JP2011107103A - 温度検出装置、及び温度検出装置の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】上記課題を解決するために、シース管の内部に少なくとも一対の熱電対素線を配置してなるシース型熱電対と、2枚のワークシリコンウェハと、2枚のワークシリコンウェハに厚み方向で挟持され、シース型熱電対を収容する空間を形成するスペーサシリコンウェハとを備える温度検出装置を提供する。
【選択図】図1
Description
Claims (21)
- 温度センサと、
2枚のワークシリコンウェハと、
前記2枚のワークシリコンウェハに厚み方向で挟持され、前記温度センサを収容する空間を形成するスペーサシリコンウェハと、
を備える温度検出装置。 - 前記空間は、前記スペーサシリコンウェハに溝部を設けることにより形成される請求項1に記載の温度検出装置。
- 前記空間は、前記スペーサシリコンウェハにスリットを設けることにより形成される請求項1に記載の温度検出装置。
- 前記空間は、前記スペーサシリコンウェハを複数に分割して、互いに離間した状態で前記2枚のワークシリコンウェハで挟持することにより形成される請求項1に記載の温度検出装置。
- 互いに離間した複数のスペーサシリコンウェハの間に位置決め部が形成された請求項4に記載の温度検出装置。
- 前記位置決め部の高さは前記スペーサシリコンウェハの厚さよりも小さい請求項5に記載の温度検出装置。
- 前記スペーサシリコンウェハは、前記2枚のワークシリコンウェハよりも薄い請求項1ないし6のいずれか1項に記載の温度検出装置。
- 前記スペーサシリコンウェハは、前記温度センサの最大厚さ以上の厚さを有する請求項1ないし7のいずれか1項に記載の温度検出装置。
- 前記空間は、外周部から内側へ向かって狭くなる請求項1ないし8のいずれか1項に記載の温度検出装置。
- 前記空間は、外周部から内側へ向かって、前記厚み方向である高さが小さくなるように狭くなる請求項9に記載の温度検出装置。
- 前記空間は、外周部から内側へ向かって、前記厚み方向に直交する方向である幅が小さくなるように狭くなる請求項9または10に記載の温度検出装置。
- 前記温度センサと前記2枚のワークシリコンウェハとの隙間が充填材で密封される請求項1ないし11のいずれか1項に記載の温度検出装置。
- 前記温度センサを前記2枚のワークシリコンウェハのいずれかの面に付勢する付勢部材を前記空間に備える請求項1ないし11のいずれか1項に記載の温度検出装置。
- 前記温度センサは、熱電対であることを特徴とする請求項1ないし13のいずれか1項に記載の温度検出装置。
- 前記熱電対は、シース管と、前記シース管の内部に少なくとも一対の熱電対素線を配置してなるシース型熱電対であることを特徴とする請求項14に記載の温度検出装置。
- 前記シース管は、前記空間の形状に合わせて、かつ、前記一対の熱電対素線が外部空間に露出しないように、一部がカットされていることを特徴とする請求項15に記載の温度検出装置。
- 温度センサと、2枚のワークシリコンウェハと、スペーサシリコンウェハとを備える温度検出装置の製造方法であって、
前記2枚のワークシリコンウェハのうち一方のワークシリコンウェハの外周部に接するように配置された複数の位置決めピンに、前記スペーサシリコンウェハを当接させて位置決めする位置決め工程と、
前記位置決め工程により位置決めされた前記スペーサシリコンウェハを、前記2枚のワークシリコンウェハで厚さ方向に挟み込んで接合する接合工程と、
前記接合工程に先立って、又は、前記接合工程の後に実行される工程であって、前記位置決め工程によって形成された前記一方のワークシリコンウェハと前記スペーサシリコンウェハの間の空間に前記温度センサを収容する収容工程と
を備える温度検出装置の製造方法。 - 温度センサと、2枚のワークシリコンウェハと、スペーサシリコンウェハとを備える温度検出装置の製造方法であって、
前記2枚のワークシリコンウェハのうち一方のワークシリコンウェハの表面に位置決め部を設ける設定工程と、
前記設定工程により設けられた前記位置決め部に、前記スペーサシリコンウェハを当接させて位置決めする位置決め工程と、
前記位置決め工程により位置決めされた前記スペーサシリコンウェハを、前記2枚のワークシリコンウェハで厚さ方向に挟み込んで接合する接合工程と、
前記接合工程に先立って、又は、前記接合工程の後に実行される工程であって、前記位置決め工程によって形成された前記一方のワークシリコンウェハと前記スペーサシリコンウェハの間の空間に前記温度センサを収容する収容工程と
を備える温度検出装置の製造方法。 - 前記設定工程は、前記一方のワークシリコンウェハの表面をエッチングすることにより前記位置決め部を設ける請求項18に記載の温度検出装置の製造方法。
- 前記設定工程は、前記一方のワークシリコンウェハの表面に別体の位置決め部材を取り付けることにより前記位置決め部を設ける請求項18に記載の温度検出装置の製造方法。
- 前記温度センサは、シース管と、前記シース管の内部に少なくとも一対の熱電対素線を配置してなるシース型熱電対であり、
前記収容工程に先立って、前記シース管を、前記空間の形状に合わせて、かつ、前記一対の熱電対素線が外部空間に露出しないように、一部をカットする加工工程を実行する請求項17ないし20のいずれか1項に記載の温度検出装置の製造方法。
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JP2001272280A (ja) * | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Fenwall Controls Of Japan Ltd | 温度測定板 |
JP2005241292A (ja) * | 2004-02-24 | 2005-09-08 | Mitsubishi Electric Corp | 真空パッケージおよびその製造方法 |
JP2008286802A (ja) * | 2001-10-31 | 2008-11-27 | Rheosense Inc | スリット式レオメータ |
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JPH0415844U (ja) * | 1990-05-30 | 1992-02-07 | ||
JPH10313032A (ja) * | 1997-05-13 | 1998-11-24 | Super Silicon Kenkyusho:Kk | 温度分布測定用ウェーハ |
JP2001272280A (ja) * | 2000-03-24 | 2001-10-05 | Fenwall Controls Of Japan Ltd | 温度測定板 |
JP2008286802A (ja) * | 2001-10-31 | 2008-11-27 | Rheosense Inc | スリット式レオメータ |
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