JP2011170731A - インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法 - Google Patents

Abstract

【課題】通信路の切断時間をリトライアウトが発生するタイミングに設定することができるインタフェース試験装置を提供する。
【解決手段】スイッチ部１１は、サーバ２とディスク装置３との間に挿入され、サーバ２とディスク装置３との間における通信を可能とする状態又は通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされる。スイッチ制御部１２は、通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に、通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間を、予め定められた増加量だけ増加させる制御をスイッチ部１１に行う。
【選択図】図１

Description

本発明は、インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法に関する。

インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置との間に挿入され、擬似的にインタフェース障害を発生させて、インタフェース障害が発生した場合における送信装置又は受信装置の試験を行う。インタフェース、換言すれば、通信路としては、例えば、ＳＡＴＡ（Serial Advanced Technology Attachment）、ＳＡＳ（Serial Attached SCSI）、ＰＣＩ（Peripheral Component Interconnect）−ｅｘｐｒｅｓｓ、Ｆｉｂｒｅ−Ｃｈａｎｎｅｌ、ＬＡＮ（Local Area Network）等がある。インタフェース障害は、インタフェースに発生した障害であり、例えば通信路の一時的な切断等がある。例えば、インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置とを接続するケーブルやコネクタに電気的なスイッチを挿入することにより、通信路を一時的に切断する。インタフェース障害が発生した場合における試験は、例えば、被試験装置である送信装置における通信のリトライ及びリトライアウトが正常に実行されるかについての試験である。

なお、擬似障害を発生させる擬似障害発生回路を備えた電算機において、擬似障害発生回路に所定時間を計時する機構を設け、擬似障害発生回路が起動されたとき計時機構の出力に基づき、所定時間だけ擬似障害信号を発生させる擬似障害発生回路等が提案されている。

特開昭５８−３９３５１号公報

例えば、インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置との間の通信を切断することにより、例えば送信装置における当該通信のリトライが正常に実行されるかを試験する。リトライは、通信を監視してタイムアウトが発生した場合に実行される。従って、インタフェース障害によりタイムアウトが発生してリトライが実行されるように、通信を切断する必要がある。

また、例えば、インタフェース試験装置は、送信装置と受信装置との間の通信を繰り返し切断することにより、例えば送信装置における当該通信のリトライアウトが正常に発生するかを試験する。リトライアウトは、リトライが予め定められた回数だけ実行されても送信装置が正常動作に復帰できない場合に発生する。従って、インタフェース障害によりリトライ回数分のリトライが実行されてリトライアウトが発生するように、繰り返し通信を切断する必要がある。

本発明は、通信路の切断時間をリトライアウトが発生するタイミングに設定することができるインタフェース試験装置を提供することを目的とする。

開示されるインタフェース試験装置は、スイッチ部と、スイッチ制御部とを含む。スイッチ部は、第１の送受信装置と第２の送受信装置との間に挿入され、第１の送受信装置と第２の送受信装置との間における通信を可能とする状態又は通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされる。スイッチ制御部は、通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に、通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間を、予め定められた増加量だけ増加させる制御をスイッチ部に行う。

開示されるインタフェース試験装置によれば、インタフェース試験の評価者の介入なしで、送受信装置のベンダーに固有のリトライ回数を調査することなく、バグの発生確率の高い処理であるリトライ処理及びリトライアウト処理に関連する切断を再現することができる。

インタフェース試験装置の構成の一例を示す図である。 インタフェース試験の説明図である。 インタフェース試験の説明図である。 インタフェース試験の説明図である。 インタフェース試験の説明図である。 インタフェース試験の説明図である。 インタフェース試験の説明図である。 インタフェース試験処理フローである。

被試験装置におけるインタフェースに関連する不具合は、経験的に、通信のリトライ処理の失敗の場合、リトライアウト後のリカバリー処理の失敗の場合に多く検出される。このため、被試験装置のインタフェース試験においては、擬似的にインタフェース障害を発生させて、通信のリトライ処理、及び、リトライアウト後のリカバリー処理を評価する。

通信についてのリトライ処理およびリトライアウト処理について、例えば、インタフェースにおける断線障害が発生した例を用いて説明する。

例えば、送信装置が受信装置に対してライトコマンドを送信すると、受信装置が送信装置に対してコマンドレスポンスを送信する。コマンドレスポンスを受信した送信装置は、受信装置に対して複数のライトデータを送信する。複数のライトデータを受信した受信装置は、送信装置に対してステータスを送信する。ステータスを受信した送信装置は、受信装置に対してステータスレスポンスを送信する。以上により、送信装置と受信装置との間における通信は、正常に終了する。

しかし、例えば、送信装置が、インタフェースの不具合、例えば一時的な信号の切断により、コマンドレスポンスを受信できない場合がある。

この場合、ライトコマンドを送信した送信装置は、受信装置からのコマンドレスポンスを、予め定められたタイムアウト規定時間まで待つ。タイムアウト規定時間が経過すると、送信装置は、再度、ライトコマンドを送信する。換言すれば、送信装置は、タイムアウトを検出すると、ライトコマンドについてのリトライを実行する。リトライは、失敗した通信、例えばライトコマンドの送信を、再度実行することである。

送信装置は、以上の動作をリトライ回数分を繰り返しても、受信装置からのコマンドレスポンスを受信しなかった場合に、リトライに失敗したとして、リトライアウト処理を実行する。リトライ回数は、１回の通信の失敗につき、当該通信についてのリトライが繰り返される回数である。

ここで、タイムアウト規定時間は、インタフェースの規格において定められている、換言すれば、規格化されている。従って、インタフェース試験の評価者は、インタフェースの規格を調査すれば、予め知ることができる。

しかし、リトライアウトとなるリトライ回数は、規格化されていないために、殆ど全ての場合、予め知ることができない。換言すれば、リトライ回数は、個々の送信装置のベンダーに固有の値であり、公開されていない。これは、受信装置についても同様である。更に、経験的に、種々の事情から、個々の送受信装置毎に、リトライ回数が異なる場合もある。

従って、インタフェース試験の評価者は、個々の被試験装置について、リトライアウトを発生させるリトライ回数を推測してリトライ回数を設定した上で、インタフェース試験を実行することになる。リトライアウトの発生に失敗した場合、インタフェース試験の評価者は、リトライ回数を少しずつ変化させるように、手作業でリトライ回数をインタフェース試験装置に設定することを繰り返す必要がある。このため、個々の被試験装置について、繰り返しリトライ回数を推測し設定することは、インタフェース試験の評価者にとっての負担が非常に大きい。

なお、リトライ回数が判明していれば、（タイムアウト規定時間）×（リトライ回数）の演算により、リトライアウトとなる時間を算出することができる。しかし、前述したように、リトライ回数が不明であるので、リトライアウトとなる時間を算出することはできない。

開示のインタフェース試験装置及びインタフェース試験方法は、通信路の切断時間をインタフェース障害が発生するタイミングに設定することができるインタフェース試験装置及びインタフェース試験方法を提供する。

図１は、インタフェース試験装置の構成の一例を示す図である。

インタフェース試験装置１は、例えば、第１の送受信装置であるサーバ２と、第２の送受信装置であるディスク装置３との間に挿入される。第１の送受信装置は、サーバ２に限られない。第１の送受信装置は、他の送受信装置との間で信号を送受信する装置であれば良く、例えばホストコンピュータ等であって良い。第２の送受信装置は、ディスク装置３に限られない。第２の送受信装置は、他の送受信装置との間で信号を送受信する装置であれば良く、例えばコンピュータ等であって良い。

図１の例において、サーバ２は、例えば、ライトコマンドをディスク装置３に送信する送信装置であり、ディスク装置３からのコマンドレスポンスを受信する受信装置である。また、ディスク装置３は、ライトコマンドを受信する受信装置であり、サーバ２へコマンドレスポンスを送信する送信装置である。

サーバ２とディスク装置３は、通信路５１及び５２により接続される。通信路５１は、サーバ２からディスク装置３へ信号を送信するパスである。通信路５２は、通信路５１とは通信の方向が異なるパスであって、ディスク装置３からサーバ２へ信号を送信するパスである。通信路５１及び５２は、例えば高速のシリアル信号を伝送する伝送路である。

なお、通信路５１及び５２は、インタフェース試験装置１の外部の部分と、インタフェース試験装置１の内部の部分とを含む。インタフェース試験装置１の外部の通信路５１及び５２は、例えば接続ケーブル又は接続コネクタである。インタフェース試験装置１の内部の通信路５１及び５２は、例えばインタフェース試験装置１の内部配線である。

インタフェース試験装置１は、スイッチ部１１と、スイッチ制御部１２と、パラメータ設定部１３とを含む。スイッチ部１１は、電気的なスイッチ１１１及び１１２を含む。スイッチ１１１及び１１２は、インタフェース試験装置１の内部の通信路５１及び５２を構成するインタフェース試験装置１の内部配線に接続される。

スイッチ部１１は、スイッチ制御部１２の制御に従って、サーバ２とディスク装置３との間に挿入される。換言すれば、図１に示すように、通信路５１にスイッチ１１１が挿入され、通信路５２にスイッチ１１２が挿入される。スイッチ１１１及びスイッチ１１２は、例えば、ＭＯＳＦＥＴにより構成されるバススイッチである。スイッチ１１１及びスイッチ１１２のオン及びオフは、スイッチ制御部１２により制御される。

スイッチ部１１は、サーバ２とディスク装置３との間における通信を可能とする状態又は通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされる。通信を可能とする状態は、インタフェース障害が無い状態であり、サーバ２及びディスク装置３が正常動作する状態である。通信を不可能とする状態は、インタフェース障害が有る状態であり、サーバ２及びディスク装置３が正常動作しない状態である。

従って、スイッチ部１１が通信を不可能とする状態である場合に、サーバ２が例えばリトライ処理及びリトライアウト処理を実行する可能性がある。スイッチ部１１が通信を不可能とする状態が継続する時間が、切断時間Ｔｏｆｆである。これに対して、スイッチ部１１が通信を可能とする状態が継続する時間が、通信時間Ｔｏｎである。

一方、パラメータ設定部１３は、初期値格納部１３１と、増加量格納部１３２と、最大値格納部１３３と、通信時間格納部１３４と、テスト回数格納部１３５と、テスト間隔格納部１３６とを含む。初期値格納部１３１は、切断時間Ｔｏｆｆについての予め定められた初期値ｔ０を格納する。増加量格納部１３２は、切断時間Ｔｏｆｆについての予め定められた増加量Δｔを格納する。最大値格納部１３３は、切断時間Ｔｏｆｆについての予め定められた最大値Ｎ・Δｔを格納する。通信時間格納部１３４は、予め定められた通信時間Ｔｏｎを格納する。テスト回数格納部１３５はテスト回数Ｔを格納する。テスト間隔格納部１３６はテスト間隔Ｔ０を格納する。

初期値ｔ０は、被試験装置であるサーバ２が失敗した通信の１回のリトライの実行に要する時間、換言すれば、リトライ時間である。例えば、初期値ｔ０は、サーバ２が、通信を不可能とする状態により、ライトコマンドの送信が正常に行われない場合に、ライトコマンドの送信の１回のリトライの実行に要する時間である。リトライは、失敗した通信を再度実行する動作である。なお、リトライ時間と、リトライのタイムアウト規定時間との関係については、図６を参照して後述する。

増加量Δｔは、被試験装置であるサーバ２が失敗した通信の１回のリトライの実行に要する時間、換言すれば、リトライ時間である。従って、図１のインタフェース試験装置１において、増加量Δｔは、初期値ｔ０と等しい。

テスト回数Ｔは、切断時間Ｔｏｆｆが初期値ｔ０から最大値Ｎ・Δｔに到達するまでを１回のテストとした場合における、当該テストの繰り返しの回数である。テスト回数Ｔは予め定められる。テスト間隔Ｔ０は、先行する１回のテストの終了から次回のテストの開始までの時間である。テスト間隔Ｔ０は予め定められる。

例えば、初期値ｔ０は１ミリ秒（ｍｓ）、増加量Δｔは１ミリ秒、最大値Ｎ・Δｔは２５６ミリ秒である。テスト回数Ｔは、例えば１００回〜１０００回である。テスト間隔Ｔ０は、例えば５ミリ秒〜１０ミリ秒である。なお、これらの数値は、一例であって、個々の被試験装置毎に設定される。

初期値ｔ０、増加量Δｔ、最大値Ｎ・Δｔ、通信時間Ｔｏｎ、テスト回数Ｔ、テスト間隔Ｔ０は、インタフェース試験のパラメータである。インタフェース試験のパラメータは、インタフェース試験の開始に先立って、インタフェース試験の評価者の入力に従って、制御コンピュータ４から、パラメータ設定部１３に格納される。これにより、インタフェース試験の評価者は、最初にインタフェース試験のパラメータをパラメータ設定部１３に設定するのみで、インタフェース試験を実行することができる。

また、増加量Δｔと初期値ｔ０と等しくすることにより、規格化されたリトライ時間を増加の単位として徐々に切断時間Ｔｏｆｆを増加させることができる。換言すれば、リトライアウトを発生した時点の切断時間Ｔｏｆｆをリトライ時間で割ることにより、リトライアウトを発生した時点までに実行されたリトライの回数、換言すれば、リトライ回数を知ることができる。これにより、インタフェース試験の評価者は、インタフェース試験のパラメータを設定した後は、手動による介入をすることなく、インタフェース試験を実行することができる。

スイッチ制御部１２は、パラメータ設定部１３に格納されたパラメータに基づいて、スイッチ部１１における前記通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に、切断時間Ｔｏｆｆを、予め定められた増加量だけ増加させるように、スイッチ部１１を制御する。換言すれば、切断時間Ｔｏｆｆは、スイッチ部１１をオン及びオフを切替える都度に増加させられる。また、スイッチ制御部１２は、パラメータ設定部１３に格納されたパラメータに基づいて、スイッチ部１１における通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態とを交互に切替えるように、スイッチ部１１を制御する。換言すれば、スイッチ制御部１２は、スイッチ部１１のオン及びオフを制御する。

これにより、図１のインタフェース試験装置１において、通信時間Ｔｏｎと切断時間Ｔｏｆｆとが交互に切替えられる。この時、切断時間Ｔｏｆｆは、増加量Δｔを増加の単位として、徐々に増加させられる。一方、通信時間Ｔｏｎは、例えば一定とされる。

このために、スイッチ制御部１２は、タイマ１２１と、時間増加制御部１２２とを含む。タイマ１２１は、インタフェース試験装置１におけるローカルなタイマである。タイマは、スイッチ制御部１２により参照される。

時間増加制御部１２２は、パラメータ設定部１３に格納された初期値ｔ０と、パラメータ設定部１３に格納された増加量Δｔとに基づいて、切断時間Ｔｏｆｆを決定する。時間増加制御部１２２は、切断時間Ｔｏｆｆが予め定められた最大値Ｎ・Δｔに到達した場合に、その後の最初の通信を可能とする状態から通信を不可能とする状態への切替えの際に、切断時間Ｔｏｆｆを初期値ｔ０にする。

これにより、スイッチ制御部１２は、前記通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態との切替えの都度に切断時間Ｔｏｆｆを増加量Δｔだけ増加させた後、通信を不可能とする状態へ切替えるように、スイッチ部１１を制御する。この後、スイッチ制御部１２は、増加させられた切断時間Ｔｏｆｆが経過した場合に、通信を可能とする状態へ切替えるように、スイッチ部１１を制御する。

スイッチ制御部１２は、１回のテストにおいて、切断時間Ｔｏｆｆと通信時間Ｔｏｎとに従って、通信を不可能とする状態と通信時間に従って通信を可能とする状態とを交互に切替えるように、スイッチ部１１を制御する。スイッチ制御部１２は、切断時間Ｔｏｆｆが予め定められた最大値Ｎ・Δｔに到達した場合に、１回のテストを終了する。スイッチ制御部１２は、１回のテストの終了の後に、テスト間隔Ｔ０を挟んで、次回のテストを行う。この時、切断時間Ｔｏｆｆは初期値ｔ０とされる。スイッチ制御部１２は、１回のテストを繰り返しの単位として、テスト回数分のテストを実行する。

ここで、図１のインタフェース試験装置１においては、サーバ２とディスク装置３との間における通信を不可能とする状態は、スイッチ１１２をオフとすることにより実現されるものとする。スイッチ１１２をオフとすることにより、コマンドレスポンスの通過する通信路５２が切断される。これを、図２において、通信路５２に×印を付して示す。なお、スイッチ１１２により切断される信号は、ライトコマンドのコマンドレスポンス、又は、種々のコマンドに対するコマンドレスポンスに限られない。

換言すれば、スイッチ部１１は、送信装置であるサーバ２に対する受信装置であるディスク装置３からの応答を切断することにより、サーバ２とディスク装置３との間における通信を不可能とする状態とされる。なお、スイッチ１１２により切断される信号は、応答に限られず、ディスク装置３からサーバ２へ送信される信号であれば良い。

このために、実際には、スイッチ制御情報が、当該パラメータと共に、制御コンピュータ４により、パラメータ設定部１３に格納される。スイッチ制御情報は、インタフェース試験のパラメータがスイッチ１１１又はスイッチ１１２のいずれについての制御パラメータであるかを示す。図１のインタフェース試験装置１においては、スイッチ１１２を制御するためのパラメータであることを示すスイッチ制御情報が、パラメータ設定部１３に格納される。

なお、サーバ２とディスク装置３との間における通信を不可能とする状態は、スイッチ１１１をオフとすることにより実現されるようにしても良い。換言すれば、スイッチ部１１は、送信装置であるサーバ２からの通信を切断することにより、サーバ２とディスク装置３との間における通信を不可能とする状態にするようにしても良い。なお、スイッチ１１１により切断される信号は、ライトコマンド、又は、種々のコマンドに限られない。

また、サーバ２とディスク装置３との間における通信を不可能とする状態は、物理的にスイッチ１１１又は１１２を切断する以外の手段により実現するようにしても良い。例えば、通信路５１又は５２を論理的に切断するようにしても良い。又は、通信路５１又は５２により、サーバ２とディスク装置３との間で正常な信号の送受信が行われないようにしても良い。

以上のように、通信を不可能とする状態、換言すれば、通信の切断とは、被試験装置が通信を正常に終了することができない状態を生じる状態であれば良く、その原因は問われない。被試験装置は、通信を不可能とする状態を生じた原因を意識することは無い。被試験装置が通信を正常に終了することができない結果、被試験装置は、当該切断された通信を再度実行する。換言すれば、当該通信についてのリトライを実行する。

図２は、インタフェース試験の説明図であり、主として、被試験装置であるサーバ２の構成の一例を示す。

サーバ２は、送受信部２１と、エラー発生検出部２２と、エラー処理部２３と、エラー出力格納部２４とを含む。エラー処理部２３は、リトライ処理部２３１と、正常動作復帰部２３２と、リトライアウト処理部２３３と、エラー報告処理部２３４とを含む。ディスク装置３は、送受信部３１を含む。

サーバ２の送受信部２１は、通信路５１を介して、ディスク装置３の送受信部３１に予め定められた信号を送信する。この信号は、前述したように、例えば、ライトコマンドである。送受信部２１は、通信路５２を介して、送受信部３１から予め定められた信号を受信する。この信号は、前述したように、例えばコマンドレスポンスである。

エラー発生検出部２２は、送受信部２１を監視し、信号の送受信におけるエラーを検出する。例えば、エラー発生検出部２２は、送受信部２１が信号、例えばライトコマンドを送信すると、送受信部２１が送受信部３１からの応答信号、例えばコマンドレスポンスの受信を、タイムアウト規定時間まで待つ。タイムアウト規定時間が経過すると、エラー発生検出部２２は、エラー発生の検出を、エラー処理部２３に通知する。なお、前述したように、タイムアウト規定時間は、規格化されている。

エラー発生の検出が通知された場合、エラー処理部２３において、リトライ処理部２３１が、送受信部２１に監視対象であるライトコマンドのリトライを指示する。エラー発生検出部２２は、リトライ、換言すれば、ライトコマンドの再度の送信も、前述と同様に、監視する。

このリトライにより送受信部２１がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信すると、例えば、エラー発生検出部２２は、コマンドレスポンスの受信を、エラー処理部２３に通知する。コマンドレスポンスの受信が通知された場合、エラー処理部２３において、リトライ処理部２３１は、正常動作復帰部２３２に、正常動作に復帰するための処理、換言すれば、リカバリー処理の実行を指示する。これに応じて、正常動作復帰部２３２はリカバリー処理を実行する。

一方、前記リトライによっても送受信部２１がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信しない場合、リトライ処理部２３１は、リトライ回数分だけリトライを繰り返して実行する。リトライを繰り返す間に送受信部２１がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信すると、前述したように、正常動作復帰部２３２がリカバリー処理を実行する。なお、前述したように、リトライ回数は予め知ることはできない。

リトライをリトライ回数分だけ繰り返しても送受信部２１がタイムアウト規定時間内にコマンドレスポンスを受信しない場合、リトライ処理部２３１は、リトライアウトであると判断して、リトライアウト処理部２３３に、リトライアウト処理の実行を指示する。これに応じて、リトライアウト処理部２３３はリトライアウト処理を実行する。これにより、例えばリトライアウトである旨の出力がサーバ２の表示出力装置に表示出力される。また、リトライアウト処理部２３３からの指示に従って、エラー報告処理部２３４が、エラー出力格納部２４にエラー情報を格納する。エラー情報は、例えば、リトライアウトが発生したこと、リトライアウトを発生するまでに実行されたリトライの回数、リトライアウトの時点におけるログ等を含む。インタフェース試験の評価者は、エラー出力格納部２４のエラー情報を読み出すことにより、リトライアウトが発生した時のリトライ回数やログを得ることができる。

以下、図３〜図７を参照して、図１のインタフェース試験装置１による、図２のサーバ２についてのインタフェース試験について説明する。

図３は、インタフェース試験の説明図であり、特に、インタフェース試験装置１による、サーバ２とディスク装置３との間における通信の状態の切換えについて示す。なお、図３の場合、スイッチ部１１において、通信路５２を構成するスイッチ１１２がオフとされるものとする。

図３（Ａ）は、ディスク装置３からのスイッチ部１１への入力を模式的に表す。換言すれば、図３（Ａ）は、ディスク装置３がサーバ２への信号を正常に出力している状態を示す。従って、ディスク装置３の出力する信号は、インタフェース試験装置１には、正常に到達する。

しかし、前述したように、スイッチ部１１は、サーバ２とディスク装置３との間における通信を可能とする状態と通信を不可能とする状態とを交互に切替える。これに応じて、スイッチ部１１の出力は、図３（Ｂ）に示すように変化する。

図３（Ｂ）は、スイッチ部１１からサーバ２への出力を模式的に表す。換言すれば、図３（Ｂ）は、サーバ２がディスク装置３からの信号を正常に受信する場合と正常に受信しない場合が交互に繰り返される状態を示す。

例えば、スイッチ部１１が通信を可能とする状態、換言すれば、ＯＮである場合、スイッチ部１１からサーバ２への出力は、図３（Ａ）に示されるディスク装置３からのスイッチ部１１への入力と等しくなる。これにより、ディスク装置３の出力する信号は、サーバ２に正常に到達する。

この後、スイッチ部１１は、スイッチ制御部１２により、スイッチ部１１が通信を不可能とする状態、換言すれば、ＯＦＦに切替えられる。この場合、スイッチ部１１からサーバ２への出力は、ディスク装置３からのスイッチ部１１への入力が存在するにも拘らず、
存在しない。これにより、ディスク装置３の出力する信号は、サーバ２に正常に到達しない。換言すれば、サーバ２とディスク装置３との間における通信が切断される。通信が切断される期間が切断時間である。

図４は、インタフェース試験の説明図であり、特に、インタフェース試験における通信の切断について示す。

スイッチ制御部１２は、前述したように、パラメータ設定部１３に設定されたパラメータに従って、スイッチ部１１をオン又はオフする。なお、図４の場合、前述したように、スイッチ部１１において、通信路５２を構成するスイッチ１１２がオフとされるものとする。

具体的には、スイッチ制御部１２は、テスト間隔Ｔ０で、同一のテストを、テスト回数Ｔの分だけ繰り返す。従って、テスト＃１〜テスト＃Ｔが実行される。テスト間隔Ｔ０において、スイッチ部１１は、例えばオンとされる。なお、テスト間隔Ｔ０において、スイッチ部１１をオフとするようにしても良い。

１回のテストにおいて、通信時間Ｔｏｎと、切断時間Ｔｏｆｆとが交互に繰り返される。通信時間Ｔｏｎは、スイッチ部１１がオンとされることにより、サーバ２とディスク装置３との間の通信が可能とされる時間である。切断時間Ｔｏｆｆは、スイッチ部１１がオフとされることにより、サーバ２とディスク装置３との間の通信が不可能とされる時間である。

通信時間Ｔｏｎは、例えば一定とされる。換言すれば、Ｔｏｎ（１）＝Ｔｏｎ（２）＝・・・Ｔｏｎ（Ｎ＋１）である。ここで、例えば、Ｔｏｎ（１）は１回目の通信時間である。

これに対して、切断時間Ｔｏｆｆは、１回のテストにおいて、スイッチ部１１のオン及びオフの切替えの都度に、最大値Ｎ・Δｔに達するまで、増加量Δｔだけ増加される。切断時間Ｔｏｆｆの初期値は、初期値ｔ０とされる。従って、１回目の切断時間Ｔｏｆｆ（１）はｔ０であり、２回目の切断時間Ｔｏｆｆ（２）はｔ０＋Δｔである。

実際には、増加量Δｔと初期値ｔ０とは、等しい値とされる。従って、切断時間Ｔｏｆｆの最大値Ｎ・Δｔはｔ０＋(Ｎ−１)Δｔである。例えば、Ｎは２５６であり、Δｔ＝ｔ０は１ミリ秒である。

増加量Δｔ及び初期値ｔ０は、サーバ２のリトライ時間に基づいて定まる時間である。概略的に言えば、増加量Δｔ及び初期値ｔ０は、サーバ２のリトライ時間にほぼ等しい。しかし、当該時間内に１回のリトライが完了できることが要求される。従って、厳密には、増加量Δｔ及び初期値ｔ０は、サーバ２のリトライ時間より、やや長い時間である。

一方、例えばＮが２５６である場合、例えば、最大値２５６・Δｔは、その時間内において、２５６回のリトライが実行できるが、２５７回は実行できない値であることが要求される。従って、厳密には、増加量Δｔ又は初期値ｔ０と、サーバ２のリトライ時間との差分Ｓは、リトライ時間を、Ｎ＝２５６で割った値よりも小さい時間である。なお、差分Ｓの値は、Ｎの値が２５６以外の値である場合には、Ｎの値に応じて変化する。

図５は、インタフェース試験の説明図であり、特に、通信路５１及び５２が正常である結果、サーバ２とディスク装置３との間における通信が正常である場合について示す。

サーバ２は、通信路５１を介して、ディスク装置３に対してライトコマンドを送信する。ライトコマンドを受信したディスク装置３は、通信路５２を介して、サーバ２に対してコマンドレスポンスを送信する。

コマンドレスポンスを受信したサーバ２は、通信路５１を介して、ディスク装置３に対して複数のライトデータを送信する。複数のライトデータを受信したディスク装置３は、通信路５２を介して、サーバ２に対してステータスを送信する。

ステータスを受信したサーバ２は、通信路５１を介して、ディスク装置３に対してステータスレスポンスを送信する。以上により、サーバ２とディスク装置３との間における通信は、正常に終了する。

図６は、インタフェース試験の説明図であり、特に、通信路５１及び５２が正常でない結果、サーバ２とディスク装置３との間における通信が正常でない場合について示す。この場合、前述したように、スイッチ部１１において、通信路５２を構成するスイッチ１１２がオフとされるものとする。

サーバ２は、通信路５１を介して、ディスク装置３に対して１回目のライトコマンド＃１を送信する。ライトコマンド＃１を受信したディスク装置３は、通信路５２を介して、サーバ２に対して１回目のコマンドレスポンス＃１を送信する。サーバ２は、ライトコマンド＃１の送信の後、ライトコマンド＃１に対するコマンドレスポンス＃１の受信についての時間監視＃１の処理を実行する。

しかし、前述したように、通信路５２を構成するスイッチ１１２がオフであるので、サーバ２は、ライトコマンド＃１に対するコマンドレスポンス＃１を受信することができない。このため、サーバ２は、コマンドレスポンス＃１についてのタイムアウト規定時間の経過、換言すれば、時間監視＃１の処理のタイムアウトを検出する。なお、タイムアウト規定時間は、いずれの時間監視においても同一である。

ここで、図６から判るように、リトライ時間は、例えばリトライのタイムアウト規定時間、換言すれば、時間監視＃１の処理のタイムアウトを検出する時間であり、前述したように、規格化される。

なお、リトライ時間を、例えばリトライのタイムアウト規定時間に、予め定められたマージン、例えばリトライによるライトコマンドを送信するための時間を加えた時間としても良い。このように、リトライ時間それ自体が、リトライのタイムアウト規定時間にマージンを加えた時間である場合には、増加量Δｔ及び初期値ｔ０は、サーバ２のリトライ時間と等しい値であって良い。

タイムアウトを検出したサーバ２は、ライトコマンドの送信をリトライする。これにより、リトライ回数、換言すれば、ライトコマンドの送信の回数は、２回となる。具体的には、サーバ２は、ディスク装置３に対して２回目のライトコマンド＃２を送信し、２回目のコマンドレスポンス＃２の受信についての時間監視＃２の処理を実行する。しかし、通信路５２を構成するスイッチ１１２がオフであるので、サーバ２は、ライトコマンド＃２に対するコマンドレスポンス＃２を受信することができない。このため、サーバ２は、コマンドレスポンス＃２についての時間監視＃２の処理のタイムアウトを検出する。

同様に、サーバ２は、ライトコマンドの送信をリトライする。これにより、リトライ回数は、３回となる。具体的には、サーバ２は、ディスク装置３に対して３回目のライトコマンド＃３を送信し、３回目のコマンドレスポンス＃３の受信についての時間監視＃３の処理を実行する。しかし、前述したように、サーバ２は、コマンドレスポンス＃３を受信することができない。このため、サーバ２は、コマンドレスポンス＃３についての時間監視＃３の処理のタイムアウトを検出する。

この後、例えば、後述する図７のように、リトライ回数が５回と定められている場合において、サーバ２が５回目のライトコマンドを送信したにも拘らず、コマンドレスポンスについての時間監視の処理のタイムアウトを検出する。この場合、サーバ２は、リトライアウト処理を実行する。

一方、例えば、後述する図７のように、リトライ回数が５回と定められている場合において、サーバ２が、５回目のライトコマンドを送信した後に、コマンドレスポンスを受信する。この場合、サーバ２は、リカバリー処理を実行する。

図７は、インタフェース試験の説明図であり、特に、通信のリトライとリトライアウトについて示す。

なお、前述したように、初期値ｔ０は１ミリ秒（ｍｓ）、増加量Δｔは１ミリ秒、最大値Ｎ・Δｔは２５６ミリ秒、テスト回数Ｔは１００回、テスト間隔Ｔ０は１０ミリ秒であるとする。

図７（Ａ）において、最初に、インタフェース試験装置１のスイッチ制御部１２により、スイッチ部１１が、サーバ２とディスク装置３との間での通信が可能な状態とされる。換言すれば、スイッチ１１２がオンとされる。

この状態で、サーバ２とディスク装置３が、図５に示すように、通信を実行する。換言すれば、ライトコマンド、コマンドレスポンス、複数のライトデータ、ステータス、ステータスレスポンスの送受信が実行される。ステータスレスポンスを受信したサーバ２が再度ライトコマンドを送信する。これにより、サーバ２とディスク装置３は、図５に示す通信を繰り返す。

図５に示す通信の繰り返しにおいて、ディスク装置３があるライトコマンドを受信した後でかつコマンドレスポンスを送信する前のタイミングにおいて、通信時間Ｔｏｎが経過したとする。これに応じて、スイッチ制御部１２により、スイッチ部１１が、サーバ２とディスク装置３との間での通信が不可能な状態とされる。換言すれば、スイッチ１１２がオフとされる。最初の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値ｔ０である１ミリ秒（ｍｓ）である。

この結果、サーバ２は、ライトコマンドを送信したにも拘らず、コマンドレスポンスを受信することができない。そこで、サーバ２は、ライトコマンドの送信についてリトライする。

前述したように、切断の時間はリトライ時間よりやや長い。換言すれば、サーバ２が１回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオフであるが、その直後にスイッチ１１２がオンとされ、サーバ２が２回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオンである。従って、サーバ２は、１回目のリトライによっては正常動作に復帰できないが、２回目のリトライによって正常動作に復帰する。

これにより、テスト結果としては、１回目の切断時間ＯＦＦ＃１において１回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Ｔｏｎにおいて、２回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ２は正常動作に復帰する。このテスト結果は記録されないが、エラー出力格納部２４とは別に正常出力格納部を設けて、これに格納するようにしても良い。

次に、正常動作に復帰したサーバ２は、ディスク装置３との間で、図５に示す通信を繰り返す。更に、この通信の繰り返しにおいて、ディスク装置３があるライトコマンドを受信した後でかつコマンドレスポンスを送信する前のタイミングにおいて、通信時間Ｔｏｎが経過したとする。これに応じて、スイッチ１１２がオフとされる。２回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値ｔ０にΔｔを加算した２ミリ秒（ｍｓ）である。

サーバ２は、コマンドレスポンスを受信することができないので、ライトコマンドの送信についてリトライする。この場合、サーバ２が２回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオフであるが、その直後にスイッチ１１２がオンとされ、サーバ２が３回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオンである。従って、サーバ２は、３回目のリトライによって正常動作に復帰する。テスト結果としては、２回目の切断時間ＯＦＦ＃２において２回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Ｔｏｎにおいて、３回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ２は正常動作に復帰する。

次に、正常動作に復帰したサーバ２が図５に示す通信を繰り返す過程で、２回目の通信の切断と同様に通信時間Ｔｏｎが経過して、スイッチ１１２がオフとされる。３回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値ｔ０に２Δｔを加算した３ミリ秒（ｍｓ）である。この場合、サーバ２が３回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオフであるが、サーバ２が４回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオンである。従って、サーバ２は、４回目のリトライによって正常動作に復帰する。テスト結果としては、３回目の切断時間ＯＦＦ＃３において３回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Ｔｏｎにおいて、４回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ２は正常動作に復帰する。

次に、正常動作に復帰したサーバ２が図５に示す通信を繰り返す過程で、２回目の通信の切断と同様に通信時間Ｔｏｎが経過して、スイッチ１１２がオフとされる。４回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値ｔ０に３Δｔを加算した４ミリ秒（ｍｓ）である。この場合、サーバ２が４回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオフであるが、サーバ２が５回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオンである。従って、サーバ２は、５回目のリトライによって正常動作に復帰する。テスト結果としては、４回目の切断時間ＯＦＦ＃４において４回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰せず、その後の通信時間Ｔｏｎにおいて、５回目のリトライによりリカバリー処理が実行されて、サーバ２は正常動作に復帰する。

次に、正常動作に復帰したサーバ２が図５に示す通信を繰り返す過程で、２回目の通信の切断と同様に通信時間Ｔｏｎが経過して、スイッチ１１２がオフとされる。５回目の通信の切断であるので、切断の時間は、初期値ｔ０に４Δｔを加算した５ミリ秒（ｍｓ）である。この場合、サーバ２が５回目のリトライを実行した時点ではスイッチ１１２はオフである。従って、５回目の切断時間ＯＦＦ＃５において５回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰しない。

ここで、サーバ２のリトライ回数が５回と定められているとする。このリトライ回数は、前述したように、規格化されていないので、知ることができない。

リトライ回数の規定に従って、サーバ２は、６回目のリトライを実行せず、リカバリー処理も実行しない。従って、サーバ２は、正常動作に復帰しない。これに代えて、サーバ２は、リトライアウト処理を実行する。

これにより、テスト結果としては、５回目の切断時間ＯＦＦ＃５において５回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰せず、その後、リトライアウト処理が実行される。このテスト結果は、エラー出力格納部２４に出力される。更に、６回目以降の切断時間ＯＦＦ＃６・・においても、同様に、５回のリトライが実行されるがサーバ２は正常動作に復帰せず、リトライアウト処理が実行されたことを示すテスト結果が得られる。

以上により、例えばテスト回数Ｔ＝１００であるテストについて、切断時間ＯＦＦ＃１〜切断時間ＯＦＦ＃４についてのリトライアウト処理の記録は連続して存在しないが、切断時間ＯＦＦ＃５〜切断時間ＯＦＦ＃１００についてのリトライアウト処理の記録が連続して存在するという記録が、エラー出力格納部２４に得られる。これが正しいエラー情報である。

この結果、被試験装置であるサーバ２のリトライ回数が５回であることを知ることができる。また、被試験装置であるサーバ２は、５回のリトライを正常に実行し、４回のリカバリー処理を正常に実行したことを知ることができる。

ここで、サーバ２及びディスク装置３の動作は、インタフェース試験装置１の動作とは非同期である。換言すれば、ライトコマンド及びそのコマンドレスポンスの送信されるタイミングと、スイッチ部１１による通信路５１及び５２の切断のタイミングとは、相互に独立とされる。これにより、インタフェース試験の評価者は、最初にインタフェース試験のパラメータをパラメータ設定部１３に設定するのみで、その後は手動による介入をすることなく、インタフェース試験を実行することができる。

しかし、実際には、図７（Ａ）において説明したように、ディスク装置３があるライトコマンドを受信した後でかつコマンドレスポンスを送信する前のタイミングにおいて、通信時間Ｔｏｎが経過してスイッチ１１２がオフするとは限らない。また、その時の切断の時間が初期値ｔ０＝１ミリ秒（ｍｓ）であるとは限らない。

そこで、スイッチ制御部１２は、図７（Ｂ）に示すように、テスト間隔Ｔ０を経過した後、同様のテストを繰り返すことにより、図４に示すテスト＃１〜＃Ｔを実行する。これにより、テスト＃１〜＃Ｔのいずれかにおいて、図７(Ａ)に示す状態となることが、高い確率で期待できる。

例えば、Ａ回目のテスト＃Ａにおいて、図７(Ａ)に示す状態となったとする。この場合、テスト＃Ａにおいて得られエラー出力格納部２４に格納されたエラー情報は、切断時間ＯＦＦ＃１〜切断時間ＯＦＦ＃４についてのリトライアウト処理の記録は連続して存在せず、かつ、５回目の切断時間ＯＦＦ＃５において５回のリトライが実行され、その後、リトライアウト処理が実行されたこと、及び、６回目以降の切断時間ＯＦＦ＃６・・においても、同様にリトライアウト処理が実行されたことを示す。これが、前述したように、正しいエラー情報、換言すれば、図７(Ａ)に示す状態になった場合のエラー情報である。これにより、インタフェース試験の評価者は、Ａ回目のテスト＃Ａにおいて、図７(Ａ)に示す状態となり、リトライ回数は５回であることを知ることができる。

図８は、インタフェース試験装置が実行するインタフェース試験処理フローである。

インタフェース試験の開始に先立って、制御コンピュータ４が、インタフェース試験装置１のパラメータ設定部１３に、初期値ｔ０、増加量Δｔ、最大値Ｎ・Δｔ、通信時間Ｔｏｎ、テスト回数Ｔ、テスト間隔Ｔ０を格納する。

これに応じて、スイッチ制御部１２は、パラメータ設定部１３から、初期値ｔ０、増加量Δｔ、最大値Ｎ・Δｔ、通信時間Ｔｏｎ、テスト回数Ｔ、テスト間隔Ｔ０を読み込み（ステップＳ１）、保持する。

この後、スイッチ制御部１２は、スイッチ部１１において、通信路５１を構成するスイッチ１１１及び通信路５２構成するスイッチ１１２をオンとする（ステップＳ２）。これにより、通信路５１及び５２を介しての通信が可能な状態とされる。また、スイッチ制御部１２は、通信時間Ｔｏｎの経過を監視する。

一方、サーバ２は、図５及び図６に示すように、ディスク装置３との間での通信を開始する。これにより、サーバ２とディスク装置３との間における通信は、図５に示すように実行される。

この後、スイッチ制御部１２は、テスト回数に「１」を設定し、テスト間隔Ｔ０の経過の監視を開始する（ステップＳ３）。

テスト間隔Ｔ０が経過した場合、スイッチ制御部１２は、切断時間Ｔｏｆｆに初期値ｔ０を設定し、通信時間Ｔｏｎの経過の監視を開始する（ステップＳ４）。

通信時間Ｔｏｎが経過した場合、スイッチ制御部１２は、サーバ２とディスク装置３との間の通信を切断し、切断時間Ｔｏｆｆの経過の監視を開始する（ステップＳ５）。具体的には、スイッチ制御部１２は、サーバ２とディスク装置３との間の通信の切断のために、スイッチ制御部１２は、通信路５２を構成するスイッチ１１２をオフとする。

これにより、サーバ２とディスク装置３との間において、図６に示すように、ディスク装置３からのサーバ２へのコマンドレスポンスが切断される。この結果、サーバ２は、コマンドレスポンスを受信することができないので、ライトコマンドの送信についてリトライする。

更に、この場合において、切断時間Ｔｏｆｆが（リトライ時間）×（リトライ回数）よりも長い場合、サーバ２は、リトライをリトライ回数分だけ繰り返してもコマンドレスポンスを受信することができない。そこで、サーバは、リトライアウトであると判断して、リトライアウト処理を実行して、エラー情報をエラー出力格納部２４に格納する。

切断時間Ｔｏｆｆが経過した場合、スイッチ制御部１２は、ステップＳ５において切断した通信路５２を復旧し、通信時間Ｔｏｎの経過の監視を開始する（ステップＳ６）。具体的には、スイッチ制御部１２は、サーバ２とディスク装置３との間の通信の復旧のために、スイッチ制御部１２は、通信路５２を構成するスイッチ１１２をオンとする。

これにより、サーバ２は、図５に示すように、ディスク装置３からのコマンドレスポンスを受信する。この結果、サーバ２は正常動作に復帰する。

この後、スイッチ制御部１２は、現時点での切断時間Ｔｏｆｆが最大値Ｎ・Δｔか否かを判断する（ステップＳ７）。切断時間Ｔｏｆｆが最大値Ｎ・Δｔでない場合（ステップＳ７ Ｎｏ）、スイッチ制御部１２は、現時点での切断時間Ｔｏｆｆに増加量Δｔを加えた値を新たな切断時間Ｔｏｆｆとした上で（ステップＳ８）、ステップＳ５を繰り返す。これにより、切断時間Ｔｏｆｆは、スイッチ部１１において通信を可能とする状態と前記通信を不可能とする状態との切替えの都度に、増加量Δｔづつ増加する。なお、切断時間Ｔｏｆｆを増加させるタイミングは、変更可能である。

切断時間Ｔｏｆｆが最大値Ｎ・Δｔである場合（ステップＳ７ Ｙｅｓ）、スイッチ制御部１２は、テスト回数がテスト回数Ｔであるか否かを判断する（ステップＳ９）。テスト回数がテスト回数Ｔでない場合（ステップＳ９ Ｎｏ）、スイッチ制御部１２は、現時点でのテスト回数に「＋１」を加えた値を新たなテスト回数とし、通信時間Ｔｏｎが経過した後にテスト間隔Ｔ０の経過の監視を開始し（ステップＳ１０）、ステップＳ４を繰り返す。

前述したように、テスト回数Ｔ分だけのテストを繰り返しても、正しいエラー情報が得られるとは限らない。この場合、例えば、最大値についてのＮの値を２５６から１０２４に変更し、テスト回数Ｔを１００から１０００に変更して、インタフェース試験を繰り返す。この場合でも、インタフェース試験の評価者の負担は、最初にインタフェース試験のパラメータを設定し、次にパラメータを変更するのみで済む。

１ インタフェース試験装置
２ サーバ
３ ディスク装置
１１ スイッチ部
１２ スイッチ制御部
１３ パラメータ設定部
１２１ タイマ
１２２ 時間増加制御部
１３１ 初期値格納部
１３２ 増加量格納部
１３３ 最大値格納部
１３４ 通信時間格納部
１３５ テスト回数格納部
１３６ テスト間隔格納部

Claims (8)

1. 第１の送受信装置と第２の送受信装置との間に挿入され、前記第１の送受信装置と前記第２の送受信装置との間における通信を可能とする状態又は前記通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされるスイッチ部と、
   前記通信を可能とする状態と前記通信を不可能とする状態との切替えの都度に、前記通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間を、予め定められた増加量だけ増加させる制御を前記スイッチ部に行うスイッチ制御部とを含む
   ことを特徴とするインタフェース試験装置。
2. 当該インタフェース試験装置は、更に、
   前記切断時間についての予め定められた初期値と前記増加量とを格納するパラメータ設定部を含み、
   前記スイッチ制御部は、前記パラメータ設定部に格納された前記初期値と前記増加量とに基づいて、前記切断時間を決定する
   ことを特徴とする請求項１に記載のインタフェース試験装置。
3. 前記スイッチ制御部は、前記切断時間が予め定められた最大値に到達した場合に、その後の最初の前記通信を可能とする状態から前記通信を不可能とする状態への切替えの際に、前記切断時間を前記初期値にする
   ことを特徴とする請求項２に記載のインタフェース試験装置。
4. 前記初期値は、前記通信を不可能とする状態により、前記第１の送受信装置が前記通信が正常に行われない場合に前記通信を再度実行する動作である、リトライの１回の実行に要する時間である
   ことを特徴とする請求項２に記載のインタフェース試験装置。
5. 前記増加量は、前記リトライの実行に要する時間である
   ことを特徴とする請求項４に記載のインタフェース試験装置。
6. 前記スイッチ部は、前記第１の送受信装置からの通信を切断することにより、前記第１の送受信装置と前記第２の送受信装置との間における前記通信を不可能とする状態とされる
   ことを特徴とする請求項１に記載のインタフェース試験装置。
7. 前記スイッチ部は、前記第２の送受信装置からの前記第１の送受信装置に対する応答を切断することにより、前記第１の送受信装置と前記第２の送受信装置との間における前記通信を不可能とする状態とされる
   ことを特徴とする請求項１に記載のインタフェース試験装置。
8. 第１の送受信装置と第２の送受信装置との間に挿入され、前記第１の送受信装置と前記第２の送受信装置との間における通信を可能とする状態又は前記通信を不可能とする状態のいずれかの状態とされるスイッチ部と、前記スイッチ部を制御するスイッチ制御部とを含むインタフェース試験装置によるインタフェース試験方法であって、
   前記スイッチ制御部が、前記通信を可能とする状態と前記通信を不可能とする状態との切替えの都度に、前記通信を不可能とする状態が継続する時間である切断時間を、予め定められた増加量だけ増加させるステップと、
   前記スイッチ制御部が、前記通信を不可能とする状態へ切替えるように、前記スイッチ部を制御するステップと、
   前記スイッチ制御部が、増加させられた前記切断時間が経過した場合に、前記通信を可能とする状態へ切替えるように、前記スイッチ部を制御するステップとを含む
   ことを特徴とするインタフェース試験方法。

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