JP2011064642A - 放射線検出装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】一実施形態に係る放射線検出装置80は、サブトラクション法を用いる異物検査用の放射線検出装置であって、被検査物Sを透過した第1エネルギ範囲の放射線を検出して第1画像を生成する第1放射線検出器32と、第1エネルギ範囲の放射線よりも高い第2エネルギ範囲の放射線を検出して第2画像を生成する第2放射線検出器42と、第1画像の画像処理を行う第1画像処理部34と、第2画像の画像処理を行う第2画像処理部44とを備え、第1放射線検出器32の画素の像検出方向での第1画素幅は、第2放射線検出器42の画素の像検出方向での第2画素幅より小さく、第1画像処理部34及び第2画像処理部44は、第1画像の画素数と第2画像の画素数とを等しくするように画素変更処理を行う。
【選択図】図2
Description
IL(y)=γ(α×L(x)+Β×L(x+1))
を満たすように設定されてもよい。
IH(y)=γ(α×H(x)+β×H(x+1))
を満たすように設定されてもよい。
(1)画素補間処理
(1−1)単純補間処理
(1−2)一次補間処理
[第(1+2)’画素の輝度値]={[第1画素の輝度値]+[第2画素の輝度値]}/2
このとき、画素変更回路34dは、この一次補間処理を行わず、低エネルギ検出器32から出力された画像をそのまま出力する。
IH(y)=γ(α×H(x)+β×H(x+1))
ここで、αは前画素補正係数、βは後画素補正係数、γは輝度調整係数であり、xは補間対象の画素の順番を表すものである。なお、αとβは任意の数を用いてもよいし、計算によって求めてもよい。また、定数を用いてもよい。
(2)画素間引き処理
(2−1)単純間引き処理
(2−2)平均化間引き処理
(2−3)加算間引き処理
(2−4)ミニマムフィルタ間引き処理
IL(y)=γ(α×L(x)+Β×L(x+1))
ここで、αは前画素補正係数、βは後画素補正係数、γは輝度調整係数であり、xは補正対象の画素の順番を表すものである。なお、αとβは任意の数を用いてもよいし、計算によって求めてもよい。また、定数を用いてもよい。
Claims (8)
- サブトラクション法を用いる異物検査用の放射線検出装置であって、被検査物を透過して放射線入射方向から入射する第1エネルギ範囲の放射線及び前記第1エネルギ範囲の放射線よりも高い第2エネルギ範囲の放射線を検出する放射線検出装置において、
前記放射線入射方向に対して上流側に位置し、前記第1エネルギ範囲の放射線を検出して、当該放射線の像に応じた第1画像を生成する第1放射線検出器と、
前記放射線入射方向に対して下流側に位置し、前記第2エネルギ範囲の放射線を検出して、当該放射線の像に応じた第2画像を生成する第2放射線検出器と、
前記第1放射線検出器からの前記第1画像の画像処理を行う第1画像処理部と、
前記第2放射線検出器からの前記第2画像の画像処理を行う第2画像処理部と、を備え、
前記第1放射線検出器は、像検出方向に沿って配列された複数の画素を有して、前記第1エネルギ範囲の放射線の像による前記第1画像を取得する第1画素部を有し、
前記第2放射線検出器は、前記像検出方向に沿って配列された複数の画素を有して、前記第2エネルギ範囲の放射線の像による前記第2画像を取得する第2画素部を有し、
前記第1画素部における前記複数の画素それぞれの前記像検出方向での第1画素幅は、前記第2画素部における前記複数の画素それぞれの前記像検出方向での第2画素幅より小さく、
前記第1画像処理部及び前記第2画像処理部は、前記第1画像の画素数と前記第2画像の画素数とを等しくするように画素変更処理を行う、
ことを特徴とする、放射線検出装置。 - 前記第1画像処理部及び前記第2画像処理部は、前記第1画像の画素数及び前記第2画像の画素数のうちの少なくとも一方の画素の間引き処理を行うことを特徴とする、
請求項1に記載の放射線検出装置。 - 前記間引き処理は、単純間引き処理、平均化間引き処理、加算間引き処理、ミニマムフィルタ間引き処理、又は、マキシマムフィルタ間引き処理である、
請求項2に記載の放射線検出装置。 - 前記間引き処理では、
前記第1画像の画素数と前記第2画像の画素数との比率J:Kに基づいて、前記第1画像の画素数が1/J倍になるように、かつ、前記第2画像の画素数が1/K倍になるように、前記第1画像の画素及び前記第2画素のうちの少なくとも一方において隣接する2つの画素から1つの補正画素を生成し、
前記補正画像の輝度値IL(y)が、補正前の2つの画素それぞれの信号値L(x)、L(x+1)、画素補正係数α、β、輝度調整係数γに基づく下式
IL(y)=γ(α×L(x)+Β×L(x+1))
を満たすように設定される、
請求項2に記載の放射線検出装置。 - 前記第1画像処理部及び前記第2画像処理部は、前記第1画像の画素数及び前記第2画像の画素数のうちの少なくとも一方の画素の補間処理を行うことを特徴とする、
請求項1に記載の放射線検出装置。 - 前記補間処理は、単純補間処理、一次補間処理、二次補間処理、スプライン補間処理、又は、ラグランジェ補間処理である、
請求項5に記載の放射線検出装置。 - 前記補間処理では、
前記第1画像の画素数と前記第2画像の画素数との比率J:K、JとKの最小公倍数Lに基づいて、前記第1画像の画素数がL/J倍になるように、かつ、前記第2画像の画素数がL/K倍になるように、前記第1画像の画素間及び前記第2画像の画素間のうちの少なくとも一方に補間画素を補間し、
前記補間画素の輝度値IH(y)が、前記補間画素の両側に隣接する画素それぞれの信号値H(x)、H(x+1)、画素補正係数α、β、輝度調整係数γに基づく下式
IH(y)=γ(α×H(x)+β×H(x+1))
を満たすように設定される、
請求項5に記載の放射線検出装置。 - 前記第1放射線検出器は、前記像検出方向に沿って延在し、前記第1エネルギ範囲の放射線の像を光像に変換する第1シンチレータ層と、前記第1シンチレータ層で変換された光像による前記第1画像を取得する前記第1画素部とを有し、
前記第2放射線検出器は、前記像検出方向に沿って延在し、前記第2エネルギ範囲の放射線の像を光像に変換する第2シンチレータ層と、前記第2シンチレータ層で変換された光像による前記第2画像を取得する前記第2画素部とを有する、
請求項1に記載の放射線検出装置。
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