JP2010538287A - 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置 - Google Patents

再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2010538287A
JP2010538287A JP2010523559A JP2010523559A JP2010538287A JP 2010538287 A JP2010538287 A JP 2010538287A JP 2010523559 A JP2010523559 A JP 2010523559A JP 2010523559 A JP2010523559 A JP 2010523559A JP 2010538287 A JP2010538287 A JP 2010538287A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wavelength
laser cavity
original
signal
progressive signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2010523559A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010538287A5 (ja
Inventor
ジラール,シルベン
ジル,エルベ
ラロシュ,マチュー
Original Assignee
サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェサイアンティフィク(セエヌエールエス)
エコール ナシオナル シュペリウール ダンジェニウール
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェサイアンティフィク(セエヌエールエス), エコール ナシオナル シュペリウール ダンジェニウール filed Critical サントル ナシオナル ドゥ ラ ルシェルシェサイアンティフィク(セエヌエールエス)
Publication of JP2010538287A publication Critical patent/JP2010538287A/ja
Publication of JP2010538287A5 publication Critical patent/JP2010538287A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q20/00Monitoring the movement or position of the probe
    • G01Q20/02Monitoring the movement or position of the probe by optical means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
    • G01Q60/00Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
    • G01Q60/18SNOM [Scanning Near-Field Optical Microscopy] or apparatus therefor, e.g. SNOM probes
    • G01Q60/22Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本発明は、以下を有する対象物(10)のイメージ作成のための検出装置に関する。
−原波長で原光信号(3)を対象物(10)に送出し、対象物(10)表面に一過性の波を生成するように構成されたレーザーキャビティ(2);
−前記一過性波を、出力波長を持つプログレシブ信号に変換するように構成された変換手段(11);
−レーザーキャビティに前記プログレシブ信号をインジェクトし、レーザーキャビティの中でプログレシブ信号と原光信号との間の干渉を生成するように構成された再インジェクション手段;
−前記干渉を検出し、前記対象の少なくとも1の物理的特性を決定するように構成された検出手段。
但し、前記装置は、前記レーザーキャビティにインジェクトされたプログレシブ信号の波長は原波の波長とは異なるように構成された波長変調手段(7、7a、7b)を有することを特徴とする。
【選択図】図1

Description

本発明は、対象物のイメージ作成(imagerie)のための検出装置に関する。
また、本発明は、対象物のイメージ作成のための検出方法に関する。
対象物のイメージ作成のための検出装置、方法は公知である。
対象物のイメージ作成のための検出装置には、遠隔領域における検出装置と近距離領域の検出装置とがある。近距離領域における検出装置の利点は小さい対象物(特にレイリー基準により定められる大きさより小さい)の観測を可能にすることである。
本発明は、特に近距離領域の対象物のイメージ作成のための検出装置に関係する。
本発明は、以下を含む対象物のイメージ作成のための検出装置に関する。
−原波長(longueur d'onde d'origine)で原光信号(signal lumineux d'origine)を対象物に送出し、対象物表面に一過性波(onde evanescente)を生成するように構成されたレーザーキャビティ;
−前記一過性波を、出力部の波長を持つプログレシブ信号に変換するように構成された変換手段;
−レーザーキャビティに前記プログレシブ信号をインジェクトし、レーザーキャビティの中でプログレシブ信号と原光信号との間の(複数)干渉(perturbations)を生成するように構成された再インジェクション手段;
−前記干渉を検出し、前記対象物の少なくとも1の物理的特性を決定するように構成された検出手段。
このような装置は、フランス特許公開FR-A-2785045で公知である。
前記文献において、レーザーキャビティへの再インジェクションを行うことにより、キャビティを干渉計として使用することができる。また、キャビティの中で生成された前記(複数)干渉は、一過性波(ondes evanescentes)の振幅を測定するのに使用される。また、前記干渉を使って、対象物の特性の測定を行うことができる。
前記文献には、干渉の検出は、ホモダイン検出であり、これにより一過性波の振幅を決めることができる。
フランス特許出願公開番号FR-A-2785045
しかしながら、この検出によっては、一過性波の位相に関する情報を得ることはできない。従って、いくつかの対象物の特性は、前記文献に記載の装置では測定することができない。
本発明が解決する課題は、対象物のイメージ作成のための検出装置における対象物表面に生成される一過性波の測定を改良することである。
特に、本発明が解決する課題は、対象物のイメージ作成のための検出装置における対象物表面に生成される一過性波の位相を測定することを可能にすることである。
この課題は、前記対象物のイメージ作成のための検出装置が波長変更手段を有し、レーザーキャビティにインジェクトされるプログレシブ信号の波長がオリジナル波の波長と異なっているという事実により解決される。
これら波長変調手段により、異なる波長を持つ2つの信号がレーザーキャビティを伝播し、これらはヘテロダインビートの形でダイナミックな干渉を生成する。そして、これらビートのヘテロダイン検波は検波手段を使って実行可能である。前記の再インジェクションによる装置とは異なり、本発明を使うと、オリジナル信号と対象物からやって来るプログレシブ信号との間の干渉により生成される一過性波の位相に対するアクセスが可能になる。対象物の特性の測定は、本発明により改善される。
本発明によると、ヘテロダインビートを発生させると、一過性波の振幅と位相を検出する場合に、コントラストを向上させることができる。従って、それにより、一過性波の強度が小さいときでも、一過性波に対する測定が可能になる。
本発明の実施例において、レーザーキャビティは弛緩振動(oscillations de relaxation)を生成するように構成されている。この場合、波長変調手段は、出力部の波長と原波長とを相違させ、これら弛緩振動を励起することが可能であるように構成されている。
実施例において、レーザーキャビティが弛緩振動を生成するように構成されている場合、特に、レーザーがクラスBのレーザーであるとき、レーザーキャビティの中にインジェクトされたプログレシブ信号により引き起こされたビートが弛緩振動と共振する。これにより、振幅と位相の検出の際に大きな利得を得ることが可能になる。この利得はクラスBのレーザーキャビティ特性に依存し、特に、固体マイクロレーザータイプのレーザーキャビティに対し、100万のオーダーでありえる。
実施例において、レーザーキャビティが赤外領域において原光信号を送出するように構成することができる。赤外領域において原光信号を生成すると、高度に進歩した標準的通信部品の使用が可能になる。特に、ファイバーオプティク部品がこの波長領域で流通している。更に、この波長領域では従来の干渉計の組立が困難である。
本発明の実施例によると、波長変調手段は少なくとも1の音響光学変調器を有する。
この場合、前記又は各音響光学変調器は、好ましいシフト周波数を有しており、これら重畳されたシフトの組合せにより、再インジェクションレーザの弛緩振動を励起するためのシフトを調整することができる。
実施例によると、前記装置は、原光信号の経路に第1光学アイソレータを置き、レーザーキャビティに向かう寄生的反射光信号の伝播を防止することができる。これは、前記装置により実行される再インジェクションに加え、レーザーキャビティと干渉しないという利点がある。特に、これは(複数)レンズ、音響光学変調器又は対象物による反射を防止する。
この場合、前記又は各音響光学変調器は、第1光アイソレーターの後に設けることができる。
更に、装置がプログレシブ信号の経路に置かれる第2光学アイソレーターを有することが好ましい。
この場合、前記又は各音響光学変調器は、第1光アイソレーターと第2光アイソレーターとの間に配置することができる。
実施例によれば、変換手段はマイクロチップを有する。
また、本発明は、前記した目的物のイメージ作成のための検出装置を含む顕微鏡に関する。
また、本発明は、以下のステップを含む対象物のイメージ作成のための検出方法に関する。
−レーザーキャビティが、原波長の原光信号を対象物に送出し、対象物表面に一過性の波を生成するステップ;
−前記一過性波が、プログレシブ信号に変換されるステップ;
−前記プログレシブ信号が、レーザーキャビティにインジェクトされ、レーザーキャビティの中でプログレシブ信号と原光信号との間の干渉を生成するステップ;
−前記干渉が検出され、前記対象物の特性を決定するステップ。
但し、前記レーザーキャビティにインジェクトされたプログレシブ信号の波長は原波の波長とは異なる。
次に、図面を参照しながら、本発明の1つの実施例を説明する。
本発明の実施例による対象物のイメージ作成のための検出装置である。 図1の装置により生成される一過性波の振幅と位相の展開図である。 本発明の他の実施例による対象物のイメージ作成のための検出装置である。
前記図面で、同一符号は、類似の技術要素に関係している。
図1に示されているように、対象物のイメージ作成のための検出装置は、クラスBの固体エルビウム−イッテルビウム ガラス レーザーキャビティ2を有している。前記レーザーキャビティ2は、ダイオードレーザ(図示しない)によりポンピングされる。レーザー2の放出は、キャビティにエタロン(etalon)を挿入することにより横方向に単一モードとすることができる。レーザーキャビティ2の出力部において、レーザービーム3は、レーザーにより決められた原波長λ1で放出される。上記のレーザーキャビティに対し、原波長は1.535ミクロンに固定される。レーザービーム3は、レンズ5を使って、オプティカルファイバー4にインジェクトされる。光学的アイソレータ6がオプティカルファイバーのレーザービーム路3に配置され、レーザーキャビティ2に対する信号の寄生的反射が防止される。図1において、光学的アイソレータ6の矢印は、光学的アイソレータ6によるレーザービーム3の伝播する方向を指す。次に、オプティカルファイバーの出力部では、レーザービーム3は“音響−光学変調器7に基づく装置(dispositif a base de modulateur acousto-optique)”に向かって、例えば、レンズ8を介して送出される。音響−光学変調器7に基づく装置を使って、レーザービーム3の波長はシフトし、波長λ2(波長λ1とは異なる)の信号9を得る。このシフトの後で、信号9は対象物10に向かって送信される。図1において、対象物10は例えばシリカプリズムである。信号9がプリズム10の一つの側にインジェクトされるときに、入射角が全反射臨界角を越えると直ちに、プリズム10のhypotenuseの上で全反射を受ける。レーザービーム3の波長λ1におけるシリカプリズムに対して、限界角は43.8°である。この反射に続いて、一過性波がプリズム10の光る表面(surface eclairee)に生成される。前記一過性波は、光る表面上で一様であり、その振幅は、プリズム10表面に垂直なシリコン/空気インターフェースを越えると、エクスポネンシャルに減衰する。全反射臨界角を超えて入射角を調整することにより、一過性波の透過深さをコントロールすることができる。
マイクロチップ11は、一過性波をプログレシブ波に変換するのに使用される。このマイクロチップは周知で、1.53ミクロンの単一モードシリカのオプティカルファイバーから、フッ化水素酸を使ってドローイングし、ケミカルエッチングして得られる。前記マイクロチップ11は、プリズム10上の入射垂線(incidence normal)に対して45°の角度で方向付けされている。
次に、マイクロチップ11により集められたプログレシブ波は、オプティカルアイソレータ13を含むオプティカルフィバー12により、レーザーキャビティ2に再インジェクトされる。
カプラー14を使うと、レーザーキャビティ2に向けてプログレシブ波を再インジェクトすることができる。ビームの一部はレーザーの出力部で、カプラー14により取り出され、矢印Aで示すように、フォトダイオード15に向けて送出される。例えば、フォトダイオード15は、ファイバー化InGaAsフォトダイオードである。
フォトダイオード15により検出された信号は、波長差λ2−λ1から定まるヘテロダインシフト周波数で復調される。HF同期検波装置16がこの復調を行う。これにより、マイクロチップ11を使って点領域でサンプリングされた光学信号の振幅と位相に関する情報を同時に得ることができる。得られた結果を表示するために、同期検波装置16はデジタルオシロスコープ17に接続される。
プリズム10の表面でマイクロチップ11を移動させて、検波信号を使って、プリズム10の表面のエリアの点ごとに振幅、位相のイメージ作成することができる。
プリズム10の表面におけるマイクロチップ11の該スキャンは、マイクロチップ11の軸に沿うスキャン又は横方向スキャンである。図示していない周知のサーボコントロールシステムを使うと、このスキャンは所望のアプリケーションに基づいて、十分な精度で行うことができる。特に、例えば、約32kHzで振動する音叉にマイクロチップ11を設けることができる。マイクロチップ11とプリズム10との間の相関に関する剪断効果(effets de cisaillement)のために、前記音叉の振幅と周波数は、マイクロチップ11とプリズム10表面との間の距離に大きく依存する。共振の周波数又は振幅を測定することにより、及び、横方向移動の間にこれらの1又は他を一定に維持することにより、位置のサーボコントロールを実現することができる。同様に、マイクロメータのスクリュー又はピエゾエレクトリック楔(cales piezoelectriques)を使って、マイクロチップの位置を変えることができる。このようにして、2次元又は3次元イメージが生成される。
前記の振幅・位相の同時測定の信頼性と安定性を証明するために、“理論による振幅・位相の変動”と“プリズム10の表面に対応するジオプトリ面上で検出され、前記装置1を使って得られる信号の振幅・位相の変動”との間の比較を図2に示した。比較を行うために、振幅と位相をデジタル オシロスコープ17で観察する。HF同期検波装置16は、2のクワドラチャー信号X、Y(それぞれRcos(φ)、Rsin(φ)に対応する)を出力部に供給する。但し、Rはプリズム10の検出信号の振幅を表し、φは音響光学変調器7に基づく装置を駆動する信号により提供される基準に対する位相を表す。プリズムに対しマイクロチップ11が傾斜しているので、理論的にスパイラル曲線が得られる。図2の理論曲線18が示すように、振幅は0に近づき、位相はリニアに変化する。前記した、装置1を使って実験によって得られる曲線19は、実質的に理論曲線18に対応している。実験測定値と理論計算値とが一致するので、一過性波の振幅と位相を同時に、しかし別個に行う測定(これによりプリズム10を容易に画像化する(imager)ことができる)の安定性と信頼性は有効であるとすることができる。
本発明の実施例によると、音響光学変調器7を使う装置とレーザーキャビティ2が選ばれて、音響光学変調器7を使う装置がもたらす周波数シフトはレーザーキャビティ2の弛緩振動(oscillations de relaxation)の周波数に等しいか、または、近い。このレーザーキャビティ2の弛緩振動の周波数は、例えば約100kHzに調整される。音響光学変調器7を使う装置がもたらす周波数シフトは実質的に100kHzに等しい。弛緩振動の周波数はクラスBのレーザーの技術仕様書に基づいて簡単に決められる。
図1に示すように、約Δf=100kHzの周波数シフトを得るためには、音響光学変調器7を使う装置は、2つの音響光学変調器7a、7b(それぞれ80MHz+Δfと−80MHzに等しい共振周波数で、それぞれ、+1オーダーと−1オーダーで位置している)を有している。従って、2つの音響光学変調器7a、7bは、レーザーキャビティ2による共振周波数周辺で励起される。更に、2つの音響光学変調器7a、7bを位置決めすることにより、第1音響光学変調器7aは原光信号を約ν1+80MHz+Δfの光周波数にシフトさせる、第2音響光学変調器7bは、この周波数をν1+Δfに戻す。その結果、周波数シフトは、レーザーの弛緩振動によく適合し、固有共振周波数付近で変調器を励起させ、その効率を最適にする。
この場合、該再インジェクションは弛緩振動を励起し、レーザーキャビティ2において(複数)ビートの形の干渉を起こす。同期検波装置16はこれらビートを使い、プリズム10の振幅・位相特性を得る。
この場合、周波数シフトの無い単純な再インジェクションに関して、100万オーダーの利得率(gain factor)Kが得られることが証明された。この利得率Kは、レーザーキャビティ2の増幅メディアの送出レベルのradiative寿命期間とレーザーキャビティ2のフォトンの寿命との間の関係に実質的に等しい。この利得率を使うと、レーザーキャビティ2への再インジェクションにより生起される干渉のコントラストを得ることができ、従って、対象物10の特性の検出感度を向上させ、該対象物のイメージ作成を改善することができる。
前記実施例において、レーザービーム3が伝送された後で、プリズム10を介して伝送される一過性波の検出が使われる。図3には、本発明の反射型の実施例が示されている。
本発明に従う、図3に示される装置1は、角周波数ω1に対応する波長λ1のレーザービームを送出するレーザーキャビティ2を有している。レーザービーム3は、角周波数ω2に対応する波長λ2のレーザービームの波長をシフトできる音響光学変調器7に基づく装置を通過する。前記のとおり、音響光学変調器7に基づく装置は、2つの音響光学変調器を有し、レーザービームのシフト周波数を弛緩振動の共振周波数に適合することができる。このように生成される角周波数がω2とω1との間の各周波数のシフトをΔωと表記する。波長λ2の信号9は、対象物8を介してイメージを生成しようとする対象物10に向けて送出される。対象物10に関して、一過性波が生成される。この一過性波は、反射波信号20の形で、マイクロチップ11により拡散される。この反射波20は、再度、音響光学変調器7に基づく装置を通過するときにΔωだけシフトされ、レーザーキャビティ2に再インジェクトされ、レーザーキャビティ2においてビートが生成される。図1を使って説明した実施例のように、音響光学変調器7に基づく装置とレーザーキャビティ2が選択され、音響光学変調器7に基づく装置により引き起こされる周波数シフトは、レーザーキャビティ2の弛緩振動周波数に等しい又は近いものとなる。音響光学変調器7に基づく装置を2回通過するので、レーザーキャビティ2の弛緩振動の角周波数をΩとすると、2Δω=Ωとする音響光学変調器7に基づく装置が選択される。
次に、レーザーの出力信号は、同期検波装置に接続されているフォトデテクター15に向かって別のルートで送信される。同期検波装置16を使うと、レーザーキャビティ2に生成されたビートを検出し、目的物10の特性を決めることができる。これらビートの強度は次のように表される:
Figure 2010538287
但し、Kは再インジェクションがもたらす利得を表す値であり、Irefはレーザー2からの基準信号の強度である。Isは、集められ、レーザーに再インジェクトされる一過性波の信号の強度である。φsは該信号の位相である。
利得率Kは、100万のオーダーであってよい。
ヘテロダイン検波に関して周波数シフトを持つMach−Zender又はMichelsonタイプの標準干渉計に対し、利得率Kは1に等しいことに留意すべきである。これに対し、再インジェクション装置に関し、レーザーキャビティを使うと、この値100万に達することができる。
次に、本発明の変形例を説明する。
前記実施例において、ダイオードによりポンピングされる固体レーザーキャビティ型レーザー源を説明した。しかし、感度利得について同一オーダーの値を維持しながら、マイクロレーザー又はDFBファイバーレーザーを使うことが可能である。
更に、近赤外領域で(特に1.535ミクロンの波長で)送出するレーザー源について説明した。実際、この波長領域は伝送の測定を可能にし、通信で使用されるファイバーオプティック部品に適合するメリットがある。しかしながら、他の波長領域と他のレーザー源が使用されることを理解しなければならない。
以下の表は、本発明の装置で使用されるレーザーの実施例リストである。この表の第1欄は使用レーザーのタイプである。第2欄は関連する波長である。第3欄は前記で定義される利得率Kである。第4欄はこのレーザーの緩和周波数である。
Figure 2010538287
更に、図1を参照すると、音響光学変調器7に基づく装置が説明されている。この装置は、レンズ8の前に、原光信号の経路に位置する2つの音響光学変調器7を有している。前記2つの変調器の内の1つ又は2つの変調器は、プログレシブ信号の経路における対象物10の後に位置することができることを理解すべきである。この変形例によると、音響光学変調器の周波数変調関数は、それらの位置に関係無く維持される。
マイクロチップのスキャン手段に関係する前記検波器は、前記したように、SNOM(Scanning Near Field Optical Microscopy)タイプの顕微鏡又は一過性の場(champ evanescent)を検出する顕微鏡で使用すると有利である。

Claims (15)

  1. −オリジナル波長で原光信号(3)を対象物(10)に送出し、対象物(10)表面に一過性の波を生成するように構成されたレーザーキャビティ(2)と;
    −前記一過性波を、出力波長を持つプログレシブ信号に変換するように構成された変換手段(11)と;
    −レーザーキャビティに前記プログレシブ信号をインジェクトし、レーザーキャビティの中でプログレシブ信号と原光信号との間の干渉を生成するように構成された再インジェクション手段と;
    −前記干渉を検出し、前記対象の少なくとも1の物理的特性を決定するように構成された検出手段と、
    を有する対象物(10)のイメージ作成のための検出装置。
    但し、前記装置は、前記レーザーキャビティにインジェクトされたプログレシブ信号の波長はオリジナル波の波長とは異なるように構成された波長変調手段(7、7a、7b)を有することを特徴とする。
  2. 前記波長変調手段(7、7a、7b)が、原光信号の波長をシフトし、前記レーザーキャビティにインジェクトされたプログレシブ信号の波長は原波の波長とは異なるように構成された請求項1に記載の装置。
  3. レーザーキャビティ(2)が弛緩振動を生成し、前記波長変調手段が、出力部の波長と原波長との間の相違により、これら緩和信号を励起することが可能であるように構成されている、請求項1又は2に記載の装置。
  4. 前記レーザーキャビティがクラスBの固体レーザーキャビティである請求項1乃至3のいずれか1項に記載の装置。
  5. 前記レーザーキャビティが赤外領域における原光信号を送出するように構成された請求項1乃至4のいずれか1項に記載の装置。
  6. 前記波長変調手段が少なくとも1の音響光学変調器を有する請求項1乃至5のいずれか1項に記載の装置。
  7. 前記又は各音響光学変調器は、共振を表す1のシフト周波数を有しており、これら重畳されたシフトの組合せにより、再インジェクションレーザーの弛緩振動を励起することができる請求項1乃至6のいずれか1項に記載の装置。
  8. 更に、原光信号の経路に第1光学アイソレータ(6)を持ち、レーザーキャビティに向かう反射光信号の伝播を防止する請求項1乃至7のいずれか1項に記載の装置。
  9. 前記又は各音響光学変調器(7、7a、7b)が第1光アイソレーターの後に設けられる請求項1乃至8のいずれか1項に記載の装置。
  10. 第2光学アイソレータ(13)がプログレシブ信号の経路に置かれ、レーザーキャビティに向かう反射光信号の伝播を防止する請求項8又は9に記載の装置。
  11. 前記又は各音響光学変調器は、第1光アイソレーター(6)と第2光アイソレーター(13)との間に配置される請求項1乃至10のいずれか1項に記載の装置。
  12. 更に、目的物の近傍に変換手段を移動させるように構成された移動手段を有する請求項1乃至11のいずれか1項に記載の装置。
  13. 前記変換手段はマイクロチップ(11)を有する請求項1乃至12のいずれか1項に記載の装置。
  14. 請求項1乃至13のいずれか1項に記載の検出装置を有する近領域(en champ proche)光学顕微鏡。
  15. −レーザーキャビティが、オリジナル波長の原光信号を対象物に送出し、対象物表面に一過性の波を生成するステップと;
    −前記一過性波が、プログレシブ信号に変換されるステップと;
    −前記プログレシブ信号が、レーザーキャビティにインジェクトされ、レーザーキャビティの中でプログレシブ信号と原光信号との間の干渉を生成するステップと;
    −前記干渉が検出され、前記対象物の特性を決定するステップ、
    とを含む対象物のイメージ作成のための検出方法。
    但し、前記方法は、前記レーザーキャビティにインジェクトされたプログレシブ信号の波長はオリジナル波の波長とは異なることを特徴とする。
JP2010523559A 2007-09-04 2008-09-03 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置 Pending JP2010538287A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0706185A FR2920538B1 (fr) 2007-09-04 2007-09-04 Dispositif de detection heterodyne pour l'imagerie d'un objet par retroinjection
PCT/FR2008/001226 WO2009063145A2 (fr) 2007-09-04 2008-09-03 Dispositif de detection heterodyne pour l'imagerie d'un objet par retroinjection

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014187963A Division JP2015042982A (ja) 2007-09-04 2014-09-16 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010538287A true JP2010538287A (ja) 2010-12-09
JP2010538287A5 JP2010538287A5 (ja) 2013-10-10

Family

ID=38740464

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010523559A Pending JP2010538287A (ja) 2007-09-04 2008-09-03 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置
JP2014187963A Pending JP2015042982A (ja) 2007-09-04 2014-09-16 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014187963A Pending JP2015042982A (ja) 2007-09-04 2014-09-16 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8654340B2 (ja)
EP (1) EP2183568A2 (ja)
JP (2) JP2010538287A (ja)
FR (1) FR2920538B1 (ja)
WO (1) WO2009063145A2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8792525B2 (en) 2011-05-27 2014-07-29 The Regents Of The University Of Colorado, A Body Corporate Compact optical frequency comb systems
US9749349B1 (en) 2016-09-23 2017-08-29 OPSWAT, Inc. Computer security vulnerability assessment
US11522901B2 (en) 2016-09-23 2022-12-06 OPSWAT, Inc. Computer security vulnerability assessment

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0391710A (ja) * 1989-09-04 1991-04-17 Res Dev Corp Of Japan 光走査トンネル顕微鏡
JPH03278014A (ja) * 1990-03-27 1991-12-09 Res Dev Corp Of Japan 反射型光走査トンネル顕微鏡
JPH07110206A (ja) * 1993-10-08 1995-04-25 Brother Ind Ltd 光ヘテロダイン干渉計
JPH07167608A (ja) * 1993-12-15 1995-07-04 Hitachi Ltd 干渉計及び光走査型トンネル顕微鏡
JPH1019508A (ja) * 1996-07-02 1998-01-23 Nikon Corp 光波干渉測定装置および屈折率変動測定系
JP2001194286A (ja) * 2000-01-06 2001-07-19 Olympus Optical Co Ltd 近接場光学顕微鏡装置
JP2001518616A (ja) * 1997-09-30 2001-10-16 ユニヴェルシテ ジョセフ フーリエ 能動型光センサ

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4947034A (en) * 1989-04-28 1990-08-07 International Business Machines Corporation Apertureless near field optical microscope
US5371588A (en) * 1993-11-10 1994-12-06 University Of Maryland, College Park Surface profile and material mapper using a driver to displace the sample in X-Y-Z directions
JPH08136216A (ja) * 1994-09-13 1996-05-31 Olympus Optical Co Ltd 光位置変位センサ
US5835199A (en) * 1996-05-17 1998-11-10 Coherent Technologies Fiber-based ladar transceiver for range/doppler imaging with frequency comb generator
FR2785045B1 (fr) 1998-10-23 2001-01-19 Centre Nat Rech Scient Integration monolithique d'un systeme de detection pour la microscopie en champ proche base sur la reinjection optique dans un laser a cavite verticale emettant par la surface
EP1307714A4 (en) * 2000-07-12 2007-04-04 Macquarie Res Ltd OPTICAL DETECTION HETERODYNE IN OPTICAL SPECTROSCOPY OF RINGDOWN CAVITE
JP4298233B2 (ja) * 2002-07-30 2009-07-15 キヤノン株式会社 近接場光源装置、該近接場光源装置を有する光ヘッド、露光装置、顕微鏡装置
US7075058B2 (en) * 2003-03-28 2006-07-11 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Photothermal imaging scanning microscopy
US7400797B2 (en) * 2004-10-06 2008-07-15 Corning Incorporated Transverse closed-loop resonator

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0391710A (ja) * 1989-09-04 1991-04-17 Res Dev Corp Of Japan 光走査トンネル顕微鏡
JPH03278014A (ja) * 1990-03-27 1991-12-09 Res Dev Corp Of Japan 反射型光走査トンネル顕微鏡
JPH07110206A (ja) * 1993-10-08 1995-04-25 Brother Ind Ltd 光ヘテロダイン干渉計
JPH07167608A (ja) * 1993-12-15 1995-07-04 Hitachi Ltd 干渉計及び光走査型トンネル顕微鏡
JPH1019508A (ja) * 1996-07-02 1998-01-23 Nikon Corp 光波干渉測定装置および屈折率変動測定系
JP2001518616A (ja) * 1997-09-30 2001-10-16 ユニヴェルシテ ジョセフ フーリエ 能動型光センサ
JP2001194286A (ja) * 2000-01-06 2001-07-19 Olympus Optical Co Ltd 近接場光学顕微鏡装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6013011820; Antonello Nesci, Rene Dandliker, and Hans Peter Herzig: 'Quantitative amplitude and phase measurement by use of a heterodyne scanning near-field optical micr' Optics Letters Vol. 26, No. 4, 20010215, pp. 208-210, Optical Society of America *

Also Published As

Publication number Publication date
US8654340B2 (en) 2014-02-18
FR2920538A1 (fr) 2009-03-06
JP2015042982A (ja) 2015-03-05
WO2009063145A2 (fr) 2009-05-22
US20110211197A1 (en) 2011-09-01
WO2009063145A3 (fr) 2009-07-16
FR2920538B1 (fr) 2009-11-20
EP2183568A2 (fr) 2010-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5096858B2 (ja) 光学式共振器ジャイロスコープ、および共振非対称誤差を低減するための方法
JP5784653B2 (ja) 伝送モードrfogおよびrfogで回転を検出する方法
JP5670029B2 (ja) 高信頼性低損失の中空コアファイバ共振器
KR100866038B1 (ko) 헤테로다인 간섭계를 이용한 주사 현미경
US8850867B2 (en) Photoacoustic sensor and method for the production and use thereof
JP2007286062A (ja) 外部共振器ビーム発生器を備える光共振器ジャイロ
US20030055342A1 (en) Optical tomographic imaging apparatus
JP2008216252A (ja) 共振化学的および生物学的感知のための装置および方法
JP2007139780A (ja) 自由空間共振器を備える光ジャイロおよび慣性回転速度を感知する方法
US7518730B2 (en) Apparatus and method for chemical sensing
JP6502410B2 (ja) 光マイクロフォンシステム
JP2007285898A (ja) レーザ振動計
JP2009104135A (ja) 作用物質の存在を検出する装置及び方法
JP2015042982A (ja) 再インジェクションによる対象物のイメージ作成のためのヘテロダイン検出装置
CN103620340A (zh) 用于距离测量的耦合多波长共聚焦系统
Volikova et al. Laser vibrometer-rangefinder based on self-sweeping fiber laser
JP2010538287A5 (ja)
Strandjord et al. Resonator fiber optic gyro progress including observation of navigation grade angle random walk
Johnson et al. Linewidth considerations for MEMS tunable VCSEL LiDAR
Perchoux et al. “Lens-free” self-mixing sensor for velocity and vibrations measurements
JP2009068841A (ja) 微小機械−電気構造(mems)用の振動変位計測装置
JP2006084370A (ja) 光ファイバプローブ装置
JP2008197058A (ja) リングレーザジャイロ
Li Miniaturized laser doppler vibrometer integrated on a silicon photonics platform
CN115200692A (zh) 基于锁相放大的脉冲激光干涉测振方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110823

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130307

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130312

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130611

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130618

A524 Written submission of copy of amendment under article 19 pct

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A524

Effective date: 20130823

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20140513