JP2011137215A - 平行平板型プラズマcvd装置 - Google Patents

平行平板型プラズマcvd装置 Download PDF

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Abstract

【課題】平行平板型プラズマCVD装置の真空容器内の部品表面に付着する膜状物質の剥離を低減する。
【解決手段】太陽電池基板の表面に反射防止膜を成膜する平行平板型プラズマCVD装置であって、真空容器内に設けられ、この太陽電池基板を戴置する基板電極と、これに対向する高周波電極とを備え、この高周波電極の基板電極に対向する面に、溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成している。
【選択図】図1

Description

本発明は、平行平板型プラズマCVD装置に関し、とりわけ太陽電池の製造においてSiNの反射防止膜を太陽電池の基板表面に形成するために使用するプラズマCVD装置に関する。
近年、太陽電池などの製造において、製造コストの削減の要求が大きくなっている。このため、太陽電池の製造に用いる装置のスループットを向上することが重要となっている。
平行平板型のプラズマCVD装置を含むプラズマ処理装置では、この真空容器内部で発生したプラズマに接する電極等の部品表面に膜状の物質が付着する。このプラズマ処理装置を用いて太陽電池の製造を続けると、この膜状物質は堆積して厚くなり、ある膜厚に達すると電極等の表面から剥離し、パーティクルと呼ばれる粒子となり、真空容器内部を汚染する。このパーティクルが太陽電池の処理基板の上に落下すると、不良の原因となり、太陽電池の収率を低下させる。このパーティクルの発生を低減するため、プラズマ処理装置内部の電極等の部品は、所定の期間が経過すると、その表面に付着した膜状物質を取り除くメンテナンス作業を行っている。
しかしながら、このメンテナンス作業は必然的に、プラズマ処理装置のスループットの低下となるので、メンテナンスの周期を出来る限り長くし、プラズマ処理装置の稼働時間を確保することがスループット向上に必要となる。
プラズマ処理装置の真空容器内の電極等に付着する、この膜状物質はプラズマ処理の時間に比例して堆積してゆくが、この膜状物質の堆積厚さが大きくなっても剥離を起こしにくくすることで、剥離を低減し、メンテナンス期間を長くすることが考えられる。この膜状物質の剥離を起こしにくくする方法として、プラズマに接する電極等の表面に表面粗さRaが数十μの凹凸を形成する方法が知られている。
平行平板型プラズマCVD装置では、この真空容器(反応室)でプラズマを発生する電極ならびに、この電極の周囲に配置されるアースシールドや防着板等の部材は導電性のあることが必要である。従って、電極等の表面の凹凸の形成は導電性を維持することが必要であり、この条件を満たすものとして、電極等の表面をブラスト処理する方法(特許文献1)と、合金を含む金属材料をプラズマ溶射などの方法で吹き付ける方法が知られている(特許文献2、3、4)。これらの方法により表面に表面粗さRaが数十μの凹凸が形成される。
Raが10以上で大きいほど表面に付着した膜状物質の剥離が少なくなることが一般的傾向であるが、Raが50μを越えると逆に剥離しやすくなる可能性があることが指摘されている(特許文献3)。
ブラスト処理による場合、Raは20μ程度が限界である。特許文献2においてはSUS304材の表面のRaを19.1μとした例が示されている。
また金属をプラズマ溶射により吹き付けて、電極等の表面に凹凸を形成する場合は、溶射する金属にはAlが多く用いられている(例えば特許文献4)。
特開平11−21662号公報 特開2006−303158号公報 特開2007−100218号公報 特開2008−291299号公報
従って、平行平板型プラズマCVD装置の反応室で使用する電極等の表面粗さRaを大きくするためには、電極等の表面のブラスト処理よりも、溶射により合金等を表面に吹き付けることが必要である。更に、平行平板型プラズマCVD装置では、太陽電池の処理基板を450℃程度に加熱して処理するため、反応室1内の部材はこの温度に十分耐える特性を備えることが必要であり、従って溶射に用いる金属も十分な温度特性を持っている必要がある。
しかしながら、上記のように従来良く用いられているAlは融点が660℃と低く、上記のような高温では軟化して剥離を起こし易い。また太陽電池の処理基板の加熱は450℃より高くなる場合があることや、加熱用のヒータ自体の温度は600℃近くに達するので、Alよりも高温での使用に適した金属が必要である。
(1)請求項1の発明による平行平板型プラズマCVD装置は、太陽電池基板の表面に反射防止膜を成膜する平行平板型プラズマCVD装置であって、真空容器内に設けられ、この太陽電池基板を戴置する基板電極と、これに対向する高周波電極とを備え、前記高周波電極の基板電極に対向する面に、溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成したことを特徴とする。
(2)請求項2の発明は、請求項1に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、前記高周波電極を囲むように設けられたアースシールドを更に備え、このアースシールドの外側の面に溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成したことを特徴とする。
(3)請求項3の発明は、請求項1または2のいずれか一項に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、真空容器内の上部において、アースシールドを囲むように設けられた上部防着板と、真空容器内の下部において、上部防着板に対向し、基板電極を囲むように設けられた下部防着板とを更に備え、前記の上部防着板と下部防着板とが対向する面に、溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成したことを特徴とする。
(4)請求項4の発明は、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、溶射によって形成された金属膜は、Ra=20μから50μの間の表面粗さであることを特徴とする。
(5)請求項5の発明は、請求項1乃至4のいずれか一項に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、Ni合金、Cu合金、Fe合金のいずれかの溶射材料を用いて、前記金属膜を前記溶射により形成したことを特徴とする。
(6)請求項6の発明は、請求項5に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、前記Ni合金は略5重量%のAlを含むNiAl合金であることを特徴とする。
本発明により、太陽電池の製造に用いる平行平板型プラズマCVD装置の反応室内で用いる電極等の部材に付着する膜状物質の剥離が抑えられ、電極等の部材をメンテナンスするまでの期間が長くなるので、このプラズマCVD装置のスループットが改善される。
本発明における平行平板型プラズマCVD装置の一実施形態の概略を説明する垂直断面図である。 図1の平行平板型プラズマCVD装置の水平断面図で、図1のA2−A2線に沿って上側(高周波電極側)を見た概略図である。 図2において、図1の真空容器内の部品で、NiAl合金を溶射した部分(SL)を示す図である。 図1の平行平板型プラズマCVD装置の水平断面図で、図1のA4−A4線に沿って下側(基板電極側)を見た概略図である。 図4において、NiAl合金を溶射した部分(SL)を示す図である。 図1の平行平板型プラズマCVD装置の垂直断面図で、図1のB6−B6線に沿って左側から見た概略図である。 図6において、NiAl合金を溶射した部分(SL)を示す図である。 NiAl合金を溶射した高周波電極を用いて太陽電池基板に反射防止膜を形成した場合の効果を示すグラフである。
本発明における平行平板型プラズマCVDの実施形態を図1〜図8を用いて説明する。
本発明の一実施形態のプラズマCVD装置は平行平板型プラズマCVDであり、図1および図2に示すように、真空容器(反応室)1と、高周波電力部2と、成膜ガス供給部3と、真空ポンプ4とを有している。高周波電力部2、成膜ガス供給部3、真空ポンプ4は公知のプラズマCVD装置に共通な一般的な構成であり、ここでの説明は省略し、真空容器1の内部の構成を以下に説明する。
真空容器1の内部には、カート(基板電極)5と、これに対向するように高周波電極6が設けられている。高周波電極6には高周波電力部2から配線7を介して高周波電力が供給される。また高周波電極6には成膜ガスを放出するガス放出孔6aが設けられ、更に高周波電極6には電極板6bが備えられ、電極板6bには複数の細孔6cが設けられ、複数の細孔6cから反応室1内に成膜ガスが放出される。高周波電極6の電極板6bと基板電極5との間にプラズマが生成される。
成膜処理が施される太陽電池の基板8(以下太陽電池基板8)は複数枚がカート5に搭載された状態で反応室1の搬入窓(図示省略)から反応室1内に搬入される。カート5は反応室1内で接地され、平行平板型プラズマ装置の基板電極となる。カート5の下側にはカートごと基板を加熱する複数のヒーター9が設置されている。
高周波電極6の外側には、この高周波電極6を囲むようにアースシールド10が設けられている(図1、2、4、6参照)。アースシールドは高周波電極と基板電極の間の電界がこれらの電極から外側に洩れることを抑え、高周波電極と基板電極の間に生成するプラズマの密度が低下しないように機能する。従って、アースシールドより内側の、高周波電極と基板電極の間の空間に、密度の高いプラズマが発生し、この領域が成膜処理を行う成膜領域となる。成膜処理される複数の太陽電池基板8はこの領域で成膜処理される。
更にアースシールド10の周囲で反応室1の上部に、およびカート5の周囲で反応室1の横側の下部には上部防着板11、下部防着板12が設けられている(図1、2、4参照)。上部防着板11および下部防着板12は、成膜領域から外側に洩れたプラズマにより反応室1の内壁に膜状物質が付着することを防ぐ。アースシールド10、上部防着板11、下部防着板12はそれぞれ接地されている。
図1、3、5、7中に「SL」と矢印および斜線部で示された、電極板6bの基板電極5に対向する面(図1、3)、アースシールド10の外側の面(図1で下向きおよび真空容器内壁に対向する面、図1、3、5、7参照)、上部防着板11および下部防着板12の互いに対向する面(図1、3、5参照)、更には下部防着板12の基板電極5に対向した面の上部は(図1、5参照)、発生したプラズマに接する面であり、ここに上記のように膜状物質が付着する。この膜状物質の剥離を抑えるために、これらの面には、5重量%のAlを含むNiAl合金(Ni−5Alと略記)を溶射の材料に用いて、表面粗さRaが20μから50μとなるように、NiAl合金の膜を形成してある。電極板6bには全面に渡ってNiAl合金の膜が形成されている。
Ni−5Alは融点が約1430℃と高いため、従来からプラズマ溶射材としてよく用いられてきた純粋なAl(融点660℃)に比べ安定しており、基板を加熱した場合でも軟化せず、膜状物質の剥離を起しにくい。 また、プラズマ溶射に使用する金属は、溶射される反応室1内の部材との親和性も必要である。Ni−5Alは、一実施形態の平行平板型プラズマCVD装置の反応室1内で用いる部品の母材である、SUS304および/またはSUS430との親和性が良く、熱膨張率も近いため、溶射したNi−5Al自体が剥離することは殆どない。
尚、本発明における上記の溶射はアーク溶射を用いている。しかしながら、本発明はアーク溶射に限定するものではない。溶射技術にはアーク溶射、プラズマ溶射等、種々の技術があるが、本発明は特にいずれかに限定するものでない。
ここで、本発明の一実施形態による平行平板型プラズマCVD装置の動作と太陽電池基板8への反射防止膜形成方法および一実施形態の効果について説明する。
上記のようにカート5に戴置された太陽電池基板8が反応室1内に搬入され、真空ポンプ4により反応室1の内部が真空状態とされる。太陽電池基板8はカート5ごとヒーターによって加熱され、基板表面が約450℃となるように調整する。成膜ガス供給部から反射防止膜形成用の成膜ガス(SiH4、NH3、N2)が供給され、高周波電極の細孔6cから反応室1内に放出される。
高周波電極6には外部の高周波電力部2から高周波が印加され、電極板6bとカート5の間に、放出された成膜ガスから反応性のあるプラズマが生成される。このプラズマには各種のイオンおよびラジカルなどの反応性のある中性粒子が含まれており、これらが太陽電池基板8に付着し反応することにより太陽電池基板上に反射防止膜となるSiNの成膜が行われる。
成膜処理が完了すると、太陽電池基板8は反応室1からカート5ごと搬出され、更に次に成膜される太陽電池基板8がカート5ごと反応室1に搬入される。
このSiNからなる反射防止膜を太陽電池基板8の表面に生成する際に、発生したプラズマに接する、電極板6b自体、およびこの周辺に配された、アースシールド10や防着板11、12にもSiNを主成分とする膜状物質が付着する。防着板11、12は反応室1の内壁にこの膜状物質が付着することを防ぐために設けている。
前述のように、膜状物質はプラズマCVD装置の稼働時間と共に厚くなり、ある厚さに達すると剥離して、パーティクルとなり、太陽電池基板8に落下して不良の原因となる。
本実施形態では、Ni−5Al合金を溶射して、電極板6b、アースシールド10、防着板11、12の表面に表面粗さ約Ra=30μのNi−5Al合金の膜を形成しておく。この表面粗さのアンカー効果により、膜状物質が剥離しにくくなる。
図8はこのNi−5Al合金の溶射の効果の例を示す。横軸は平行平板型プラズマCVD装置の稼働時間、すなわち太陽電池基板8の表面への反射防止膜形成のためのプラズマ発生時間である。縦軸は太陽電池基板8の表面へのパーティクル落下による不良率を示す。
この例では、電極板6bのみに対し、ブラスト処理あるいは溶射による表面処理を行っている。また、ブラスト処理による表面粗さはRa=10μ以下である。また、Ni−5Al合金の溶射厚みは約150μ、表面粗さは約Ra=27μであった。
不良率がたとえば1%を越えた場合には、反応室1の内部の部品、すなわち電極板6a、アースシールド10、防着板11、12をクリーニングするので、この時点でプラズマCVD装置の稼働は停止する。ブラスト処理した場合では、プラズマCVD装置が約10時間稼働した時点で不良率が1%に達している。
これに対し、電極板6bの表面にNi−5Al合金を溶射し、約Ra=27μの表面粗さを形成した場合には、不良率が1%に達成するまでのプラズマCVD装置の稼働時間が、30時間以上になっており、ブラスト処理に比べ3倍の時間、膜状物質を保持していることが分かる。
このようにして、平行平板型プラズマCVD装置の反応室1内の部品の表面に、Ni−5Al合金の溶射によってRa=20μから50μの表面粗さを形成しておくことにより、部品の表面に付着する膜状物質の剥離が低減され、これによってプラズマCVD装置の連続稼働時間を大きくなり、太陽電池製造のスループットを大幅に向上することができる。
尚、溶射する金属として、Ni−Al合金以外の金属であっても、これと同様の温度特性と、SUS304および/またはSUS430との親和性とを持つものであれば、Ni−Al合金以外のNi合金や、他の金属およびその合金であっても、同様に使用可能である。例えばCu系やFe系の合金も、融点が高く、SUS304および/またはSUS430との親和性も良好であるので、使用可能である。
また、本発明の実施形態として、SiNxからなる反射防止膜を太陽電池基板8の表面に形成する例で説明したが、本発明はSiNx膜の形成だけに限らず、成膜ガスを変更することにより、SiO2やITO等の他の種類の成膜処理を行う場合にも有効である。従って、太陽電池の反射防止膜の成膜に限らず、太陽電池および各種半導体デバイスのパッシベーション膜の成膜やELパネルの封止膜の成膜、液晶での透明電極膜の成膜等においても有効である。
従って、太陽電池基板以外に成膜処理を行う場合であっても、また上記で説明されたSiH4、NH3、N2以外の成膜ガスを反応室1内に導入する場合であっても、反応室1内の部品表面に付着する膜状物質の剥離を抑えることに同様に用いることができる。
1‥ 真空容器(反応室)
2‥ 高周波電力部
3‥ 成膜ガス供給部
4‥ 真空ポンプ
5‥ カート(基板電極)
6‥ 高周波電極
6a‥ ガス放出孔 6b‥ 電極板 6c‥ 細孔
7‥ 配線
8‥ 太陽電池基板
9‥ ヒーター
10‥ アースシールド
11‥ 上部防着板
12‥ 下部防着板
SL‥ Ni−5Al合金溶射部

Claims (6)

  1. 太陽電池基板の表面に反射防止膜を成膜する平行平板型プラズマCVD装置であって、
    真空容器内に設けられ、前記太陽電池基板を戴置する基板電極と、
    これに対向する高周波電極とを備え、
    前記高周波電極の基板電極に対向する面に、溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成したことを特徴とする平行平板型プラズマCVD装置。
  2. 請求項1に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、
    前記高周波電極を囲むように設けられたアースシールドを更に備え、
    前記アースシールドの外側の面に溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成したことを特徴とする平行平板型プラズマCVD装置。
  3. 請求項1または2のいずれか一項に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、
    前記真空容器内の上部において、前記アースシールドを囲むように設けられた上部防着板と、
    前記真空容器内の下部において、前記上部防着板に対向し、前記基板電極を囲むように設けられた下部防着板とを更に備え、
    前記上部防着板と前記下部防着板とが対向する面に、溶射によってAlより融点の高い金属膜を形成したことを特徴とする平行平板型プラズマCVD装置。
  4. 請求項1乃至3のいずれか一項に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、
    前記溶射によって形成された、前記金属膜はRa=20μから50μの間の表面粗さであることを特徴とする平行平板型プラズマCVD装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、
    Ni合金、Cu合金、Fe合金のいずれかの溶射材料を用いて、前記金属膜を前記溶射により形成したことを特徴とする平行平板型プラズマCVD装置。
  6. 請求項5に記載の平行平板型プラズマCVD装置において、
    前記Ni合金は略5重量%のAlを含むNiAl合金であることを特徴とする平行平板型プラズマCVD装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012508617A (ja) * 2008-11-12 2012-04-12 メドラッド インコーポレーテッド 直腸内クワドラチュアコイルおよびそのためのインターフェース装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11181570A (ja) * 1997-12-17 1999-07-06 Toshiba Corp プラズマcvd装置用電極板及びその表面処理方法
JP2000096240A (ja) * 1998-09-25 2000-04-04 Neos Co Ltd プラズマ化学蒸着用有孔電極板の処理方法
JP2002363728A (ja) * 2001-06-06 2002-12-18 Toshiba Corp 真空成膜装置用部品とそれを用いた真空成膜装置
JP2007100218A (ja) * 2006-12-18 2007-04-19 Toshiba Corp 真空成膜装置用部品とそれを用いた真空成膜装置、およびターゲットとバッキングプレート
JP3149859U (ja) * 2009-02-04 2009-04-16 株式会社島津製作所 プラズマ処理装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11181570A (ja) * 1997-12-17 1999-07-06 Toshiba Corp プラズマcvd装置用電極板及びその表面処理方法
JP2000096240A (ja) * 1998-09-25 2000-04-04 Neos Co Ltd プラズマ化学蒸着用有孔電極板の処理方法
JP2002363728A (ja) * 2001-06-06 2002-12-18 Toshiba Corp 真空成膜装置用部品とそれを用いた真空成膜装置
JP2007100218A (ja) * 2006-12-18 2007-04-19 Toshiba Corp 真空成膜装置用部品とそれを用いた真空成膜装置、およびターゲットとバッキングプレート
JP3149859U (ja) * 2009-02-04 2009-04-16 株式会社島津製作所 プラズマ処理装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012508617A (ja) * 2008-11-12 2012-04-12 メドラッド インコーポレーテッド 直腸内クワドラチュアコイルおよびそのためのインターフェース装置
JP2013046792A (ja) * 2008-11-12 2013-03-07 Medrad Inc 直腸内クワドラチュアコイルおよびそのためのインターフェース装置

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