JP2010528288A5 - - Google Patents

Claims (10)

1. 容量性素子用試験装置であって、
   前記容量性素子の一方の端子に接続され、前記容量性素子が所望の試験電圧に達するまで電流を供給する電流源と、
   前記容量性素子の第２の端子に接続されて前記容量性素子にわたる漏れ電流を測定する測定手段と、
   前記容量性素子の前記第２の端子と接地点との間に接続されたスイッチと、
   前記スイッチの制御手段であり、
   前記電流源が前記容量性素子に電流供給している間は前記スイッチを閉じて接地状態に保ち、
   前記容量性素子が前記一方の端子において所望の試験電圧に達すると、前記測定手段による漏れ電流測定に先だって開回路となるように前記スイッチを開放し、前記測定手段が前記漏れ電流を測定している間は前記スイッチを開位置に維持するように作動する制御手段と、を備えた装置。
2. 前記第２の端子と接地点との間に接続されたダイオードクランプを更に備え、前記スイッチを前記ダイオードクランプに並列とした、請求項１に記載の装置。
3. 前記電流源に接続され、前記所望の充電電圧を前記電流源に供給する電圧源を更に備え、前記電流源は、所望の充電電流に基づく電流を出力する、請求項１または２に記載の装置。
4. 前記電流は、前記所望の充電電圧に比例する、請求項３に記載の装置。
5. 前記ダイオードクランプは、逆接続された２つのダイオードを備える、請求項３に記載の装置。
6. 前記スイッチは、前記第２の端子のそれぞれ、及び接地点に直接的に接続され、前記電流源は、前記容量性素子の前記一方の端子に直接的に接続される、請求項１から５のいずれかに記載の装置。
7. 前記容量性素子の前記第２の端子は、前記制御手段が前記スイッチを閉じて接地状態に保つ間、前記測定手段に接続され、前記電流源は、前記容量性素子の前記一方の端子と同じ電位である、請求項１から６のいずれかに記載の装置。
8. 容量性素子の試験方法であって、
   A） 容量性素子の第２の端子と接地点との間に接続されたスイッチが閉じている間に、前記容量性素子の一方の端子に接続された電流源からの電流を使用して前記容量性素子の前記一方の端子を所望の試験電圧まで充電するステップと、
   B) 前記容量性素子の前記一方の端子が所望の試験電圧に達すると開回路となるように前記スイッチを開放するステップと、
   C) 前記スイッチの開放後、前記スイッチの開放したまま、前記容量性素子の前記第２の端子に接続された測定手段を使用して前記容量性素子の漏れ電流を測定するステップとを含むことを特徴とする方法。
9. 前記容量性素子の漏れ電流の測定後に前記スイッチを閉じるステップと、
   前記スイッチを閉じた後に前記ステップA)からC)を別の容量性素子に対して繰り返すステップとを更に含む、請求項８に記載の方法。
10. 前記スイッチが開けられたときと前記スイッチが閉じられたときに、前記第２の端子と接地点との間に電圧制限経路が存在する、請求項８または９に記載の方法。