、請求項1ないし7のいずれか1項に記載の方法。
- 前記基準測定値が触覚センサを頼りに記録され、前記センサが1つのセンサ基部(20)と前記センサ基部に対して相対的に移動可能な1つの接触要素(22)と若干数の測定要素(23)とを有し、前記測定要素が前記センサ基部(20)に対して相対的な前記接触要素(22)の相対位置を判定するように形成されており、前記多項式係数が前記測定要素(23)の非線形特性を表すことを特徴とする、請求項1ないし8のいずれか1項に記載の方法。
- 前記基準測定値が非接触式に測定するセンサを頼りに記録されることを特徴とする、請求項1ないし8のいずれか1項に記載の方法。
- 測定対象(32)用ベース(12)と前記測定対象の位置依存測定値を生成するためのセンサ(20)と前記センサ(20)を制御し、かつ、前記測定値を処理するための評価兼制御ユニット(34)とを有する座標測定機であって、前記評価兼制御ユニット(34)が既知特性の基準測定対象を頼りに校正データを判定するように形成されており、前記校正データが少なくとも1つの多項式変換に基づいて前記座標測定機の非線形測定誤差を修正するように形成された若干数の多項式係数を含むものにおいて、前記評価兼制御ユニット(34)が第1数の多項式係数を反復法で僅かな数の第2数に減らす(70、72)ように形成されており、多数の対の多項式係数が形成(80)され、1つの対の多項式係数の間の統計的依存度が規定された閾値よりも大きいとき、前記対の各一方の多項式係数が消去(88)されることを特徴とする、座標測定機。
- 座標測定機の評価兼制御ユニット内でプログラムコードが実行されるとき、請求項1ないし10のいずれか1項に記載の方法を実施するように形成されたプログラムコードを有するコンピュータプログラム。
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