JP2011220918A - 粒度分布測定装置及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】レーザ回折・散乱法を用いた粒度分布測定装置において、与えられた屈折率パラメータを用いて粒度分布候補及び推定光強度分布を算出するとともに粒度分布候補の確度を算出する評価手段41cに加えて、前記粒度分布候補の絞込条件を表示部42に表示する絞込条件表示手段41d、及びオペレータが設定した絞込条件に従い前記粒度分布候補を絞り込んだ結果を表示部に表示する解析結果表示手段41eを備える。
【選択図】図7
Description
与えられた複数の屈折率パラメータを用いて、各々対応する粒度分布候補及び推定光強度分布を算出すると共に、各粒度分布候補の確度を算出する評価手段と、
前記評価手段により得られた粒度分布候補を表示する表示部と、
前記粒度分布候補の絞込条件を前記表示部に表示する絞込条件表示手段と、
前記表示された絞込条件に基づいてオペレータが設定した絞込条件に従い、前記粒度分布候補を絞り込んだ結果を表示部に表示する解析結果表示手段と
を備えることを特徴とする。
11…レーザ光源
12…集光レンズ
21…試料供給装置
22…試料回収装置
31…検出面
32…検出器
40…解析部
41…演算部
41a…光強度分布作成部
41b…屈折率パラメータ設定部
41c…評価値算出部
41d…絞込条件表示部
41e…解析結果表示部
42…表示部
51…単分散/多分散チェックボックス
52…オプションボタン
53…粒度分布幅チェックボックス
54…粒度分布幅入力ボックス
Claims (3)
- 与えられた複数の屈折率パラメータを用いて、各々対応する粒度分布候補及び推定光強度分布を算出すると共に、各粒度分布候補の確度を算出する評価手段と、
前記評価手段により得られた粒度分布候補を表示する表示部と、
前記粒度分布候補の絞込条件を前記表示部に表示する絞込条件表示手段と、
前記表示された絞込条件に基づいてオペレータが設定した絞込条件に従い、前記粒度分布候補を絞り込んだ結果を表示部に表示する解析結果表示手段と
を備えることを特徴とするレーザ回折・散乱法を用いた粒度分布測定装置。 - 前記絞込条件が粒度分布パターンの単分散/多分散の選択であることを特徴とする請求項1に記載の粒度分布測定装置。
- 前記絞込条件が粒子径の上限値及び/又は下限値の指定であることを特徴とする請求項1または2に記載の粒度分布測定装置。
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