JP2011257367A - 品質不良品の流出をゼロにする表面処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】不良品の検査が可能な表面処理装置を提供する。
【解決手段】容器１及び電極２の被加工物との接触面の材質を、被加工物よりも硬質とすることにより電極２の損傷を抑制し、残留品の発生を防止する。装置の構造を雰囲気と遮断する構造とすることにより雰囲気条件の変動による品質面への悪影響を回避し、耐食性のバラツキの発生を防止する。被加工物の残留に対しては、金属探知装置４によって容器内部を、専用のマイナス電極を用いることで全ロットを対象に検査する。耐食性のバラツキに対しては、外観検査装置を用いて高精度に検査する。
【選択図】図１
【解決手段】容器１及び電極２の被加工物との接触面の材質を、被加工物よりも硬質とすることにより電極２の損傷を抑制し、残留品の発生を防止する。装置の構造を雰囲気と遮断する構造とすることにより雰囲気条件の変動による品質面への悪影響を回避し、耐食性のバラツキの発生を防止する。被加工物の残留に対しては、金属探知装置４によって容器内部を、専用のマイナス電極を用いることで全ロットを対象に検査する。耐食性のバラツキに対しては、外観検査装置を用いて高精度に検査する。
【選択図】図１
Description
本発明は，精密機能部品の表面処理装置に関するものである．
従来の表面処理装置における，被加工物との接触面の材質は，
▲１▼容器内部の合成樹脂製の表面，と，
▲２▼電極の先端の銅製表面，と，
▲３▼電極の先端以外を被覆している合成樹脂製表面，などであり，
精密で鋭利な鉄製の被加工物との接触面としては，適していない．
また装置の構造は，
▲４▼上部が常に開放，されているため，
雰囲気条件の変動が品質の変動に直結せざるを得ない構造になっている．
更に，不良品の流出を防止するべき品質検査工程は，
▲５▼目視検査が主流，であるため完全ではない．
▲１▼容器内部の合成樹脂製の表面，と，
▲２▼電極の先端の銅製表面，と，
▲３▼電極の先端以外を被覆している合成樹脂製表面，などであり，
精密で鋭利な鉄製の被加工物との接触面としては，適していない．
また装置の構造は，
▲４▼上部が常に開放，されているため，
雰囲気条件の変動が品質の変動に直結せざるを得ない構造になっている．
更に，不良品の流出を防止するべき品質検査工程は，
▲５▼目視検査が主流，であるため完全ではない．
以下Ａ）Ｂ）Ｃ）の課題が顕在している．
Ａ）被加工物の残留
装置と被加工物との接触面（前記▲１▼▲２▼▲３▼）の材質が，鉄製の被加工物よりも軟質であるため，精密で鋭利な被加工物によって容易に摩耗・損傷され，その損傷部に被加工物が挟まるなどして残留する．
Ｂ）耐食性のバラツキ
装置の構造は，▲４▼上部が常に開放されている．そのため，雰囲気条件の変動が，被加工物の表面品質の変動に直結する．主に温湿度条件等の変動が，被加工物表面の錆・色ムラなどの事象を発生させているのである．錆・色ムラなどの事象は，部品の表面機能としては最も重要で許容できない，耐食性のバラツキ，のことである．
Ｃ）不良品の顧客への流出
加工後の検査方式は，▲４▼目視検査が主流であるため精度が低く，顧客への不良品流出が後を絶たない．
Ａ）被加工物の残留
装置と被加工物との接触面（前記▲１▼▲２▼▲３▼）の材質が，鉄製の被加工物よりも軟質であるため，精密で鋭利な被加工物によって容易に摩耗・損傷され，その損傷部に被加工物が挟まるなどして残留する．
Ｂ）耐食性のバラツキ
装置の構造は，▲４▼上部が常に開放されている．そのため，雰囲気条件の変動が，被加工物の表面品質の変動に直結する．主に温湿度条件等の変動が，被加工物表面の錆・色ムラなどの事象を発生させているのである．錆・色ムラなどの事象は，部品の表面機能としては最も重要で許容できない，耐食性のバラツキ，のことである．
Ｃ）不良品の顧客への流出
加工後の検査方式は，▲４▼目視検査が主流であるため精度が低く，顧客への不良品流出が後を絶たない．
前記Ａ）Ｂ）Ｃ）それぞれに対して以下ａ）ｂ）ｃ）の手段を講ずる．
ａ）装置の被加工物との接触面の材質を，被加工物よりも硬質にする．
これによって装置の摩耗・損傷を回避し，Ａ）被加工物の残留を発生防止する．
ｂ）装置の構造を，閉鎖構造とする．
これによって，雰囲気の影響を遮断し温湿度条件の変動によるＢ）耐食性のバラツキ（錆・色ムラなどの事象）を発生防止する．
ｃ）検査工程を，専用の検査装置によって高精度化する．
これによって，万が一Ａ）あるいはＢ）が発生した場合でも，Ｃ）不良品の顧客への流出を防止する．
具体的には，まず，Ａ）被加工物の残留という事象に対しては，金属探知装置によって容器内部を，専用のマイナス電極を用いることで電極表面を，それぞれ全ロットを対象に検査する．次に，Ｂ）耐食性のバラツキ（錆・色ムラなどの事象）に対しては，専用の外観検査装置を用いて高精度に検査する．
ａ）装置の被加工物との接触面の材質を，被加工物よりも硬質にする．
これによって装置の摩耗・損傷を回避し，Ａ）被加工物の残留を発生防止する．
ｂ）装置の構造を，閉鎖構造とする．
これによって，雰囲気の影響を遮断し温湿度条件の変動によるＢ）耐食性のバラツキ（錆・色ムラなどの事象）を発生防止する．
ｃ）検査工程を，専用の検査装置によって高精度化する．
これによって，万が一Ａ）あるいはＢ）が発生した場合でも，Ｃ）不良品の顧客への流出を防止する．
具体的には，まず，Ａ）被加工物の残留という事象に対しては，金属探知装置によって容器内部を，専用のマイナス電極を用いることで電極表面を，それぞれ全ロットを対象に検査する．次に，Ｂ）耐食性のバラツキ（錆・色ムラなどの事象）に対しては，専用の外観検査装置を用いて高精度に検査する．
本発明の効果は，表面処理装置で多発している前記Ａ）Ｂ）Ｃ）の課題を完全に解決し，不良品の顧客への流出をゼロにすることである．以上を簡略すると，以下［表１］の通りである．
まず，被加工物と装置の接触面，つまり容器内面とマイナス電極の材質を，被加工物よりも硬質の材料で製作する．
次に，装置の構造は，閉鎖構造とする．
更に，検査工程は，容器用には金属探知装置を用い，マイナス電極用にはマイナス電極自体を収納式とすることで，被加工物用には外観検査装置を用い，それぞれ行う．
最後に，金属探知装置の被加工物以外への反応防止，つまり運用面での異常を防止するために，以下２点を実行する．１点目は，従来は容器に固定されていた電極を，容器と一体型とせずに可動式とすることで不要時は容器と分離・待機できる構造とする．２点目は，容器およびその周辺部品の材質を，金属探知装置に反応しない材質とする．
次に，装置の構造は，閉鎖構造とする．
更に，検査工程は，容器用には金属探知装置を用い，マイナス電極用にはマイナス電極自体を収納式とすることで，被加工物用には外観検査装置を用い，それぞれ行う．
最後に，金属探知装置の被加工物以外への反応防止，つまり運用面での異常を防止するために，以下２点を実行する．１点目は，従来は容器に固定されていた電極を，容器と一体型とせずに可動式とすることで不要時は容器と分離・待機できる構造とする．２点目は，容器およびその周辺部品の材質を，金属探知装置に反応しない材質とする．
１ 容器
２ 電極
３ 遮断壁
４ 金属探知装置
２ 電極
３ 遮断壁
４ 金属探知装置
Claims (8)
- 被加工物との接触面を，被加工物よりも硬質の材料で製作した表面処理用マイナス電極
- 被加工物との接触面を，被加工物よりも硬質の材料で製作した表面処理用容器
- 表面処理用容器に対して非固定の表面処理用マイナス電極
- 伸縮機能を有する表面処理用マイナス電極
- 雰囲気を遮断する表面処理装置用の雰囲気遮断壁
- 被加工物の残留を発見する機能を有する表面処理用検査装置
- 被加工物の外観色を識別する機能を有する表面処理用検査装置
- 請求項１〜８のいずれかを有する表面処理装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010142033A JP2011257367A (ja) | 2010-06-04 | 2010-06-04 | 品質不良品の流出をゼロにする表面処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010142033A JP2011257367A (ja) | 2010-06-04 | 2010-06-04 | 品質不良品の流出をゼロにする表面処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011257367A true JP2011257367A (ja) | 2011-12-22 |
Family
ID=45473678
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010142033A Pending JP2011257367A (ja) | 2010-06-04 | 2010-06-04 | 品質不良品の流出をゼロにする表面処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2011257367A (ja) |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5049130A (ja) * | 1973-08-31 | 1975-05-01 | ||
| JPS61194199A (ja) * | 1985-02-23 | 1986-08-28 | Takashi Kobayashi | 被処理物の取出及びバレルの洗浄装置 |
| JPH11114764A (ja) * | 1997-10-15 | 1999-04-27 | Mitsubishi Plastics Ind Ltd | 材料屑処理装置 |
| JP2002036070A (ja) * | 2000-07-21 | 2002-02-05 | Toyo Parts Kk | 切削加工金属部品の欠陥検出装置。 |
| JP2002310967A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-23 | Komatsu Ltd | 導電体検出装置 |
| JP2006250555A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Daido Plant Kogyo Kk | 金属検出装置 |
| JP2007003245A (ja) * | 2005-06-21 | 2007-01-11 | Aoi Kiko Kk | バリ検知方法および装置 |
-
2010
- 2010-06-04 JP JP2010142033A patent/JP2011257367A/ja active Pending
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5049130A (ja) * | 1973-08-31 | 1975-05-01 | ||
| JPS61194199A (ja) * | 1985-02-23 | 1986-08-28 | Takashi Kobayashi | 被処理物の取出及びバレルの洗浄装置 |
| JPH11114764A (ja) * | 1997-10-15 | 1999-04-27 | Mitsubishi Plastics Ind Ltd | 材料屑処理装置 |
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| JP2007003245A (ja) * | 2005-06-21 | 2007-01-11 | Aoi Kiko Kk | バリ検知方法および装置 |
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