JP2011173958A - スラリー製造方法、スラリー、研磨方法及び研磨装置 - Google Patents

スラリー製造方法、スラリー、研磨方法及び研磨装置 Download PDF

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Abstract

【課題】ガラスに傷を発生させ難いスラリーの製造方法、スラリー、研磨方法及び研磨装置を提供すること。
【解決手段】本発明では、原材料から粒径100nm以下の砥粒を含む砥粒を製造し、製造した砥粒を個別に分散させ、分散させた各砥粒をポリマーで被覆し、被覆した砥粒の中から粒径100nm以下の砥粒を選別する。次に、選別した砥粒をスラリーの液体成分に混合することによりスラリーを製造し、スラリーにpH調整剤及び増粘剤を添加する。製造したスラリーを用いて、ガラス基板の研磨を行う。粒径が100nmより大きい砥粒又は凝集した砥粒の塊がガラスに接触して大きな傷が発生することが無く、研磨中にガラスに70nm以上の傷が発生することを抑制することが可能となる。
【選択図】図1

Description

本発明は、ガラスの研磨に使用するスラリーの製造方法、スラリー、スラリーを用いた研磨方法及び研磨装置に関する。
半導体素子等の電子部品の回路パターンは、露光技術により、フォトマスクに形成された回路パターン原版をシリコンウエハ等に縮小転写することにより、形成される。電子部品の微細化を促進するために、露光に用いる光の波長はより短くなる傾向にある。近年では、露光用の光としてEUV(Extreme Ultra Violet)光を用いたEUV露光の技術が開発されている。EUV露光用のフォトマスクは、基材であるマスクブランクス上に、EUV光を反射する金属及び半導体の多層膜を設け、多層膜上に光の吸収体で回路パターン原版を形成してある構造となっている。マスクブランクスは、ガラス基板に化学機械研磨(CMP;Chemical Mechanical Polishing )を施すことによって製造する。マスクブランクスの表面に欠陥が存在した場合、多層膜に欠陥が発生し、回路パターン原版の精度が悪化する。そこで、CMPによりマスクブランクスを製造する際には、欠陥の発生を可及的に防止することが必要である。CMPでは、ガラス基板を研磨するための砥粒を含む研磨液、所謂スラリーを用いて研磨を行う。特許文献1には、マスクブランクスを製造するためのスラリーの例が開示されている。
特開2004−98278号公報
EUV露光用のフォトマスクでは、マスクブランクスの表面に70nm以上の傷があった場合は、回路パターン原版が不良となる。従って、マスクブランクスを製造する際には、CMPの実行中にガラス基板に発生する傷を少なくとも70nmより小さくする必要がある。ガラス基板に発生する傷の原因の一つは、スラリーに含まれる砥粒が研磨中にガラス基板の表面に押し付けられ、砥粒とガラス基板との接触部分に押し付け力が集中して傷を発生させることにある。傷の発生を抑制するためには、砥粒の粒径を小さくすることが考えられる。しかしながら、砥粒の粒径を小さくした場合、砥粒がスラリー中で凝集し易くなり、凝集した砥粒によってガラス基板に傷が発生するという問題がある。
本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、ガラスに傷を発生させ難いスラリーの製造方法、スラリー、当該スラリーを用いることによって傷の発生を抑制することができる研磨方法及び研磨装置を提供することにある。
本発明に係るスラリー製造方法は、ガラスを研磨するための砥粒及び液体成分を含有するスラリーを製造する方法において、粒径100nm以下の砥粒を製造し、製造した砥粒を分散させ、分散した状態で砥粒を液体成分に混合することを特徴とする。
本発明に係るスラリー製造方法は、分散させた砥粒を該砥粒より柔軟なポリマーで被覆することを特徴とする。
本発明に係るスラリー製造方法は、ガラスを機械的に研磨するための物質を主成分とし、ガラスと化学反応を起こす物質を副成分とした砥粒を製造することを特徴とする。
本発明に係るスラリー製造方法は、砥粒を液体成分に混合する前に、粒径100nm以下の砥粒を選別することを特徴とする。
本発明に係るスラリー製造方法は、pHを7以上に保たせるようにpH調整剤を添加することを特徴とする。
本発明に係るスラリー製造方法は、増粘剤を添加することを特徴とする。
本発明に係るスラリーは、ガラスを研磨するための砥粒及び液体成分を含有するスラリーにおいて、粒径100nm超過の砥粒を含んでおらず、粒径100nm以下の砥粒を液体成分中に分散させてあることを特徴とする。
本発明に係るスラリーは、前記砥粒は、核となる部分をより柔軟なポリマーで被覆してあることを特徴とする。
本発明に係るスラリーは、前記砥粒は、ガラスを機械的に研磨するための物質を主成分とし、ガラスと化学反応を起こす物質を副成分としてあることを特徴とする。
本発明に係るスラリーは、pHを7以上に保ってあることを特徴とする。
本発明に係るスラリーは、増粘剤を添加してあることを特徴とする。
本発明に係る研磨方法は、本発明に係るスラリーを用いてガラスの化学機械研磨を行うことを特徴とする。
本発明に係る研磨方法は、前記スラリーの温度を、スラリー周囲の気温よりも高くなるように制御することを特徴とする。
本発明に係る研磨方法は、前記スラリーに電圧を印加しておき、前記電圧と同一極性のイオンを前記スラリーの周囲に供給することを特徴とする。
本発明に係る研磨装置は、本発明に係るスラリーを供給する手段と、供給された前記スラリーを用いてガラスを研磨する手段と、前記スラリーの温度を、スラリー周囲の気温よりも高くなるように制御する手段とを備えることを特徴とする。
本発明に係る研磨装置は、本発明に係るスラリーを供給する手段と、供給された前記スラリーを用いてガラスを研磨する手段と、前記スラリーに電圧を印加する手段と、前記電圧と同一極性のイオンを前記スラリーの周囲に供給する手段とを備えることを特徴とする。
本発明においては、ガラスの研磨に用いるスラリーとして、粒径100nm以下の砥粒が液体成分中に分散したスラリーを製造する。
また本発明においては、スラリーに含まれる砥粒は、柔軟なポリマーで被覆してある。
また本発明においては、スラリーに含まれる砥粒は、ガラスを機械的に研磨するためのシリカ等の主成分と、ガラスと化学反応を起こすアルミナ等の副成分とを含有する。
また本発明においては、スラリーに含ませる砥粒として、粒径100nm以下の砥粒を選別し、粒径100nm超過の砥粒をスラリーが含まないようにする。
また本発明においては、スラリーがアルカリ性を保つためにpH調整剤を添加する。
また本発明においては、増粘剤を添加することにより、スラリーの粘度を調整する。
また本発明においては、スラリーを用いてガラスを研磨する際に、スラリーの温度を周囲よりも高くなるように制御する。
また本発明においては、スラリーを用いてガラスを研磨する際に、スラリーに電圧を印加し、電圧と同一極性のイオンをスラリーの周囲に照射する。
本発明にあっては、ガラスの研磨に用いるスラリーには、粒径100nm以下の砥粒が分散して含まれているので、粒径100nm超過の砥粒が研磨中のガラスに接触して大きな傷が発生すること、及び凝集した砥粒の塊がガラスに接触して大きな傷が発生することが無い。従って、研磨中にガラスに70nm以上の傷が発生することを抑制することが可能であり、ガラス基板の研磨によって傷のない高品質なマスクブランクスを効率的に製造することが可能となる等、本発明は優れた効果を奏する。
本発明のスラリー製造方法の工程例を簡略的に示す概念図である。 気相合成法により砥粒を製造する砥粒製造装置の例を示す模式図である。 エアロゾル加熱法により砥粒を製造する砥粒製造装置の例を示す模式的断面図である。 ビーズミルの例を示す模式的断面図である。 ビーズミルによる処理の前後における砥粒の粒径分布の例を示す特性図である。 静電噴霧法により砥粒を分散させる砥粒分散装置の例を示す模式的断面図である。 気相中で各砥粒をポリマーで被覆する砥粒被覆装置の例を示す模式図である。 本発明のスラリーに含まれる砥粒の模式的断面図である。 ゼータ電位のpH依存性の例を示す特性図である。 本発明の研磨装置の第1の形態を示す模式的正面図である。 本発明の研磨装置の第2の形態を示す模式的正面図である。
以下、本発明の実施の形態を、図面に基づき具体的に説明する。
本実施の形態では、まず、CMPによりガラス基板を研磨することによってマスクブランクスを製造する工程において使用するスラリーの製造方法を説明する。図1は、スラリー製造方法の工程例を簡略的に示す概念図である。原材料から粒径100nm以下の砥粒を含む砥粒を製造し、製造した砥粒を分散させ、分散させた各砥粒をポリマーで被覆し、被覆した砥粒の中から粒径100nm以下の砥粒を選別する。次に、選別した砥粒をスラリーの液体成分に混合することによりスラリーを製造し、スラリーにpH調整剤及び増粘剤を添加する。
次に、砥粒を製造する工程を説明する。砥粒は、ガラス基板を機械的に研磨するためにガラス以上の硬さを有する必要があり、砥粒の材質としてシリカ(二酸化ケイ素)又は炭素等を用いる。砥粒を製造する工程では、気相合成法、液相合成法、エアロゾル加熱法、ゾルゲル法、又はポリマーin−situゾルゲル法等を用いて、原材料から砥粒を合成する。合成した砥粒は、シリカ若しくは炭素の微結晶、多結晶又は三次元構造体である。三次元構造体の例は、フラーレン、カーボンナノチューブ又はシリカの籠状の三次元構造体である。
図2は、気相合成法により砥粒を製造する砥粒製造装置の例を示す模式図である。砥粒製造装置は、メッシュ状に形成されたカソード101及びアノード102を備える。カソード101からアノード102の方向へ、プロセスガスを流通させる。プロセスガスは、例えば、TEOS(オルトケイ酸テトラエチル)ガス又はCF4 ガスをアルゴンガスで希釈したガスである。プロセスガスを流通させながら、カソード101及びアノード102間にRF(Radio Frequency )電圧を印加することにより、カソード101及びアノード102間でプロセスガスをプラズマ化させる。プラズマ化したプロセスガス中の原子は、活性化して互いに化合し、その結果、砥粒が合成される。プロセスガスがTEOSガスをアルゴンガスで希釈したガスである場合は、シリカを主成分とする砥粒が合成される。プロセスガスがCF4 ガスをアルゴンガスで希釈したガスである場合は、炭素を主成分とする砥粒が合成される。砥粒製造装置は、吸気によって砥粒を回収する回収器103を備える。合成された砥粒は、ガスの流れに応じてアノード102を通過し、回収器103に回収される。なお、回収器103は、正に帯電しておき、静電気力により砥粒を回収する形態であってもよい。気相合成法により製造された砥粒は、粒径100nm以下の砥粒を含む微粒子の集積である。
図3は、エアロゾル加熱法により砥粒を製造する砥粒製造装置の例を示す模式的断面図である。砥粒製造装置は、砥粒の原材料が溶媒中に溶解又は分散した溶液を噴霧する噴霧器111を備える。噴霧器111は、例えば超音波噴霧器である。噴霧器111が溶液を噴霧することにより、砥粒の原材料及び溶媒を含む液滴が生成される。更に砥粒製造装置は、周囲にヒータ113を配置した加熱管112を備えている。加熱管112内には、窒素又はアルゴン等のキャリアガスが一方向に流れている。また加熱管112内は、ヒータ113によって加熱されており、キャリアガスの入口側から出口側に移動するほど温度が高くなるように加熱管112内の温度が制御されている。噴霧器111が噴霧した液滴は、キャリアガスの流れに乗って加熱管112内に流入し、キャリアガスによって加熱管112内を移動しながら加熱される。液滴が加熱されることにより、液滴内の揮発成分が蒸発し、不揮発成分が結合した砥粒が製造される。加熱管112の出口側には、回収器114が配置されている。キャリアガスの流れに乗って加熱管112から排出された砥粒は、回収器114に回収される。製造された砥粒は、粒径100nm以下の砥粒を含む微粒子の集積である。例えば、シリカを分散させた溶液からエアロゾル加熱法により砥粒を製造することにより、液滴中のシリカが加熱によって互いに結合したシリカの三次元構造体である砥粒を製造することができる。
ゾルゲル法では、砥粒の原材料を溶媒に溶解した溶液を加水分解等の方法でゾル化し、加熱等の方法でゾルをゲル化し、ゲルを乾燥し、粉砕することにより、微粒子状の砥粒を製造する。例えば、原材料をTEOSにすることにより、シリカを材質とする砥粒を製造することができる。
また本発明は、砥粒の製造時に、ガラスを機械的に研磨するためのシリカ又は炭素等の主成分に、ガラスと化学反応を起こす副成分が混合した砥粒を製造する形態であってもよい。ガラスと化学反応を起こす物質としては、アルミナ、チタニア又はセリア等がある。これらの物質はガラスを化学的に研磨するための物質である。ゾルゲル法で砥粒を製造する際に、シリカ等の主成分の原材料に加えて、アルミナ、チタニア又はセリア等の物質の原材料を混合した溶液を製造することにより、アルミナ、チタニア又はセリア等の副成分が主成分に混合した砥粒を製造することが可能である。なお、アルミナを主成分とした砥粒を製造することも可能である。
次に、砥粒を分散させる工程を説明する。製造した砥粒は、微粒子であり、凝集し易いので、凝集した砥粒を分散させる。分散の工程では、メンブレンフィルタを用いた分級、ビーズミルを用いた分散、又は静電噴霧法を用いた分散を行う。メンブレンフィルタを用いた分級では、製造した砥粒をメンブレンフィルタでろ過することにより、凝集した砥粒、及び大粒径の砥粒を除去する。このとき、粒径100nm超過の砥粒を除去すればよい。メンブレンフィルタを用いた分級の結果、粒径100nm以下で分散した砥粒が得られる。
図4は、ビーズミルの例を示す模式的断面図である。ビーズミルは、両底面を有する円筒状に形成された筐体201内に、ローターピン202を設けた構成となっている。ローターピン202は、円筒の中心に位置する回転軸に、多数のピンを連結した構成となっている。筐体201内には、粒径数μmのジルコニアビーズ等の、μmサイズの大量のビーズが詰め込まれている。ローターピン202が回転することにより、筐体201内にあるビーズはかき回される。凝集した砥粒を入口からビーズミルに投入すると、投入した砥粒は、かき回される大量のビーズに衝突し、磨り潰され、その結果、より小さな粒径の砥粒となって分散する。ビーズミルの出口近傍には、ビーズと試料とを分離するセパレータ203が備えられている。ビーズによって分散した砥粒は、セパレータ203によってビーズから分離され、出口から排出される。
図5は、ビーズミルによる処理の前後における砥粒の粒径分布の例を示す特性図である。図中の横軸は砥粒の粒径をログスケールで示し、縦軸は各粒径の砥粒が全体に占める頻度を示す。図5に示す結果は、シリカを材質とした砥粒に対し、粒径数μmのジルコニアをビーズとして用いたビーズミルにより処理を行った結果である。図中の破線は処理前の砥粒の粒径分布を示している。処理前の段階では、100nm前後から10000nm近くまでの広い範囲に亘って粒径が分布している。処理前の砥粒は凝集しており、粒径は砥粒が凝集した塊の粒径を示している。また図中の実線は、ビーズミルによる処理を20分間行った後の砥粒の粒径分布を示している。ほとんどの砥粒の粒径が100nm以下であり、粒径100nm以下の砥粒が分散していることが明らかである。なお、ビーズの大きさ、及びビーズミルによる処理時間を制御することにより、砥粒の粒径分布を調整することも可能である。
図6は、静電噴霧法により砥粒を分散させる砥粒分散装置の例を示す模式的断面図である。砥粒分散装置は、砥粒を揮発性の溶媒中に分散させた溶液を静電噴霧する静電噴霧器211と、溶液を静電噴霧器211へ注入するポンプ212とを備える。溶液は、凝集した砥粒を溶媒に混合し、超音波を印加して砥粒を分散させることにより作成する。静電噴霧器211は、ポンプ212で注入された溶液に3kV前後の電圧を印加することにより、nmオーダーのサイズの液滴を生成する。更に砥粒分散装置は、周囲にヒータ214を配置した加熱管213を備えている。静電噴霧器211が生成した液滴は、キャリアガスによって加熱管213内に流入し、加熱管213内を移動しながらヒータ214からの熱によって加熱される。液滴が加熱されることにより、液滴内の揮発成分が蒸発し、液滴内の不揮発成分として分散した砥粒が残留する。静電噴霧法により液滴をnmオーダーとするので、分散した砥粒の粒径を100nm以下とすることが可能である。加熱管213の出口側には、回収器215が配置されている。分散した砥粒は、加熱管213から排出され、回収器215に回収される。なお、静電噴霧における電圧値、及び加熱時間を制御することにより、砥粒の粒径分布を調整することも可能である。また、後述する被覆の工程で被覆された砥粒の粒径が最終的に100nm以下となるように、分散の工程では、粒径70nm以下の砥粒等の100nmより粒径が小さい砥粒を回収するようにしてもよい。
次に、分散させた各砥粒をポリマーで被覆する工程を説明する。図7は、気相中で各砥粒をポリマーで被覆する砥粒被覆装置の例を示す模式図である。砥粒被覆装置は、RF電極301及び接地電極302を備える。砥粒被覆装置は、C48 、C58 、CH23 又はCF4 等のCF系ガスを電極間に供給しながら、RF電極301にRF電圧を印加することにより、RF電極301及び接地電極302間でCF系ガスをプラズマ化させる。更に、砥粒被覆装置は、CF系ガスのプラズマ中に、分散した砥粒をキャリアガスにより流入させる。分散した砥粒は、プラズマ中で電子が衝突して負に帯電し、RF電極301及び接地電極302間にトラップされる。トラップされた砥粒の表面では、CF系ガスが重合反応を起こすことによってポリテトラフルオロエチレン等のCF系ポリマーが生成し、砥粒はCF系ポリマーによって被覆される。プラズマ中で所定時間処理した後、砥粒被覆装置は、正電位に帯電した回収器303によって、ポリマーで被覆された砥粒を回収する。被覆の工程により、砥粒は、分散の工程までに製造された砥粒が核となり、この核をポリマーが被覆した構造となる。
回収器303の正電位は、+40V〜+100Vの範囲であることが望ましい。プラズマ中の砥粒は負に帯電しているので、回収器303の電位が正電位であれば回収が可能である。正電位が+40V以上の場合は、電位差が大きく、回収器303が砥粒を引き付ける力が強くなり、砥粒を回収する効率が向上する。また正電位が+100V以下の場合は、プラズマ中の正イオンが正電位の回収器303から反発することによって砥粒が回収器303に近づくことを妨害するイオン粘性力が小さく、砥粒を回収する効率が向上する。
なお、分散した砥粒の流入と、ポリマーで被覆された砥粒の回収とを連続的に行ってもよい。ある程度の量のポリマーで被覆された砥粒は、粒径及び質量が増加し、プラズマ中でより下方に滞留する。下方に滞留する砥粒を回収器303で回収することにより、ポリマーで被覆された砥粒を連続的に回収することが可能である。また、回収器303は、正電位に帯電させるのではなく、吸気によって砥粒を回収する形態であってもよい。RF電極301及び接地電極302間に砥粒を流入させてから回収器303が砥粒を回収するまでの時間を制御することにより、ポリマーで被覆された砥粒の粒径を調整することも可能である。
また被覆の工程では、PMMA(ポリメタクリル酸メチル)樹脂等、CF系ポリマー以外のポリマーで砥粒を被覆してもよい。いずれのポリマーも、シリカ又は炭素等を主成分とする砥粒の核よりも柔軟な物質である。また、被覆の工程は、気相中での被覆に限るものではなく、液相中で砥粒表面にポリマーを重合させることにより、砥粒をポリマーで被覆する形態であってもよい。
図8は、スラリーに含まれる砥粒の模式的断面図である。砥粒4は、ガラスを機械的に研磨するためのシリカ又は炭素等の物質を主成分とする核41を、CF系ポリマー等の柔軟なポリマー42が被覆した構造となっている。また核41内には、アルミナ、チタニア又はセリア等の副成分43が混入している。なお、砥粒4内には、空間が存在することもある。また本発明は、副成分43を含まない砥粒を用いてスラリーを製造する形態であってもよく、また、被覆の工程を省略し、ポリマー42で被覆していない砥粒を用いてスラリーを製造する形態であってもよい。
次に、砥粒を選別する工程を説明する。選別の工程では、砥粒をメンブレンフィルタでろ過することにより、粒径100nm超過の砥粒を除去し、粒径100nm以下の砥粒を回収する。なお、被覆の工程で、ポリマーで被覆された粒径が粒径100nm以下の特定の大きさとなった砥粒を選択的に回収することにより、被覆の工程と選別の工程とを合わせて実行してもよい。また、ポリマーで被覆していない砥粒を用いる形態では、被覆の工程を省略し、分散の工程で砥粒をメンブレンフィルタでろ過することにより、分散の工程で選別の工程を兼ねるようにしてもよい。また、ポリマーで被覆していない砥粒を用いる他の形態として、被覆の工程を省略し、ビーズミルを用いた分散の工程又は静電噴霧による分散の工程で、粒径100nm以下の砥粒を選択的に回収することにより、分散の工程と選別の工程とを合わせて実行してもよい。
次に、砥粒を液体成分に混合する工程を説明する。混合の工程では、選別した砥粒を、分散した状態を保ちながらスラリーの液体成分に混合することにより、スラリーを製造する。例えば、水を攪拌しながら砥粒を投入することにより、砥粒を水に混合する。これまでの工程によって、粒径100nm超過の砥粒を含んでおらず、粒径100nm以下の砥粒が液体成分中に分散したスラリーが製造される。
次に、添加の工程を説明する。ガラスの研磨に用いるスラリーがアルカリ性である場合、ガラスの水和反応が進み、研磨が促進される。従って、スラリーのpHを少なくとも7以上にすることにより、より効率的にガラスを研磨できるようになる。またスラリー中の砥粒と液体成分との間のゼータ電位は、スラリー中のpHに依存する。ゼータ電位の絶対値が大きいほど、砥粒間の反発力が大きくなり、スラリー中で砥粒が凝集することを防止することができる。図9は、ゼータ電位のpH依存性の例を示す特性図である。図中の横軸はスラリー中のpHを示し、縦軸はゼータ電位を示す。図9中には、砥粒の成分がシリカである場合のゼータ電位のpH依存性を実線で示し、砥粒の成分がアルミナである場合のゼータ電位のpH依存性を破線で示している。図9によれば、砥粒の成分がシリカである場合は、pH7以上でゼータ電位の絶対値が30mV以上となる。また砥粒の成分がアルミナである場合は、ゼータ電位の絶対値が20mV以上となるには少なくともpH8.5以上である必要がある。従って、砥粒の主成分がシリカであるスラリーの場合は、pHを7以上とし、砥粒の主成分がアルミナであるスラリーの場合は、pHを8.5以上とすることが望ましい。またpHが大きすぎる場合は、スラリーを使用する装置の腐食が早いので、pHは11以下とすることが望ましい。添加の工程では、スラリーのpHを7以上11以下、又は8.5以上11以下に調整するために、NaOH、KOH又はNH4 OH等のpH調整剤をスラリーに添加する。
更に添加の工程では、スラリーに増粘剤を添加することにより、スラリーの粘度を調整する。スラリーの粘度が高い場合、研磨中にスラリーから砥粒が流出する割合が減少するので、効率的にガラス基板を研磨することができる。増粘剤として、モノエチレングリコール、プロピレングリコール、エチレングリコール又はジエチレングリコール等をスラリーに添加する。なお、本発明は、pH調整剤の添加と増粘剤の添加とのいずれか一方のみを行う形態であってもよい。また本発明は、添加の工程を省略した形態であってもよい。
以上説明したスラリー製造方法によって製造したスラリーを用いて、本実施の形態では、CMPによりガラス基板を研磨し、マスクブランクスを製造する。次に、研磨方法を説明する。図10は、研磨装置の第1の形態を示す模式的正面図である。研磨装置は、平坦なターンテーブル61を備え、ターンテーブル61上には、樹脂等で形成した研磨パッド62を敷設してある。また研磨装置は、研磨パッド62に対向した位置にガラス基板52を保持する保持具63を備え、保持具63はガラス基板52を押し付けながら回転する機能を有する。また研磨装置は、スラリー容器65と、スラリー容器65に連結したノズル64とを備え、スラリー容器65内のスラリー51はノズル64を通って研磨パッド62上に供給される。更に研磨装置は、スラリー容器65内のスラリー51の温度を制御する温度制御部66を備えている。温度制御部66は、図示しない温度センサを用いて、スラリー容器65内にあるスラリー51の周囲の温度、及び研磨パッド62に供給されたスラリー51の周囲の温度を測定し、スラリー容器65内のスラリー51の温度を測定する。更に温度制御部66は、図示しないヒータを用いて、スラリー51の周囲の温度よりもスラリー容器65内のスラリー51の温度が高くなるように、スラリー容器65内のスラリー51の温度を制御する処理を行う。
研磨装置は、保持具63が保持したガラス基板52を研磨パッド62に当接させ、研磨パッド62上にスラリー51を供給しながら、ターンテーブル61及び保持具63を回転させることにより、ガラス基板52のCMPを実行する。ターンテーブル61及び保持具63が回転することにより、研磨パッド62とガラス基板52とは個別に回転し、研磨パッド62上に供給されたスラリー51は、研磨パッド62とガラス基板52との間に浸入する。研磨パッド62とガラス基板52とはスラリー51を介在させて擦り合い、ガラス基板52は機械的及び化学的に研磨される。
スラリー51には、粒径100nm以下の砥粒が分散して含まれているので、粒径100nm超過の砥粒がガラス基板52に接触して大きな傷が発生すること、及び凝集した砥粒の塊がガラス基板52に接触して大きな傷が発生することが無い。従って、ガラス基板52に70nm以上の傷が発生することを抑制することができる。スラリー51は、pH調整剤を添加することによって、ゼータ電位の絶対値を大きくしてあるので、砥粒はスラリー51中で凝集が困難になっており、凝集した砥粒の塊がガラス基板52に70nm以上の傷を発生させることがより確実に防止される。更に、砥粒は柔軟なポリマーで被覆されているので、砥粒がガラス基板52に押し付けられたときに、押し付け力が一点に集中せずに分散し、傷が発生し難い。
スラリー51の砥粒は、ガラス以上の硬さを有するシリカ又は炭素等の物質を主成分とするので、ガラス基板52は砥粒により機械的に研磨される。また砥粒は、ガラスと化学反応を起こすアルミナ、チタニア又はセリア等の物質を副成分として含んでいるので、副成分がガラス基板52表面と化学反応を起こすことにより、ガラス基板52は化学的に研磨される。従って、効率的にガラス基板52の研磨が行われる。またスラリー51にpH調整剤を添加することによって、スラリー51はアルカリ性となっているので、効率的にガラス基板52の研磨が行われる。更に、スラリー51は、増粘剤を添加することによって、研磨中にスラリー51から砥粒が流出する割合が減少するので、より効率的にガラス基板52を研磨することができる。
温度制御部66がスラリー51の温度を周囲よりも高くなるように制御することにより、空気中の異物粒子がスラリー51に混入することを熱泳動力によって防止することができる。異物粒子の混入を防止することにより、異物粒子がガラス基板52に接触して傷が発生することを防止することができる。確実に異物粒子の混入を防止するためには、温度制御部66は、スラリー51の温度を周囲よりも5℃以上高く制御することが望ましい。このように、温度制御部66がスラリー51の温度を制御することにより、ガラス基板52に70nm以上の傷が発生することを抑制することができる。
図11は、研磨装置の第2の形態を示す模式的正面図である。第2の形態に係る研磨装置は、温度制御部66がなく、スラリー容器65内のスラリー51に電圧を印加する電圧印加部67と、空中イオンを発生させるイオン発生器68とを備える。研磨装置のその他の構成は、図10に示した第1の形態と同様であり、対応する部分に同符号を付してその説明を省略する。第2の形態の研磨装置がガラス基板52のCMPを行った場合は、第1の形態と同様に、傷の発生を抑制しながら効率的にガラス基板52を研磨することが可能となる。
電圧印加部67は、スラリー容器65内のスラリー51に対して、プラス又はマイナスの100V等の一定電圧を印加する。イオン発生器68は、電圧印加部67が印加した電圧と同一極性の空中イオンを発生させ、発生させた空中イオンを研磨装置内に放出する構成となっている。イオン発生器68は、空中イオンを発生させる機構として、窒素又はアルゴン等のキャリアガスに紫外線又は軟X線を照射することによって空中イオンを発生させる機構を備えればよい。また空中イオンを発生させる機構は、キャリアガス中でコロナ放電を行う機構であってもよい。イオン発生器68は、キャリアガスを放出することにより、キャリアガスの流れに乗せて空中イオンを研磨装置内に放出する。なお、イオン発生器68は、両極性のイオンを発生させ、電圧印加部67が印加した電圧と同一極性の空中イオンを選別して放出する形態であってもよい。またイオン発生器68は、エアロゾルから空中イオンを発生させる形態であってもよい。
スラリー51に印加された電圧と同極性の空中イオンが研磨装置内に供給されることにより、研磨装置内では、空中イオンがスラリー51から反発し、スラリー51から離れる方向への空気の流れが発生する。この空気の流れにより、空気中の異物粒子がスラリー51に混入することが防止される。このように、空中イオンを研磨装置内に供給することにより、スラリー51へ混入した異物粒子によってガラス基板52に70nm以上の傷が発生することを抑制することができる。また、イオン発生器68が紫外線を用いて空中イオンを発生させる形態である場合は、紫外線により、スラリー51中にバクテリアが発生することが抑制される。バクテリアの発生を抑制することにより、pHが変化する等のスラリー51の変質を防止し、ガラス基板52に傷が発生することを抑制しながら効率の良いガラス基板51のCMPを続行することが可能となる。
以上詳述した如く、本実施の形態においては、ガラス基板52での傷の発生を抑制しながら効率の良いガラス基板51のCMPを実行することにより、傷のない高品質なマスクブランクスを効率的に製造することが可能となる。製造されたマスクブランクスを用いて、欠陥のない高品質なEUV露光用のフォトマスクを製造することが可能となる。なお、本発明に係るスラリーは、マスクブランクスの製造に限らず、一般的なガラスの研磨に使用することも可能である。例えば、ガラス製レンズを研磨する際に本発明のスラリーを使用することにより、傷の少ないレンズを作成することが可能となる。
4 砥粒
41 核
42 ポリマー
51 スラリー
52 ガラス基板
61 ターンテーブル
62 研磨パッド
63 保持具
64 ノズル
65 スラリー容器
66 温度制御部
67 電圧印加部
68 イオン発生器

Claims (16)

  1. ガラスを研磨するための砥粒及び液体成分を含有するスラリーを製造する方法において、
    粒径100nm以下の砥粒を製造し、
    製造した砥粒を分散させ、
    分散した状態で砥粒を液体成分に混合すること
    を特徴とするスラリー製造方法。
  2. 分散させた砥粒を該砥粒より柔軟なポリマーで被覆することを特徴とする請求項1に記載のスラリー製造方法。
  3. ガラスを機械的に研磨するための物質を主成分とし、ガラスと化学反応を起こす物質を副成分とした砥粒を製造することを特徴とする請求項1又は2に記載のスラリー製造方法。
  4. 砥粒を液体成分に混合する前に、粒径100nm以下の砥粒を選別することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一つに記載のスラリー製造方法。
  5. pHを7以上に保たせるようにpH調整剤を添加することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一つに記載のスラリー製造方法。
  6. 増粘剤を添加することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一つに記載のスラリー製造方法。
  7. ガラスを研磨するための砥粒及び液体成分を含有するスラリーにおいて、
    粒径100nm超過の砥粒を含んでおらず、
    粒径100nm以下の砥粒を液体成分中に分散させてあること
    を特徴とするスラリー。
  8. 前記砥粒は、核となる部分をより柔軟なポリマーで被覆してあることを特徴とする請求項7に記載のスラリー。
  9. 前記砥粒は、ガラスを機械的に研磨するための物質を主成分とし、ガラスと化学反応を起こす物質を副成分としてあることを特徴とする請求項7又は8に記載のスラリー。
  10. pHを7以上に保ってあることを特徴とする請求項7乃至9のいずれか一つに記載のスラリー。
  11. 増粘剤を添加してあることを特徴とする請求項7乃至10のいずれか一つに記載のスラリー。
  12. 請求項7乃至11のいずれか一つに記載のスラリーを用いてガラスの化学機械研磨を行うことを特徴とする研磨方法。
  13. 前記スラリーの温度を、スラリー周囲の気温よりも高くなるように制御することを特徴とする請求項12に記載の研磨方法。
  14. 前記スラリーに電圧を印加しておき、
    前記電圧と同一極性のイオンを前記スラリーの周囲に供給すること
    を特徴とする請求項12に記載の研磨方法。
  15. 請求項7乃至11のいずれか一つに記載のスラリーを供給する手段と、
    供給された前記スラリーを用いてガラスを研磨する手段と、
    前記スラリーの温度を、スラリー周囲の気温よりも高くなるように制御する手段と
    を備えることを特徴とする研磨装置。
  16. 請求項7乃至11のいずれか一つに記載のスラリーを供給する手段と、
    供給された前記スラリーを用いてガラスを研磨する手段と、
    前記スラリーに電圧を印加する手段と、
    前記電圧と同一極性のイオンを前記スラリーの周囲に供給する手段と
    を備えることを特徴とする研磨装置。
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