JP2011199031A - 半導体装置及び半導体装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】N型オーミック電極の表面へのInの拡散を抑制できる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】Inを含む化合物半導体16と、前記化合物半導体16に設けられたN型オーミック電極25とを備え、前記N型オーミック電極25は、前記化合物半導体16の側から、Au−Ge合金層27、Pt層29、及びAu層31がこの順で配置された構造を有することを特徴とする半導体装置1。また、前記N型オーミック電極25は、前記化合物半導体16の側から、Au−Ge合金層、Ni層、Au層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有していてもよい。
【選択図】図1
【解決手段】Inを含む化合物半導体16と、前記化合物半導体16に設けられたN型オーミック電極25とを備え、前記N型オーミック電極25は、前記化合物半導体16の側から、Au−Ge合金層27、Pt層29、及びAu層31がこの順で配置された構造を有することを特徴とする半導体装置1。また、前記N型オーミック電極25は、前記化合物半導体16の側から、Au−Ge合金層、Ni層、Au層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有していてもよい。
【選択図】図1
Description
本発明は、例えば、レーザ素子、ダイオード等の半導体装置及び半導体装置の製造方法に関する。
従来、n型InP基板を含む化合物半導体において、Au-Ge合金/Ni/Auからなる3層構造のN型オーミック電極(N電極)が、n型InP基板上に形成される。
特許文献1には、GaAsキャップ層上にAu-Ge合金/Ni/AuからなるN型オーミック電極を形成し、熱処理を行うと、GaAsキャップ層中のGaがN型オーミック電極層の最上層に上がって蓄積・変化し、ダイボングビリティ低下を引き起こすことが記載されている。そこで、特許文献1の技術では、N型オーミック電極の上にバリア層としてMo層またはPt層を形成する。
特許文献1には、GaAsキャップ層上にAu-Ge合金/Ni/AuからなるN型オーミック電極を形成し、熱処理を行うと、GaAsキャップ層中のGaがN型オーミック電極層の最上層に上がって蓄積・変化し、ダイボングビリティ低下を引き起こすことが記載されている。そこで、特許文献1の技術では、N型オーミック電極の上にバリア層としてMo層またはPt層を形成する。
また、特許文献2には、N型オーミック電極の層構成をAu-Ge合金/Ni/Mo/Auとし、熱処理を行うと、Niが主体となってAu-Geと共に半導体中深くまで拡散し、コンタクト抵抗が増大することが記載されている、そこで、特許文献2の技術では、W層を追加し、層構成をAu-Ge合金/W/Ni/Mo/Auとすることで、コンタクト抵抗の増大を抑制しようとしている。
Au-Ge合金/Ni/Auからなる3層構造のN型オーミック電極は、アロイ化によるコンタクト抵抗を実現するために、320℃以上の温度でアニールされる。このとき、n型InP基板由来のInが、N型オーミック電極の最表面であるAu層まで拡散してしまう。
ジャンクションアップでの接合時には、N型オーミック電極上にNi/AuSn半田層を形成するが、上記アニールのときにN型オーミック電極最表面のAu層に拡散したInにより、N型オーミック電極と半田層との密着性が低下し、チップ化等のへき開工程において、半田層が容易に剥離してしまう。
また、N型オーミック電極最表面のAu層に拡散していたInが、半導体装置の実装時における加熱により、さらにAuSn半田層の表面に拡散することで、半田の融点が高くなり、半田の接合力が低下してしまう。
本発明は以上の点に鑑みなされたものであり、N型オーミック電極の表面へのInの拡散を抑制できる半導体装置及び半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。
請求項1に係る半導体装置は、Inを含む化合物半導体と、前記化合物半導体に設けられたN型オーミック電極とを備え、前記N型オーミック電極は、前記化合物半導体の側から、Au-Ge合金層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有する。
この半導体装置は、N型オーミック電極が上記の層構成を有することにより、化合物半導体に含まれるInのN型オーミック電極表面への拡散を抑制できる。
請求項2に係る半導体装置は、Inを含む化合物半導体と、前記化合物半導体に設けられたN型オーミック電極とを備え、前記N型オーミック電極は、前記化合物半導体の側から、Au-Ge合金層、Ni層、Au層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有する。
請求項2に係る半導体装置は、Inを含む化合物半導体と、前記化合物半導体に設けられたN型オーミック電極とを備え、前記N型オーミック電極は、前記化合物半導体の側から、Au-Ge合金層、Ni層、Au層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有する。
この半導体装置は、N型オーミック電極が上記の層構成を有することにより、化合物半導体に含まれるInのN型オーミック電極表面への拡散を抑制できる。
前記Pt層の膜厚は、170nm以上であることが好ましく、200nm以上であることが更に好ましい。Pt層の膜厚がこの範囲であることにより、化合物半導体に含まれるInのN型オーミック電極表面への拡散を一層抑制できる
前記化合物半導体としては、例えば、n型InP基板を備えるものが挙げられる。この場合、N型オーミック電極は、n型InP基板上に形成することができる。
前記Pt層の膜厚は、170nm以上であることが好ましく、200nm以上であることが更に好ましい。Pt層の膜厚がこの範囲であることにより、化合物半導体に含まれるInのN型オーミック電極表面への拡散を一層抑制できる
前記化合物半導体としては、例えば、n型InP基板を備えるものが挙げられる。この場合、N型オーミック電極は、n型InP基板上に形成することができる。
前記n型InP基板において、N型オーミック電極が形成された面の表面粗さRaは、5〜35nmの範囲にあることが好ましい。Raが5nm以上であることにより、n型InP基板とN型オーミック電極との密着性が良好である。また、35nm以下であることにより、N型オーミック電極の平滑性が失われない。
前記n型InP基板において、N型オーミック電極が形成された面の表面粗さRmaxは、48〜275nmの範囲にあることが好ましい。Rmaxが48nm以上であることにより、n型InP基板とN型オーミック電極との密着性が良好である。また、275nm以下であることにより、N型オーミック電極の平滑性が失われない。
本発明の半導体装置は、N型オーミック電極上に半田層を備え、その半田層は、AuSn層を含むことが好ましい。この場合、複雑な台座等へ半田層を形成することなく、半導体装置を実装できる。前記半田層としては、例えば、N型オーミック電極の側から、Ni層、及びAuSn層がこの順に配置された構造を有するものが挙げられる。
本発明の半導体装置は、例えば、以下のように製造できる。すなわち、化合物半導体上にN型オーミック電極を形成し、N型オーミック電極の加熱によるアロイ化を行ってから、N型オーミック電極上に半田層を形成する。
前記加熱における温度は、360〜400℃の範囲が好ましく、熱処理時間は10〜120秒の範囲が好ましい。これらの範囲内とすることにより、コンタクト比抵抗を適切な値(例えば、10-6〜10-7Ω・cm2)とすることができる。
本発明の実施形態を説明する。
1.半導体装置1の製造
図1に基づき、半導体装置1の製造方法を説明する。図1は、半導体装置1の層構成を表す説明図である。
図1に基づき、半導体装置1の製造方法を説明する。図1は、半導体装置1の層構成を表す説明図である。
n型InP基板3上に、MOCVD法により、キャリア濃度5x1017cm-3、厚さ0.8μmのInPからなる第1のn型クラッド層5、キャリア濃度5x1017cm-3、厚さ0.1μmのAlGaInAsからなる第1のn型光ガイド層7、異なる2つの組成のAlGaInAsの積層構造からなる多重量子井戸活性層9(波長1550nm)、キャリア濃度1x1018cm-3、厚さ0.1μmのAlGaInAsからなる第2のp型光ガイド層11、キャリア濃度1x1018cm-3、厚さ1.5μmのInPからなる第2のp型クラッド層13、及びキャリア濃度1x1019cm-3、厚さ0.2μmのInGaAsからなるp型コンタクト層15を順に積層した。
ここで、n型層の成長においては、ドーパントとしてSeを用いた。またp型層の成長においては、ドーパントとしてZnを用いた。また、成長時の基板温度は550〜800℃とした。なお、以下では、n型InP基板3、第1のn型クラッド層5、第1のn型光ガイド層7、多重量子井戸活性層9、第2のp型光ガイド層11、第2のp型クラッド層13、及びp型コンタクト層15の全体を、化合物半導体16と称する。
上記多重量子井戸活性層9は、厚さ12nmの一対の障壁層9a、厚さ8nmのAlInAs層9b、及びAlGaInAs層9cから構成される、3量子井戸構造を有する。
さらに、p型コンタクト層15上に、 P電極17を形成した。P電極17は、p型コンタクト層15の側から、真空蒸着法により、Cr層19(厚さ15nm)/Pt層21(厚さ50nm)/Au層23(厚さ600nm)を、この順に順次成膜したものである。
さらに、p型コンタクト層15上に、 P電極17を形成した。P電極17は、p型コンタクト層15の側から、真空蒸着法により、Cr層19(厚さ15nm)/Pt層21(厚さ50nm)/Au層23(厚さ600nm)を、この順に順次成膜したものである。
次に、n型InP基板3の薄片化を行った。薄片化は、#2000番手の砥石を用い、n型InP基板3のうち、第1のn型クラッド層5等を形成していない側の面を研削し、n型InP基板3の厚さが約120μmとなるまで行った。このとき、研削面のRaは10〜15nm、Rmaxは55〜170nm程度となった。すなわち、研削面は、鏡面ではなく、図2に示すように、所定の粗さを有する状態となった。なお、粗さの測定には、触針式の粗さ測定装置(Veeco社製、Dektak3ST)を用いた。また、主な測定条件は、以下のようにした。
測定距離:500μm
測定速度:12sec
データ点数:1000
水平分解能:0.500μm/sample
触針圧:30mg
なお、研削面にケミカルエッチングを行うと、転位の導入原因となる加工変質層(破砕層)を取り除くことが出来る。研削面を鏡面に仕上げず、所定の粗さを残すことで、表面積が増すため、後述するN電極25や半田層33の密着性が向上するメリットがある。
測定速度:12sec
データ点数:1000
水平分解能:0.500μm/sample
触針圧:30mg
なお、研削面にケミカルエッチングを行うと、転位の導入原因となる加工変質層(破砕層)を取り除くことが出来る。研削面を鏡面に仕上げず、所定の粗さを残すことで、表面積が増すため、後述するN電極25や半田層33の密着性が向上するメリットがある。
次に、上記の研削面にN電極(N型オーミック電極)25を成膜した。N電極25は、n型InP基板3の側から、Au-Ge合金層27(厚さ100nm)/Pt層29(厚さ300nm)/Au層31(厚さ100nm)を真空蒸着法により順次成膜したものである。製膜後、さらに、N電極25と化合物半導体16とのコンタクトを安定化させるために、385℃で約2分間の熱処理を実施し、アロイ化した。なお、熱処理は、コンタクト比抵抗が10-6〜10-7(Ω・cm2)となる条件が望ましい。ここで、コンタクト比抵抗を上記の範囲とするには、熱処理温度を360〜400℃として、熱処理時間を10〜120秒程度とすることが好ましい。熱処理温度、熱処理時間の設定と、コンタクト比抵抗との関係を表1に示す。
次に、P電極17、N電極25、及び半田層33が形成された化合物半導体16を、壁開により幅500μmで短冊化し、壁開した端面のうち、一方の端面に、Al2O3、a-Si等の材料を用い、レーザ光の波長に対して低反射率の反射層を形成し、もう一方の端面に高反射率の反射層を形成して、所定の大きさに素子化することで、半導体装置1(半導体レーザ素子)を完成した。
2.半導体装置1の評価
(2−1)オージェ分析装置を用いて、半導体装置1のn型InP基板3及びN電極25におけるIn元素の深さ方向分布を測定した。その結果を図3に示す。図3に示すように、In(元来、n型InP基板3に含まれていたもの)は、Pt層29のうち、Au-Ge合金層27との界面から約170nmまでの範囲にしか拡散しておらず、Au層31には全く拡散していなかった。この結果から、N電極25は、その表面(半田層33との界面)へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−2)半導体装置1の半田層33について、示差走査熱量測定を行った。その結果を図4に示す。図4に示すように、Ptのピークのみが検出され、Inのピークは全く検出されなかった。この結果から、N電極25が、半田層33へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−3)半田層33の表面を光学顕微鏡で観察した。そのときの写真を図5に示す。図5から明らかなように、半田層33に剥離は見られなかった。この結果から、N電極25と半田層33との密着性が良好であることが確認できた。
(2−4)半導体装置1をステムに実装し、シェアテストを行ったところ、全て母材破壊(接合強度〜7N)となった。なお、実装は、半田層33側をステムと接合するジャンクションアップで行った。このとき、ステム材料とn型InP基板3との線膨張係数差による応力を緩和するために、InPのサブマウントや線膨張係数の近いGaAsやSiのサブマウントを用いると良い。
(2−5)半導体装置1は、半田層33を有する。そのため、図6に示すように、複雑な台座等へ半田層を形成することなく、半導体装置1を実装できる。仮に、図7(a)に示すように、台座の全体にわたって半田層を形成すると、余った半田が垂れてしまうことがある。また、図7(b)に示すように、半導体装置1の大きさ、位置に応じて台座に半田層を形成する場合は、半田のパターニングが必要となってしまう。
(2−6)N電極は、Au-Ge合金/Ni/Auからなる3層構造が一般的であるが、n型InP基板を用いた本実施例においては、Niが無くてもオーミック特性が得られた。
(2−7)半導体装置1では、n型InP基板3とN電極25との密着性が良好であり、その界面での剥離は発生しなかった。これは、n型InP基板3の研削面に、上述したように、所定の粗さを持たせたことも要因の1つであると考えられる。なお、研削面の粗さRaを、7.1nm〜34.6nmの範囲で種々に変化させ、Rmaxを48.5nm〜275nmの範囲で種々に変化させても、やはり、n型InP基板3とN電極25との密着性は良好であった。
(2−1)オージェ分析装置を用いて、半導体装置1のn型InP基板3及びN電極25におけるIn元素の深さ方向分布を測定した。その結果を図3に示す。図3に示すように、In(元来、n型InP基板3に含まれていたもの)は、Pt層29のうち、Au-Ge合金層27との界面から約170nmまでの範囲にしか拡散しておらず、Au層31には全く拡散していなかった。この結果から、N電極25は、その表面(半田層33との界面)へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−2)半導体装置1の半田層33について、示差走査熱量測定を行った。その結果を図4に示す。図4に示すように、Ptのピークのみが検出され、Inのピークは全く検出されなかった。この結果から、N電極25が、半田層33へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−3)半田層33の表面を光学顕微鏡で観察した。そのときの写真を図5に示す。図5から明らかなように、半田層33に剥離は見られなかった。この結果から、N電極25と半田層33との密着性が良好であることが確認できた。
(2−4)半導体装置1をステムに実装し、シェアテストを行ったところ、全て母材破壊(接合強度〜7N)となった。なお、実装は、半田層33側をステムと接合するジャンクションアップで行った。このとき、ステム材料とn型InP基板3との線膨張係数差による応力を緩和するために、InPのサブマウントや線膨張係数の近いGaAsやSiのサブマウントを用いると良い。
(2−5)半導体装置1は、半田層33を有する。そのため、図6に示すように、複雑な台座等へ半田層を形成することなく、半導体装置1を実装できる。仮に、図7(a)に示すように、台座の全体にわたって半田層を形成すると、余った半田が垂れてしまうことがある。また、図7(b)に示すように、半導体装置1の大きさ、位置に応じて台座に半田層を形成する場合は、半田のパターニングが必要となってしまう。
(2−6)N電極は、Au-Ge合金/Ni/Auからなる3層構造が一般的であるが、n型InP基板を用いた本実施例においては、Niが無くてもオーミック特性が得られた。
(2−7)半導体装置1では、n型InP基板3とN電極25との密着性が良好であり、その界面での剥離は発生しなかった。これは、n型InP基板3の研削面に、上述したように、所定の粗さを持たせたことも要因の1つであると考えられる。なお、研削面の粗さRaを、7.1nm〜34.6nmの範囲で種々に変化させ、Rmaxを48.5nm〜275nmの範囲で種々に変化させても、やはり、n型InP基板3とN電極25との密着性は良好であった。
1.半導体装置1の製造
半導体装置1の製造方法を図8に基づいて説明する。図8は、半導体装置1の層構成を表す説明図である。本実施例において、化合物半導体16の形成、P電極17の形成、及びn型InP基板3の薄片化は、前記実施例1と同様である。n型InP基板3の薄片化後、その研削面にN電極125を成膜した。N電極125は、n型InP基板3の側から、Au-Ge合金層126(厚さ100nm)/Ni層127(厚さ20nm)/Au層128(厚さ100nm)/Pt層129(厚さ300nm)/Au層130(厚さ100nm)を真空蒸着法により順次成膜したものである。製膜後、さらに、N電極(N型オーミック電極)125と化合物半導体16とのコンタクトを安定化させるために、385℃で約2分間の熱処理を実施し、アロイ化した。
半導体装置1の製造方法を図8に基づいて説明する。図8は、半導体装置1の層構成を表す説明図である。本実施例において、化合物半導体16の形成、P電極17の形成、及びn型InP基板3の薄片化は、前記実施例1と同様である。n型InP基板3の薄片化後、その研削面にN電極125を成膜した。N電極125は、n型InP基板3の側から、Au-Ge合金層126(厚さ100nm)/Ni層127(厚さ20nm)/Au層128(厚さ100nm)/Pt層129(厚さ300nm)/Au層130(厚さ100nm)を真空蒸着法により順次成膜したものである。製膜後、さらに、N電極(N型オーミック電極)125と化合物半導体16とのコンタクトを安定化させるために、385℃で約2分間の熱処理を実施し、アロイ化した。
次に、半田層33を真空蒸着法にて形成した。半田層33は、N電極125の側から、Ni層35(厚さ100nm)/AuSn層37(厚さ1350nm)を順次積層したものである。
次に、P電極17、N電極125、及び半田層33が形成された化合物半導体16を、壁開により幅500μmで短冊化し、壁開した端面のうち、一方の端面に、Al2O3、a-Si等の材料を用い、レーザ光の波長に対して低反射率の反射層を形成し、もう一方の端面に高反射率の反射層を形成して、所定の大きさに素子化することで、半導体装置1(半導体レーザ素子)を完成した。
次に、P電極17、N電極125、及び半田層33が形成された化合物半導体16を、壁開により幅500μmで短冊化し、壁開した端面のうち、一方の端面に、Al2O3、a-Si等の材料を用い、レーザ光の波長に対して低反射率の反射層を形成し、もう一方の端面に高反射率の反射層を形成して、所定の大きさに素子化することで、半導体装置1(半導体レーザ素子)を完成した。
2.半導体装置1の評価
(2−1)オージェ分析装置を用いて、半導体装置1のn型InP基板3及びN電極125におけるIn元素の深さ方向分布を測定した。その結果を図9に示す。図9に示すように、In(元来、n型InP基板3に含まれていたもの)は、Pt層129のうち、Au層128との界面から約170nmまでの範囲にしか拡散しておらず、Au層130には全く拡散していなかった。この結果から、N電極125は、その表面(半田層33との界面)へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−2)半導体装置1の半田層33について、示差走査熱量測定を行った。その結果、Ptのピークのみが検出され、Inのピークは全く検出されなかった。この結果から、N電極125が、半田層33へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−3)半田層33の表面を光学顕微鏡で観察したところ、半田層33に剥離は見られなかった。この結果から、N電極125と半田層33との密着性が良好であることが確認できた。
(2−4)半導体装置1をステムに実装し、シェアテストを行ったところ、全て母材破壊(接合強度〜7N)となった。なお、実装は、半田層33側をステムと接合するジャンクションアップで行った。
(比較例)
1.半導体装置P1の製造
半導体装置P1の製造方法を図10に基づいて説明する。本比較例において、化合物半導体16の形成、P電極17の形成、及びn型InP基板3の薄片化は、前記実施例1と同様である。n型InP基板3の薄片化後、その研削面にN電極225を成膜した。N電極225は、n型InP基板3の側から、Au-Ge合金層227(厚さ100nm)/Ni層229(厚さ20nm)/Au層231(厚さ100nm)を真空蒸着法により順次成膜したものである。製膜後、さらに、N電極225と化合物半導体16とのコンタクトを安定化させるために、385℃で約2分間の熱処理を実施した。
(2−1)オージェ分析装置を用いて、半導体装置1のn型InP基板3及びN電極125におけるIn元素の深さ方向分布を測定した。その結果を図9に示す。図9に示すように、In(元来、n型InP基板3に含まれていたもの)は、Pt層129のうち、Au層128との界面から約170nmまでの範囲にしか拡散しておらず、Au層130には全く拡散していなかった。この結果から、N電極125は、その表面(半田層33との界面)へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−2)半導体装置1の半田層33について、示差走査熱量測定を行った。その結果、Ptのピークのみが検出され、Inのピークは全く検出されなかった。この結果から、N電極125が、半田層33へのInの拡散を防止できることが確認できた。
(2−3)半田層33の表面を光学顕微鏡で観察したところ、半田層33に剥離は見られなかった。この結果から、N電極125と半田層33との密着性が良好であることが確認できた。
(2−4)半導体装置1をステムに実装し、シェアテストを行ったところ、全て母材破壊(接合強度〜7N)となった。なお、実装は、半田層33側をステムと接合するジャンクションアップで行った。
(比較例)
1.半導体装置P1の製造
半導体装置P1の製造方法を図10に基づいて説明する。本比較例において、化合物半導体16の形成、P電極17の形成、及びn型InP基板3の薄片化は、前記実施例1と同様である。n型InP基板3の薄片化後、その研削面にN電極225を成膜した。N電極225は、n型InP基板3の側から、Au-Ge合金層227(厚さ100nm)/Ni層229(厚さ20nm)/Au層231(厚さ100nm)を真空蒸着法により順次成膜したものである。製膜後、さらに、N電極225と化合物半導体16とのコンタクトを安定化させるために、385℃で約2分間の熱処理を実施した。
次に、半田層33を真空蒸着法にて形成した。半田層33は、N電極225の側から、Ni層35(厚さ100nm)/AuSn 層37(厚さ1350nm)を順次積層したものである。
次に、P電極17、N電極225、及び半田層33が形成された化合物半導体16を、壁開により幅500μmで短冊化し、壁開した端面のうち、一方の端面に、Al2O3、a-Si等の材料を用い、レーザ光の波長に対して低反射率の反射層を形成し、もう一方の端面に高反射率の反射層を形成して、所定の大きさに素子化することで、半導体装置P1(半導体レーザ素子)を完成した。
次に、P電極17、N電極225、及び半田層33が形成された化合物半導体16を、壁開により幅500μmで短冊化し、壁開した端面のうち、一方の端面に、Al2O3、a-Si等の材料を用い、レーザ光の波長に対して低反射率の反射層を形成し、もう一方の端面に高反射率の反射層を形成して、所定の大きさに素子化することで、半導体装置P1(半導体レーザ素子)を完成した。
2.半導体装置P1の評価
(2−1)オージェ分析装置を用いて、半導体装置P1のn型InP基板3及びN電極225におけるIn元素の深さ方向分布を測定した。その結果を図11に示す。図11に示すように、In(元来、n型InP基板3に含まれていたもの)は、Au層231の最表面まで拡散していた。この結果から、N電極225は、その表面(半田層33との界面)へのInの拡散を防止できないことが確認できた。
(2−2)半田層33の表面を光学顕微鏡で観察した。そのときの写真を図12に示す。図12に示すように、半田層33が剥離し、N電極225が露出している部分(電極露出部)が観察できた。この結果から、N電極225と半田層33との密着性が不良であることが確認できた。
(2−1)オージェ分析装置を用いて、半導体装置P1のn型InP基板3及びN電極225におけるIn元素の深さ方向分布を測定した。その結果を図11に示す。図11に示すように、In(元来、n型InP基板3に含まれていたもの)は、Au層231の最表面まで拡散していた。この結果から、N電極225は、その表面(半田層33との界面)へのInの拡散を防止できないことが確認できた。
(2−2)半田層33の表面を光学顕微鏡で観察した。そのときの写真を図12に示す。図12に示すように、半田層33が剥離し、N電極225が露出している部分(電極露出部)が観察できた。この結果から、N電極225と半田層33との密着性が不良であることが確認できた。
尚、本発明は前記実施の形態になんら限定されるものではなく、本発明を逸脱しない範囲において種々の態様で実施しうることはいうまでもない。
例えば、前記実施例1において、Au-Ge合金層27、Pt層29、Au層31の膜厚は、本発明の作用効果を奏する範囲で、適宜設定できる。また、Au-G合金層27とPt層29との間、又はPt層29とAu層31との間に、他の層が存在してもよい。
例えば、前記実施例1において、Au-Ge合金層27、Pt層29、Au層31の膜厚は、本発明の作用効果を奏する範囲で、適宜設定できる。また、Au-G合金層27とPt層29との間、又はPt層29とAu層31との間に、他の層が存在してもよい。
また、前記実施例2において、Au-Ge合金層126、Ni層127、Au層128、Pt層129、Au層130の膜厚は、本発明の作用効果を奏する範囲で、適宜設定できる。また、Au-Ge合金層126とNi層127との間、Ni層127とAu層128との間、Au層128とPt層129との間、又はPt層129とAu層130との間に、他の層が存在してもよい。
また、前記実施例1及び実施例2において、半田層33は、AuSn層のみであってもよい。また、半導体装置1は、半田層33を備えなくてもよい。
また、前記実施例1及び実施例2において、n型InP基板3の研削面は鏡面であってもよい。
また、前記実施例1及び実施例2において、n型InP基板3の研削面は鏡面であってもよい。
1、P1・・・半導体装置、3・・・n型InP基板、5・・・第1のn型クラッド層、
7・・・第1のn型光ガイド層、9・・・多重量子井戸活性層、9a・・・障壁層、
11・・・第2のp型光ガイド層、13・・・第2のp型クラッド層、
15・・・p型コンタクト層、16・・・化合物半導体、17・・・P電極、
19・・・Cr層、21・・・Pt層、23・・・Au層、
25、125、225・・・N電極、27・・・Au-Ge合金層、29・・・Pt層、
31・・・Au層、33・・・半田層、35・・・Ni層、37・・・AuSn層、
126・・・Au-Ge合金層、127・・・Ni層、128・・・Au層、129・・・Pt層、
130・・・Au層、227・・・Au-Ge合金層、229・・・Ni層、231・・・Au層
7・・・第1のn型光ガイド層、9・・・多重量子井戸活性層、9a・・・障壁層、
11・・・第2のp型光ガイド層、13・・・第2のp型クラッド層、
15・・・p型コンタクト層、16・・・化合物半導体、17・・・P電極、
19・・・Cr層、21・・・Pt層、23・・・Au層、
25、125、225・・・N電極、27・・・Au-Ge合金層、29・・・Pt層、
31・・・Au層、33・・・半田層、35・・・Ni層、37・・・AuSn層、
126・・・Au-Ge合金層、127・・・Ni層、128・・・Au層、129・・・Pt層、
130・・・Au層、227・・・Au-Ge合金層、229・・・Ni層、231・・・Au層
Claims (8)
- Inを含む化合物半導体と、前記化合物半導体に設けられたN型オーミック電極とを備え、
前記N型オーミック電極は、前記化合物半導体の側から、Au-Ge合金層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有することを特徴とする半導体装置。 - Inを含む化合物半導体と、前記化合物半導体に設けられたN型オーミック電極とを備え、
前記N型オーミック電極は、前記化合物半導体の側から、Au-Ge合金層、Ni層、Au層、Pt層、及びAu層がこの順で配置された構造を有することを特徴とする半導体装置。 - 前記Pt層の膜厚が170nm以上であることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体装置。
- 前記化合物半導体は、n型InP基板を備え、前記N型オーミック電極は、前記n型InP基板に形成されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記n型InP基板において前記N型オーミック電極が形成された面の表面粗さRaが、5〜35nmの範囲にあることを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
- 前記N型オーミック電極上に半田層を備え、前記半田層は、AuSn層を含むことを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の半導体装置。
- 前記半田層は、前記N型オーミック電極の側から、Ni層、及び前記AuSn層がこの順に配置された構造を有することを特徴とする請求項6に記載の半導体装置。
- 前記化合物半導体上に前記N型オーミック電極を形成し、前記N型オーミック電極の加熱によるアロイ化を行ってから、前記N型オーミック電極上に前記半田層を形成することを特徴とする請求項6又は7に記載の半導体装置の製造方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014510409A (ja) * | 2011-03-16 | 2014-04-24 | スペクトラセンサーズ, インコーポレイテッド | 周波数安定性改良用半導体レーザマウンティング |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6395661A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | Toshiba Corp | 半導体素子電極 |
JPH03203284A (ja) * | 1989-12-28 | 1991-09-04 | Nec Corp | 半導体光素子の電極形成方法 |
JPH05235323A (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-10 | Olympus Optical Co Ltd | 半導体装置 |
JPH09162488A (ja) * | 1995-10-05 | 1997-06-20 | Denso Corp | 大出力用半導体レーザ素子 |
JPH11212041A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体光素子 |
JP2001511948A (ja) * | 1997-02-07 | 2001-08-14 | テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) | 同一基板上へのヘテロバイポーラトランジスタおよびレーザーダイオードの製造 |
JP2001237493A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Hitachi Ltd | 半導体レーザ |
JP2003163375A (ja) * | 2001-11-29 | 2003-06-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 窒化物系半導体素子およびその製造方法 |
JP2007189214A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-07-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子および半導体素子のダイボンド接続方法 |
JP2008532281A (ja) * | 2005-02-23 | 2008-08-14 | クリー インコーポレイテッド | 高光抽出led用の基板除去方法 |
JP2009302138A (ja) * | 2008-06-10 | 2009-12-24 | Opnext Japan Inc | 半導体レーザ素子、及び半導体レーザ素子の製造方法 |
-
2010
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6395661A (ja) * | 1986-10-13 | 1988-04-26 | Toshiba Corp | 半導体素子電極 |
JPH03203284A (ja) * | 1989-12-28 | 1991-09-04 | Nec Corp | 半導体光素子の電極形成方法 |
JPH05235323A (ja) * | 1992-02-20 | 1993-09-10 | Olympus Optical Co Ltd | 半導体装置 |
JPH09162488A (ja) * | 1995-10-05 | 1997-06-20 | Denso Corp | 大出力用半導体レーザ素子 |
JP2001511948A (ja) * | 1997-02-07 | 2001-08-14 | テレフオンアクチーボラゲツト エル エム エリクソン(パブル) | 同一基板上へのヘテロバイポーラトランジスタおよびレーザーダイオードの製造 |
JPH11212041A (ja) * | 1998-01-29 | 1999-08-06 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体光素子 |
JP2001237493A (ja) * | 2000-02-24 | 2001-08-31 | Hitachi Ltd | 半導体レーザ |
JP2003163375A (ja) * | 2001-11-29 | 2003-06-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 窒化物系半導体素子およびその製造方法 |
JP2008532281A (ja) * | 2005-02-23 | 2008-08-14 | クリー インコーポレイテッド | 高光抽出led用の基板除去方法 |
JP2007189214A (ja) * | 2005-12-16 | 2007-07-26 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体素子および半導体素子のダイボンド接続方法 |
JP2009302138A (ja) * | 2008-06-10 | 2009-12-24 | Opnext Japan Inc | 半導体レーザ素子、及び半導体レーザ素子の製造方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014510409A (ja) * | 2011-03-16 | 2014-04-24 | スペクトラセンサーズ, インコーポレイテッド | 周波数安定性改良用半導体レーザマウンティング |
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