JP2011163984A5 - - Google Patents
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マイクロチップCは、注入部1、主流路2、分岐流路3、ウェル4及び終端部5を形成した基板層c2に基板層c1、c 3を貼り合わせて構成されている。マイクロチップCでは、注入部1等が形成された基板層c2と基板層c3の貼り合わせを大気圧に対して負圧下で行うことにより、注入部1、主流路2、分岐流路3、ウェル4及び終端部5の内部が、大気圧に対して負圧(例えば1/100気圧)となるように気密に封止されている。さらに、基板層c2と基板層c3の貼り合わせは真空下で行い、注入部1等の内部が真空となるように気密に封止することがより好ましい。
基板層c1〜c3の貼り合わせは、例えば、熱融着、接着剤、陽極接合、粘着シートを用いた接合、プラズマ活性化結合、超音波接合等の公知の手法により行うことができる。
基板層c1〜c3の貼り合わせは、例えば、熱融着、接着剤、陽極接合、粘着シートを用いた接合、プラズマ活性化結合、超音波接合等の公知の手法により行うことができる。
これを防止するため、マイクロチップCは、自己封止性を備える基板層c2に、ガス不透過性を備える基板層c1、c 3を貼り合わせて、3層構造とされていることを特徴とする。
基板層c1、c 3のガス不透過性を備える材料としては、ガラスやプラスチック類、金属類、セラミック類などが採用できる。
プラスチック類としては、PMMA(ポリメチルメタアクリレート:アクリル樹脂)、PC(ポリカーボネート)、PS(ポリスチレン)、PP(ポリプロピレン)、PE(ポリエチレン)、PET(ポリエチレンテレフタレート)、ジエチレングリコールビスアリルカーボネート、SAN樹脂(スチレン−アクリロニトリル共重合体)、MS樹脂(MMA−スチレン共重合体)、TPX(ポリ(4−メチルペンテン−1))、ポリオレフィン、SiMA(シロキサニルメタクリレートモノマー)−MMA共重合体、SiMA−フッ素含有モノマー共重合体、シリコーンマクロマー(A)−HFBuMA(ヘプタフルオロブチルメタクリレート)−MMA3元共重合体、ジ置換ポリアセチレン系ポリマー等が挙げられる。
金属類としては、アルミニウム、銅、ステンレス(SUS)、ケイ素、チタン、タングステン等が挙げられる。
セラミック類としては、アルミナ(Al2O3)、窒化アルミ(AlN)、炭化ケイ素(SiC)、酸化チタン(TiO2)、酸化ジルコニア(ZrO2)、石英等があげられる。
ウェル4内に導入された物質の分析を光学的に行う場合には、基板層c1〜c3の材質は、光透過性を有し、自家蛍光が少なく、波長分散が小さいために光学誤差の少ない材料を選択することが好ましい。
プラスチック類としては、PMMA(ポリメチルメタアクリレート:アクリル樹脂)、PC(ポリカーボネート)、PS(ポリスチレン)、PP(ポリプロピレン)、PE(ポリエチレン)、PET(ポリエチレンテレフタレート)、ジエチレングリコールビスアリルカーボネート、SAN樹脂(スチレン−アクリロニトリル共重合体)、MS樹脂(MMA−スチレン共重合体)、TPX(ポリ(4−メチルペンテン−1))、ポリオレフィン、SiMA(シロキサニルメタクリレートモノマー)−MMA共重合体、SiMA−フッ素含有モノマー共重合体、シリコーンマクロマー(A)−HFBuMA(ヘプタフルオロブチルメタクリレート)−MMA3元共重合体、ジ置換ポリアセチレン系ポリマー等が挙げられる。
金属類としては、アルミニウム、銅、ステンレス(SUS)、ケイ素、チタン、タングステン等が挙げられる。
セラミック類としては、アルミナ(Al2O3)、窒化アルミ(AlN)、炭化ケイ素(SiC)、酸化チタン(TiO2)、酸化ジルコニア(ZrO2)、石英等があげられる。
ウェル4内に導入された物質の分析を光学的に行う場合には、基板層c1〜c3の材質は、光透過性を有し、自家蛍光が少なく、波長分散が小さいために光学誤差の少ない材料を選択することが好ましい。
Claims (8)
- 溶液が導入される領域が、内部を大気圧に対して負圧とされて基板に配設され、
前記基板は、弾性変形による自己封止性を備える基板層と、該自己封止性を備える基板層の両面に積層されたガス不透過性を備える基板層と、を含んで構成されたマイクロチップ。 - 外部から前記溶液が穿刺注入される注入領域と、
溶液に含まれる物質あるいは該物質の反応生成物の分析場となる複数のウェルと、
一端において注入領域に連通し、かつ、各ウェルに分岐して接続する一本の流路と、が設けられ、
注入領域、ウェル、及び流路の内部が大気圧に対して負圧とされた請求項1記載のマイクロチップ。 - 前記注入領域は、前記弾性変形による自己封止性を備える基板層を含んで構成された請求項2記載のマイクロチップ。
- 前記ガス不透過性を備える基板層に、外部から前記溶液を前記注入領域へ穿刺注入するための穿刺孔が設けられた請求項2又は3記載のマイクロチップ。
- 前記弾性変形による自己封止性を備える基板層が、シリコーン系エラストマー、アクリル系エラストマー、ウレタン系エラストマー、フッ素系エラストマー、スチレン系エラストマー、エポキシ系エラストマー及び天然ゴムからなる群より選択される一の材料とされた請求項1〜4のいずれか1項記載のマイクロチップ。
- ガス不透過性を備える基板層が、ガラス、プラスチック類、金属類及びセラミック類からなる群より選択される一の材料とされた請求項1〜5のいずれか1項記載のマイクロチップ。
- 前記弾性変形による自己封止性を備える基板層が、ポリジメチルシロキサンからなり、
前記ガス不透過性を備える基板層が、プラスチック類からなる請求項1〜6のいずれか1項記載のマイクロチップ。 - 弾性変形による自己封止性を備える基板層の両面に、ガス不透過性を備える基板層を大気圧に対して負圧下で貼り合わせて、溶液が導入される領域が形成された基板を構成し、前記領域を気密に封止する手順を含むマイクロチップの製造方法。
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