JP2011237208A - 超音波検査装置及び超音波検査方法 - Google Patents
超音波検査装置及び超音波検査方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】探触子108,109は、狭隘部に設置可能な薄型の探触子である。制御装置201は、探触子からの超音波の送信を制御し、該探触子にて受信した超音波の信号処理を行う。遅延時間制御部205は、複数の探触子の距離差に応じてそれぞれの探触子から送信する超音波の送信タイミングに遅延時間を設け、信号処理部はそれぞれの探触子により受信した超音波の信号処理を行う。
【選択図】図2
Description
かかる構成により、狭隘部に設置できる薄型探触子の構造の探触子を用いて、被検査体の裏面近傍の深い位置を検査することができるものとなる。
かかる方法により、狭隘部に設置できる薄型探触子の構造の探触子を用いて、被検査体の裏面近傍の深い位置を検査することができるものとなる。
最初に、図1を用いて、本実施形態による超音波検査方法の基本原理について説明する。
図1は、本発明の一実施形態による超音波検査方法の基本原理の説明図である。
図2は、本発明の一実施形態による超音波検査装置の構成を示すブロック図である。なお、図1と同一符号は同一部分を示している。
図3は、本発明の一実施形態による超音波検査方法の内容を示すフローチャートである。図4は、本発明の一実施形態による超音波検査方法における被検査体の表面近傍の探傷の説明図である。図5は、本発明の一実施形態による超音波検査方法における被検査体の裏面近傍の探傷の説明図である。
図6は、本発明の一実施形態による超音波検査装置に用いる探触子の他の構成を示すブロック図である。なお、図1と同一符号は同一部分を示している。
図7は、本発明の一実施形態による超音波検査装置に用いる探触子のその他の構成を示すブロック図である。なお、図1と同一符号は同一部分を示している。
102…ひび
103…被検査体
104…構造物
108,109,110,111…薄型探触子(振動子)
108A,109A,110A,111A…薄型アレイ探触子(振動子)
201…制御装置(PC)
202…探傷器
203…送信トリガ回路
204…遅延時間設定器
205…遅延時間制御器
206…送信回路
207…受信回路
208…信号処理部
209…表示部
Claims (6)
- 狭隘部に設置可能な薄型の探触子と、該探触子からの超音波の送信を制御し、該探触子にて受信した超音波の信号処理を行う制御手段とを有する超音波検査装置であって、
前記探触子は複数の探触子から構成され、
前記制御手段は、前記複数の探触子の距離差に応じてそれぞれの探触子から送信する超音波の送信タイミングに遅延時間を設けるとともに、それぞれの探触子により受信した超音波の信号処理を行う遅延時間制御部を備えることを特徴とする超音波検査装置。 - 請求項1記載の超音波検査装置において、
前記制御手段は、被検査体の表面から浅い領域を検査する時は、前記複数の探触子のそれぞれを単独で用いて超音波の送受信を行い、被検査体の表面から深い領域を検査する時は、前記複数の探触子を組み合わせて、前記遅延時間制御部により複数の探触子の間の超音波の送信タイミングに遅延時間を設け、受信信号に信号処理を行うことを特徴とする超音波検査装置。 - 請求項1記載の超音波検査装置において、
前記探触子は、くさびと、該くさびに設置された振動子とから構成され、
前記複数の探触子の距離差はくさび距離差であり、前記遅延時間は(くさび距離差/くさび音速)として算出されることを特徴とする超音波検査装置。 - 請求項1記載の超音波検査装置において、
被検査体は曲率を有する物体であり、
前記探触子は、前記被検査体の曲率に応じた曲率を有することを特徴とする超音波検査装置。 - 制御手段により、狭隘部に設置可能な薄型の探触子からの超音波の送信を制御し、該探触子にて受信した超音波の信号処理を行う超音波検査方法であって、
前記探触子は複数の探触子から構成され、
前記制御手段は、前記複数の探触子の距離差に応じてそれぞれの探触子から送信する超音波の送信タイミングに遅延時間を設けるとともに、それぞれの探触子により受信した超音波の信号処理を行うことを特徴とする超音波検査方法。 - 請求項5記載の超音波検査方法において、
前記制御手段は、被検査体の表面から浅い領域を検査する時は、前記複数の探触子のそれぞれを単独で用いて超音波の送受信を行い、被検査体の表面から深い領域を検査する時は、前記複数の探触子を組み合わせて、前記遅延時間制御部により複数の探触子の間の超音波の送信タイミングに遅延時間を設け、受信信号の信号処理を行うことを特徴とする超音波検査方法。
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2010
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