JP2011118308A - 画像形成装置、及びプロセスカートリッジ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】導電性基体、感光層、及び表面層を含み、前記導電性基体上に前記感光層及び表面層をこの順に有し、表面層の少なくとも最表面が、酸素及び13族元素を含み、最表面における酸素の含有量が15原子%を超える電子写真感光体と、電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と、帯電手段により帯電された電子写真感光体の表面を露光して静電潜像を形成する潜像形成手段と、トナー及び破壊強度が100MPa以上200MPa以下のキャリアを含む現像剤を収納し、現像剤により、電子写真感光体に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、電子写真感光体に形成されたトナー像を記録媒体に転写する転写手段と、
を備えた画像形成装置である。
【選択図】図1
Description
請求項1に係る発明は、
導電性基体、感光層、及び表面層を含み、前記導電性基体上に前記感光層及び前記表面層をこの順に有し、前記表面層の少なくとも最表面が、酸素及び13族元素を含み、前記最表面における前記酸素の含有量が15原子%を超える電子写真感光体と、
前記電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と
前記帯電手段により帯電された前記電子写真感光体の表面を露光して静電潜像を形成する潜像形成手段と、
トナー及び破壊強度が100MPa以上200MPa以下のキャリアを含む現像剤を収納し、前記現像剤により、前記電子写真感光体に形成された前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
前記電子写真感光体に形成された前記トナー像を記録媒体に転写する転写手段と、
を備えた画像形成装置。
前記転写手段が、
前記電子写真感光体に形成された前記トナー像が転写される中間転写体と、
前記電子写真感光体に形成された前記トナー像を前記中間転写体に転写する一次転写手段と、
前記中間転写体に転写された前記トナー像を前記記録媒体に転写する二次転写手段と、
を備える請求項1に記載の画像形成装置。
前記帯電手段が、接触方式の帯電手段である請求項1又は2に記載の画像形成装置。
導電性基体、感光層、及び表面層を含み、前記導電性基体上に前記感光層及び前記表面層をこの順に有し、前記表面層の少なくとも最表面が、酸素及び13族元素を含み、前記最表面における前記酸素の含有量が15原子%を超える電子写真感光体と、
トナー及び破壊強度が100MPa以上200MPa以下のキャリアを含む現像剤を収納し、前記現像剤により、前記電子写真感光体に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
を備えたプロセスカートリッジ。
請求項2に係る発明によれば、中間転写方式を採用しても、上記特定の表面層を持つ電子写真感光体を備えた画像形成装置において、上記範囲の破壊強度のキャリアを含む現像剤を採用しない場合に比べ、画像乱れ(画像ボケ)が抑制される。
請求項3に係る発明によれば、接触帯電方式の帯電手段を採用しても、上記特定の表面層を持つ電子写真感光体を備えた画像形成装置において、上記範囲の破壊強度のキャリアを含む現像剤を採用しない場合に比べ、画像乱れ(画像ボケ)が抑制される。
請求項4に係る発明によれば、上記特定の表面層を持つ電子写真感光体を備えたプロセスカートリッジにおいて、上記範囲の破壊強度のキャリアを含む現像剤を採用しない場合に比べ、画像乱れ(画像ボケ)が抑制される。
そして、電子写真感光体として、導電性基体、感光層、及び表面層を含み、導電性基体上に感光層及び表面層をこの順に有し、表面層の少なくとも最表面が、酸素と、13族元素とを含み、最表面における酸素の含有量が15原子%を超える電子写真感光体(以下、特定の感光体と称する場合がある)を採用し、現像剤として、トナー及び破壊強度が100MPa以上200MPa以下のキャリア(以下、特定のキャリアと称する場合がある)を含む現像剤を採用する。
なお、導電性とは、体積抵抗率が107Ω・cm未満のことを意味する。
なお、「表面層の少なくとも最表面」とは、表面からの深さが少なくとも数nmの範囲内(具体的には、表面から1nm以上50nm以下程度の範囲)の層を意味し、はXPS(X線光電子分光法)により固体表面を測定した際の、深さ方向の測定範囲に相当する部分の層を意味する。なお、13族元素と酸素と主たる構成元素として含む層は、表面層の表面から深さ方向に0.5nm以上の厚みを有していることが望ましく、10nm以上の厚みを有していることが更に望ましい。
この現象は、高湿環境下(例えば80%RH)で連続して画像を出力(例えば100000枚以上)したときに、発生し易い。また、この現象は、感光体とする表面がもろく、表面層が薄い場合に、発生し易い。
このため、本実施形態に係る画像形成装置では、キャリアにより特定の感光体の表面に凹部が形成され難くなることから、画像乱れ(画像ボケ)が抑制される。
図6は、本実施形態に係る画像形成装置を示す概略構成図である。
電子写真感光体10は、導電性基体と、感光層と、表面層とを含み、前記導電性基体上に前記感光層と前記表面層とがこの順に積層され、表面層の少なくとも最表面が、酸素と、13族元素とを含み、最表面における酸素の含有量が15原子%を超えるものである。
特に、第3の元素としては、表面層に窒素が含まれていることが望ましい。この場合、13族元素と窒素との結合により、硬度と透明性とを得られ、機械的耐久性が得られる。さらに、後述するように、表面層中の構造欠陥が抑制される点から表面層には水素が含まれていることも望ましい。
さらに、表面層厚み方向における酸素の濃度分布は、均一でも不均一でもよいが、感光層側に向かって減少(すなわち、電子写真感光体10の表面側に向かって増加)していることが望ましい。更に、電子写真感光体10の表面側では、酸素と、13族元素とからなり、電子写真感光体10の感光層側では、酸素以外の他の元素と、13族元素とからなる(すなわち、酸素を含まない)ことが望ましい。
この酸素濃度分布を有することにより、機械的耐久性、耐酸化性、放電生成物の付着に起因する画像欠陥及び感度をより高水準で両立させられる上に、これらの特性をより長期に渡って維持することが容易であり、特に酸素以外の他の元素が窒素である場合に、この効果がより一層発揮される。なお、表面層厚み方向の酸素濃度の分布プロファイルは特に限定されず、例えば、直線状、曲線状、階段状のいずれでもよい。
すなわち、B,Al及びGa原子を用いる場合のこれら原子の表面層中の含有量は、0.1原子%以上50原子%以下の範囲内であることが望ましく、5原子%以上40原子%以下の範囲内であることがより望ましい。B,AlやGa原子の含有量が、0.1原子%未満の場合は、表面層の形成自体が困難となる場合がある。また、含有量が、50原子%を超える場合は、表面層の透明性が低下し、感光層に入射する光量が少なくなり、電子写真感光体10の感度の低下を招く場合がある。
13族元素としてIn原子を用いる場合の含有量は、0.1原子%以上50原子%以下が望ましく、5原子%以上40原子%以下がより望ましい。これらの範囲を外れた場合は、上述と同様の問題が発生する場合がある。
また、酸素の含有量は、15原子%を超えることが望ましく、20原子%以上60原子%以下が望ましく、25原子%以上50原子%以下がより望ましい。酸素の含有量が15原子%未満の場合には、電子写真感光体10表面の耐酸化性が不充分となり、画像形成装置内で使用した場合に、電子写真感光体10の特性が劣化したり、機械的特性が確保できない場合がある。
表面層の最表面における、13族元素や酸素等の元素の含有量は、XPS(X線光電子分光法)により求める。
例えば、XPSの測定装置として日本電子社製JPS9010MXを用い、X線ソースにはMgKα線を用い、10kV,20mAで照射することにより測定する。この場合、光電子の測定は1eVのステップで行い、元素の含有量は、Ga元素に対しては3d5/2、Oは1s,Nは1sスペクトルを測定し、スペトクルの面積強度と感度因子により求める。なお、測定前にArイオンエッチングを500Vで10s程度行う。
また、表面層全体中における各元素の含有量については二次電子質量分析法やラザフォードバックスキャタリング法などを用いる。
また、詳細は後述するが、表面層は、気相成膜法を利用して感光層上に積層形成されるため、成膜条件等によっては、その断面が柱状構造となる場合もある。しかしながら、電子写真感光体10表面の滑り性の観点からは、この柱状構造を有さないことが望ましい。
次に、電子写真感光体10の層構成について説明する。
電子写真感光体10は、その層構成が導電性基体上に感光層と表面層とがこの順に積層されたものであれば特に限定されず、これら3つの層の間に必要に応じて下引層等の中間層を設けてもよい。また、感光層は、2層以上であってもよく、更に、機能分離型であってもよい。さらに、電子写真感光体10は、感光層がシリコン原子を含むいわゆるアモルファスシリコン感光体であってもよく、感光層が有機感光材料等の有機高分子を含むいわゆる有機感光体であってもよい。
図1に示す電子写真感光体10は、導電性基体1上に、電荷発生層2A、電荷輸送層2B、表面層3がこの順に積層された層構成を有し、感光層2は電荷発生層2A及び電荷輸送層2Bの2層から構成される。
図2は、電子写真感光体10の層構成の他の例を示す模式断面図であり、図2中、4は下引層、5は中間層を表し、他は、図1中に示したものと同様である。
図2に示す電子写真感光体10は、導電性基体1上に、下引層4、電荷発生層2A、電荷輸送層2B、中間層5、表面層3がこの順に積層された層構成を有する。
図3は、電子写真感光体10の層構成の他の例を示す模式断面図であり、図3中、6は感光層を表し、他は、図1、図2中に示したものと同様である。
図3に示す電子写真感光体10は、導電性基体1上に、下引層4、感光層6、表面層3がこの順に積層された層構成を有し、感光層6は、図1や図2に示す電荷発生層2A及び電荷輸送層2Bの機能が一体となった層である。
なお、感光層2,6は、有機高分子から形成されたものでもよいし、無機材料から形成されたものでもよいし、それらが組み合わされたものでもよい。
次に、電子写真感光体10が有機感光体である場合の望ましい構成について、その概要を説明する。
感光層を形成する有機高分子化合物は熱可塑性であっても熱硬化性のものであっても、また2種類の分子を反応させて形成するものでもよい。また、感光層と表面層との間に、硬度や膨張係数、弾力性の調整、密着性の向上などの観点から中間層を設けてもよい。中間層は、表面層の物性及び感光層(機能分離型の場合は電荷輸送層)の物性の両者に対して、中間的な特性を示すものが好適である。また、中間層を設ける場合には、中間層は、電荷をトラップする層として機能してもよい。
次に、電子写真感光体10がアモルファスシリコン感光体である場合の望ましい構成について、その概要を説明する。
アモルファスシリコン感光体は、正帯電用でも負帯電用の感光体でもよい。導電性基板の上に電荷注入阻止や接着性向上のための下引き層を形成し、ついで感光層と表面層を設けたものが使用され得る。表面層は感光層の表面に中間層を設け、さらにその表面に表面層を設けてもよいし、感光層の表面に直に表面層を設けてもよい。
また、感光層の最上層(表面層側の層)は、p型アモルファスシリコンであってもよくn型アモルファスシリコンであってもよく、感光層と表面層との間に中間層(電荷注入阻止層)として、例えば、SiXO(1−X):H,SiXN(1−X):H,SiXC(1−X):H,アモルファスカーボン層が形成されていてもよい。
次に、上述した組成等以外の表面層の望ましい特性や、表面層の形成方法についてより詳細に説明する。
表面層は、既述したように非晶性あるいは結晶性のいずれでもよいが、感光層(あるいは中間層)との密着性を高めかつ電子写真感光体10表面の滑りを良くするためには、表面層の下層(感光層側)が微結晶性であり、上層(電子写真感光体10表面側)が非晶質性であることが望ましい。
表面層が電荷注入層としても機能する場合には、中間層や感光層の表面(表面層側の面)で電荷がトラップされる。負帯電の場合にn型の表面層は電荷注入層として機能し、p型の表面層は電荷注入阻止層として機能する。正帯電の場合にはn型の表面層は電荷注入阻止層として機能し、p型の表面層は電荷注入層として機能する。
この場合の酸化処理方法としては、大気中に放置することによる自然酸化や、オゾン等を利用した強制酸化のいずれの方法を利用してもよいが、電子写真感光体10として画像形成装置に組み込んで使用する前に酸化処理を実施しておくことがよい。なお、酸化処理は、意図的且つ制御された条件で実施すること電子写真感光体10表面面内の表面層の特性バラツキや、電子写真感光体10間の品質バラツキを抑制する上で特に望ましい。
また、自然酸化の時間が短い場合には、最表面側の層が酸化されないまま、電子写真感光体10として使用されてしまうと、本来の性能が発揮できないまま、表面層の顕著な摩滅等が発生してしまい、実用に耐えない場合がある。この観点からは、自然酸化処理を行う時間は、3時間以上であることが望ましく、10時間以上であることが望ましく、24時間以上であることが更に望ましい。
図4は、電子写真感光体10の表面層の形成に用いる成膜装置の一例を示す概略模式図であり、図4(A)は、成膜装置を側面から見た場合の模式断面図を表し、図4(B)は、図4(A)に示す成膜装置のA1−A2間における模式断面図を表す。図4中、210は成膜室、211は排気口、212は基体回転部、213は基体ホルダー、214は基体、215はガス導入部、216はシャワーノズル、217はプラズマ拡散部、218は高周波電力供給部、219は平板電極、220はガス導入管、221は高周波放電部である。
このプラズマ発生装置は、高周波放電部221と、高周波放電部221内に配置され、放電面が排気口211側に設けられた平板電極219と、高周波放電部221外に配置され、平板電極219の放電面と反対側の面に接続された高周波電力供給部218とから構成されたものである。なお、高周波放電部221には、高周波放電部221内にガスを供給するためのガス導入管220が接続されており、このガス導入管220のもう一方の端は、不図示の第1のガス供給源に接続されている。
また、成膜室210内には、基体回転部212が設けられており、円筒状の基体214が、シャワーノズル216の長手方向と基体214の軸方向とが互いに沿って対面するように基体ホルダー213を介して基体回転部212に取りつけられるようになっている。成膜に際しては、基体回転部212が回転することによって、基体214が周方向に回転させる。なお、基体214としては、予め感光層まで積層された電子写真感光体10、あるいは、感光層上に中間層までが積層された電子写真感光体10が用いられる。
次に、水素をキャリアガスとして用いて水素希釈したトリメチルガリウムガスをガス導入管215、シャワーノズル216を介して成膜室210に導入することによって、基体214表面に水素とチッ素とガリウムとを含む膜を成膜する。
前者の場合には、窒素ガスに酸素ガスやN2OやH2Oなどの酸素を含有するガスを混合することよって酸素と窒素と13族元素とを含む表面層を成膜する。またHeやArなどの希ガスに酸素ガスやN2OやH2Oなどの酸素を含有するガスを混合してプラズマを発生し、トリメチルガリウムガスなどの有機金属ガスと反応させ、酸素とガリウムとを含む表面層を形成してもよい。
一方、後者の場合には、真空中で行ってもよいし、大気中で行ってもよい。真空中で行う場合には、例えば希ガスなどで希釈した酸素ガスを用いて高周波放電を行い膜中に酸素を取り込ませる。さらに酸素を膜中に取り込ませる他の方法としては、熱拡散法、イオン注入法等の公知の方法が採用される。あるいは、水素を含みチッ素とガリウムからなる膜が表面に形成された基体214を、単に大気中の空気に曝したり、大気圧下で酸素雰囲気に晒すことによっても酸化を行ってもよい。
有機感光体を作製する場合において、表面層の成膜時の基体温度は、150℃以下が望ましく、100℃以下がより望ましい。基体温度が150℃以下であっても、プラズマの影響で150℃より高くなる場合には感光層が熱で損傷を受ける場合があるため、この影響を考慮して基体温度を設定することが望ましい。
基体温度は図示していない方法で制御してもよいし、放電時の自然な温度の上昇に任せてもよい。基体214を加熱する場合にはヒータを基体214の外側や内側に設置してもよい。基体214を冷却する場合には基体214の内側に冷却用の気体又は液体を循環させてもよい。
放電による基体温度の上昇を避けたい場合には、基体214表面に当たる高エネルギーの気体流を調節することが効果的である。この場合、ガス流量や放電出力、圧力などの条件を所要温度となるように調整する。
13族元素を含むガスとしてはトリメチルガリウムガスの代わりにインジウム、アルミニウムを含む有機金属化合物やジボランのような水素化物を用いてもよく、これらを2種類以上混合してもよい。
例えば、表面層の形成の初期において、トリメチルインジウムをガス導入管215、シャワーノズル216を介して成膜室210内に導入することにより、基体214上にチッ素とインジウムとを含む膜を成膜すれば、この膜が、継続して成膜する場合に発生し、感光層を劣化させる紫外線が吸収される。このため、成膜時の紫外線の発生による感光層へのダメージが抑制される。
具体的には、少なくとも一つ以上のドーパント元素を含むガスをガス導入管215、シャワーノズル216を介して成膜室210内に導入することによってn型、p型等任意の導電型の表面層が得られる。
例えば、図4に示す成膜装置において、水素ガスと窒素ガスと別々の位置から成膜装置内に導入する場合には、水素ガスの活性化状態と、窒素ガスの活性化状態とを各々独立して制御するように、複数のプラズマ発生装置を設けてもよい。また、これに対して、水素及び窒素の供給材料としてNH3のようなチッ素原子と水素原子とを同時に含むガスを用いたり、窒素ガスと水素ガスとを混合したガスを用いて、これをプラズマにより活性化してもよい。
さらに、プラズマにより活性化される水素の水素源としては、成膜装置内に一旦導入された水素原子を含む有機金属化合物を活性化して、遊離生成した水素を利用してもよい。
この硬質膜は、シリコンカーバイトに含まれるsp2結合性の炭素原子とは異なり、タイヤモンドを構成する炭素原子のように、GaとNとがsp3結合を形成するため透明である。また、この硬質膜を、自然酸化や、成膜後に酸素やオゾンなどの酸化処理によって酸素を含んだ膜となり、この膜は透明且つ硬質であり、膜の表面は撥水性やすべり性が高く低摩擦である。
さらに、これらの装置を2種類以上組み合わせて用いてもよく、あるいは、同種の装置を2つ以上用いてもよい。
例えば、2種類のプラズマ発生手段をガス流に対して直列に設置する場合、図4に示す成膜装置を例に上げれば、シャワーノズル216を電極として成膜室210内に放電を起こさせる第2のプラズマ発生装置として利用する。この場合、ガス導入管215を介して、シャワーノズル216に高周波電圧を印加して、シャワーノズル216を電極として成膜室210内に放電を起こさせる。
あるいは、シャワーノズル216を電極として利用する代わりに、成膜室210内の基体214とプラズマ拡散部217との間に円筒状の電極を設けて、この円筒状電極を利用して、成膜室210内に放電を起こさせてもよい。
また、異なる2種類のプラズマ発生装置を同一の圧力下で利用する場合、例えば、マイクロ波発振装置と高周波発振装置とを用いる場合、励起種の励起エネルギーを大きく変えることができ、膜質の制御に有効である。また、放電は大気圧で行ってもよい。
次に、電子写真感光体10を構成する導電性基体及び感光層の詳細や、必要に応じて設けられる下引層や中間層の詳細について、電子写真感光体10が機能分離型の感光層を有する有機感光体用である場合について説明する。
導電性基体としては、アルミニウム、銅、鉄、ステンレス、亜鉛、ニッケル等の金属ドラム;シート、紙、プラスチック、ガラス等の基材上にアルミニウム、銅、金、銀、白金、パラジウム、チタン、ニッケル−クロム、ステンレス鋼、銅−インジウム等の金属を蒸着したもの;酸化インジウム、酸化スズ等の導電性金属化合物を上記基材に蒸着したもの;金属箔を上記基材にラミネートしたもの;カーボンブラック、酸化インジウム、酸化スズ−酸化アンチモン粉、金属粉、ヨウ化銅等を結着樹脂に分散し、上記基材に塗布することによって導電処理したもの等が挙げられる。また、導電性基体の形状は、ドラム状、シート状、プレート状のいずれであってもよい。
次に、下引層について説明する。下引層を構成する材料としては、ポリビニルブチラールなどのアセタール樹脂;ポリビニルアルコール樹脂、カゼイン、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂などの高分子樹脂化合物のほかに、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、マンガン、ケイ素原子などを含有する有機金属化合物などが挙げられる。
これらの化合物は単独にあるいは複数の化合物の混合物あるいは重縮合物として用いる。これらの中でも、ジルコニウムもしくはケイ素を含有する有機金属化合物は、残留電位が低く環境による電位変化が少なく、また繰り返し使用による電位の変化が少ないため望ましく使用される。また、有機金属化合物は、これを単独又は2種以上を混合したり、さらに上述の結着樹脂と混合して用いてもよい。
下引層を形成する場合には、その膜厚は0.1μm以上3μm以下の範囲内となるように形成することがよい。
また、下引層形成用塗布液には、少なくとも1種の電子受容性物質を含有させてもよい。
これらの添加物は、単独で用いてもよいが、複数の化合物の混合物あるいは重縮合物として用いてもよい。
分散型下引層用塗布剤に含まれる結着樹脂としては、ポリビニルブチラールなどのアセタール樹脂、ポリビニルアルコール樹脂、カゼイン、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂、ウレタン樹脂などの公知の高分子樹脂化合物、また電荷輸送性基を有する電荷輸送性樹脂やポリアニリン等の導電性樹脂などが挙げられる。
この分散型下引層用塗布液により下引層を形成する方法は、上述した下引層用塗布液を用いて下引層を形成する方法と同様に行う。
次に、感光層について、電荷輸送層と電荷発生層とに分けてこの順に以下に説明する。
電荷輸送層は、電荷輸送材料、結着樹脂、及び有機溶剤を含む溶液を塗布することにより形成される。
電荷輸送層形成用塗布液には、塗布形成される塗膜の平滑性向上のためのレベリング剤としてシリコーンオイルを添加してもよい。
電荷輸送層の膜厚は一般には5μm以上50μm以下の範囲内とすることが望ましく、10μm以上30μm以下の範囲内がより望ましい。
電荷発生層は、例えば、電荷発生材料を真空蒸着法により蒸着させて形成するか、電荷発生材料、有機溶剤及び結着樹脂を含む溶液を塗布することにより形成される。
また、これらの有機顔料は一般に数種の結晶型を有しており、特にフタロシアニン化合物ではα型、β型などをはじめとしてさまざまな結晶型が知られているが、目的にあった感度その他の特性が得られる顔料であるならば、これらのいずれの結晶型を用いてもよい。
フタロシアニン化合物の中でも、下記(1)乃至(3)に示すようなフタロシアニンがより望ましい。すなわち、
(1)電荷発生材料としてCukα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)において、少なくとも7.6°,10.0°,25.2°,28.0°の位置に回折ピークを有する結晶型のヒドロキシガリウムフタロシアニン。
(2)電荷発生材料としてCukα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)において、少なくとも7.3°,16.5°,25.4°,28.1°の位置に回折ピークを有する結晶型のクロルガリウムフタロシアニン、
(3)電荷発生材料としてCukα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角度(2θ±0.2°)において、少なくとも9.5°,24.2°,27.3°の位置に回折ピークを有する結晶型のチタニルフタロシアニン。
これらの結着樹脂は、単独であるいは2種以上混合して用いてもよい。
電荷発生層を形成する為の塗布液の溶媒として公知の有機溶剤が挙げられる。
また、溶媒は単独あるいは2種以上混合して用いてもよい。2種類以上の溶媒を混合して用いる場合には、混合溶媒として結着樹脂を溶かす溶媒であれば使用していもよい。但し、感光層が、導電性基体側から、電荷輸送層と電荷発生層とをこの順に形成した層構成を有する場合に、浸漬塗布のように下層を溶解しやすい塗布方法を利用して電荷発生層を形成する際には、電荷輸送層等の下層を溶解しない溶媒を用いることがよい。
電荷発生層の厚みは、一般には0.01μm以上5μm以下の範囲内であることが望ましく0.05μm以上2.0μm以下の範囲内であることがより望ましい。
中間層としては、例えば、帯電装置により電子写真感光体10表面を帯電させる際に、帯電電荷が電子写真感光体10表面から対抗電極である電子写真感光体10の導電性基体にまで注入して帯電電位が得られなくなることを抑制するためにM必要に応じて表面層と電荷発生層との間に電荷注入阻止層を形成してもよい。
電荷注入阻止層の材料としてはシランカップリング剤、チタンカップリング剤、有機ジルコニウム化合物、有機チタン化合物、その他の有機金属化合物、ポリエステル、ポリビニルブチラールなどの汎用樹脂を用いる。電荷注入阻止層の膜厚は0.001μm以上5μm以下程度の範囲内で成膜性及びキャリアブロッキング性を考慮して設定される。
帯電装置20としては、例えば、導電性の帯電ローラ、帯電ブラシ、帯電フィルム、帯電ゴムブレード、帯電チューブ等を用いた接触型帯電器が挙げられる。また、帯電装置20としては、例えば、非接触方式のローラ帯電器、コロナ放電を利用したスコロトロン帯電器やコロトロン帯電器等のそれ自体公知の帯電器等も挙げられる。帯電装置20としては、接触型帯電器がよい。
露光装置30としては、例えば、電子写真感光体10表面に、半導体レーザ光、LED光、液晶シャッタ光等の光を、像様に露光する光学系機器等が挙げられる。光源の波長は電子写真感光体10の分光感度領域にあるものがよい。半導体レーザの波長としては、例えば、780nm前後に発振波長を有する近赤外がよい。しかし、この波長に限定されず、600nm台の発振波長レーザや青色レーザとして400nm以上450nm以下に発振波長を有するレーザも利用してもよい。また、露光装置30としては、例えばカラー画像形成のためにはマルチビーム出力するタイプの面発光型のレーザ光源も有効である。
現像装置40は、例えば、現像領域で電子写真感光体10に対向して配置されており、例えば、トナー及びキャリアからなる2成分現像剤を収容する現像容器41(現像装置本体)と、補給用現像剤収納容器(トナーカートリッジ)47と、を有している。現像容器41は、現像容器本体41Aとその上端を塞ぐ現像容器カバー41Bとを有している。
現像剤は、トナーとキャリアを含む二成分系現像剤が採用される。
トナーは、例えば、結着樹脂、着色剤、及び必要に応じて離型剤等の他の添加剤を含むトナー粒子と、必要に応じて外添剤と、を含んで構成される。但し、トナーは、上述のように、外添剤として潤滑剤成分(例えば、ステアリン酸金属塩、フッ素樹脂粒子等)を含まない、又は含んでも少量(例えばトナー粒子に対して0.1質量%以上1.0質量%以下)であることがよい。
キャリアは、破壊強度が100MPa以上200MPa以下であり、望ましくは100MPa以上180MPa以下、より望ましくは100MPa以上150MPa以下である。破壊強度が上記範囲であると、キャリアしての機能を発揮させつつ、過度の圧力が加わると破壊され易くなる。その結果、電子写真感光体10の表面に食い込み難くなり、凹部の形成が抑制される。
式:St=2.8×P÷(π×d×d)
ここで、Stは破壊強度(MPa)、Pは試験力(N)、dはキャリア(粒子)の直径(mm)を示す。
(式中、Mは、Cu、Zn、Fe、Mg、Mn、Ca、Li、Ti、Ni、Sn、Sr、Al、Ba、Co、Mo等から選ばれる少なくとも1種を含有する:またX、Yは質量mol比を示し、かつ条件X+Y=100を満たす)
キャリアの帯電性は15μC/g以上50μC/g以下が望ましい。
キャリアの磁気ブラシの形にして測定した時の動的電気抵抗は、104V/cmの電界の下で1×10Ω・cm以上1×109Ω・cm以下、望ましくは1×103Ω・cm以上1×108Ω・cm以下の範囲が適当である。
キャリアとトナーが混合された時の動的電気抵抗は104V/cmの電界の下で1×105Ω・cm以上1×109Ω・cm以下の範囲が適当である。
一次転写装置51、及び二次転写装置52としては、例えば、ベルト、ローラ、フィルム、ゴムブレード等を用いた接触型転写帯電器、コロナ放電を利用したスコロトロン転写帯電器やコロトロン転写帯電器等のそれ自体公知の転写帯電器が挙げられる。
クリーニング装置70は、筐体71と、筐体71から突出するように配設されるクリーニングブレード72を含んで構成されている。クリーニングブレード72は、電子写真感光体10の回転軸に沿った方向に延びた板状のものであって、電子写真感光体10における除電装置60によって除電される位置より電子写真感光体10の回転方向(矢印a)の上流側に、先端部が圧力を掛けつつ接触されるように設けられている。
プロセスカートリッジ101Aの構成は、これに限られず、例えば、少なくとも、電子写真感光体10と現像装置40を備えてえればよく、その他、例えば、帯電装置20、露光装置30、一次転写装置51、及びクリーニング装置70から選択される少なくとも一つを備えていてもよい。
に制限されるものではない。
まず、以下に説明する手順により、Al基体上に、下引層と電荷発生層と電荷輸送層とをこの順に積層形成した有機感光体を作製した。
−下引層の形成−
ジルコニウム化合物(商品名:マツモト製薬社製オルガノチックスZC540)20質量部、シラン化合物(商品名:日本ユニカー社製A1100)2.5質量部、ポリビニルブチラール樹脂(商品名:積水化学社製エスレックBM−S)10質量部及びブタノール45質量部を攪拌混合して得た溶液を、外径84mmのAl製基体表面に塗布し、150℃10分間加熱乾燥することにより、膜厚1.0μmの下引層を形成した。
次に、電荷発生材料としてクロロガリウムフタロシアニン1質量部を、ポリビニルブチラール(商品名:積水化学社製エスレックBM−S)1質量部及び酢酸n−ブチル100質量部と混合して得られた混合物をガラスビーズとともにペイントシェーカーで1時間分散し、電荷発生層形成用分散液を得た。
この分散液を浸漬法により下引層の上に塗布した後、100℃で10分間乾燥させ、膜厚0.15μmの電荷発生層を形成した。
次に、下記構造式(1)で表される化合物を2質量部、及び、下記構造式(2)で表される高分子化合物(重量平均分子量 39000)3質量部をクロロベンゼン20質量部に溶解させて電荷輸送層形成用塗布液を得た。
ノンコート感光体表面への表面層の形成は、図4に示す構成を有する成膜装置を用いて行った。
まず、ノンコート感光体を、成膜装置の成膜室210内の基体ホルダー213に載せ、排気口211を介して成膜室210内を、圧力が0.1Pa程度になるまで真空排気した。次に、窒素ガスとH2ガスとを1:1の割合で混合したガスをガス導入管220から、直径50mmの平板電極219が設けられた高周波放電部221内に1000sccm(窒素ガス500sccm、水素ガス500sccm)導入し、高周波電力供給部218及びマッチング回路(図1中不図示)により、13.56MHzのラジオ波を出力100Wにセットしチューナでマッチングを取り平板電極219から放電を行った。この時の反射波は0Wであった。
次に、水素ガスをキャリアガスとしたトリメチルガリウムガスを含む混合ガスを、ガス導入管215を介してシャワーノズル216から成膜室210内のプラズマ拡散部217に、トリメチルガリウムガスの流量が0.3sccmとなるように導入した。この時、バラトロン真空計で測定した成膜室210内の反応圧力は40Paであった。
続いて、成膜後のノンコート感光体を、通常の常温常湿環境(温度25℃、湿度50%程度)に24時間放置して、自然酸化による酸化処理を実施し、電荷輸送層表面に表面層が設けられた有機感光体を得た。
ノンコート感光体表面への成膜に際し、同時にSi基板に成膜した膜の赤外線吸収スペクトル測定を、成膜直後の膜について実施したところ、Ga−H結合、Ga−N結合及びN−H結合に起因するピークが確認された。なお、Si基板に成膜した膜を、上記と同様に酸化処理した後の膜について測定しても、これら3つの結合に起因するピーク強度はGa−H結合が1/2に減少したが他のピークは同程度の強度で確認された。これらのことから、表面層中には、ガリウムと窒素と水素とが含まれていることがわかった。
また、Si基板上に形成された膜の表面について、上記と同様の常温常湿環境且つコンタミが付着し難い環境下で成膜から24時間放置後に、XPS(X線光電子分光法)により測定したところ、酸素が60原子%,Gaが40原子%であり、窒素は認められなかった。この結果に加えて、XPS測定による深さ方向の分解能は最表面数nm程度であることや、表面層全体が測定対象となる赤外線吸収スペクトルの結果から、少なくとも表面層の最表面は、酸素が多く、窒素が少ない状態になっており、表面層膜厚方向に対する酸素原子の濃度が、電荷輸送層側に向かって減少(窒素原子の濃度が電荷輸送層側に向かって増加)していることがわかった。
また、成膜直後のSi基板上に形成された膜は、水に浸すと溶解したが、通常の常温常湿環境に1週間放置した後の膜は水に浸しても溶解しない上に、ステンレス鋼で擦っても傷が付かなかった。
以上の分析・評価結果から、成膜、酸化処理を経て形成された表面層は、非晶質で、水素、窒素、ガリウムに加えて酸素も含む組成を有し、酸素については表面層膜厚方向に対する酸素原子の濃度が、最表面で最も高く、電荷輸送層側に向かって減少する分布を有している膜であることがわかった。
次に、この表面層を設けた有機感光体の電子写真特性を評価した。まず、上述の表面層形成前のノンコート感光体と、表面層を設けた感光体とに対して、露光用の光(光源:半導体レーザ、波長780nm、出力5mW)を、スコロトロン帯電器により−700Vに帯電させた状態で40rpmで回転させている感光体の表面に走査しながら照射した後の感光体表面の残留電位を測定した。その結果、ノンコート感光体が−20Vであるの対し、表面層を設けた有機感光体は−50V以下で、実用上問題ないレベルであることがわかった。
また、感度に対する影響については、光源の波長を赤外領域から可視領域全体にわたって評価したが、ノンコート感光体と、表面層を設けた感光体とでは殆ど差異は見られず、表面層を設けたことによる感度の低下が無いことがわかった。
さらに、表面層を設けた感光体の表面に対して、貼りつけた粘着テープを剥がす剥離試験を行ったが、表面層は全く剥離せず、接着性は良好であることがわかった。
電子写真感光体1と同様にして作製したノンコート感光体に対して、電子写真感光体1と同様の図4に示す構成を有する装置を用いて、以下に示す手順にて表面層を形成した。
まず、ノンコート感光体を、成膜装置の成膜室210内の基体ホルダー213に載せ、排気口211を介して成膜室210内を、圧力が0.1Pa程度になるまで真空排気した。次に、窒素ガスとH2ガスとが3:1の割合で混合でガスをガス導入管220から、直径50mmの平板電極219が設けられた高周波放電部221内に1000sccm(窒素ガス750sccm、水素ガス250sccm)導入し、高周波電力供給部218及びマッチング回路(図1中不図示)により、13.56MHzのラジオ波を出力100Wにセットしチューナでマッチングを取り平板電極219から放電を行った。この時の反射波は0Wであった。
次に、水素ガスをキャリアガスとしたトリメチルアルミニウムガスを含む混合ガスを、ガス導入管215を介してシャワーノズル216から成膜室210内のプラズマ拡散部217に、トリメチルアルミニウムガスの流量が1.0sccmとなるように導入した。プラズマはスリット状に17の拡散部を通して整えられる。この時、バラトロン真空計で測定した成膜室210内の反応圧力は40Paであった。
続いて、成膜後のノンコート感光体に対して、ヘリウム及び酸素の混合ガス(ヘリウム100sccm、酸素10sccm)を、ガス導入管220から、高周波放電部221内に導入し、高周波電力供給部218及びマッチング回路(図1中不図示)により、13.56MHzのラジオ波を出力100Wにセットしチューナでマッチングを取り平板電極219から放電を行い、酸化処理を10分間行った。その後、酸化処理を終えた表面層が形成された感光体を、成膜室210から取り出した。
ノンコート感光体表面への成膜・酸化処理に際し、同時にSi基板に成膜・酸化処理した膜の赤外線吸収スペクトル測定を実施したところ、Al−H結合、Al−N結合及びN−H結合に起因するピークが確認された。これらのことから、表面層中には、AlとNと水素とが含まれていることがわかった。
また、Si基板上に形成された膜の表面について、XPS(X線光電子分光法)により測定したところ、酸素が70原子%,Alが30原子%であり、窒素は認められず、膜の最表面は酸化アルミニウムが形成されていることがわかった。この結果に加えて、XPS測定による深さ方向の分解能は最表面数nm程度であることや、表面層全体が測定対象となる赤外線吸収スペクトルの結果から、少なくとも表面層の最表面は、酸素リッチ、窒素プアーな状態になっており、表面層膜厚方向に対する酸素原子の濃度が、電荷輸送層側に向かって減少(窒素原子の濃度が電荷輸送層側に向かって増加)していることがわかった。
以上の分析・評価結果から、成膜、酸化処理を経て形成された表面層は、非晶質で、水素、窒素、アルミニウムに加えて酸素も含む組成を有し、酸素については表面層膜厚方向に対する酸素原子の濃度が、最表面で最もリッチであり、電荷輸送層側に向かって減少する分布を有している膜であることがわかった。
また、感度に対する影響についても、光源の波長を赤外領域から可視領域全体にわたって評価したが、表面層形成前のノンコート感光体と、表面層を設けた感光体とでは殆ど差異は見られず、表面層を設けたことによる感度の低下が無いことがわかった。
さらに、表面層を設けた感光体の表面に対して、貼りつけた粘着テープを剥がす剥離試験を行ったが、表面層は全く剥離せず、接着性は良好であることがわかった。
その結果プリントテスト初期及びプリントテスト終了後のいずれにおいてもノンコート感光体を用いて形成されたプリントテスト初期の画像と同様の鮮明で10本/mmの解像度であり、画像ボケの無い画像を得ることができた。またプリントテスト後の感光体表面を目視により観察したところ傷の発生は無く磨耗は0μmであった。放電生成物の付着も確認されなかった。これに対し、ノンコート感光体では、プリントテスト後の感光体表面に傷が発生し、また、放電生成物の付着もみられた。
以上の結果から、表面層を設けた感光体は、耐久性が向上すると共に、感度や画像ボケのように画質の点では実用上問題ないレベルであることがわかった。
−表面層の形成−
電子写真感光体1で用いたのと同様のAl基体上に、n型のSi3Nからなる膜厚3μm厚の電荷注入阻止層と、膜厚20μmのi型のアモルファスシリコン感光層と、p型のSi2Cからなる膜厚0.5μmの電荷注入阻止表面層とをこの順に積層形成した負帯電型のアモルファスシリコン感光体の表面に、電子写真感光体1と同様の図4に示す構成を有する装置を用い、電子写真感光体1と同じ条件で、水素と窒素とガリウムとを含む膜を形成した。
続いて、この成膜処理を行ったアモルファスシリコン感光体を、コロトロン帯電器を備えた回転装置に取り付けて40rpmで回転させた。明所で室内空気雰囲気下(温度25℃、湿度50%)で、コロトロン帯電器に−6kVの電圧を印加して、一時間オゾン雰囲気に曝して表面を酸化させ、表面層を形成した。
なお、アモルファスシリコン感光体への成膜・酸化処理に際しては、同時にSiウェハー基板を用いて、同様の膜(表面層)のみを形成したサンプルも作製した。
また、XPS(X線光電子分光法)により測定したところ、酸素が70原子%,Gaが30原子%であり、窒素は認められず、また最表面は酸化ガリウムが形成されていることがわかった。この結果に加えて、XPS測定による深さ方向の分解能は最表面数nm程度であることや、表面層全体が測定対象となる赤外線吸収スペクトルの結果から、少なくとも表面層の最表面は、酸素リッチ、窒素プアーな状態になっており、表面層膜厚方向に対する酸素原子の濃度が、電荷輸送層側に向かって減少(窒素原子の濃度が電荷輸送層側に向かって増加)していることがわかった。
以上の分析・評価結果から、成膜、酸化処理を経て形成された表面層は、非晶質で、水素、窒素、ガリウムに加えて酸素も含む組成を有し、酸素については表面層膜厚方向に対する酸素原子の濃度が、最表面で最もリッチであり、電荷輸送層側に向かって減少する分布を有している膜であることがわかった。
次に、この表面層を設けたアモルファス感光体の電子写真特性を評価した。まず、上述の表面層形成前のアモルファス感光体(以下、「ノンコートアモルファス感光体」と称す場合がある)と、表面層を設けたアモルファス感光体とに対して、露光用の光(光源:半導体レーザ、波長650nm、出力5mW)を、スコロトロン帯電器により−500Vに帯電させた状態で40rpmで回転させている感光体の表面に走査しながら照射した後の感光体表面の残留電位を測定した。その結果、ノンコートアモルファス感光体が−20Vであるの対し、表面層を設けたアモルファスシリコン感光体は−60V以下で、実用上問題ないレベルであることがわかった。
また、感度に対する影響については、光源の波長を赤外領域から可視領域全体にわたって評価したが、ノンコートアモルファス感光体と、表面層を設けたアモルファスシリコン感光体とでは殆ど差異は見られず、表面層を設けたことによる感度の低下が無いことがわかった。
さらに、表面層を設けた感光体の表面に対して、貼りつけた粘着テープを剥がす剥離試験を行ったが、表面層は全く剥離せず、接着性は良好であることがわかった。さらに表面性もノンコートアモルファスシリコン感光体よりも平滑で且つすべりも良かった。
その結果プリントテスト初期及びプリントテスト終了後のいずれにおいてもノンコートアモルファスシリコン感光体を用いて形成されたプリントテスト初期の画像と同様の鮮明で画像ボケの無い10本/mmの解像度の画像を得ることができた。またプリントテスト後の表面層を設けたアモルファスシリコン感光体表面を目視により観察したところ傷の発生は無く、放電生成物の付着も確認されず、また、初期のすべりを維持していた。これに対し、ノンコートアモルファスシリコン感光体では、プリントテスト後の感光体表面に放電生成物の付着がみられるとともに、これに伴う1本/mm以下の解像度の画像ぼけが発生した。
以上の結果から、表面層を設けたアモルファスシリコン感光体は、ノンコートアモルファスシリコン感光体と比較した場合、硬度においてもノンコートアモルファスシリコン感光体と同等であり、感度の点でも同等である上に、放電生成物の付着による画像ボケの発生が防止でき、長期の使用に耐え得ることがわかった。
電子写真感光体1と同様にして作製したノンコート感光体に対して、電子写真感光体1と同様の図4に示す構成を有する装置を用いて、以下に示す手順にて表面層を形成した。
まず、ノンコート感光体を、成膜装置の成膜室210内の基体ホルダー213に載せ、排気口211を介して成膜室210内を、圧力が0.1Pa程度になるまで真空排気した。次に、メタンガスをガス導入管220から、直径50mmの平板電極219が設けられた高周波放電部221内に100sccm導入し、高周波電力供給部218及びマッチング回路(図1中不図示)により、13.56MHzのラジオ波を出力300Wにセットしチューナでマッチングを取り平板電極219から放電を行った。この時の反射波は0Wであった。
この時、バラトロン真空計で測定した成膜室210内の反応圧力は13Paであった。
感光体表面はこげ茶色であった。
また、感度に対する影響は、光源の波長を赤外領域から可視領域全体にわたって評価したが、表面層形成前のノンコート感光体と、表面層を設けた感光体とでは短波長から長波長にかけて全体に感度の低下が大きく、短波長では1/10,780nmの長波長でも1/3の減感があつた。
その結果プリント画像はコントラストが低く画像濃度が不十分であり、またプリントテスト終了後に画像ぼけがみられ画質の点で実用上問題あることがわかった。
−磁性粒子(1)の調製−
フェノール40質量部、ホルマリン60質量部、マグネタイト(体積平均粒径0.10μmの球形マグネタイト粒子粉末、1質量%KBM403処理品(戸田工業社製))430質量部、30%アンモニア水12質量部、イオン交換水60質量部を加え、混合攪拌しながら、85℃まで徐々に昇温させ、5時間反応、硬化させた後、冷却、ろ過、洗浄、乾燥し、粒径35μmの球状の磁性粒子(1)を得た。この磁性粒子の絶縁破壊電界はlog4.2V/cmであった。
トルエン100部、スチレンーメタクリレート共重合体(成分比30:70)2.7部、カーボンブラック(Regal330;キャボット社製)0.6部を60分間スターラーにて攪拌/分散し、被覆樹脂層を形成するために用いられる樹脂コート溶液(1)を調製した。
磁性粒子(1)100部と樹脂コート溶液(1)とを真空脱気型ニーダに入れ、常温、回転速度30rpmで15分間攪拌した後、減圧混合しながら80℃まで昇温し、トルエンを留去した後冷却し、75μmの篩を用いて分粒することにより、キャリア1を作製した。
得られたキャリアの破壊強度は127MPaであった。
磁性粒子(1)の調製でマグネタイト450質量部に変えた以外は全て同様に磁性粒子を作製し、キャリア1の作製と同様にキャリアを調整した。得られたキャリアの破壊強度は190MPaであった。
磁性粒子(1)の調製でマグネタイト400質量部に変えた以外は全て同様に磁性粒子を作製し、キャリア1の作製と同様にキャリアを調整した。得られたキャリアの破壊強度は105MPaであった。
磁性粒子(1)の調製でマグネタイト440質量部に変えた以外は全て同様に磁性粒子を作製し、キャリア1の作製と同様にキャリアを調整した。得られたキャリアの破壊強度は152MPaであった。
DocuCentre Colar 500(富士ゼロックス社製)用の現像剤のキャリアを準備した。
キャリアの破壊強度は、222MPaであった。
磁性粒子(1)の調製でマグネタイト380質量部に変えた以外は全て同様に磁性粒子を作製し、キャリア1の作製と同様にキャリアを調整した。得られたキャリアの破壊強度は95MPaであった。
DocuCentre Colar 500(富士ゼロックス社製)用の現像剤のキャリアを、それぞれ上記キャリア1〜4、比較キャリア1〜2に変更した現像剤を得た。なお、現像剤のトナー濃度は8質量%とした。
表1に従って、上記得られた電子写真感光体及び現像剤を富士ゼロックス社製DocuCenter Colar 500に適用して、高温高湿環境(28℃80%)下で、連続200000枚のプリント評価を行った。結果を表1に示す。
なお、DocuCenter Colar 500は、表面がアスカーC硬度60の接触帯電方式の帯電ロール、表面がアスカーC硬度80の中間転写ベルトを備える中間転写方式の画像形成装置である。
◎:画像乱れ(画像ボケ)が全く見られず、10本/mmの解像度の画像が得られた。
○:解像している部分が半分以上の画像が得られた。
△:解像している部分が半分以下の画像が得られた。
×:まったく解像していない画像が得られた。
○:画像が均一
△:画像がやや均一
×:画像が不均一
Claims (4)
- 導電性基体、感光層、及び表面層を含み、前記導電性基体上に前記感光層及び前記表面層をこの順に有し、前記表面層の少なくとも最表面が、酸素及び13族元素を含み、前記最表面における前記酸素の含有量が15原子%を超える電子写真感光体と、
前記電子写真感光体の表面を帯電する帯電手段と
前記帯電手段により帯電された前記電子写真感光体の表面を露光して静電潜像を形成する潜像形成手段と、
トナー及び破壊強度が100MPa以上200MPa以下のキャリアを含む現像剤を収納し、前記現像剤により、前記電子写真感光体に形成された前記静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
前記電子写真感光体に形成された前記トナー像を記録媒体に転写する転写手段と、
を備えた画像形成装置。 - 前記転写手段が、
前記電子写真感光体に形成された前記トナー像が転写される中間転写体と、
前記電子写真感光体に形成された前記トナー像を前記中間転写体に転写する一次転写手段と、
前記中間転写体に転写された前記トナー像を前記記録媒体に転写する二次転写手段と、
を備える請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記帯電手段が、接触方式の帯電手段である請求項1又は2に記載の画像形成装置。
- 導電性基体、感光層、及び表面層を含み、前記導電性基体上に前記感光層及び前記表面層をこの順に有し、前記表面層の少なくとも最表面が、酸素及び13族元素を含み、前記最表面における前記酸素の含有量が15原子%を超える電子写真感光体と、
トナー及び破壊強度が100MPa以上200MPa以下のキャリアを含む現像剤を収納し、前記現像剤により、前記電子写真感光体に形成された静電潜像を現像してトナー像を形成する現像手段と、
を備えたプロセスカートリッジ。
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