JP2014192763A - 伝送路試験装置および伝送路試験方法 - Google Patents
伝送路試験装置および伝送路試験方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】伝送路試験装置は、第一の伝送路と第二の伝送路とを用いて冗長化された経路の通信を遮断する遮断時間を複数設定する。そして、伝送路試験装置は、第一の伝送路と第二の伝送路の各々について、それぞれに対応する回転式スイッチの回転速度等を調整して、設定された各遮断時間分、冗長化された経路の通信を遮断する。その後、伝送路試験装置は、冗長化された経路の通信を遮断した各遮断時間において経路切替が発生したか否かを検出し、検出結果に基づいてLED等を表示させる。
【選択図】図2
Description
図1は、実施例1に係るシステムの全体構成例を示す図である。図1に示すように、このシステムは、サーバ1と入出力装置5と伝送路試験装置10とがLAN(Local Area Network)ケーブル等により接続され、サーバ1と入出力装置5との間の伝送路についてRAS試験を実行するシステムである。
次に、図1に示した伝送路試験装置の構成について説明する。なお、サーバ1は一般的なサーバと同様の構成を有し、入出力装置についても一般的な入出力装置なので、ここでは、伝送路試験装置について説明する。図2は、実施例1に係る伝送路試験装置の構成を示すブロック図である。
続いて、第1回転式スイッチ11および第2回転式スイッチ12の動作について説明する。第1回転式スイッチ11および第2回転式スイッチ12は同様の動作を実行するので、ここでは回転式スイッチ20として説明する。
次に、伝送路試験装置を用いた処理について説明する。ここでは、全体的な処理の流れ、瞬断試験の流れ、マージン試験の流れについて説明する。
図6は、実施例1に係る伝送路試験の全体的な処理の流れを示すフローチャートである。図6に示すように、サーバ1側にてPing等による疎通試験が実施された後(S101)、伝送路試験装置10は、回転制御をリセットする(S102)。なお、サーバ1側による疎通試験で異常が発生した場合、処理を終了することもできる。
図7は、実施例1に係る伝送路試験装置が実行する瞬断試験の流れを示すフローチャートである。ここで実行される処理は、図6に示したS104、S107、S110に対応する。
図8は、実施例1に係る伝送路試験装置が実行するマージン試験の流れを示すフローチャートである。図8では、まず運用系経路について実行し、次に待機系経路について実行する例で説明する。
このように、伝送路試験装置10は、回転式スイッチを利用することで、自動的に正常な信号に対して規格内から規格外の瞬断パルス幅を連続発生させることができ2系統あるラインの切り替え試験、瞬断マージン試験を簡易的に実施できる。
伝送路試験装置10は、同じ遮断時間を繰り返して発生させて試験することもできる。例えば、伝送路試験装置10は、400msの遮断を定期的に5回発生させた後に、750msの遮断を定期的に5回発生させ、その後に800msの遮断を定期的に5回発生させて、各遮断時間においてRAS試験を実行することもできる。
上記実施例では、遮断制御を実行する例をとして、回転式スイッチを用いる例を説明したが、これに限定されるものではない。例えば、伝送路試験装置10は、信号送出回路等を用いることもできる。信号送出回路としては、LANケーブルで受信した信号を終端させて設定された遮断時間経過後に、当該信号を入出力装置5へ送信する回路などが挙げられる。
上記実施例では、LANケーブルを用いたRAS試験を例に説明したが、これに限定されるものではない。例えば、ファイバケーブルを用いた光通信であっても、同様に処理することができる。この場合、良否判定回路17は、運用系経路または待機系経路の光レベルを監視することで、通信の遮断や経路切替の発生を検出することができる。
また、本実施例において説明した各処理のうち、自動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を手動的におこなうこともできる。あるいは、手動的におこなわれるものとして説明した処理の全部または一部を公知の方法で自動的におこなうこともできる。この他、上記文書中や図面中で示した処理手順、制御手順、具体的名称、各種のデータやパラメータを含む情報については、特記する場合を除いて任意に変更することができる。
11 第1回転式スイッチ
12 第2回転式スイッチ
13 第1モータ
14 第2モータ
15 モータ駆動回路
16 モータ制御回路
17 良否判定回路
17a PHYチップ
17b コントローラチップ
17c タイマ監視回路
17d 判定回路
18 結果出力回路
19 結果表示LED
Claims (4)
- 第一の伝送路と第二の伝送路とを用いて冗長化された経路の通信を遮断する遮断時間を複数設定する設定部と、
前記設定部によって設定された各遮断時間分、前記冗長化された経路の通信を遮断する遮断制御部と、
前記遮断制御部が前記冗長化された経路の通信を遮断した各遮断時間において経路切替が発生したか否かを検出する検出部と
を有することを特徴とする伝送路試験装置。 - 前記遮断制御部は、前記設定された遮断時間ごとに、前記冗長化された経路の通信を所定回数繰り返して遮断し、
前記検出部は、前記設定された遮断時間ごとの各回について前記経路切替が発生したか否かを検出することを特徴とする請求項1に記載の伝送路試験装置。 - 前記遮断制御部は、一方の伝送路について前記設定された遮断時間分遮断させ、前記経路切替が発生した場合に、切り替わった他方の伝送路について前記設定された遮断時間分遮断させるように、各伝送路の通信を交互に遮断させることを特徴とする請求項1または2に記載の伝送路試験装置。
- コンピュータが、
第一の伝送路と第二の伝送路とを用いて冗長化された経路の通信を遮断する遮断時間を複数設定し、
設定した各遮断時間分、前記冗長化された経路の通信を遮断し、
前記冗長化された経路の通信を遮断した各遮断時間において経路切替が発生したか否かを検出する
処理を含んだことを特徴とする伝送路試験方法。
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JP2013067600A JP6015521B2 (ja) | 2013-03-27 | 2013-03-27 | 伝送路試験装置および伝送路試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2013067600A JP6015521B2 (ja) | 2013-03-27 | 2013-03-27 | 伝送路試験装置および伝送路試験方法 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2014192763A true JP2014192763A (ja) | 2014-10-06 |
JP6015521B2 JP6015521B2 (ja) | 2016-10-26 |
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Family Applications (1)
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02128180A (ja) * | 1988-11-07 | 1990-05-16 | Nec Corp | Ac入力の瞬断耐力測定装置 |
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JP2011170731A (ja) * | 2010-02-22 | 2011-09-01 | Fujitsu Ltd | インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法 |
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2013
- 2013-03-27 JP JP2013067600A patent/JP6015521B2/ja active Active
Patent Citations (4)
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JP2011170731A (ja) * | 2010-02-22 | 2011-09-01 | Fujitsu Ltd | インタフェース試験装置及びインタフェース試験方法 |
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JP6015521B2 (ja) | 2016-10-26 |
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