JP2011002688A - 測光装置および撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光源により照明された被写体を測光する電荷蓄積型の測光手段と、測光手段による測光結果に基づいて、光源のフリッカーの影響を低減させるフリッカー処理の要否を判定する判定手段と、判定手段による判定結果に基づいて測光手段の電荷蓄積時間を設定する設定手段とを備える。
【選択図】図10
Description
(2) 請求項2の発明は、請求項1に記載の測光装置において、測光結果の最大測光値に基づいて測光手段の電荷蓄積を制御する第1の蓄積制御と、測光結果の平均測光値に基づいて測光手段の電荷蓄積を制御する第2の蓄積制御とを交互に行う制御手段を備え、設定手段によって、第1の蓄積制御と第2の蓄積制御とにおいてそれぞれ別個の電荷蓄積時間を設定するようにしたものである。
(3) 請求項3の発明は、請求項2に記載の測光装置において、設定手段によって、判定手段によりフリッカー処理が不要と判定された場合に、第2の蓄積制御の電荷蓄積時間に第1の蓄積制御の電荷蓄積時間よりも短い時間を設定するようにしたものである。
(4) 請求項4の発明は、請求項2または請求項3に記載の測光装置において、設定手段によって、第1の蓄積制御による電荷蓄積結果を用いて第2の蓄積制御の電荷蓄積時間を設定するようにしたものである。
(5) 請求項5の発明は、請求項2〜4のいずれか一項に記載の測光装置において、測光手段は、被写体からの光を受光する受光面が複数の領域に分割されており、各領域ごとに繰り返し測光を行い、判定手段によって、第1の蓄積制御により最大の測光値が得られた領域における複数回の測光の測光値の変化量に基づいてフリッカー処理の要否を判定するようにしたものである。
(6) 請求項6の発明は、請求項5に記載の測光装置において、判定手段によって、第1の蓄積制御による複数回の測光において最大の測光値を示す領域が一致した場合に、該最大の測光値を示す領域における複数回の測光の測光値の変化量に基づいてフリッカー処理の要否を判定するようにしたものである。
(7) 請求項7の発明は、請求項2〜6のいずれか一項に記載の測光装置と、測光装置による第1の蓄積制御の測光結果に基づいて被写体を撮像するときの露出を決定する決定手段と、測光装置による第2の蓄積制御の測光結果に基づいて被写体の像を認識する認識手段と、認識手段により認識された被写体の像を決定手段により決定された露出で撮像する撮像手段とを備える撮像装置である。
被写界の測光を行う場合には、被写界の最大輝度が目標測光値となるように、つまり測光センサー23の最大出力が目標値となるように、測光センサー23の電荷蓄積時間とアンプゲインを制御する。この明細書では、測光センサー23のこのような制御を“ピークAGC”と呼ぶ。ピークAGCでは、次式により測光センサー23の次回の電荷蓄積時間int’を演算する。
int’=Vagc/Vomax・int ・・・(1)
(1)式において、int’は次回の電荷蓄積時間、intは今回の電荷蓄積時間、Vomaxは今回の測光センサー23の最大出力値、Vagcは目標値(目標AGCレベル)である。
int’=VagcSC/Vgave・int ・・・(2)
(2)式において、int’は次回の電荷蓄積時間、intはピークAGCの今回の電荷蓄積時間、VagcSCは被写体重視AGCの目標値(目標AGCレベル)、Vgaveはセンサー全領域の測光値の緑G成分の平均値である。
この一実施の形態では、次のようにして照明用AC光源に起因するフリッカーの有無を判定する。測光センサー23をピークAGCで蓄積制御し、図3に示す分割領域ごとに平均測光値を算出し、平均測光値が最大の領域を検出する。この一連の電荷蓄積を複数回繰り返したときに、前回の蓄積と今回の蓄積とで平均測光値が最大の領域が一致するか否かに注目する。前回の蓄積と今回の蓄積との間で使用者がカメラの構図を変更した場合には、平均測光値が最大の領域は一致しない。前回の蓄積と今回の蓄積との間で平均測光値が最大の領域が一致しない場合には、使用者によるカメラの構図変更があったとしてフリッカーの有無の判定を行わない。
フリッカー有りと判定された場合の測光時には、フリッカーの影響が少なくなるような周期でピークAGCを行い、測光値を加重平均することによって誤差の少ない測光を実現できる。この場合、まず上記(1)式により次回の電荷蓄積時間int’を演算し、次に図6に示すチャートにしたがって電荷蓄積時間とアンプゲインの調整を行う。測光センサー23の出力信号のS/N比が良好な範囲に収まり、演算結果の電荷蓄積時間int’がフリッカーの影響が少なく、かつできる限り測光サイクルが短くなる周期、例えば図6に示す10〜20msの範囲に収まるように、アンプゲインを設定する。電荷蓄積時間が20msを越える場合はアンプゲインを1段上げ、逆に電荷蓄積時間が10msより短い場合はアンプゲインを1段下げる。
フリッカーなしと判定された場合の測光時には、電荷蓄積の周期に何ら制限はなく、上記(1)により演算した電荷蓄積時間int’でピークAGCを行い、測光センサー23の出力信号のS/N比が良好な範囲に収まるようにアンプゲインを設定する。フリッカーの影響がないため、短い蓄積時間で早い測光サイクルを実現できる。
Claims (7)
- 光源により照明された被写体を測光する電荷蓄積型の測光手段と、
前記測光手段による測光結果に基づいて、前記光源のフリッカーの影響を低減させるフリッカー処理の要否を判定する判定手段と、
前記判定手段による判定結果に基づいて前記測光手段の電荷蓄積時間を設定する設定手段とを備えることを特徴とする測光装置。 - 請求項1に記載の測光装置において、
前記測光結果の最大測光値に基づいて前記測光手段の電荷蓄積を制御する第1の蓄積制御と、前記測光結果の平均測光値に基づいて前記測光手段の電荷蓄積を制御する第2の蓄積制御とを交互に行う制御手段を備え、
前記設定手段は、前記第1の蓄積制御と前記第2の蓄積制御とにおいてそれぞれ別個の電荷蓄積時間を設定することを特徴とする測光装置。 - 請求項2に記載の測光装置において、
前記設定手段は、前記判定手段によりフリッカー処理が不要と判定された場合に、前記第2の蓄積制御の電荷蓄積時間に前記第1の蓄積制御の電荷蓄積時間よりも短い時間を設定することを特徴とする測光装置。 - 請求項2または請求項3に記載の測光装置において、
前記設定手段は、前記第1の蓄積制御による電荷蓄積結果を用いて前記第2の蓄積制御の電荷蓄積時間を設定することを特徴とする測光装置。 - 請求項2〜4のいずれか一項に記載の測光装置において、
前記測光手段は、前記被写体からの光を受光する受光面が複数の領域に分割されており、各領域ごとに繰り返し測光を行い、
前記判定手段は、前記第1の蓄積制御により最大の測光値が得られた領域における複数回の測光の測光値の変化量に基づいてフリッカー処理の要否を判定することを特徴とする測光装置。 - 請求項5に記載の測光装置において、
前記判定手段は、前記第1の蓄積制御による複数回の測光において最大の測光値を示す領域が一致した場合に、該最大の測光値を示す領域における複数回の測光の測光値の変化量に基づいてフリッカー処理の要否を判定することを特徴とする測光装置。 - 請求項2〜6のいずれか一項に記載の測光装置と、
前記測光装置による前記第1の蓄積制御の測光結果に基づいて前記被写体を撮像するときの露出を決定する決定手段と、
前記測光装置による前記第2の蓄積制御の測光結果に基づいて前記被写体の像を認識する認識手段と、
前記認識手段により認識された前記被写体の像を前記決定手段により決定された露出で撮像する撮像手段とを備えることを特徴とする撮像装置。
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