JP2011188224A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2011188224A5
JP2011188224A5 JP2010051223A JP2010051223A JP2011188224A5 JP 2011188224 A5 JP2011188224 A5 JP 2011188224A5 JP 2010051223 A JP2010051223 A JP 2010051223A JP 2010051223 A JP2010051223 A JP 2010051223A JP 2011188224 A5 JP2011188224 A5 JP 2011188224A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
period
signal
count
unit
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP2010051223A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2011188224A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2010051223A priority Critical patent/JP2011188224A/ja
Priority claimed from JP2010051223A external-priority patent/JP2011188224A/ja
Priority to US12/929,600 priority patent/US20110221931A1/en
Publication of JP2011188224A publication Critical patent/JP2011188224A/ja
Publication of JP2011188224A5 publication Critical patent/JP2011188224A5/ja
Abandoned legal-status Critical Current

Links

JP2010051223A 2010-03-09 2010-03-09 温度情報出力装置、撮像装置、温度情報出力方法 Abandoned JP2011188224A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010051223A JP2011188224A (ja) 2010-03-09 2010-03-09 温度情報出力装置、撮像装置、温度情報出力方法
US12/929,600 US20110221931A1 (en) 2010-03-09 2011-02-03 Temperature information output apparatus, imaging apparatus, method of outputting temperature information

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010051223A JP2011188224A (ja) 2010-03-09 2010-03-09 温度情報出力装置、撮像装置、温度情報出力方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011188224A JP2011188224A (ja) 2011-09-22
JP2011188224A5 true JP2011188224A5 (enExample) 2013-03-28

Family

ID=44559626

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010051223A Abandoned JP2011188224A (ja) 2010-03-09 2010-03-09 温度情報出力装置、撮像装置、温度情報出力方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20110221931A1 (enExample)
JP (1) JP2011188224A (enExample)

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5185772B2 (ja) * 2008-10-28 2013-04-17 セイコーインスツル株式会社 Pdm出力型温度センサ
JP5736784B2 (ja) * 2011-01-13 2015-06-17 セイコーエプソン株式会社 温度検出装置、電気光学装置および電子機器
GB2497571A (en) 2011-12-15 2013-06-19 St Microelectronics Res & Dev An imaging array with high dynamic range
US9074943B2 (en) * 2012-10-30 2015-07-07 Freescale Semiconductor, Inc. Production-test die temperature measurement
JP5865861B2 (ja) * 2013-03-26 2016-02-17 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 画像読取装置および画像形成装置
US9574951B2 (en) 2013-09-09 2017-02-21 Semiconductor Components Industries, Llc Image sensor including temperature sensor and electronic shutter function
JP6350863B2 (ja) 2013-12-20 2018-07-04 ソニー株式会社 撮像素子、撮像装置、および電子装置
JP6541347B2 (ja) * 2014-03-27 2019-07-10 キヤノン株式会社 固体撮像装置および撮像システム
TWI648986B (zh) * 2014-04-15 2019-01-21 Sony Corporation 攝像元件、電子機器
JP6800682B2 (ja) * 2016-09-30 2020-12-16 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システムおよび移動体
WO2018092269A1 (ja) * 2016-11-18 2018-05-24 オリンパス株式会社 固体撮像素子および撮像装置
JP6878947B2 (ja) * 2017-02-21 2021-06-02 株式会社リコー 画像撮像装置及び電子機器
JP7078818B2 (ja) * 2018-01-31 2022-06-01 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 撮像装置およびキャリブレーション方法
EP3910305B1 (en) 2019-01-10 2024-06-05 Sony Semiconductor Solutions Corporation Imaging device and calibration method
US11107384B2 (en) * 2019-04-19 2021-08-31 Silicon Works Co., Ltd. Display driving device including voltage limiter for sensing voltage variation and limiting voltage level of sensing line
JP7145925B2 (ja) * 2020-11-25 2022-10-03 キヤノン株式会社 撮像システムおよび移動体
JP7791653B2 (ja) * 2021-03-18 2025-12-24 キヤノン株式会社 光電変換装置、基板及び機器
KR20230008370A (ko) 2021-07-07 2023-01-16 삼성전자주식회사 온도 변화에 따른 전압 레벨을 보상하는 전자 회로 및 이를 포함하는 이미지 센서
CN114034411B (zh) * 2021-11-10 2023-05-23 四川创安微电子有限公司 图像传感器温度测量系统及方法
CN115396610B (zh) * 2022-08-03 2025-03-11 江南大学 浮栅型图像传感器斜坡电压的温度校正方法及读出电路

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100795013B1 (ko) * 2006-09-13 2008-01-16 주식회사 하이닉스반도체 밴드 갭 레퍼런스 회로와 이를 이용한 온도 정보 출력장치
US7738019B2 (en) * 2006-10-11 2010-06-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. System and method for providing automatic gain control in an imaging device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102694967B1 (ko) 아날로그-디지털 변환 장치 및 그에 따른 씨모스 이미지 센서
KR101911374B1 (ko) 이미지 센서용의 열 병렬 싱글-슬로프 아날로그-디지털 변환기의 디지털 교정을 위한 자동 오프셋 조정
US10340936B2 (en) Analog-to-digital conversion and method of analog-to-digital conversion
JP4618349B2 (ja) 固体撮像素子、撮像方法及び撮像装置
JP5076568B2 (ja) データ処理方法、データ処理装置、固体撮像装置、撮像装置、電子機器
JP2015115655A (ja) アナログデジタル変換器およびイメージセンサ
JP2013070240A5 (enExample)
TW201345251A (zh) 用於影像感測器在多個斜率行平行類比至數位轉換中之校準
EP2764688A1 (en) Random access addressing on active pixel image sensor
US20090109315A1 (en) Data processor, solid-state imaging device, imaging device, and electronic apparatus
JP2014096670A (ja) コンパレータ、比較方法、adコンバータ、固体撮像素子、および電子装置
US10609317B2 (en) Time detection circuit, AD conversion circuit, and solid-state imaging device
CN114845074B (zh) 模数转换电路、图像感测装置及其操作方法
JP2017158061A5 (enExample)
US20120280113A1 (en) Correlated double sampling
US11870455B2 (en) Analog-to-digital conversion method, analog-to-digital converter and image sensor
JP2014135645A (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
US9912898B2 (en) Amplifier, electric circuit, and image sensor
KR101232620B1 (ko) 램프 신호의 보정 기능을 갖는 램프 신호 발생기 및 이를 포함하는 이미지 센서
JP5869604B2 (ja) センサーシステム及びセンサーに用いるデータアウト信号生成方法
JP6112871B2 (ja) 撮像素子及び撮像装置
JP7367569B2 (ja) センサ制御装置、プログラムおよびセンサ制御方法
CN110418089B (zh) 模数转换器以及图像传感器
US20170187978A1 (en) Encoding circuit, ad conversion circuit, imaging device, and imaging system
JP2022522269A (ja) マルチアナログデジタル変換の方法