JP2011227059A - 電気検査用治具、及び配線基板の製造方法 - Google Patents

Abstract

【課題】配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供する。
【解決手段】複数の第１の配線を有する電気検査用治具本体と、複数の第２の配線及びこれら複数の第２の配線それぞれと電気的に接続されてなる複数のプローブを有する電気検査用治具ヘッドと、前記電気検査用冶具及び前記電気検査用冶具ヘッド間に挟まれ、前記複数の第1の配線における少なくとも一部の配線それぞれと前記複数の第２の配線それぞれとを電気的に接続する複数の第３の配線を有する電気検査用治具接続体とを備えるように電気検査用治具を構成し、この電気検査用冶具を用いて配線基板のパターン検査を実施して配線基板を製造する。
【選択図】図３

Description

本発明は、電気検査用治具、及び配線基板の製造方法に関する。

プリント基板などの配線基板の製造工程においては、その配線パターンの良否を検査するために電気検査装置が用いられている。このような電気検査装置は、一般に配線基板に対して実際に電気的な接触を行い、配線パターンの電気的導通（配線の切断、配線同士の接触等）を検査するための電気検査用治具と、検査によって得られた電気信号（主として電流）を計測するためのテスタ等とから構成されている。

上記電気検査用治具は、電気検査用治具本体と電気検査用治具ヘッドとを含む。電気検査用治具ヘッドは、配線基板の配線パターンに対して実際に電気的な接続を実施するための複数のプローブがその筐体の底面あるいは上面に形成され、電気検査用治具本体は、検査（測定）した電気信号をテスタ等に送信するための外部配線を接続する複数のコネクタ（ピン）が、その筐体の少なくとも一側面上に形成されてなる。

また、電気検査用治具ヘッドには、その筐体内に複数のプローブそれぞれと電気的に接続されてなる配線が設けられているとともに、電気検査用治具本体にも、同様に複数のコネクタ（ピン）それぞれと電気的に接続されてなる配線が設けられている。なお、電気検査用冶具ヘッドの配線と電気検査用治具本体の配線とは互いに電気的に接続されている（例えば特許文献１参照）。

このような電気検査用治具においては、配線基板に対する検査回数が増大してくると、電気検査用冶具ヘッドのプローブが擦り減って劣化してくることから、電気検査用冶具ヘッドは電気検査用治具本体に対して着脱自在に設けられており、プローブが劣化した場合は電気検査用冶具ヘッドを電気検査用治具本体から取り外すことによって、適宜補修できるようになっている。

一方、配線基板の配線パターンは、例えば品番毎に異なり、それに合わせて電気検査用冶具の電気検査用冶具本体のコネクタ（ピン）数及び配線数、並びに電気検査用冶具ヘッドのプローブ数及び配線数を変える必要があり、このため配線基板の品番毎に電気検査用冶具を準備する必要があった。したがって、配線基板の品番に合わせて複数の電気検査用冶具を準備しなければならず、電気検査を行うためのコストが必然的に増大してしまうという問題があった。

また、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具を代える場合、電気検査用冶具の交換に際して、使用した電気検査用冶具本体のコネクタ（ピン）に取り付けられたケーブルを逐次取り外すとともに、使用する新たな電気検査用冶具における本体のコネクタに逐次取り付けるという操作が必要となる。一般に、コネクタのピン数は数千に及ぶため、このようなコネクタに対するケーブルの取り外し及び取り付けには長時間を要することになる。したがって、配線基板の電気検査を行うために要する時間が必然的に長時間化してしまうという問題があった。

さらに、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具を代える場合、その都度、電気検査を行うべき配線基板に対して電気検査用冶具の位置合わせを行わなければならず、この点からも配線基板の電気検査を行うために要する時間が必然的に長時間化してしまうという問題があった。

一方、配線基板の製造過程において、上述のような電気検査を必須の工程として含む場合、当該配線基板の製造に要するコストも増大し、製造に要する時間が長時間化してしまうという問題があった。

特開２００５−６９９５４号

本発明は、配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成すべく、本発明は、
第１の筐体の外面上に設けられた複数の外部接続端子、及び前記第１の筐体内において、前記複数の外部接続端子それぞれと電気的に接続されるとともに、前記第１の筐体の下面側まで延在する複数の第１の配線を有する電気検査用治具本体と、
第２の筐体内において、その上面側から下面側まで延在する複数の第２の配線、及び前記第２の筐体の前記下面側において、前記複数の第２の配線それぞれと電気的に接続されてなる複数のプローブを有する電気検査用治具ヘッドと、
前記電気検査用冶具及び前記電気検査用冶具ヘッド間に挟まれてなる第３の筐体内において、その上面側から下面側まで延在するとともに、前記複数の第1の配線における少なくとも一部の配線それぞれと前記複数の第２の配線それぞれとを電気的に接続する複数の第３の配線を有する電気検査用治具接続体と、
を備えることを特徴とする、電気検査用治具に関する。

また、本発明は、
導体層と樹脂絶縁層とをそれぞれ少なくとも一層有するとともに、前記樹脂絶縁層の開口部から露出した前記導体層と電気的に接続されてなる金属端子を有する配線基板を作製する工程と、
前記配線基板の前記金属端子に対して、請求項１〜５のいずれかに記載された電気検査用治具の前記複数のプローブを接触させて、前記導体層の電気的な導通検査を実施する工程と、
を備えることを特徴とする、配線基板の製造方法に関する。

本発明の電気検査用冶具は、従来の電気検査用冶具本体と電気検査用冶具ヘッドとの間に、これらを接続するとともに、電気検査用冶具本体の配線と電気検査用冶具ヘッドとの配線を接続するための配線を有する電気検査用冶具接続体を有している。したがって、電気検査用冶具本体の外部接続端子及び配線数を固定しておき、電気検査用冶具接続体の配線数、並びに電気検査用冶具ヘッドのプローブ数及び配線数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを交換するようにすることができる。

したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体の外部接続端子の数及び配線数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具における本体の外部接続端子に取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具における本体の外部雪像端子に逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。

また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。

なお、上記電気検査用冶具本体は、市販されている電気検査用装置に予め設けられたものであってもよい。

一般に、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用治具本体と電気検査用治具ヘッドとからなる電気検査用冶具が備えられている。しかしながら、この場合においても、検査に供する配線基板の配線パターンは、例えば品番毎に異なるので、配線基板の品番毎に電気検査用冶具を準備する必要があった。したがって、配線基板の品番に合わせて複数の電気検査用冶具を準備しなければならず、電気検査を行うためのコストが必然的に増大してしまうという問題があった。また、複数の電気検査用冶具を保管するために広大なスペースを確保しなければならないという問題があった。

一方、充分なスペースを確保できない場合は、既存の電気検査用冶具を廃棄しなければならず、その後、当該冶具に合致した配線基板の電気検査を実施しようとした場合においては、別途廃棄した電気検査用冶具と同じ冶具を製造しなければならず、検査が煩雑になるとともに、さらなるコスト増となる問題もあった。

しかしながら、市販の電気検査用装置内には、本発明の電気検査用冶具の内、電気検査用冶具本体のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に応じて上述した電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドを別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを交換するようにすることができる。

したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具接続体及び電気検査用冶具ヘッドのみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。

すなわち、本発明の電気検査用冶具は、市販の電気検査用装置に対しても適用することができ、コストの削減及び冶具保管の省スペース化を図ることができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。

なお、本発明の一例において、電気検査用冶具ヘッドの第２の配線の数と電気検査用冶接続体の第３の配線の数とは互いに同一であって、電気検査用冶具本体の第１の配線の数以下とすることができる。この場合、電気検査用冶具本体の第１の配線数及びコネクタ数を、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定し、電気検査用冶具ヘッドの第２の配線の数（及びプローブの数）と電気検査用冶接続体の第３の配線の数とを、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定すれば足りるので、電気検査用冶具の設計が容易となる。

本発明の電気検査用冶具の電気検査用冶具接続体において、複数の第３の配線を、複数の第１の配線における少なくとも一部の配線と複数の第２の配線とをそれぞれ電気的に接続すると規定しているのは、上述のように、電気検査用冶具ヘッドの第２の配線の数と電気検査用冶接続体の第３の配線の数とは互いに同一であって、電気検査用冶具本体の第１の配線の数以下とした場合を考慮したことに起因するものである。

さらに、本発明の一例において、電気検査用治具本体は、複数の第１の配線における第１の筐体の下面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された付勢手段を含む複数のピン状治具を有し、電気検査用治具接続体は、複数の第３の配線における前記第３の筐体の前記上面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された複数の金属部材を有し、複数の第１の配線それぞれと複数の第３の配線それぞれとは、複数のピン状治具と複数の金属部材との電気的接続を介することにより、電気的に接続することができる。この場合、上述した第１の配線それぞれと第３の配線それぞれとの電気的接続をより確実に行うことができる。

また、本発明の一例において、電気検査用治具ヘッドにおける複数の第２の配線それぞれと、電気検査用治具接続体における複数の第３の配線それぞれとは、複数のプローブを第２の筐体の下面に取り付ける際に生じる内部応力によって互いの先端部同士を押圧し、電気的に接続するようにすることができる。この場合、上述した第２の配線それぞれと第３の配線それぞれとの電気的接続をより確実に行うことができる。

なお、本発明における“上面”及び“下面”なる概念は、本発明の電気検査用冶具の構成を画定すべく、電気検査用冶具の通常の使用形態を考慮して便宜上用いたものであり、電気検査用冶具本体が最上部に位置するとともに、電気検査用冶具ヘッドが最下部に位置し、電気検査用冶具接続体が電気検査用冶具本体と電気検査用冶具ヘッドとの間に位置するものとして用いたものである。

したがって、本発明の電気検査用冶具を倒置させて、電気検査用冶具ヘッドが最上部に位置し、電気検査用冶具本体が最下部に位置し、電気検査用冶具接続体が電気検査用冶具本体と電気検査用冶具ヘッドとの間に位置する場合は、上述した“上面”及び“下面”の概念は逆転することになる。

すなわち、本発明における“上面”及び“下面”なる概念は、本発明の電気検査用冶具の構成を画定するための相対的な位置関係を規定するための文言であって、絶対的な位置関係を示す文言ではない。

さらに、本発明の一例において、前記電気検査用冶具本体と前記電気検査用冶具接続体との間において、前記第１の配線及び前記第３の配線と電気的に接続された電極が設けられてなる電気特性検査用冶具を設けることができる。この場合、電極に対して例えばソケットを装着し、このソケットに取り付けられたリード線を介して、所定の計測機器に接続することにより、本発明の電気検査用冶具を用いることにより、上述した電気検査に加えて、電気特性の測定（検査）をもほぼ同時に行うことができる。

以上説明したように、本発明によれば、配線基板の電気検査を低コストかつ短時間で実施することが可能な電気検査用冶具を提供するとともに、この電気検査用冶具を用いることにより、低コストかつ短時間で配線パターンの電気検査を伴う配線基板の製造方法を提供することができる。

第１の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 同じく、第１の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 同じく、第１の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 同じく、第１の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 同じく、第１の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 第２の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 同じく、第２の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。 第３の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。

以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。

（第１の実施形態）
図１〜図５は、第１の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。図１は、本実施形態の電気検査用冶具の上側から見た場合の平面図であり、図２は、本実施形態の電気検査用冶具の下側から見た場合の平面図である。図３は、図１及び図２に示す電気検査用冶具をＩ−Ｉ線に沿って切った場合の断面であり、図４は、本実施形態における電気検査用冶具の、電気検査用冶具ヘッドの先端部Ａを拡大して部分的に示す図であり、図５は、本実施形態における電気検査用冶具の、電気検査用冶具本体と電気検査用冶具接続体との接続部Ｂを拡大して部分的に示す図である。

なお、図３においては、本実施形態における電気検査用冶具の特徴を明確にすべく、電気検査用冶具における、電気検査用冶具本体、電気検査用冶具ヘッド、及び電気検査用冶具接続体は、互いに離隔するようにして記載している。

図１〜３に示すように、本実施形態の電気検査用冶具１０は、電気検査用冶具本体１１と、この下方に位置する電気検査用冶具ヘッド１２と、電気検査用冶具本体１１及び電気検査用冶具ヘッド１２との間に位置する電気検査用冶具接続体１３とを有している。

電気検査用冶具本体１１は、第１の筐体１１１の外面のうち相対向する一対の側面１１１Ａ及び１１１Ｂ上に複数のコネクタ１１２が設けられており、その内部には外部接続端子としての図示しないコネクタピンが配置されている。以下に示すように、本実施形態においては、検査すべき配線基板の品番が代わっても電気検査用冶具本体１１は交換することなく使用するものであるため、一般には、検査すべき配線基板の予想される最大の電気的接触点を考慮して、コネクタ１１２のピンの総数を決定する。一例として、ピン数を４０９６本とすることができる。

また、第１の筐体１１１内において、コネクタピンのそれぞれと電気的に接続されるとともに、第１の筐体１１１の下面１１１Ｄ側まで延在する複数の第１の配線１１３が設けられている。さらに、第１の筐体１１１の下部には、以下に示すように、電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３を取り外して交換する際のハンドリングを容易にするため、あるいは電気検査用冶具１０を用いて実際に配線基板の電気検査を行う際に、検査台への固定を容易にするための鍔１１４が設けられている。なお、電気検査用冶具１０を検査台に固定する場合には、例えば図示しない貫通孔を介してボルトとナットにより締結することができる。

電気検査用治具ヘッド１２は、第２の筐体１２１内において、その上面１２１Ｃ側から下面１２１Ｄ側まで延在する複数の第２の配線１２２を有するとともに、下面１２１Ｃにおいて、第２の配線１２２それぞれと電気的に接続され、検査に供すべき配線基板の金属端子に実際に接触させて、配線基板の配線パターンの電気的導通（配線の切断、配線同士の接触等）を検査するための複数のプローブ１２３を有している。

図４に示すように、プローブ１２３は、先端部１２３Ａ，中心部１２３Ｂ及び基部１２３Ｃからなる。先端部１２３Ａは、上述したように、検査に供すべき配線基板の金属端子に実際に接触させて、配線基板の配線パターンの電気的導通（配線の切断、配線同士の接触等）の検査に供するものである。中心部１２３Ｂは絶縁材で被覆されて外部から電気的に絶縁されており、基部１２３Ｃは第２の筐体１２１内に圧入されている。したがって、プローブ１２３と電気的に接続された第２の配線１２２には、上述の圧入に伴って第２の筐体１２１内に発生した内部応力が下面から上面に向けて作用するようになる。

電気検査用冶具接続体１３は、電気検査用冶具本体１１及び前記電気検査用冶具ヘッド１２間に挟まれるようにして位置し、第３の筐体１３１内において、その上面１３１Ｃ側から下面１３１Ｄ側まで延在するとともに、複数の第１の配線１１３における少なくとも一部の配線と複数の第２の配線１２２とをそれぞれ電気的に接続する複数の第３の配線１３２を有している。

なお、図５に示すように、電気検査用冶具本体１１の第１の筐体１１１の下面１１１Ｄには複数の第１の配線１１３とそれぞれ電気的に接続された、金属製の複数のピン状部材１１５が設けられている。ピン状部材１１５は、先端に位置するピン状の凸部１１５Ａと後方に位置する付勢手段としてのバネ部１１５Ｂとを有しており、バネ部１１５Ｂの付勢力によって凸部１１５Ａが下方に押し出されるようになっている。

また、電気検査用冶具接続体１３の第３の筐体１３１の上面１３１Ｃには、複数の第３の配線１３２の、上面１３１Ｃ側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された複数の金属パッド１３３が配置されている。金属パッド１３３には、ピン状部材１１５の先端に位置するピン状の凸部１１５Ａの形状に対応するように凹部（窪み）１３３Ａが形成されている。

したがって、電気検査用冶具本体１１の複数の第１の配線１１３と電気検査用冶具接続体１３の複数の第３の配線１３２とは、それぞれ複数のピン状治具１１５の凸部１１５Ａと複数の金属パッド１３３の凹部１３３Ａとが圧接することにより、電気的に接続されることになる。この場合、複数の第１の配線１１３と複数の第３の配線１３２との電気的接続をより確実に行うことができる。

また、上述したように、電気検査用冶具ヘッド１２において、第２の配線１２２には、プローブ１２３の圧入に伴って第２の筐体１２１内に発生した内部応力が下面から上面に向けて作用している。したがって、その内部応力によって、第２の配線１２２の、第２の筐体１２１の上面１２１Ｃ側の先端部が、電気検査用冶具接続体１３における第３の筐体１３１の下面１３１Ｄ側における第３の配線１３２の先端部にそれぞれ押圧されるようになる。したがって、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２と電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２とは互いの先端部同士が押圧されて電気的に接続されるようになるので、これら配線間の電気的接続をより確実に行うことができる。

このように、電気検査用冶具本体１１の第１の配線１１３と電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２とは、電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２を介して互いに電気的に接続されるようになるので、図１〜３に示す電気検査用冶具１０は、電気検査用冶具本体１１から電気検査用冶具ヘッド１３までの電気的導通が確保されることになる。なお、特に図示しないものの、電気検査用冶具本体１１から電気検査用冶具ヘッド１３までは、それぞれの筐体に形成した凹凸状の係合部材等を介して機械的に接続する。

これによって、電気検査用冶具１０を構成する電気検査用冶具本体１１、電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３は互いに電気的及び機械的に接続されるようになるので、電気検査用冶具１０は配線基板の配線パターンの電気的導通（配線の切断、配線同士の接触等）の検査に供することができるようになる。

なお、電気的導通は、電気検査用冶具本体１１のコネクタ１１２に対して、図示しないリード線を介して接続したテスタ等によって検知することができる。

本実施形態の電気検査冶具１０は、電気検査用冶具本体１１と電気検査用冶具ヘッド１２との間に、これらを電気的及び機械的に接続する電気検査用冶具接続体１３を有している。したがって、電気検査用冶具本体１１のコネクタ（ピン）及び第１の配線１１３の数を固定しておき、電気検査用冶具接続体１３の第３の配線の数、並びに電気検査用冶具ヘッド１２のプローブ１２３の数及び第２の配線１２２の数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具接続体１３及び電気検査用冶具ヘッド１２のみを交換するようにすることができる。

したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体１１を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体１１のコネクタ（ピン）の数及び第１の配線１１３の数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具１０の本体１１のコネクタ（ピン）に取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具１０の本体１１のコネクタ（ピン）に逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体１１の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。

また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。

さらに、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用冶具本体１１のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３を別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを交換するようにすることができる。

したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。

なお、本実施形態では、上述した内容から明らかなように、電気検査用冶具本体１１の第１の配線１１３の数と、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２及び電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２の数とを同一としている。しかしながら、一般には、電気検査用冶具本体１１のコネクタ１１２のピン数及びこれに伴う第１の配線１１３の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定してある。

したがって、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２の数（及びプローブの数）と電気検査用冶接続体１３の第３の配線１３２の数とは、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定することになる。この場合、図１〜３に示す電気検査用冶具１０において、電気検査用冶具本体１１の第１の配線１１３の一部には、電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２が接続されないことになる。

なお、電気検査用冶具本体１１のコネクタ１１２のピン数及びこれに伴う第１の配線１１３の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定しておくことにより、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２の数（及びプローブ１２３の数）と電気検査用冶接続体１３の第３の配線１３２の数とを、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定すれば足りるので、電気検査用冶具１０の設計が容易となる。

（第２の実施形態）
図６及び図７は、第２の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。図６は、本実施形態の電気検査用冶具の上側から見た場合の平面図であり、図７は、図６に示す電気検査用冶具をII−II線に沿って切った場合の断面である。なお、本実施形態の電気検査用冶具を下側から見た場合の平面図等は、上記第１の実施形態の場合と同様であるので、本実施形態においては、本実施形態における電気検査用冶具の特徴が明確となるような図面のみを掲載している。また、類似及び同一の構成要素に関しては、全図面を通じて同一の参照数字を用いている。

図６及び図７から明らかなように、本実施形態における電気検査用冶具２０は、電気検査用冶具本体１１における第１の筐体１１１の略中心において、厚さ方向に貫通する貫通孔１１１Ｈが形成されており、この貫通孔１１１Ｈ内にはネジ部材１１７が挿入されている。ネジ部材１１７は、ヘッド部１１７Ａ、軸部１１７Ｂ及びネジ部１１７Ｃから構成されている。ヘッド部１１７Ａは第１の筐体１１１の上面１１１Ｃから露出し、同じくネジ部１１７Ｃも第１の筐体１１１の下面１１１Ｄから露出している。また、貫通孔１１１Ｈはカバーシャフト１１８なる壁面材で画定され、第１の筐体１１１内に設けられた第１の配線１１３が貫通孔１１１Ｈ内に挿入されたネジ部材１１７と接触しないように構成されている。

一方、電気冶具用接続体１３の第３の筐体１３１の上面１３１Ｃ側には、他の面よりも肉厚な肉厚部が形成され、その略中心にはネジ部材１１７のネジ部１１７Ｃが螺合するようなネジ孔１３１Ｈが形成されている。

なお、本実施形態では、ピン状部材１１５は、電気検査用冶具本体１１の第１の筐体１１１の下面１１１Ｄに取り付けられる代わりに、貫通孔１１１Ｈの開口部まで延在した鍔１１４を貫通するようにして設けられている。また、電気検査用冶具接続体１３の金属パッド１３３の代わりに、第３の筐体１３１の上面１３１Ｃの肉厚部を貫通するような金属ピン１３５が設けられている。第１の実施形態同様に、各ピン状部材１１５には、複数の第１の配線１１３がそれぞれ接続されるとともに、各金属ピン１３５には、第３の筐体１３１内に配置された複数の第３の配線１３２がそれぞれ接続されている。

第１の配線１１３と第３の配線１３２との電気的接続は、図５に示す場合と同様に、ピン状治具１１５の凸部１１５Ａと金属ピン１３５の凹部１３５Ａとが圧接することにより、電気的に接続されることになる。なお、電気検査用冶具ヘッド１２における第２の配線１２２と第３の配線１３２との電気的接続は、第１の実施形態と同様にして電気的に接続される。したがって、第１の配線１１３及び第２の配線１２２間の電気的接続は、第３の配線１３２を介して行われることになる。

なお、特に図示しないものの、電気検査用冶具本体１１から電気検査用冶具ヘッド１３までは、それぞれの筐体に形成した凹凸状の係合部材等を介して機械的に接続する。

第１の実施形態のように、電気検査用冶具本体１１のピン状部材１１５と電気検査用冶具接続体１３の金属パッド１３３とを直接押圧して接触させると、これらの接触部には数十キログラムの負荷が加わるようになる。したがって、ピン状部材１１５の破損や金属パッド１３３の摩耗を促進させてしまう結果となる。しかしながら、本実施形態では、ピン状部材１１５と金属ピン１１５とを接触させるとともに、ネジ部材１１７を電気検査用冶具接続体１３の第３の筐体１３１のネジ孔１３１Ｈに螺合させるようにしている。したがって、ピン状部材１１５と金属ピン１１５とを接触圧を低減することができ、ピン状部材１１５の破損や金属ピン１１５の摩耗を抑制することができる。

本実施形態の電気検査冶具２０も、電気検査用冶具本体１１と電気検査用冶具ヘッド１２との間に、これらを電気的及び機械的に接続する電気検査用冶具接続体１３を有している。したがって、電気検査用冶具本体１１のコネクタ（ピン）及び第１の配線１１３の数を固定しておき、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２の数およびプローブ１２３の数、並びに電気検査用冶具接続体１３の金属ピン１３５の数及び第３の配線１３２の数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを交換するようにすることができる。

したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体１１を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体１１のコネクタ（ピン）の数及び第１の配線１１３の数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具２０の本体１１のコネクタ（ピン）に取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具２０の本体１１のコネクタ（ピン）に逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体１１の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。

また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板、具体的には、導体層と樹脂絶縁層とをそれぞれ少なくとも一層有するとともに、前記樹脂絶縁層の開口部から露出した前記導体層と電気的に接続されてなる金属端子を有する配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。

さらに、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用冶具本体１１のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３を別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを交換するようにすることができる。

したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。

なお、本実施形態でも、上述した内容から明らかなように、電気検査用冶具本体１１の第１の配線１１３の数と、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２及び電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２の数とを同一としている。しかしながら、一般には、電気検査用冶具本体１１のコネクタ１１２のピン数及びこれに伴う第１の配線１１３の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定してある。

したがって、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２の数（及びプローブの数）と電気検査用冶接続体１３の第３の配線１３２の数とは、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定することになる。この場合、図６及び図７に示す電気検査用冶具２０において、電気検査用冶具本体１１の第１の配線１１３の一部には、電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２が接続されないことになる。

なお、電気検査用冶具本体１１のコネクタ１１２のピン数及びこれに伴う第１の配線１１３の数は、検査すべき配線基板の品番等を考慮して多めに設定しておくことにより、電気検査用冶具ヘッド１２の第２の配線１２２の数（及びプローブ１２３の数）と電気検査用冶接続体１３の第３の配線１３２の数（及び金属ピン１３５の数）とを、検査すべき配線基板の品番に応じて減じるように設定すれば足りるので、電気検査用冶具２０の設計が容易となる。

（第３の実施形態）
図８は、第３の実施形態における電気検査用冶具の概略構成を示す図である。なお、図８は、第１の実施形態における図３に相当する、電気検査用冶具の断面図である。また、類似及び同一の構成要素に関しては、全図面を通じて同一の参照数字を用いている。

なお、図８においては、本実施形態における電気検査用冶具の特徴を明確にすべく、電気検査用冶具における、電気検査用冶具本体、電気検査用冶具ヘッド、電気検査用冶具接続体、及び電気特性検査用冶具は、互いに離隔するようにして記載している。但し、実際の使用に関しては、第１の実施形態等で説明したように、これらの要素は互いに電気的及び機械的に接続されて使用されるものである。

図８に示すように、本実施形態の電気検査用冶具３０は、電気検査用冶具本体１１と、この下方に位置する電気検査用冶具ヘッド１２と、電気検査用冶具本体１１及び電気検査用冶具ヘッド１２との間に位置する電気検査用冶具接続体１３とを有している。また、電気検査用冶具本体１１と電気検査用冶具接続体１３との間には、板状の電気特性検査用冶具３１が設けられている。

第１の実施形態同様に、電気検査用冶具本体１１は、第１の筐体１１１の外面のうち相対向する一対の側面１１１Ａ及び１１１Ｂ上に複数のコネクタ１１２が設けられており、その内部には外部接続端子としての図示しないコネクタピンが配置されている。以下に示すように、本実施形態においては、検査すべき配線基板の品番が代わっても電気検査用冶具本体１１は交換することなく使用するものであるため、一般には、検査すべき配線基板の予想される最大の電気的接触点を考慮して、コネクタ１１２のピンの総数を決定する。一例として、ピン数を４０９６本とすることができる。

また、第１の筐体１１１内において、コネクタピンのそれぞれと電気的に接続されるとともに、第１の筐体１１１の下面１１１Ｄ側まで延在する複数の第１の配線１１３が設けられている。さらに、第１の筐体１１１の下部には、以下に示すように、電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３を取り外して交換する際のハンドリングを容易にするため、あるいは電気検査用冶具３０を用いて実際に配線基板の電気検査を行う際に、検査台への固定を容易にするための鍔１１４が設けられている。なお、電気検査用冶具３０を検査台に固定する場合には、例えば図示しない貫通孔を介してボルトとナットにより締結することができる。

電気検査用治具ヘッド１２は、第２の筐体１２１内において、その上面１２１Ｃ側から下面１２１Ｄ側まで延在する複数の第２の配線１２２を有するとともに、下面１２１Ｃにおいて、第２の配線１２２それぞれと電気的に接続され、検査に供すべき配線基板の金属端子に実際に接触させて、配線基板の配線パターンの電気的導通（配線の切断、配線同士の接触等）を検査するための複数のプローブ１２３を有している。

電気特性検査用冶具３１は、電気検査用冶具本体１１及び以下に説明する電気検査用冶具接続体１３間に挟まれるようにして位置している。また、電気特性検査用冶具３１は、厚さ方向に貫通するとともに、端部が上面３１Ｃから露出するようにして設けられた複数の電極３１１を有している。

複数の電極３１１の数は、例えば電気検査用冶具本体１１の第１の配線１１３、すなわちコネクタ１１２のピン数と同じに設定することができる。具体的には、４０９６本とすることができる。

電気検査用冶具接続体１３は、電気特性検査用冶具３１及び電気検査用冶具ヘッド１２間に挟まれるようにして位置し、第３の筐体１３１内において、その上面１３１Ｃ側から下面１３１Ｄ側まで延在するとともに、電気特性検査用治具３１の複数の電極３１１における少なくとも一部と複数の第２の配線１２２とをそれぞれ電気的に接続する複数の第３の配線１３２を有している。

本実施形態の電気検査用治具３０は、電気検査用治具本体１１、電気検査用治具ヘッド１２及び電気検査用治具接続体１３に加えて、電気特性検査用治具３１を有している。したがって、図８に示すように、電気特性検査用治具３１の電極３１１に対して一対のソケット３１２を設け、この一対のソケット３１２から導出しているリード線に対して所定の電気特性計測機器を接続させることにより、電気検査用治具３０を配線基板に接触させて配線基板の配線パターンの電気的導通（配線の切断、配線同士の接触等）の検査を行う際に、電気特性検査用治具３１の、一対のソケット３１２が取り付けられた電極３１１が接触する配線パターン間の電気特性を測定することができる。

なお、上記電気特性としては、電気容量又は電気抵抗などを挙げることができる。

また、電気検査用治具本体１１、電気検査用治具ヘッド１２及び電気検査用治具接続体１３のその他の特徴は、第１の実施形態と同様であるので説明を省略する。

本実施形態の電気検査用冶具３０は、電気特性測定用治具３１に設けられた電極３１１の数を電気検査用治具本体１１の第１の配線１１３、すなわちコネクタ１１２のピン数と同じに設定することができるので、電気検査用治具本体１１及び電気特性測定用治具３１とを一体として固定しておき、電気検査用冶具接続体１３の第３の配線１３２の数、並びに電気検査用冶具ヘッド１２のプローブ１２３の数及び第２の配線１２２の数のみを、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて変化させる、すなわち電気検査用冶具接続体１３及び電気検査用冶具ヘッド１２のみを交換するようにすることができる。

したがって、検査を行うべき配線基板の品番等に応じて電気検査用冶具本体１１を交換する必要がないので、配線基板の電気検査に要するコストを低減することができる。また、電気検査用冶具本体１１のコネクタ（ピン）の数及び第１の配線１１３の数、並びに電気特性測定用治具３１の電極３１１の数を固定することができるので、使用した電気検査用冶具３０の本体１１のコネクタ（ピン）に取り付けられたケーブルを逐次取り外し、使用する新たな電気検査用冶具３０の本体１１のコネクタ（ピン）に逐次取り付けるという操作が不要となる。さらに、電気検査用冶具本体１１の交換を行う必要がないので、電気検査を行うべき配線基板に対する電気検査用冶具の位置合わせを簡略化することができる。この結果、配線基板の電気検査を行うために要する時間を大幅に短縮することができる。

また、このような配線基板の電気検査を行う配線基板の製造方法においても、上述のように配線基板の電気検査に要する時間を短縮化することができるので、当該配線基板の製造に要する時間を短縮化することができる。

さらに、電気特性測定用治具３１も配線基板の品番等に応じて交換する必要がなく、品番毎に測定すべき電極３１１が変わったとしても、電気特性計測機器と接続されるソケット等の接続部材を所定の電極３１１に付け替えるだけで良いので、配線基板の品番等に応じて複数の冶具３１を準備する必要がない。したがって、上記電気検査に加えて電気特性の測定を行う際においても、当該測定に対するコストを低減することができる。

また、市販されている電気検査用装置においても、電気検査用冶具本体１１及び電気特性検査用冶具３１のみを予め備えておくようにし、配線基板の品番に電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３を別途設け、配線基板の品番に応じて電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを交換するようにすることができる。

したがって、配線基板の品番に応じて別途電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを準備すればよいので、電気検査を行うためのコストを抑えることができ、また電気検査用冶具ヘッド１２及び電気検査用冶具接続体１３のみを保管すればよいので、保管に要するスペースを狭小化することができる。さらに、保管スペース確保のために、既存の電気検査用冶具を廃棄するというようなリスクをも回避することができる。

以上、本発明を具体例を挙げながら詳細に説明してきたが、本発明は上記内容に限定されるものではなく、本発明の範疇を逸脱しない限りにおいてあらゆる変形や変更が可能である。

１０、２０、３０ 電気検査用冶具
１１ 電気検査用冶具本体
１１１ 第１の筐体
１１２ コネクタ
１１３ 第１の配線
１１５ ピン状部材
１１７ ネジ部材
１１８ カバーシャフト
１２ 電気検査用冶具ヘッド
１２１ 第２の筐体
１２２ 第２の配線
１２３ プローブ
１３ 電気検査用冶具接続体
１３１ 第３の筐体
１３２ 第３の配線
１３３ 金属パッド
１３５ 金属ピン
３１ 電気特性検査用冶具
３１１ （電気特性検査用冶具の）電極
３１２ （電気特性検査用冶具の）ソケット
３１３ （電気特性検査用冶具の）リード線

Claims (6)

1. 第１の筐体の外面上に設けられた複数の外部接続端子、及び前記第１の筐体内において、前記複数の外部接続端子それぞれと電気的に接続されるとともに、前記第１の筐体の下面側まで延在する複数の第１の配線を有する電気検査用治具本体と、
   第２の筐体内において、その上面側から下面側まで延在する複数の第２の配線、及び前記第２の筐体の前記下面側において、前記複数の第２の配線それぞれと電気的に接続されてなる複数のプローブを有する電気検査用治具ヘッドと、
   前記電気検査用冶具本体及び前記電気検査用冶具ヘッド間に挟まれてなる第３の筐体内において、その上面側から下面側まで延在するとともに、前記複数の第１の配線における少なくとも一部の配線それぞれと前記複数の第２の配線それぞれとを電気的に接続する複数の第３の配線を有する電気検査用治具接続体と、
   を備えることを特徴とする、電気検査用治具。
2. 前記第２の配線の数と前記第３の配線の数とは互いに同一であって、前記第１の配線の数以下であることを特徴とする、請求項１に記載の電気検査用治具。
3. 前記電気検査用治具本体は、前記複数の第１の配線における前記第１の筐体の前記下面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された付勢手段を含む複数のピン状治具を有し、
   前記電気検査用治具接続体は、前記複数の第３の配線における前記第３の筐体の前記上面側の先端部それぞれにおいて、これら先端部と電気的に接続された複数の金属部材を有し、
   前記複数の第１の配線それぞれと前記複数の第３の配線それぞれとは、前記複数のピン状治具と前記複数の金属部材との電気的接続を介することにより、電気的に接続されていることを特徴とする、請求項１又は２に記載の電気検査用治具。
4. 前記電気検査用治具ヘッドにおける前記複数の第２の配線それぞれと、前記電気検査用治具接続体における前記複数の第３の配線それぞれとは、前記複数のプローブを前記第２の筐体の前記下面に取り付ける際に生じる内部応力によって押圧され、電気的に接続されていることを特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載の電気検査用治具。
5. 前記電気検査用冶具本体と前記電気検査用冶具接続体との間において、前記第１の配線及び前記第３の配線と電気的に接続された電極が設けられてなる電気特性検査用冶具を備えることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の電気検査用冶具。
6. 導体層と樹脂絶縁層とをそれぞれ少なくとも一層有するとともに、前記樹脂絶縁層の開口部から露出した前記導体層と電気的に接続されてなる金属端子を有する配線基板を作製する工程と、
   前記配線基板の前記金属端子に対して、請求項１〜５のいずれかに記載された電気検査用治具の前記複数のプローブを接触させて、前記導体層の電気的な導通検査を実施する工程と、
   を備えることを特徴とする、配線基板の製造方法。

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