JP2011165932A - 裏面撮像テーブルユニット - Google Patents

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【課題】分割加工したウエーハ裏面の欠けを検出可能な裏面撮像テーブルユニットを提供する。
【解決手段】環状フレームに装着されたダイシングテープ上のウエーハを保持するチャックテーブルを搭載したチャックテーブルベースをX軸方向に加工送りする手段と、ウエーハを分割加工する手段と、前記環状フレームをチャックテーブルに搬送する手段とを備えた分割加工装置のための、分割加工ウエーハの裏面撮像テーブルユニットであって、前記チャックテーブルベースに装着される撮像テーブルベース上の一対のガイドレールに案内されてX軸方向に相対移動可能で、かつ中央部にウエーハが載置される透明保持部100を有する撮像テーブル96と、該透明保持部上に載置されたウエーハの裏面を撮像する撮像機構とを具備し、該撮像機構は撮像用カメラ88と、該撮像用カメラをX軸方向と直交するY軸方向に移動するカメラ移動手段とを含む。
【選択図】図6

Description

本発明は、分割加工された半導体ウエーハ等のウエーハの裏面を撮像する裏面撮像テーブルユニットに関する。
半導体デバイス製造プロセスでは、半導体ウエーハの表面にストリートと呼ばれる分割予定ラインによって格子状に区画された各領域に半導体デバイスが形成され、半導体ウエーハを個々のデバイスに分割することで、IC、LSI等の半導体デバイスを製造している。
この分割工程では、ダイシングソーによるダイシング加工や、レーザーソーと呼ばれるレーザによるグルービング又はウエーハ内部に変質層を形成して割断するレーザ加工が用いられている。これらの加工方法において最も重要となるのが、加工によって生じるチッピングと呼ばれる微細な欠けや切削位置の変動(蛇行等)が半導体デバイスに及んでいるか否かである。
特開平4−99607号公報 特開2006−156809号公報
例えば、ダイシング加工は破砕加工による切断であるため、チッピングが生じることを完全には防止することができない。そのため、多少のチッピングが発生することを考慮の上ストリートの幅や切削ブレードの太さを調整しているが、ストリートや半導体デバイスが形成されていないウエーハの裏面側にも、表面側に発生するより更に大きな欠け(チッピング)が発生する。
ウエーハの裏面側には半導体デバイスが形成されていないとはいえ、大きなチッピングは大きな切削屑を発生させる一因となり、切削屑はダイシング後の工程で半導体デバイス上面に落下したりして問題となる。
また、チッピングの大きさや数が増えれば分割された半導体デバイスのチップの強度低下に直結する。そこで、裏面に発生する微細な欠けもできるだけ小さく押さえたいという要求が常に存在する。
また、大量のウエーハを分割して半導体デバイスを製造する過程では、一度決定された加工条件であっても定期的に仕上がりをチェックし、安定した加工が続いているか否かを確認する必要がある。
レーザーソーによる加工においても、何らかの不具合による加工位置の誤り等が発生しないとは言いかねない為、確認作業は必要である。そのため、従来から加工中のウエーハの上面側の欠けを確認する方法がいくつか提案され、実際に使用されている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、加工したウエーハの裏面側の欠けを検出し、加工条件等を変更可能な加工装置は現在までのところ提案されていない。
本発明はこのような点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、分割加工装置のチャックテーブルベースに搭載して分割加工したウエーハの裏面側の欠けを検出可能な裏面撮像テーブルユニットを提供することである。
本発明によると、環状フレームに装着されたダイシングテープに貼着されたウエーハを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルが搭載されるチャックテーブルベースと、該チャックテーブルベースをX軸方向に加工送りする加工送り手段と、該チャックテーブルに保持されたウエーハを分割加工する加工手段と、該環状フレームを保持してウエーハを該チャックテーブルに搬送する搬送手段と、を備えた分割加工装置の該チャックテーブルベースに搭載されて分割加工されたウエーハの裏面を撮像する裏面撮像テーブルユニットであって、該チャックテーブルを取り外した前記チャックテーブルベースに装着され、X軸方向に伸張する一対のガイドレールを有する撮像テーブルベースと、該一対のガイドレールに案内されてX軸方向に相対移動可能に該撮像テーブルベースに搭載され、中央部にウエーハが載置される透明載置部を有する撮像テーブルと、該透明載置部上に載置されたウエーハの裏面を撮像する該撮像テーブルベースに取り付けられた撮像機構とを具備し、該撮像機構は撮像用カメラと、該撮像用カメラをX軸方向と直交するY軸方向に移動するカメラ移動手段とを含むことを特徴とする裏面撮像テーブルユニットが提供される。
好ましくは、前記チャックテーブルベースが前記加工送り手段によりX軸方向に移動されるとき、前記撮像テーブルは該撮像テーブル上に載置された前記環状フレームを介して前記搬送手段によってX軸方向及びY軸方向に直交するZ軸方向に押圧されることで静止され、該撮像テーブルベースが該撮像テーブルに対してX軸方向に相対移動することで前記撮像用カメラをX軸方向の任意の位置に移動させる。
好ましくは、裏面撮像テーブルユニットを分割加工装置の前記チャックテーブルベース上に載置する際は、前記撮像テーブルベースの前記ガイドレールをX軸方向と平行に位置づけて載置する。
本発明によると、従来はウエーハの保持手段として利用していたチャックテーブルと本発明の裏面撮像テーブルユニットとを交換することで、従来であれば大掛かりな改造や機構の追加が必要となるところを容易に切削装置内に裏面撮像機構を設けることができる。
このため、切削装置に限らず、ウエーハを保持するチャックテーブルとウエーハを搬送する搬送手段を備えた装置であれば、容易にチャックテーブルを本発明の裏面撮像テーブルユニットに変更可能である。
例えば、特許文献2に開示されたような一つの装置内に二つのチャックテーブルを備えた装置においては、片方のチャックテーブルを本発明の裏面撮像テーブルユニットに交換することで、ウエーハの分割加工と裏面観察を平行して実施することができる。
本発明の裏面撮像テーブルユニットが搭載可能な切削装置の斜視図である。 切削装置の平面図である。 切削装置の一部断面側面図である。 ダイシングテープを介して環状フレームに支持された半導体ウエーハの斜視図である。 一方のチャックテーブルを本発明の裏面撮像テーブルユニットに交換した状態の切削装置の斜視図である。 本発明実施形態に係る裏面撮像テーブルユニットの分解斜視図である。 図7(A)は撮像テーブルベースをチャックテーブルベースに装着する様子を示す斜視図、図7(B)は撮像テーブルベースをチャックテーブルベースに装着する様子を示す一部断面側面図である。 チャックテーブルベース上に裏面撮像テーブルベースを搭載した状態のX軸方向から見た断面側面図である。 チャックテーブルベース上に裏面撮像テーブルベースを搭載した状態のY軸方向から見た一部断面側面図である。
以下、本発明の実施形態を図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の裏面撮像テーブルユニットが搭載可能な切削装置2の斜視図を示している。図2はその平面図であり、図3はその一部断面側面図である。
切削装置2は、静止基台4上に搭載されたX軸方向に伸長する二対のガイドレール6,6aを含んでいる。8は第1X軸移動ブロックであり、第1X軸移動ブロック8はボールねじ10及びパルスモータ12とから構成される第1X軸送り機構14により加工送り方向、即ちX軸方向に移動される。
第1X軸移動ブロック8上には円筒状支持部材(チャックテーブルベース)16を介して第1チャックテーブル18が搭載されている。19はクランパである。円筒状支持部材16中には第1チャックテーブル18を回転するモータが収容されている。第1チャックテーブル18はチャックテーブルベース16に取り外し可能に搭載されている。
特に図示しないが、第1チャックテーブル18は多孔性セラミックス等から形成された吸着部と、吸着部を囲繞するSUS等の金属から形成された枠体を有している。吸着部の吸着面(保持面)と枠体の上面とは面一に形成されている。20は防水カバーである。
8aは第2X軸移動ブロックであり、第2X軸移動ブロック8aはボール螺子10a及びパルスモータ12aとから構成される第2X軸送り機構14aにより加工送り方向、即ちX軸方向に移動される。
第2X軸移動ブロック8a上には円筒状支持部材(チャックテーブルベース)16aを介して第2チャックテーブル18aが搭載されている。19aはクランパである。円筒状支持部材16a中には第2チャックテーブル18aを回転するモータが収容されている。第2チャックテーブル18aはチャックテーブルベース16aに取り外し可能に搭載されている。
第1チャックテーブル18と同様に第2チャックテーブル18aは多孔性セラミックス等から形成された吸着部と、吸着部を囲繞するSUS等の金属から形成された枠体を有している。吸着部の吸着面(保持面)と枠体の上面とは面一に形成されている。20aは防水カバーである。
静止基台4上には門型コラム22が立設されている。門型コラム22の前側にはY軸方向に伸長する一対のガイドレール24が固定されている。第1Y軸移動ブロック26が、ボールねじ28及びパルスモータ30から構成される第1Y軸送り機構32によりY軸方向に移動される。
第1Y軸移動ブロック26にはZ軸方向に伸長する一対のガイドレール34が形成されている。一体となった第1撮像手段42及び第1レーザ照射手段44が、ボールねじ36とパルスモータ38とから構成される第1Z軸送り機構40によりZ軸方向に移動される。
一対のガイドレール24に沿って、第2Y軸移動ブロック26aが、ボールねじ28a及びパルスモータ30aから構成される第2Y軸送り機構32aによりY軸方向に移動される。
第2Y軸移動ブロック26aにはZ軸方向に伸長する一対のガイドレール34aが形成されている。一体となった第2撮像手段42a及び第2レーザ照射手段44aが、ボールねじ36aとパルスモータ38aとから構成される第2Z軸送り機構40aによりZ軸方向に移動される。
図3に示すように、門型コラム22の背面側にもY軸方向に伸長する一対のガイドレール48が形成されている。第3Y軸移動ブロック46が、ボールねじ50及びパルスモータとから構成される第3Y軸送り機構(割り出し送り機構)54によりY軸方向に移動される。
第3Y軸移動ブロック46の背面には特に図示しないが一対のガイドレールが形成されており、第1Z軸移動ブロック56が、ボールねじ58とパルスモータ60とから構成される第3Z軸送り機構62によりZ軸方向に移動される。
図3に示すように、第1切削ユニット64が第1Z軸移動ブロック56と一体に形成されており、第1切削ユニット64はY軸方向及びZ軸方向に移動可能である。第1切削ユニット64は、図示しないモータにより回転駆動されるスピンドル66と、スピンドル66の先端部に装着された第1切削ブレード68を含んでいる。
門型コラム22の背面側に形成された一対のガイドレール48に沿って、第4Y軸移動ブロック46aが、ボールねじ及びパルスモータ52aとから構成される第4Y軸送り機構(割り出し送り機構)54aによりY軸方向に移動される。
第4Y軸移動ブロック46aの背面には特に図示しないが一対のガイドレールが形成されており、第2Z軸移動ブロック56aが、ボールねじとパルスモータ60aとから構成される第4Z軸移動機構62aによりZ軸方向に移動される。
第1切削ユニット64と同様な第2切削ユニットが、第2Z軸移動ブロック56aと一体に形成されており、第2切削ユニットはY軸方向及びZ軸方向に移動可能である。第2切削ユニットは、モータにより回転駆動されるスピンドルと、スピンドルの先端部に装着された第2切削ブレードとを含んでいる。パルスモータ12,12a,30,30a,60,60aは図3に示す制御手段70に接続されており、制御手段70により制御される。
本実施形態の切削装置2では、第1チャックテーブル18と第2チャックテーブル18aが、それぞれ独立してX軸方向に移動される。また、一体となった第1撮像手段及び第1レーザ照射手段44と、第1切削ユニット64とが、それぞれ独立してY軸方向及びZ軸方向に移動される。更に、一体となった第2撮像手段42a及び第2レーザ照射手段44aと、第2切削ユニットとが、それぞれ独立してY軸方向及びZ軸方向に移動される。
特に図示しないが、第1撮像手段42及び第2撮像手段42aは対物レンズを有する顕微鏡と、顕微鏡の拡大像を撮像するCCDカメラをそれぞれ含んでいる。顕微鏡は高倍率と低倍率との間で切替可能に制御される。
図1を参照すると、51は図4に示されたウエーハWを収容するカセットであり、カセット51内に複数のウエーハWが収容されている。静止基台4上には門型フレーム53が立設されている。
この門型フレーム53の前面にはガイドレール55が取り付けられており、ガイドレール55に沿ってウエーハ搬送手段57がY軸方向に移動可能に取り付けられている。59は切削加工の終了したウエーハWを洗浄するスピンナ洗浄装置である。
図4に示すように、切削装置2の加工対象である半導体ウエーハWの表面においては、第1のストリートS1と第2のストリートS2とが直交して形成されており、第1のストリートS1と第2のストリートS2とによって区画された領域にそれぞれデバイスDが形成されている。
ウエーハWは粘着テープであるダイシングテープTに貼着され、ダイシングテープTの外周部は環状フレームFに貼着されている。これにより、ウエーハWはダイシングテープTを介して環状フレームFに支持された状態となり、この状態で第1チャックテーブル18または第2チャックテーブル18aに吸引保持される。
図5を参照すると、第1チャックテーブル18をチャックテーブルベース16から取り外して、チャックテーブルベース16に本発明実施形態に係る裏面撮像テーブルユニット80を搭載した状態の切削装置2の斜視図が示されている。
裏面撮像テーブルユニット80は、図6に示すように撮像テーブルベース82と、撮像テーブルベース82に対してX軸方向に相対移動可能に搭載される撮像テーブル96とを含んでいる。
撮像テーブルベース82は一対のガイドレール84を有しており、更に図7(A)及び図7(B)に示すように、その裏面にチャックテーブルベース16の外径よりも僅かばかり内径が大きい円筒状嵌合部85を有している。図7(A)に示すように、撮像テーブルベース82は一対のガイドレール84がX軸方向に平行に伸長するように位置づけられてチャックテーブルベース16に搭載される。
図6を再び参照すると、撮像テーブルベース82には、撮像機構86が搭載されている。撮像機構86は、撮像用カメラ88と、撮像用カメラ88を支持する支持部材90と、支持部材90内に収容された図示しないナットに螺合するボールねじ92と、ボールねじ92の一端に連結されたパルスモータ94とから構成される。ボールねじ92とパルスモータ94によりY軸移動機構95を構成する。
撮像テーブル96はその下面に、撮像テーブルベース82のガイドレール84が嵌合する嵌合溝98を有する一対の部材97が固定されている。撮像テーブル96はその中央部にウエーハWが搭載されるガラス、又はポリカーボネート等の透明樹脂から形成された透明載置部100を有している。
このように構成された裏面撮像テーブルユニット80を図5に示すようにチャックテーブルベース16に搭載するには、まずチャックテーブルベース16から第1チャックテーブル18を取り外す。
そして、図7(A)及び図7(B)に示すように、撮像テーブルベース82の一対のガイドレール84をX軸方向と平行となるように位置づけて、円筒状嵌合部85をチャックテーブルベース16に嵌合することにより、撮像テーブルベース82をチャックテーブルベース16に搭載する。尚、図7では撮像機構86は省略されている。
撮像テーブルベース82のガイドレール84をX軸方向と平行となるように位置づけて、撮像テーブルベース82をチャックテーブルベース16に搭載したならば、嵌合溝98を撮像テーブルベース82のガイドレール84に嵌合させて撮像テーブル96を撮像テーブルベース82にスライド可能に搭載する。
以下、図5に示すようにチャックテーブルベース16に撮像テーブルユニット80が搭載された切削装置2の作用について説明する。カセット51中に収容されたウエーハWは搬送手段57によりカセット51中から取り出されて、第2チャックテーブル18a上に載置される。
次いで、第1撮像手段42又は第2撮像手段42aの何れかを使用して、ウエーハWの切削すべき領域を撮像して、よく知られたパターンマッチング等の方法により切削すべきストリートを検出するアライメントを実施する。
アライメント実施後、第1切削ユニット64の第1切削ブレード68又は第2切削ユニットの第2切削ブレードを使用して、第2チャックテーブル18aに吸引保持されたウエーハWのストリートS1,S2を切削して、ウエーハWを個々のデバイスDに分割する。切削終了後のウエーハWは、搬送手段57によりスピンナ洗浄装置59に搬送されて、スピンナ洗浄装置59により洗浄及び乾燥される。
洗浄終了後のウエーハWは、搬送手段57により撮像テーブルユニット80に搬送されて、透明載置部100上に載置される。この時、ウエーハWはダイシングテープTを介して透明載置部100上に載置されるが、環状フレームFは透明載置部100の外周側の撮像テーブル96から所定距離浮いた状態となる。
個々のデバイスDに分割されたウエーハWの裏面を撮像するには、図8及び図9に示すように、搬送手段57を下方(Z軸方向)に移動して、搬送手段57の吸着パッド61により環状フレームFを介してウエーハWを撮像テーブル96を押圧する。
このように撮像テーブル96が搬送手段57により押圧された状態で、第1X軸送り機構14のパルスモータ12を駆動すると、図9に示すように撮像テーブル96が静止した状態で撮像テーブルベース82をX軸方向に移動することができ、撮像テーブルベース82に搭載された撮像用カメラ86をX軸方向の任意の位置に移動することができる。
Y軸方向については、Y軸移動機構95のパルスモータ94を駆動することにより、図8に示すように撮像用カメラ86をY軸方向に移動して、Y軸方向の任意の位置に位置づけることができる。
このように撮像用カメラ86をX軸方向及びY軸方向に移動して、撮像用カメラ86により透明載置部100を介して個々のデバイスDに分割されたウエーハWの裏面を撮像し、ウエーハWの裏面のチッピングの有無や加工位置が所定位置にあるか否かを切削装置2内で直ちに確認できる。
また、第2チャックテーブル18aとチャックテーブルベース16に搭載された裏面撮像テーブルユニット80を備えているため、切削ブレードによるウエーハWのダイシングと裏面撮像テーブルユニット80による裏面チッピングの観察とを平行して行うことができる。
分割加工直後のウエーハWを裏面撮像テーブルユニット100で直ちに撮像して、もし裏面チッピングが規定以上の大きさだった場合等には、現在切削中のウエーハWの切削を中止するか、或いは加工条件の変更等の対応をとることができるため、不良となる半導体デバイスDの製造を最小限に抑えることができる。
更に、本実施形態の切削装置2は、二つの切削ユニットを備えているので、各切削ユニットでそれぞれ異なる厚さの切削ブレードを装着して切削加工するステップカットを行うことができ、高性能、高品質が要求される半導体デバイスを製造することができる。
尚、上述した実施形態では、本発明の裏面撮像テーブルユニットを切削装置のチャックテーブルベースに搭載した例について説明したが、本発明の裏面撮像テーブルユニットが搭載可能な分割加工装置は切削装置に限定されるものではなく、レーザによるグルービング又はウエーハ内部に変質層を形成してウエーハを割断するレーザ加工装置も含むものである。
2 切削装置
14 第1X軸送り機構
14a 第2X軸送り機構
16 チャックテーブルベース
18 第1チャックテーブル
18a 第2チャックテーブル
32 第1Y軸送り機構
32a 第2Y軸送り機構
42 第1撮像手段
42a 第2撮像手段
54 第3Y軸送り機構
54a 第4Y軸送り機構
57 搬送手段
62 第1Z軸送り機構
62a 第2Z軸送り機構
64 第1切削ユニット
68 第1切削ブレード
80 撮像テーブルユニット
82 撮像テーブルベース
86 撮像機構
88 撮像用カメラ
96 撮像テーブル
100 透明保持部

Claims (3)

  1. 環状フレームに装着されたダイシングテープに貼着されたウエーハを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルが搭載されるチャックテーブルベースと、該チャックテーブルベースをX軸方向に加工送りする加工送り手段と、該チャックテーブルに保持されたウエーハを分割加工する加工手段と、該環状フレームを保持してウエーハを該チャックテーブルに搬送する搬送手段と、を備えた分割加工装置の該チャックテーブルベースに搭載されて分割加工されたウエーハの裏面を撮像する裏面撮像テーブルユニットであって、
    該チャックテーブルを取り外した前記チャックテーブルベースに装着され、X軸方向に伸張する一対のガイドレールを有する撮像テーブルベースと、
    該一対のガイドレールに案内されてX軸方向に相対移動可能に該撮像テーブルベースに搭載され、中央部にウエーハが載置される透明載置部を有する撮像テーブルと、
    該透明載置部上に載置されたウエーハの裏面を撮像する該撮像テーブルベースに取り付けられた撮像機構とを具備し、
    該撮像機構は撮像用カメラと、該撮像用カメラをX軸方向と直交するY軸方向に移動するカメラ移動手段とを含むことを特徴とする裏面撮像テーブルユニット。
  2. 前記チャックテーブルベースが前記加工送り手段によりX軸方向に移動されるとき、前記撮像テーブルは該撮像テーブル上に載置された前記環状フレームを介して前記搬送手段によってX軸方向及びY軸方向に直交するZ軸方向に押圧されることで静止され、該撮像テーブルベースが該撮像テーブルに対してX軸方向に相対移動することで前記撮像用カメラをX軸方向の任意の位置に移動させることを特徴とする請求項1記載の裏面撮像テーブルユニット。
  3. 裏面撮像テーブルユニットを分割加工装置の前記チャックテーブルベース上に載置する際は、前記撮像テーブルベースの前記ガイドレールをX軸方向と平行に位置づけて載置することを特徴とする請求項1又は2記載の裏面撮像テーブルユニット。
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