JP2011143308A - 放射線撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ＦＰＤと、Ｘ線グリッドとの離間距離を調節することによって、影の配列ピッチと、検出素子の配列ピッチとを確実に整数倍とすることで、吸収箔の影を十分に除去できる放射線撮影装置を提供する。
【解決手段】本発明の構成によれば、ＦＰＤの筐体３ｃとＸ線グリッド５の離間距離を調節するシム２６を備えている。本発明の構成の構成によれば、ＦＰＤの筐体３ｃとＸ線グリッド５の離間距離を調節するので、放射線検出面に投影される吸収体の影の大きさを好適なものとすることができる。しかも、本発明に係るＦＰＤの筐体３ｃとＸ線グリッド５との離間距離との調節は、放射線検出面と吸収体を基準に行われる。したがって、ＦＰＤの筐体３ｃと、放射線検出面の相対的な位置が厳密なものとなっていなかったとしても、放射線検出面に対する吸収体の相対的な位置は、常に精密に調整されることが保障される。
【選択図】図１０

Description

本発明は、放射線透視画像を取得する放射線撮影装置に関し、特に、散乱放射線を吸収する放射線グリッドを備えた放射線撮影装置に関する。

放射線撮影装置には、放射線源からコーン状の放射線ビームを被検体に向けて照射し、被検体を透過した透過放射線をフラットパネル・ディテクタ（以下、ＦＰＤと略記）で検出する構成となっているものがある。この様な放射線撮影装置において、ＦＰＤの放射線検出面を覆うように放射線グリッドが付設され、散乱放射線を吸収させるようになっている。

従来の放射線グリッドの構成について説明する。図１１（ａ）に示すように、従来の放射線グリッド５０は、放射線を吸収しやすい吸収箔５１を有し、それが略平行に配列されている。

ところで、ＦＰＤ５３は、多数の半導体タイプの検出素子ｅがマトリクス状に配列された放射線検出面５３ａを有している。この様なＦＰＤ５３は、配列された各々の検出素子ｅにより被検体Ｍを透過した放射線を離散的にサンプリングすることにより放射線透視画像を構成する。一方、放射線グリッド５０は、ブラインド状に配列された複数の吸収箔５１を有する。コーン状の放射線ビームがこの放射線グリッド５０を透過すると、放射線グリッド５０の有する吸収箔５１の各々について筋状の影が生じる。この影を放射線グリッド５０全体で見れば、ストライプ状である影の配列パターンとなっており、それが放射線グリッド５０の下方に配置された放射線検出面５３ａに写り込む。この影の配列パターンは、ＦＰＤ５３を構成する検出素子ｅによって離散的にサンプリングされることになるが、検出素子ｅの各々に写る影の本数は、ＦＰＤ５３全体で一定とはならない。検出素子ｅの配列ピッチと影の配列ピッチが一致していないためである。こうして、影の多数が映りこんだ細長状の暗部領域と、より少数の影が映りこんだ細長状の明部領域とが交互に並んだ干渉縞が放射線透視画像に出現する。このように、ＦＰＤ５３が有する検出素子ｅの配列パターンと放射線グリッド５０による影の配列パターンとが干渉してモアレが生じ放射線透視画像に写り込む。

この様なモアレは放射線透視画像の診断に邪魔である。このモアレを生じさせないようにするには、吸収箔５１の配列ピッチを検出素子ｅの配列ピッチの整数倍とし、吸収箔５１の影が検出素子ｅの中心に来るように、ＦＰＤ５３に対する放射線グリッド５０の相対位置を調節すればよい。具体的には、吸収箔５１の延伸方向と、検出素子ｅの配列方向が一致するように放射線グリッド５０をＦＰＤ５３に対して回転させればよい（例えば、特許文献１参照）。

特開２００６−２８８４６５号公報

しかしながら、従来の放射線グリッドには次のような問題がある。
すなわち、従来の放射線グリッド５０は、ＦＰＤ５３の筐体５３ｂに当接されているが筐体５３ｂと、放射線検出面５３ａの相対的な位置を決定しているのは、筐体５３ｂの内部に設けられた支持板６０，支持板６０と放射線検出面５３ａとを連絡するピン６１，および、放射線検出面５３ａとＦＰＤの筐体５３ｂとの隙間を埋める緩衝材６２など多数である。したがって、放射線検出面５３ａとＦＰＤ５３の筐体５３ｂとの相対位置を高精度とするのは、困難なのである。つまり、放射線検出面５３ａと、放射線グリッド５０との離間距離ｄは各部材の累積誤差を含んでしまう。従来の放射線撮影装置は、この累積誤差を無視した構成となっている。

しかも、放射線ビームは、単一の点源を有するコーン状であるので、離間距離ｄが例えば当初の設定よりも長いと、ＦＰＤ５３に写りこむ放射線グリッド５０の影は、当初の設定よりも拡大されてしまう。すると、これに伴って、影の配列ピッチも拡大されてしまう。結果として、影の配列ピッチと検出素子ｅの配列ピッチとが整数倍とならない現象が生じる。

すると、図１１（ｂ）に示すように、吸収箔５１の厚さ方向（ｙ方向）について、吸収箔５１の影が検出素子配列Ａに跨ってしまう。この様な状態で放射線透視画像Ｈを取得すると、図１１（ｃ）に示すように、２列の画素配列Ｂに吸収箔５１の影が分配されて、放射線透視画像Ｈに２画素分の幅に広がった暗線Ｄが写りこんでしまう。しかも、暗線Ｄを構成する各列における吸収箔５１の影ｓの分配率は、ＦＰＤ５３のｘ方向の位置によって変化して一定ではないので、２画素分の幅に広がった暗線Ｄを画像補正などで除去することは困難である。したがって、吸収箔５１の影ｓが十分に除去されていない放射線透視画像Ｈしか得られない。

本発明は、この様な事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、ＦＰＤと、放射線グリッドとの離間距離を調節することによって、影の配列ピッチと、検出素子の配列ピッチとを確実に整数倍とすることで、吸収箔の影を十分に除去できる放射線撮影装置を提供することにある。

本発明は、この様な目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、コーン状の放射線ビームを照射する放射線源と、放射線ビームを検出する検出素子が第１方向、および第２方向に２次元的に配列されて構成された放射線検出面を有する放射線検出手段と、散乱放射線を吸収する吸収体を有するとともに、放射線検出面を覆うように配置された放射線グリッドとを備えた放射線撮影装置において、放射線検出面と吸収体との離間距離を調節する調節手段を備えていることを特徴とするものである。

［作用・効果］本発明によれば、放射線検出手段と放射線グリッドの離間距離を調節する構成となっている。コーン状の放射線ビームが放射線検出手段の放射線検出面に投影する吸収体の影は、この離間距離に依存して拡大・縮小するが、本発明の構成によれば、放射線検出手段と放射線グリッドの離間距離を調節するので、放射線検出面に投影される吸収体の影の大きさを好適なものとすることができる。

しかも、この離間距離の調節は、放射線検出手段の放射線検出面と放射線グリッドの吸収体とを基準として行われる。したがって、放射線検出手段の筐体と、放射線検出面の相対的な位置を厳密なものとすることなく、放射線検出面に対する吸収体の相対的な位置は、常に精密に調整されることができる。

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の放射線撮影装置において、吸収体には第２方向に伸びた短冊状の吸収箔が第１方向に配列されており、離間距離の調節は、放射線ビームが放射線検出面に吸収体を投影することで生じる吸収箔の影の配列ピッチを第１方向における検出素子の配列ピッチの整数倍とするように行われることを特徴とするものである。

［作用・効果］上記構成によれば、吸収体は、第２方向に伸びた短冊状の吸収箔を有している。したがって、吸収体を通過しようとする散乱放射線は、確実に吸収される。また、吸収箔は、第１方向に配列している。したがって、放射線ビームが放射線検出面に投影される吸収箔の影も、第１方向に並んでストライプ状となっているわけだが、上記構成によれば、放射線検出面と吸収体の距離を好適なものとすることができるので、確実に吸収箔の影の配列ピッチを第１方向における検出素子の配列ピッチの整数倍とすることができる。したがって、吸収箔の影の配列と検出素子の配列とが干渉してモアレが生じることがない。上記構成のような放射線撮影装置で撮影を行えば、モアレが写りこんでいない放射線透視画像を形成することができる。

また、請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の放射線撮影装置において、離間距離の調節は、吸収体の第１方向における幅をＷｇとし、放射線検出面に投影された吸収体の影の第１方向における幅をＳとし、吸収体の放射線出射面と放射線検出面との距離の目標値をＸとし、吸収体の放射線出射面と放射線源との距離の目標値をＬとしたとき、ΔＸ＝Ｌ−Ｗｇ（Ｌ＋Ｘ）／Ｓの式で求められる距離ΔＸだけ放射線検出面から放射線グリッドを近づける方向に移動させることで行われることを特徴とするものである。

［作用・効果］上記構成によれば、放射線検出面と吸収体との距離を確実に目標どおりとすることができる。放射線グリッドを放射線検出手段に載置しただけでは、放射線検出面と吸収体との距離は、必ずしも目標どおりとはなっていない。そうであっても、上記構成におけるΔＸだけ放射線検出面に対して放射線グリッドを移動させることで、放射線検出面と吸収体との距離を確実に目標どおりとすることができる。

また、請求項４に記載の発明は、請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の放射線撮影装置において、放射線検出手段に対する放射線グリッドの第２方向についての位置の調節は、放射線検出面と吸収体の第２方向についての位置を調節する第１調節によって行われることを特徴とするものである。

［作用・効果］上記構成によれば、放射線検出手段に対する放射線グリッドの第１方向についての位置の調節が行われる。したがって、吸収箔の影が放射線検出面に備えられた検出素子を第１方向から跨らない構成とすることができる。具体的に例示すれば、吸収箔の影を検出素子の第１方向における中央に配置することができるので、吸収箔の影が２列の検出素子配列に分配されて、放射線透視画像に２画素分の幅に広がった暗線が写りこむことがない。上記構成によっても、放射線透視画像には、吸収箔の影に起因する第１方向に伸びた暗線が現れるが、この暗線は１画素部分の幅に抑えられているので、暗線は、簡単な画像処理によって除去されることができる。

また、請求項５に記載の発明は、請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の放射線撮影装置において、調節手段は、放射線検出手段と放射線グリッドとの間に介装されるシムであることを特徴とするものである。

［作用・効果］上記構成によれば、放射線検出面と吸収体との離間距離と、および第１調節で調節された放射線検出手段に対する放射線グリッドの相対的な位置とは、確実に維持されることができる。

本発明によれば、放射線検出手段と放射線グリッドの離間距離を調節する構成となっている。コーン状の放射線ビームが放射線検出手段の放射線検出面に投影する吸収体の影は、この離間距離に依存して拡大・縮小するが、本発明の構成によれば、放射線検出手段と放射線グリッドの離間距離を調節するので、放射線検出面に投影される吸収体の影の大きさを好適なものとすることができる。しかも、この離間距離の調節は、放射線検出面と吸収体を基準に行われる。したがって、放射線検出手段の筐体と、放射線検出面の相対的な位置が厳密なものとする必要はなく、放射線検出面に対する吸収体の相対的な位置は、常に精密に調整される。

また、本発明によれば、吸収体は、第２方向に伸びた短冊状の吸収箔を有する構成とすることができる。また、吸収箔は、第１方向に配列した構成とすることができる。この場合、放射線ビームが放射線検出面に投影される吸収箔の影も、第１方向に並んでストライプ状となっているわけだが、本発明によれば、放射線検出面と吸収体の距離を好適なものとすることができるので、確実に吸収箔の影の配列ピッチを第１方向における検出素子の配列ピッチの整数倍とすることができる。

実施例１に係るＸ線撮影装置の構成を説明する機能ブロック図である。 （ａ）は、実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する分解斜視図である。（ｂ）実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する断面図である。 実施例１に係る吸収箔の影の配列ピッチを説明する断面図である。 （ａ）は、実施例１に係る検出素子と影の配列パターンとの関係を説明する平面図である。（ｂ）は、実施例１に係る画素と影の配列パターンとの関係を説明する平面図である。 実施例１に係る台を説明する断面図である。 実施例１に係る台の構成を説明する平面図である。 実施例１に係る画像に表れる吸収箔の影の構成を説明する模式図である。 実施例１に係る各目標値を説明する模式図である。 （ａ），（ｂ）は、実施例１に係る検出素子と影の配列パターンとの関係を説明する平面図である。（ｃ），（ｄ）は、実施例１に係る画素と影の配列パターンとの関係を説明する平面図である。 実施例１に係るシムを説明する平面図である。 従来の放射線撮影装置の構成を説明する図である。

以下、本発明に係る放射線撮影装置の実施例を図面を参照しながら説明する。

実施例１に係るＸ線撮影装置について図面を参照しながら説明する。図１は、実施例１に係るＸ線撮影装置の構成を説明する機能ブロック図である。図１に示すように、実施例１に係るＸ線撮影装置１は、被検体Ｍを載置する天板２と、天板２の下部に設けられたＦＰＤ３と、天板の上部に設けられたコーン状のＸ線ビームをＦＰＤ３に向けて照射するＸ線管４と、ＦＰＤ３とＸ線管４との介在する位置に設けられるとともに、ＦＰＤ３のＸ線検出面を覆うように設けられ散乱Ｘ線を除去するＸ線グリッド５と、Ｘ線管４の管電圧を制御するＸ線管制御部６と、Ｘ線管４を移動させるＸ線管移動機構７と、これを制御するＸ線管移動制御部８と、ＦＰＤ３を移動させるＦＰＤ移動機構９と、これを制御するＦＰＤ移動制御部１０と、Ｘ線透視画像を表示する表示部１１とを備えている。

また、Ｘ線撮影装置１は、各制御部６，８，および１０を統括的に制御する主制御部１２をも備えている。この主制御部１２は、ＣＰＵによって構成され、各種のプログラムを実行することにより各制御部６，８，および１０を実現している。なお、Ｘ線は、本発明の放射線に相当する。また、Ｘ線管４，Ｘ線グリッド５，およびＦＰＤ３は、本発明の放射線源、放射線グリッド、および放射線検出手段の各々に相当する。

そして、Ｘ線撮影装置１は、Ｘ線透視画像に写りこむＸ線グリッド５の吸収箔５ａの影を画像処理により除去する画像補正部１３を備えている。

ＦＰＤ３は、コーン状のＸ線線ビームを検出する放射線検出面３ａを有する基板３ｂを備えている。この基板３ｂは、箱状の筐体３ｃに包含されている。また、放射線検出面３ａは、Ｘ線を検出する検出素子ｅがｘ方向に１，０２４個、およびｙ方向に１，０２４個分だけ２次元的に配列されて構成される。そして、検出素子ｅの配列ピッチは、ｘ方向、ｙ方向ともに１５０μｍとなっている。

図２（ａ）は、実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する分解斜視図である。図２（ａ）に示すように、実施例１に係るＸ線グリッド５は、ｙ方向に延伸した短冊状の吸収箔５ａを備えている。この吸収箔５ａは、ｙ方向と直交するｘ方向に配列しており、Ｘ線グリッド５全体で見れば、ブラインド状に配列される。そして、Ｘ線グリッド５には、例えば３７５枚の吸収箔５ａが設けられており、その配列ピッチは、例えば、６００μｍ以下となっている。なお、この吸収箔５ａは、Ｘ線を吸収する例えばモリブデン合金からなっている。そして、吸収箔５ａの各々は互いに接着されて一体化されており、Ｘ線グリッド５全体で見れば、散乱Ｘ線を吸収する吸収体５ｂを形成している。この吸収体５ｂの４側端は、角筒状の保護部材５ｃによって包囲されている。また、吸収体５ｂのＸ線の入射面、および出射面を覆うように、一対のシートカバー５ｄ，５ｅが設けられている。なお、ｘ方向、およびｙ方向は、本発明の第１方向、および第２方向の各々に相当する。

続いて、吸収箔５ａの傾斜について説明する。図２（ｂ）は、実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する断面図である。図２（ｂ）に示すように、Ｘ線グリッド５における吸収箔５ａは、Ｘ線グリッド５の中心部から、Ｘ線グリッド５におけるｙ方向についての端部に向かうに従って次第に傾斜している。このように、実施例１に係るＸ線グリッド５に備えられた吸収箔５ａは、コーン状のＸ線ビームが照射されたときに、放射状に広がるＸ線を通過させるように傾斜が変更された構成となっている。

Ｘ線グリッド５における吸収箔５ａの間隙には、必ずしもスペーサを必要としない。実施例１の構成によれば、Ｘ線グリッド５は、例えば、エアグリッドとなっている。また、Ｘ線グリッド５は、ＦＰＤ３に固定支持される。より具体的には、Ｘ線グリッド５のシートカバー５ｅと、ＦＰＤ３の筐体３ｃとが後述のシムを介して接着固定されている。

次に、Ｘ線グリッド５の影パターンについて説明する。コーン状のＸ線ビームは、Ｘ線グリッド５を通過して放射線検出面３ａに入射することになる。このＸ線ビームは、Ｘ線グリッド５を通過しているので、吸収箔５ａに由来するｙ方向に伸びた直線状の影が写りこむ。この吸収箔５ａの影は、Ｘ線グリッド５全体で見れば、３７５本の直線がｘ方向に配列したストライプ状の影パターンとなっている。この影パターンがＦＰＤ３の放射線検出面３ａに写りこむ［図４（ａ）参照］。

実施例１に係る影パターンは、ＦＰＤ３における検出素子ｅに合わせて好適な設定がなされている。ＦＰＤ３における放射線検出面３ａは検出素子ｅが２次元的に配列されて形成されている。実施例１の構成によれば、ＦＰＤ３に放射線検出面３ａに現れる吸収箔５ａの影は、ｘ方向に等間隔に配列しているが、その配列ピッチは、ＦＰＤ３のｘ方向における検出素子ｅの配列ピッチの整数倍（より具体的には、４倍）となっている。図３は、実施例１に係る吸収箔の影の配列ピッチを説明する断面図である。図３に示すように、吸収箔５ａ１の影は、検出素子ｅ１に現れる。そして、吸収箔５ａ１に隣接した吸収箔５ａ２は、検出素子ｅ５に現れる。このように、検出素子ｅ１と、検出素子ｅ５とは、３つの検出素子ｅ２〜ｅ４に挟まれて離間したものとなっている。

図４（ａ）は、実施例１に係る検出素子と影の配列パターンとの関係を説明する平面図である。吸収箔５ａの影は、ｙ方向に伸びた直線状であり、そのｘ方向の幅は、約３０μｍとなっている。図中の影ｓ１に注目すると、影ｓ１は、検出素子ｅがｙ向に一列に並んだ検出素子配列Ａ１に延在している。しかも、ｙ方向において、影ｓ１は検出素子配列Ａ１の中央に出現している。同様に、影ｓ２，影ｓ３は、検出素子配列Ａ２，検出素子配列Ａ３の各々についの中央に出現している。このような影パターンの設定は、ＦＰＤ３における放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置を調節することでなされたものである。

この様な状態で影の配列パターンをＦＰＤ３に検出させて、形成される画像Ｐ０について説明する。画像Ｐ０は、画素が２次元的に配列されて構成されている。ＦＰＤ３の放射線検出面３ａは、検出素子が１，０２４×１，０２４個だけ二次元的に配列されたものであることからすれば、この画像Ｐ０もそれに対応して、１，０２４行、１，０２４列だけ画素が２次元的に配列したものとなっている。図４（ａ）における検出素子配列Ａ１に写りこんだ影ｓ１はこの画像Ｐ０にどのように写りこんでいるかというと、影ｓ１は、画像Ｐ０において図４（ｂ）に示すように、１画素の幅でｙ方向に配列した暗線Ｄ１として現れる。それは、単一の画素に延在する影ｓの存在は、画素の画素値を低下させることで表現されるからである。つまり、影ｓ１は、画像Ｐ０においては、ボケて、暗線Ｄ１となる。

実施例１の構成によれば、Ｘ線グリッド５とＦＰＤ３とはシムを介して固定されており、所定の離間距離を保った構成となっている。仮に、Ｘ線グリッド５をＦＰＤ３に対して互いに離間する方向に移動させたとすれば、放射線検出面３ａに現れる影ｓのｘ方向における配列ピッチは、それにあわせて変動する。吸収箔５ａを放射線検出面３ａに投影するＸ線ビームがコーン状となっているからである。例えば、Ｘ線グリッド５がＦＰＤ３に近づくほど影ｓのｘ方向における配列ピッチは縮小されて狭くなり、逆にＸ線グリッド５がＦＰＤ３から遠ざかるほど影ｓのｘ方向における配列ピッチは拡大されて広くなる。実施例１の構成によれば、Ｘ線グリッド５は、ＦＰＤ３の筐体にシムを介して固定されているので、上述の検出素子配列Ａと、影ｓとの位置関係は、維持される。

次に、実施例１に係るＸ線撮影装置の動作について説明する。実施例１に係るＸ線撮影装置１でＸ線透視画像を撮影するには、まず、天板２に被検体Ｍが仰臥される。そして、ＦＰＤ３と、Ｘ線管４とを被検体Ｍの関心部位を挟む位置に移動させる。そして、Ｘ線管４は、コーン状のＸ線ビームを照射するように制御される。なお、このコーン状のＸ線ビームは、パルス状となっている。

被検体Ｍを透過したＸ線は、Ｘ線グリッド５を通過して、ＦＰＤ３に入射する。ＦＰＤ３は、これを基に画像Ｐ０を形成する。画像補正部１３は、画像Ｐ０に写りこんだ影ｓを除去する。こうして形成されたＸ線透視画像Ｐ１は、表示部１１にて表示される。こうして、実施例１に係るＸ線撮影装置１によるＸ線透視画像の取得は終了となる。

ところで、この画像Ｐ０に写りこんだ影ｓの各々は、図４（ｂ）のごとく、ｘ方向に隣接する画素に跨ってはいない。ｘ方向において、影ｓ１は検出素子配列Ａ１の中央に出現しているからである［図４（ａ）参照］。したがって、２列の検出素子配列に吸収箔５ａの影ｓが分配されて、放射線透視画像に２画素分の幅に広がった暗線が現れることがない。しかも、単一の影ｓについて注目すると、その全体は、単一の検出素子配列Ａに延在する。つまり、画像Ｐ０に現れる暗線Ｄの各々の出現位置は、常に一定であるとともに、暗線Ｄの各々の強度も一定となっている。

この様な構成となっていれば、暗線Ｄの配列ピッチは、画素の配列ピッチの４倍となる。つまり、影ｓの配列と、放射線検出素子ｅの配列が干渉して、画像Ｐ０にモアレが生じることがない。このような暗線Ｄは、画像処理によって簡単に除去することができる。確かに、画像Ｐ０には、吸収箔５ａの影に起因するｙ方向に伸びた暗線Ｄがｙ方向に４画素ずつ離間して現れるが、図４（ｂ）に示すように、その出現位置はＸ線透視画像において一定であるとともに、各画素に現れる暗線Ｄの強度も一定となっているので、単純なの画像処理を画像Ｐ０に施すだけで暗線Ｄは、画像補正部１３によって容易に除去される。

次に、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置の調節について説明する。具体的には、Ｘ線グリッド５のＦＰＤ３に対する位置を決定した後、ＦＰＤ３の筐体３ｃとＸ線グリッド５の介在する位置にシムを介装することで位置の調節がなされる。この調節の説明に先立って、実施例１に係るＸ線グリッド５を載置する台２０について説明する。この台２０は位置の調整用に設けられるものであって、最終的にはＦＰＤ３から除去される。図５は、実施例１に係る台を説明する断面図である。この台２０は、矩形をしており、その４つの角部には、ｚ方向に伸びた４つのキリ孔２０ａを備えている。このキリ孔２０ａの各々に対してネジ２１が挿入されている。また、ｚ方向に伸びたネジ孔３ｄがＦＰＤ３の筐体３ｃに設けらており、ネジ２１の先端部は、そこに螺合している。つまり、ＦＰＤ３の筐体に対してネジ２１を螺入・螺出させることにより、ＦＰＤ３（正確には、放射線検出面３ａ）に対するＸ線グリッド５（正確には、吸収体５ｂ）の離間距離（ｚ方向の位置）が変更可能となっている。また、ネジ２１の筐体３ｃに対する螺入・螺出は、各ネジ２１にて独立して行うことができるので、台２０の４角部の各々についてＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置が変更可能となっている。また、ネジ２１の各々には、Ｘ線グリッド５と筐体３ｃとの間で突っ張るバネ２２が挿通されている。これによって、台２０は、ＦＰＤ３から遠ざかる方向の応力が常に付与されるとともに、４つのネジ２１の頭に押し当てられている。また、図示しないが、このネジ２１の各々には、ダイヤルゲージが付設されている。このダイヤルゲージを確認しながらネジ２１を調節すれば、ネジ２１の筐体３ｃに対する螺入・螺出に伴うＸ線グリッド５と筐体３ｃの移動距離が判断できるようになっている。

さらに、台２０の構成について説明する。図６は、実施例１に係る台の構成を説明する平面図である。図６に示すように、台２０の上面は、Ｘ線グリッド５を載置する載置面となっている。したがって、台２０は、Ｘ線グリッド５とＦＰＤ３との介在する位置に配置されることになる。この台２０は、Ｘ線グリッド５をｙ方向の位置が調節自在とする機構を介してＦＰＦ３に支持される。この構成について説明する。台２０の周縁部には、ＦＰＤ３に遠ざかるｚ方向に伸びた凸部２０ｃが４つ設けられている。うち、２つは、台２０のｙ方向に沿った１端側に設けられている。そして、残りの２つは、台２０のｙ方向に沿った他端側に設けられている。そして、この凸部２０ｃは、ｘ方向に沿ったネジ孔がそれぞれ設けられている。１辺側に設けられた凸部２０ｃのネジ孔には、Ｘ線グリッド５をｙ方向から押し付ける押し付けネジ２３が螺入される。他辺側に設けられた凸部２０ｃのネジ孔には、Ｘ線グリッド５をｙ方向に移動自在に支えるプランジャ２４が螺入されている。具体的には、台２０は、１つの押し付けネジ２３について、ｙ方向に同一位置に１つのプランジャ２４を備え、それらは、押し付けネジ、プランジャ対となっている。そして、台２０は、押し付けネジ、プランジャ対を２対備えている。この押し付けネジ２３を調節すれば、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂのｙ方向に関する相対的な位置が変更可能となっている。なお、図示しないが、この押し付けネジ２３の各々には、ダイヤルゲージが付設されている。このダイヤルゲージを確認しながら押し付けネジ２３を調節すれば、押し付けネジ２３の台２０に対する螺入・螺出に伴うＸ線グリッド５と筐体３ｃの移動距離が判断できるようになっている。

また、図６を参照すれば分かるように、押し付けネジ２３，およびプランジャ２４は、Ｘ線グリッド５に当接しているわけではない。押し付けネジ２３とＸ線グリッド５との介在する位置には、押し付けネジ２３でＸ線グリッド５が損傷することを防ぐための保護クリップ２５が設けられている。同様に、プランジャ２４とＸ線グリッド５との介在する位置にも、プランジャ２４でＸ線グリッド５が損傷することを防ぐための保護クリップ２５が設けられている。

また、台２０の周辺部には、切欠き部２０ｂが設けられている。この切欠き部２０ｂは、後述のシムを挿入するシムの挿入部となっている。

次に、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対するＸ線グリッド５の相対的な位置の調節について説明する。位置の調節を行うには、まず、台２０の上面に、Ｘ線グリッド５が載置される。このとき、Ｘ線グリッド５は、２対の押し付けネジ、プランジャ対に挟まれて載置されることになる。２本の押し付けネジ２３を調節することで、Ｘ線グリッド５は、台２０に仮止めされる。これ以降、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対するＸ線グリッド５の相対的な位置の調節が行われる。このときの調節は、Ｘ線管４からコーン状のＸ線ビームを照射して、ＦＰＤ３から送出された画像を表示部１１に表示することで、画像Ｐ０に表示される吸収体５ｂの影を観察しながら行われることになる。なお、このとき、画像補正部１３で行われる画像処理は、バイパスされている。また、このとき天板２には何も載置しない状態となっている。

図７は、実施例１に係る画像に表れる吸収箔の影の構成を説明する模式図である。説明のため、図７に示すように、画像Ｐ０に表れる吸収箔５ａの影ｓのうち、最もｘ方向についての前方に位置する影を影ｐとする。また、Ｘ線透視画像に表れる吸収箔の影のうち、最もｘ方向についての後方に位置する影を影ｑとする。また、影ｐのｙ方向について後方に位置する端点を点αとし、影ｐのｙ方向について前方に位置する端点を点βとする。同様に、影ｑのｙ方向について後方に位置する端点を点γとし、影ｐのｙ方向について前方に位置する端点を点δとする。そして、点αと点βのｙ方向に沿った長さをｄ１とする。同様に、点γと点δのｙ方向に沿った長さをｄ２とし、点αと点γのｘ方向に沿った長さをｄ３とし、点βと点δのｘ方向に沿った長さをｄ４とする。なお、影ｐと影ｑの各々は、吸収体５ｂのｙ方向における両端に位置した１対の吸収箔Ｐ，Ｑに由来するものとする。

＜予備調節＞
ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置の調節を行うには、まず、２本の押し付けネジ２３を調節することで、Ｘ線グリッド５に属する吸収箔５ａのうち、ｘ方向における中央に位置する吸収箔５ａの影がＦＰＤ３の放射線検出面３ａのｘ方向における中央に位置するとともにｙ方向に配列した検出素子配列に重畳するようにＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収箔５ａの相対的な位置が予備的に調節される。この予備調節は表示部１１に映し出される画像Ｐ０を参照しながら行われる。これ以降の調節についても、画像Ｐ０が参照される。

＜ｚ方向第１調節＞
上述の調整が終了した時点では、Ｘ線グリッド５におけるの４つの角部の間で吸収箔５ａと放射線検出面３ａの離間距離を比較すると、それらはまちまちとなっている。ｚ方向第１調節では、これを同一なものとする。具体的には、まず点αと点γのｙ方向における位置を同一なものとするようにネジ２１を調節する（図７参照）。そして、今度は、まず点βと点δのｙ方向における位置を同一なものし、かつ、このときのｄ４は、ｄ３と同一となるようにネジ２１を調節する。この様にすることで、Ｘ線グリッド５の４つの角部における吸収箔５ａと放射線検出面３ａの離間距離が調節され、吸収箔５ａと、放射線検出面３ａとは平行になる。なお、この時点で、ｄ２の長さは、ｄ１の長さと等しくなり、ｄ４の長さは、ｄ３の長さと等しくなる。

＜ｚ方向第２調節＞
上述の調整が終了した時点では、影ｓの配列ピッチは、必ずしも検出素子ｅの配列ピッチの４倍とはなっていない。前段のｚ方向第１調節では、単に吸収箔５ａと、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａとを平行としただけで、その離間距離は考慮されていないからである。そこで、ｄ３と設定値のズレ量を計測し、それを利用して、Ｘ線グリッド５をｚ方向における設定どおり位置に誘導する。

図８は、実施例１に係る各目標値を説明する模式図である。図８に示すように、放射線検出面３ａに投影された吸収体５ｂのｘ方向における長さであるｄ３の長さをＳとし、吸収体５ｂのｘ方向における両端に位置した１対の吸収箔Ｐ，Ｑの距離をＷｇとし、Ｘ線管４から、吸収体５ｂの下面（放射線出射面）までの距離の目標値をＬとし、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの放射線出射面の離間距離の目標値をＸとすると、次の式（１）で求められる距離ΔＸだけ放射線検出面３ａから放射線グリッドを近づける方向に移動させる。なお、目標値とは、吸収体５ｂにおける吸収箔５ａの配列ピッチと、検出素子ｅの配列ピッチから換算して、ちょうど影ｓの配列ピッチは、必ずしも検出素子ｅの配列ピッチの４倍となるような各距離の設定値をいう。
ΔＸ＝Ｌ−Ｗｇ（Ｌ＋Ｘ）／Ｓ……（１）

具体的には、台２０を支持する４つのネジ２１を同様にΔＸだけＦＰＤ３の筐体に螺入させる。４つのネジ２１をその各々に備えられたダイヤルゲージを参照しながら螺入させることで、ＸからΔＸ分だけズレているＦＰＤ３の放射線検出面３ａと吸収体５ｂにおける放射線出射面との離間距離を正確にＸとすることができる。そして、吸収体５ｂは、図８における破線で示した位置に誘導される。

なお、吸収箔Ｐ，Ｑは、吸収体５ｂの両端に位置しているわけだから、１対の吸収箔Ｐ，Ｑの距離は、吸収体５ｂのｘ方向の幅でもある。また、図８に示した例では、吸収体５ｂが放射線検出面３ａに遠ざかりすぎているため、影の配列ピッチが拡大された場合である。逆に、吸収体５ｂが放射線検出面３ａに近づきすぎている場合は、いったん台２０を支持する４つのネジ２１を同様にＦＰＤ３の筐体から螺出させて、吸収体５ｂが放射線検出面３ａに遠ざかりすぎている状態とする。その後は、上述のｚ方向第１調節と同様である。

＜ｘ方向調節＞
上述の調整が終了した時点で、影ｓの配列ピッチは、検出素子ｅの配列ピッチの４倍とはなっている。しかしながら、依然としてＸ線グリッド５のｘ方向における調節が行われていないので、影ｓは、ｘ方向に隣接する検出素子ｅに跨ってしまっている可能性がある。ｘ方向調節では、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置をｘ方向について調節し、単一の影ｓについて注目したとき、その全てが、単一の検出素子配列Ａに延在するようにＸ線グリッド５の位置を誘導する。

この様な調節を行うには、まず、影ｐ（図７参照）を表示部１１で観察して、ｘ方向に隣接する検出素子ｅに跨っているかどうかを確認する。この様子を図９に示す。仮に、図９（ａ）に示すように、影ｐがｘ方向から隣接する検出素子ｅに跨っていない場合は、２本の押し付けネジ２３を台２０に対して同様に螺入・螺出させることで、図９（ｂ）に示すように、影ｐをいったんｘ方向に隣接する検出素子ｅに跨らせる。ちなみに、図９（ａ）のような場合、表示部１１には、図９（ｃ）のように、幅が１画素のｙ方向に伸びた暗線Ｄ１が現れる。また、図９（ｂ）のような場合、表示部１１には、図９（ｄ）のように、幅が２画素でｙ方向に伸びた暗線Ｄ２が現れる。図９（ｃ）と図９（ｄ）は、明らかに異なるので、影ｐをいったんｘ方向に隣接する検出素子ｅに跨らせる操作自体は、容易に行うことができる。

暗線Ｄ２を構成する画素のうちｘ方向に隣接する画素の画素値を比較すると、必ずしも同一となっていない。この原理を説明する。図９（ｂ）に示すように、影ｐは、放射線検出面３ａにおいて、ｋ番目の検出素子配列、ｋ＋１番目の検出素子配列に跨っていたとする。このとき表示部１１に表示される画像Ｐ０は、図９（ｄ）に示すように、ｋ番目の画素配列、ｋ＋１番目の画素配列に跨った暗線Ｄ２が現れる。たとえば、両画素配列の画素値が同一であったとすると、影ｐは、ｋ番目の画素配列とｋ＋１番目の画素配列における中間に位置していたことになる。またたとえば、両画素配列における影ｐの分配が偏っていたとすると、両画素配列における影ｐの分配率に応じて、両画素配列における画素値も連続的に変化する。この様に、両画素配列の画素値を比較することで、画像Ｐ０における影ｐのｘ方向における位置を知ることができる。つまりは、放射線検出面３ａにおける影ｐのｘ方向における位置を知ることができる。

例えば、両画素配列の画素値が同一であったとすると、影ｐは、ｋ番目の検出素子配列とｋ＋１番目の検出素子配列における中間に位置していたことになる。検出素子ｅの配列ピッチが１５０μｍで、影ｐのｙ方向の幅は３０μｍであることからすると、影ｐをｋ＋１番目の検出素子配列の中央に移動させるには、２本の押し付けネジ２３を台２０に対して同様に螺入・螺出させることでＸ線グリッド５を７５μｍだけｘ方向後方に移動させればよい。なお、ｘ方向調節は、本発明の第１調節に相当する。ところで、影ｓの配列ピッチは、検出素子ｅの配列ピッチの４倍とはなっているのであるから、影ｐの調節を行うだけで、そのほかの影ｓも同様に検出素子配列の中間に位置することになる。

＜シムの介装＞
最後に、図１０に示すように、シム２６を台２０の切欠き部２０ｂに挿入することにより、シム２６をＸ線グリッド５と、ＦＰＤ３の筐体３ｃの介在する位置に介装する。シム２６のｘｙ面に面した両面には、接着剤が塗布されているので、Ｘ線グリッド５と、ＦＰＤ３とはシム２６を介して一体化される。こうして、Ｘ線グリッド５は、放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置関係を維持したままＦＰＤ３の筐体３ｃに固定支持される。接着剤が硬化した時点で２本の押し付けネジ２３を台２０から螺出させて、台２０のＸ線グリッド５に対する仮止めを解除した後、台２０を解体して取り除き、一連の調節は終了となる。なお、シム２６は、本発明の調節手段に相当する。

以上のように、実施例１の構成によれば、ＦＰＤ３とＸ線グリッド５の離間距離を調節する構成となっている。コーン状の放射線ビームがＦＰＤ３の放射線検出面３ａに投影する吸収体５ｂの影は、この離間距離に依存して拡大・縮小するが、実施例１の構成の構成によれば、ＦＰＤ３とＸ線グリッド５の離間距離を調節するので、放射線検出面３ａに投影される吸収体５ｂの影の大きさを好適なものとすることができる。しかも、実施例１に係る放射線検出面３ａと吸収体５ｂとの離間距離の調節は、放射線検出面３ａと吸収体５ｂを基準に行われる。したがって、ＦＰＤ３の筐体３ｃと、放射線検出面３ａの相対的な位置が厳密なものとなっていなかったとしても、放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置は、常に精密に調整されることが保障される。

また、実施例１の構成によれば、吸収体５ｂは、ｙ方向に伸びた短冊状の吸収箔５ａを有する構成となっている。また、吸収箔５ａは、ｘ方向に配列した構成となっている。つまり、放射線ビームが放射線検出面３ａに投影する吸収箔５ａの影も、ｘ方向に並んでストライプ状となっているわけだが、実施例１の構成によれば、放射線検出面３ａと吸収体５ｂの距離を好適なものとすることができるので、確実に吸収箔５ａの影の配列ピッチをｘ方向における検出素子ｅの配列ピッチの整数倍とすることができる。

本発明は、上記実施例に限られることなく、下記のように変形実施することができる。

（１）上述した実施例は、ＦＰＤ３に対するＸ線グリッド５のｘ方向についての位置の調節は、ｘ方向調節によって可能となっていたが、本発明に係る台２０のｘ方向に沿った両端にプランジャ、押し付けネジ対を設けることで、ＦＰＤ３に対するＸ線グリッド５のｙ方向についての位置の調節も可能としてもよい。この様な構成は、吸収箔が格子状に２次元配列したクロスグリッドに適応すれば有効である。

（２）上述した実施例は、影ｓの配列ピッチは検出素子ｅの配列ピッチの４倍となっていたが、本発明はこれに限らない。放射線撮影装置の用途に合わせて影ｓの配列ピッチを検出素子ｅの配列ピッチにおける任意の整数倍とすることができる。

（３）上述した実施例は、医用の装置であったが、この発明は、工業用や、原子力用の装置に適用することもできる。

１ Ｘ線撮影装置
３ ＦＰＤ（放射線検出手段）
３ａ 放射線検出面
４ Ｘ線管（放射線源）
５ Ｘ線グリッド（放射線グリッド）
５ａ 吸収箔
５ｂ 吸収体

すると、図１１（ｂ）に示すように、吸収箔５１の厚さ方向（ｘ方向）について、吸収箔５１の影が検出素子配列Ａに跨ってしまう。この様な状態で放射線透視画像Ｈを取得すると、図１１（ｃ）に示すように、２列の画素配列Ｂに吸収箔５１の影が分配されて、放射線透視画像Ｈに２画素分の幅に広がった暗線Ｄが写りこんでしまう。しかも、暗線Ｄを構成する各列における吸収箔５１の影ｓの分配率は、ＦＰＤ５３のｘ方向の位置によって変化して一定ではないので、２画素分の幅に広がった暗線Ｄを画像補正などで除去することは困難である。したがって、吸収箔５１の影ｓが十分に除去されていない放射線透視画像Ｈしか得られない。

本発明は、この様な目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、コーン状の放射線ビームを照射する放射線源と、放射線ビームを検出する検出素子が第１方向、および第２方向に２次元的に配列されて構成された放射線検出面を有する放射線検出手段と、散乱放射線を吸収する吸収体を有するとともに、放射線検出面を覆うように配置された放射線グリッドとを備えた放射線撮影装置において、放射線検出面と吸収体との離間距離を調節する調節手段を備え、吸収体には第２方向に伸びた短冊状の吸収箔が第１方向に配列されており、離間距離の調節は、吸収体の第１方向における幅をＷｇとし、放射線検出面に投影された吸収体の影の第１方向における幅をＳとし、吸収体の放射線出射面と放射線検出面との距離の目標値をＸとし、吸収体の放射線出射面と放射線源との距離の目標値をＬとしたとき、ΔＸ＝Ｌ−Ｗｇ（Ｌ＋Ｘ）／Ｓの式で求められる距離ΔＸだけ放射線検出面から放射線グリッドを近づける方向に移動させることで、放射線ビームが放射線検出面に吸収体を投影することで生じる吸収箔の影の配列ピッチを第１方向における検出素子の配列ピッチの整数倍とするように行われることを特徴とするものである。

しかも、この離間距離の調節は、放射線検出手段の放射線検出面と放射線グリッドの吸収体とを基準として行われる。したがって、放射線検出手段の筐体と、放射線検出面の相対的な位置を厳密なものとすることなく、放射線検出面に対する吸収体の相対的な位置は、常に精密に調整されることができる。
また、吸収体は、第２方向に伸びた短冊状の吸収箔を有している。したがって、吸収体を通過しようとする散乱放射線は、確実に吸収される。また、吸収箔は、第１方向に配列している。したがって、放射線ビームが放射線検出面に投影される吸収箔の影も、第１方向に並んでストライプ状となっているわけだが、上記構成によれば、放射線検出面と吸収体の距離を好適なものとすることができるので、確実に吸収箔の影の配列ピッチを第１方向における検出素子の配列ピッチの整数倍とすることができる。したがって、吸収箔の影の配列と検出素子の配列とが干渉してモアレが生じることがない。上記構成のような放射線撮影装置で撮影を行えば、モアレが写りこんでいない放射線透視画像を形成することができる。
また、放射線検出面と吸収体との距離を確実に目標どおりとすることができる。放射線グリッドを放射線検出手段に載置しただけでは、放射線検出面と吸収体との距離は、必ずしも目標どおりとはなっていない。そうであっても、上記構成におけるΔＸだけ放射線検出面に対して放射線グリッドを移動させることで、放射線検出面と吸収体との距離を確実に目標どおりとすることができる。

（削除）

（削除）

（削除）

（削除）

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の放射線撮影装置において、放射線検出手段に対する放射線グリッドの第１方向についての位置の調節は、放射線検出面と吸収体の第１方向についての位置を調節する第１調節によって行われることを特徴とするものである。

［作用・効果］上記構成によれば、放射線検出手段に対する放射線グリッドの第１方向についての位置の調節が行われる。したがって、吸収箔の影が放射線検出面に備えられた検出素子を第１方向から跨らない構成とすることができる。具体的に例示すれば、吸収箔の影を検出素子の第１方向における中央に配置することができるので、吸収箔の影が２列の検出素子配列に分配されて、放射線透視画像に２画素分の幅に広がった暗線が写りこむことがない。上記構成によっても、放射線透視画像には、吸収箔の影に起因する第２方向に伸びた暗線が現れるが、この暗線は１画素部分の幅に抑えられているので、暗線は、簡単な画像処理によって除去されることができる。

また、請求項３に記載の発明は、請求項１または請求項２に記載の放射線撮影装置において、調節手段は、放射線検出手段と放射線グリッドとの間に介装されるシムであることを特徴とするものである。

ＦＰＤ３は、図５に示すようにコーン状のＸ線線ビームを検出する放射線検出面３ａを有する基板３ｂを備えている。この基板３ｂは、箱状の筐体３ｃに包含されている。また、放射線検出面３ａは、図３に示すようにＸ線を検出する検出素子ｅがｘ方向に１，０２４個、およびｙ方向に１，０２４個分だけ２次元的に配列されて構成される。そして、検出素子ｅの配列ピッチは、ｘ方向、ｙ方向ともに１５０μｍとなっている。

続いて、吸収箔５ａの傾斜について説明する。図２（ｂ）は、実施例１に係るＸ線グリッドの構成を説明する断面図である。図２（ｂ）に示すように、Ｘ線グリッド５における吸収箔５ａは、Ｘ線グリッド５の中心部から、Ｘ線グリッド５におけるｘ方向についての端部に向かうに従って次第に傾斜している。このように、実施例１に係るＸ線グリッド５に備えられた吸収箔５ａは、コーン状のＸ線ビームが照射されたときに、放射状に広がるＸ線を通過させるように傾斜が変更された構成となっている。

Ｘ線グリッド５における吸収箔５ａの間隙には、必ずしもスペーサを必要としない。実施例１の構成によれば、Ｘ線グリッド５は、例えば、エアグリッドとなっている。また、Ｘ線グリッド５は、ＦＰＤ３に固定支持される。より具体的には、Ｘ線グリッド５と、ＦＰＤ３の筐体３ｃとが後述のシムを介して固定されている。

この様な構成となっていれば、暗線Ｄの配列ピッチは、画素の配列ピッチの４倍となる。つまり、影ｓの配列と、放射線検出素子ｅの配列が干渉して、画像Ｐ０にモアレが生じることがない。このような暗線Ｄは、画像処理によって簡単に除去することができる。確かに、画像Ｐ０には、吸収箔５ａの影に起因するｙ方向に伸びた暗線Ｄがｙ方向に４画素ずつ離間して現れるが、図４（ｂ）に示すように、その出現位置はＸ線透視画像において一定であるとともに、各画素に現れる暗線Ｄの強度も一定となっているので、単純な画像処理を画像Ｐ０に施すだけで暗線Ｄは、画像補正部１３によって容易に除去される。

さらに、台２０の構成について説明する。図６は、実施例１に係る台の構成を説明する平面図である。図６に示すように、台２０の上面は、Ｘ線グリッド５を載置する載置面となっている。したがって、台２０は、Ｘ線グリッド５とＦＰＤ３との介在する位置に配置されることになる。この台２０は、Ｘ線グリッド５をｙ方向の位置が調節自在とする機構を介してＦＰＦ３に支持される。この構成について説明する。台２０の周縁部には、ＦＰＤ３に遠ざかるｚ方向に伸びた凸部２０ｃが４つ設けられている。うち、２つは、台２０のｙ方向に沿った１端側に設けられている。そして、残りの２つは、台２０のｙ方向に沿った他端側に設けられている。そして、この凸部２０ｃは、ｘ方向に沿ったネジ孔がそれぞれ設けられている。１辺側に設けられた凸部２０ｃのネジ孔には、Ｘ線グリッド５をｘ方向から押し付ける押し付けネジ２３が螺入される。他辺側に設けられた凸部２０ｃのネジ孔には、Ｘ線グリッド５をｘ方向に移動自在に支えるプランジャ２４が螺入されている。具体的には、台２０は、１つの押し付けネジ２３について、ｙ方向に同一位置に１つのプランジャ２４を備え、それらは、押し付けネジ、プランジャ対となっている。そして、台２０は、押し付けネジ、プランジャ対を２対備えている。この押し付けネジ２３を調節すれば、ＦＰＤ３の放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂのｘ方向に関する相対的な位置が変更可能となっている。なお、図示しないが、この押し付けネジ２３の各々には、ダイヤルゲージが付設されている。このダイヤルゲージを確認しながら押し付けネジ２３を調節すれば、押し付けネジ２３の台２０に対する螺入・螺出に伴うＸ線グリッド５と筐体３ｃの移動距離が判断できるようになっている。

＜ｚ方向第１調節＞
上述の調整が終了した時点では、Ｘ線グリッド５における４つの角部の間で吸収箔５ａと放射線検出面３ａの離間距離を比較すると、それらはまちまちとなっている。ｚ方向第１調節では、これを同一なものとする。具体的には、まず点αと点γのｙ方向における位置を同一なものとするようにネジ２１を調節する（図７参照）。そして、今度は、まず点βと点δのｙ方向における位置を同一なものし、かつ、このときのｄ４は、ｄ３と同一となるようにネジ２１を調節する。この様にすることで、Ｘ線グリッド５の４つの角部における吸収箔５ａと放射線検出面３ａの離間距離が調節され、吸収箔５ａと、放射線検出面３ａとは平行になる。なお、この時点で、ｄ２の長さは、ｄ１の長さと等しくなり、ｄ４の長さは、ｄ３の長さと等しくなる。

＜シムの介装＞
最後に、図１０に示すように、シム２６を台２０の切欠き部２０ｂに挿入することにより、シム２６をＸ線グリッド５と、ＦＰＤ３の筐体３ｃの介在する位置に介装する。シム２６のｘｙ面に面した両面には、接着剤が塗布されているので、Ｘ線グリッド５と、ＦＰＤ３とはシム２６を介して一体化される。こうして、Ｘ線グリッド５は、放射線検出面３ａに対する吸収体５ｂの相対的な位置関係を維持したままＦＰＤ３の筐体３ｃに固定支持される。接着剤が硬化した時点で２本の押し付けネジ２３を台２０から螺出させて、台２０のＸ線グリッド５に対する仮止めを解除した後、台２０を解体して取り除き、一連の調節は終了となる。なお、ネジ２１およびシム２６は、本発明の調節手段に相当する。

Claims (5)

1. コーン状の放射線ビームを照射する放射線源と、前記放射線ビームを検出する検出素子が第１方向、および第２方向に２次元的に配列されて構成された放射線検出面を有する放射線検出手段と、散乱放射線を吸収する吸収体を有するとともに、前記放射線検出面を覆うように配置された放射線グリッドとを備えた放射線撮影装置において、
   前記放射線検出面と前記吸収体との離間距離を調節する調節手段を備えていることを特徴とする放射線撮影装置。
2. 請求項１に記載の放射線撮影装置において、
   前記吸収体には前記第２方向に伸びた短冊状の吸収箔が前記第１方向に配列されており、
   前記離間距離の調節は、前記放射線ビームが前記放射線検出面に前記吸収体を投影することで生じる前記吸収箔の影の配列ピッチを前記第１方向における前記検出素子の配列ピッチの整数倍とするように行われることを特徴とする放射線撮影装置。
3. 請求項２に記載の放射線撮影装置において、
   前記離間距離の調節は、前記吸収体の前記第１方向における幅をＷｇとし、
   前記放射線検出面に投影された前記吸収体の影の前記第１方向における幅をＳとし、
   前記吸収体の放射線出射面と前記放射線検出面との距離の目標値をＸとし、
   前記吸収体の放射線出射面と前記放射線源との距離の目標値をＬとしたとき、
   ΔＸ＝Ｌ−Ｗｇ（Ｌ＋Ｘ）／Ｓ
   の式で求められる距離ΔＸだけ前記放射線検出面から前記放射線グリッドを近づける方向に移動させることで行われることを特徴とする放射線撮影装置。
4. 請求項１ないし請求項３のいずれかに記載の放射線撮影装置において、
   前記放射線検出手段に対する前記放射線グリッドの前記第２方向についての位置の調節は、前記放射線検出面と前記吸収体の前記第２方向についての位置を調節する第１調節によって行われることを特徴とする放射線撮影装置。
5. 請求項１ないし請求項４のいずれかに記載の放射線撮影装置において、
   前記調節手段は、前記放射線検出手段と前記放射線グリッドとの間に介装されるシムであることを特徴とする放射線撮影装置。

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