JP2011017690A - X線透過検査装置及びx線透過検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 測定試料に含まれる一つの元素のX線吸収端より低く、かつ、検出元素のX線吸収端より高いエネルギーの特性X線を試料に照射するX線管球11と、X線が試料を透過した際の透過X線を検出するX線検出器13と、透過X線の透過像からコントラスト像を得る演算部15と、を備えたX線透過装置及びX線透過方法とする。
【選択図】 図1
Description
Claims (8)
- 測定試料に含まれる一つの元素のX線吸収端より低いエネルギー、かつ、検出元素のX線吸収端より高いエネルギーの特性X線を前記試料に照射するX線管球と、
前記特性X線が前記測定試料を透過した際の透過X線を受けてその強度を検出するX線検出器と、
検出された前記透過X線の強度の分布を示す透過像とからコントラスト像を得る演算部と、を備えることを特徴とするX線透過検査装置。 - 前記測定試料と前記X線管球との間に、前記特性X線のKα線とKβ線の間のエネルギーのX線吸収端である元素を含んでなるフィルタを、更に備える請求項1に記載のX線透過検査装置。
- 前記測定試料がコバルト酸リチウムを含むものであり、
前記X線管球がNiターゲット管球であり、
前記検出元素がFeである請求項1に記載のX線透過検査装置。 - 前記測定試料がコバルト酸リチウムを含むものであり、
前記X線管球がNiターゲット管球であり、
前記検出元素がFeであり、
前記フィルタがCo箔である請求項2に記載のX線透過検査装置。 - 前記測定試料がマンガン酸リチウムを含むものであり、
前記X線管球がFeターゲット管球であり、
前記検出元素がCrである請求項1に記載のX線透過検査装置。 - 前記測定試料がマンガン酸リチウムを含むものであり、
前記X線管球がFeターゲット管球であり、
前記検出元素がCrであり、
前記フィルタがMn箔である請求項2に記載のX線透過検査装置。 - 測定試料に含まれる一つの元素のX線吸収端より低く、かつ、検出元素のX線吸収端より高いエネルギーの特性X線を前記試料に照射する特性X線の照射ステップと、
前記X線が前記測定試料を透過した際の透過X線を受けてその強度を検出する透過X線検出ステップと、
検出された前記透過X線の強度の分布を示す透過像を作成して得たコントラスト像を得る演算ステップと、を含むことを特徴とするX線透過検査方法。 - 前記特性X線の照射ステップが、測定試料と前記X線管球との間に前記特性X線よりも高いエネルギーのX線吸収端である元素を含んでなるフィルタを配して、該フィルタを通過させた後に前記測定試料に照射するものである請求項7に記載のX線透過検査方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010068760A JP5564303B2 (ja) | 2009-06-12 | 2010-03-24 | X線透過検査装置 |
US12/802,401 US8422630B2 (en) | 2009-06-12 | 2010-06-07 | X-ray inspection device and X-ray inspection method |
KR1020100054279A KR101562680B1 (ko) | 2009-06-12 | 2010-06-09 | X선 투과 검사 장치 및 x선 투과 검사 방법 |
CN2010102084889A CN101923061B (zh) | 2009-06-12 | 2010-06-11 | X射线透射检查装置及x射线透射检查方法 |
DE102010023487A DE102010023487A1 (de) | 2009-06-12 | 2010-06-11 | Röntgenuntersuchungsgerät und -verfahren |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009141491 | 2009-06-12 | ||
JP2009141491 | 2009-06-12 | ||
JP2010068760A JP5564303B2 (ja) | 2009-06-12 | 2010-03-24 | X線透過検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011017690A true JP2011017690A (ja) | 2011-01-27 |
JP5564303B2 JP5564303B2 (ja) | 2014-07-30 |
Family
ID=43299264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010068760A Active JP5564303B2 (ja) | 2009-06-12 | 2010-03-24 | X線透過検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8422630B2 (ja) |
JP (1) | JP5564303B2 (ja) |
KR (1) | KR101562680B1 (ja) |
CN (1) | CN101923061B (ja) |
DE (1) | DE102010023487A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8610019B2 (en) * | 2009-02-27 | 2013-12-17 | Mineral Separation Technologies Inc. | Methods for sorting materials |
JP5792472B2 (ja) | 2011-01-25 | 2015-10-14 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
JP5827064B2 (ja) * | 2011-08-05 | 2015-12-02 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 透過x線分析装置及び方法 |
US9114433B2 (en) | 2012-01-17 | 2015-08-25 | Mineral Separation Technologies, Inc. | Multi-fractional coal sorter and method of use thereof |
JP5944254B2 (ja) | 2012-07-20 | 2016-07-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 放射線画像取得装置 |
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ES2962649T3 (es) | 2015-09-30 | 2024-03-20 | Hamamatsu Photonics Kk | Sistema de adquisición de imágenes radiográficas y método de adquisición de imágenes radiográficas |
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JP2010122103A (ja) | 2008-11-20 | 2010-06-03 | Shimadzu Corp | X線検査方法およびx線検査装置 |
-
2010
- 2010-03-24 JP JP2010068760A patent/JP5564303B2/ja active Active
- 2010-06-07 US US12/802,401 patent/US8422630B2/en active Active
- 2010-06-09 KR KR1020100054279A patent/KR101562680B1/ko active IP Right Grant
- 2010-06-11 DE DE102010023487A patent/DE102010023487A1/de active Pending
- 2010-06-11 CN CN2010102084889A patent/CN101923061B/zh active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5564303B2 (ja) | 2014-07-30 |
KR101562680B1 (ko) | 2015-10-22 |
DE102010023487A1 (de) | 2011-01-05 |
US8422630B2 (en) | 2013-04-16 |
CN101923061A (zh) | 2010-12-22 |
US20100316187A1 (en) | 2010-12-16 |
CN101923061B (zh) | 2013-09-18 |
KR20100133897A (ko) | 2010-12-22 |
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---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20121122 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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