JP2010519726A - 複数の1次光源を有する光学要素 - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 148
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 222
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 141
- 238000009304 pastoral farming Methods 0.000 claims description 18
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 11
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 claims description 11
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 abstract description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 13
- 208000028659 discharge Diseases 0.000 description 9
- 241000276498 Pollachius virens Species 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 5
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 3
- 238000001900 extreme ultraviolet lithography Methods 0.000 description 3
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 3
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 238000002493 microarray Methods 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 208000028333 fixed pupil Diseases 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 208000022749 pupil disease Diseases 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B27/00—Photographic printing apparatus
- G03B27/32—Projection printing apparatus, e.g. enlarger, copying camera
- G03B27/52—Details
- G03B27/54—Lamp housings; Illuminating means
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0905—Dividing and/or superposing multiple light beams
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/0977—Reflective elements
- G02B27/0983—Reflective elements being curved
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70008—Production of exposure light, i.e. light sources
- G03F7/7005—Production of exposure light, i.e. light sources by multiple sources, e.g. light-emitting diodes [LED] or light source arrays
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/702—Reflective illumination, i.e. reflective optical elements other than folding mirrors, e.g. extreme ultraviolet [EUV] illumination systems
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70383—Direct write, i.e. pattern is written directly without the use of a mask by one or multiple beams
- G03F7/70391—Addressable array sources specially adapted to produce patterns, e.g. addressable LED arrays
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Abstract
【選択図】図6
Description
193nmよりも短い波長、特にEUV範囲の波長を用いるリソグラフィに適する照明システムは、投影対物器械の物体視野に対応するリソグラフィ工程に対して形成された視野を形成し、この視野をできる限り均一に照明するために、できる限り少ない回数の反射を用いるべきである。更に、光路内で次に続く投影対物器械の入射瞳に一致する照明システムの出射瞳は、各視野点に対して照明され、できる限り均一に光で満たされ、同時に固定の瞳位置を維持すべきである。248nm及び193nmに対するVUVシステムとは対照的に、193nmよりも短い波長で作動するシステム、特に軟X線で作動するシステムでは、60から70パーセントの範囲の低反射率のミラーを用いる必要がある。その結果、そのようなシステムで非常に高い有効性を達成するには、物体視野及び入射瞳は、できる限り少ない回数の反射を用いて形成して均一に照明される、すなわち、光で満たすことができることが要求される。
視野ファセット及び複数の光源を含む光学要素を用いた照明システムは、US6、570、168、並びにUS2006/0119824に開示されている。
また、WO2007/002170又はWO2006/074812は、複数の光源を用いた照明システム及び投影露光装置を示している。
特にEUVリソグラフィを意図した照明システムは、US2006/0132747に開示されている。
また、光源の各々によって照明される区域の形態も、あらゆる形状のものとすることができる。例えば、区域は、円形とすることができる。代替的に、区域は、楕円形のものとすることができる。
視野平面において光源のうちの1つによって照明される区域の大きさは、視野輪郭によって定められる視野の大きさよりも小さい。例えば、視野平面において光源の各々によって照明される区域の大きさは、視野平面の大きさの1/10よりも小さく、代替的に1/50よりも小さい。代替的に、複数の光源のうちの1つによって照明される区域の大きさは、視野輪郭によって定められる視野の大きさの1/100又は1/1000よりも小さいものとすることができる。
本発明によると、複数の1次光源の光を2回又はそれ未満という少数回の反射で用いることにより、特定の視野輪郭を有する視野平面内の視野を照明することができる。更に、瞳照明は、例えば、複数の1次光源を有する光学要素の特定の1次光源を単純に点灯又は消灯することによって設定することができる。
しかし、複数の光源は、例えば第1の担持要素内で列と行で保持し、光源に割り当てられたそれぞれの反射区域又は集光器は、第2の担持要素内に保持することも可能である。複数の光源を有する第1の担持要素及び/又は複数の集光器を有する第2の担持要素をシフトし、特に傾斜することにより、1次光源と集光器という現在の組合せから発する光束の方向を変更することができ、それによって視野平面内の特定の区域を照明することができる。それによって例えば視野平面内の照明の均一性に影響を及ぼすことができる。
100nmよりも短い使用可能な波長の光、例えば、8から20nmの範囲の波長を有するEUV放射線による照明に対しては、1次光源としていわゆるピンチプラズマ光源を用いることができる。この種類の光源は、WO2007/002170に示されている。
1次光源は、100nmよりも短いか又はそれに等しい波長の範囲、特に、5nm及と20nmの間の波長を有するいわゆるEUV放射線の範囲の使用可能な放射線を放出することができる。
視野平面内の異なる区域以外に照明システムの出射瞳の区域も、1次光源の光によって照明される。出射瞳においても、同様に異なる区域が異なる光源に対して照明される。出射瞳内で光源によって照明される区域は、出射瞳輪郭によって囲まれる区域よりも小さい。
本発明では、反射面又は集光器表面の位置を機械的に変更する必要なく瞳の照明、すなわち、瞳内の設定を変更することができる。この変更は、例えば、各設定に対して適切な光源を設けることによって可能である。設定の変更には、望ましい設定に対して必要なように個々の1次光源を点灯又は消灯することのみが必要である。
代替的に、複数のファセットを有する光学要素を備えた照明システムでは、各ファセットに対して光源アレイの光源を関連付けることができるであろう。例えば、US2006/0132747に示されている照明システムの場合には、ファセット光学要素の各個々のファセットを別々の光源で照明することができると考えられる。
1次光源は、規則的配列に設定されるが、その一方で、目的は視野平面にリング状照明を達成することであるから、本発明の一形態は、規則的アレイに配置された光源が、結果として腎臓形の外形が得られるような方法で制御されるという規定を含むことができる。
複数の1次光源を有する光学要素が、列と行の1次光源の規則的配列を有する多光源アレイとして配置される場合には、光源の消灯に対する代替として、1次光源と視野平面の間の光路に配置された光学構成要素を用いてリング視野を成形するように想定することができる。この視野成形構成要素は、例えば、かすめ入射ミラー、好ましくは、凸面かすめ入射ミラーとすることができる。
代替の可能性として、視野成形要素に加えて又はその代わりに、光学要素から視野平面への光路内に像生成要素を存在させることができる。これは、空間を考慮して光路を折り返さなければならない場合、又は開口絞り、例えば視野開口絞りが用いられる場合に該当すると考えられる。
これより本発明を図面を参照して実施例を通じて以下に説明する。
図1Aから図1Bには、フライ・アイ・レンズを有するシステムによる視野平面の照明と本発明による視野平面の照明との相違点を表現している。図1C及び図1Dには、Koehler照明を有するシステムによる出射瞳の照明と本発明のシステムの照明との相違点を示している。
∬区域(1)dxdy=SP(1)
又は、
∬区域(2)dxdy=SP(2)
また、視野輪郭によって囲まれる区域の大きさSFも、面積積分によって計算することができる。
∬区域(視野)dxdy=SF
図1Eには、円形照明出射瞳を示している。出射瞳1は、等しい大きさのセル22を有する格子20へと細分化される。等しく大きさが決められたセル22は、等しいパワー密度、すなわち、等しい放射強度を有する。1次光源の寸法に従って更に出射瞳内の瞳照明に対するテレセントリシティ要件を考慮に入れ、出射瞳の均一な照明が得られるいくつかの個別視野点が選択される。
このネットワークをファセットネットワーク26と呼ぶ。この種類のファセットネットワーク26を図3に示している。ここで、複数の1次光源が配置された平面に対して変換ネットワークが計算され、境界条件として出射瞳内の各セルの等しい放射強度に対する要件が課せられる。ファセットネットワークは、変換ネットワーク上に重畳され、変換ネットワークが正方格子になり、すなわち、均等に区切られ、直交するように変換される。ここで、ファセットは、変換されたファセットネットワークの各格子点の周りに設けられる。次に、ファセットネットワークは、変換ネットワーク上に変換して戻される。その結果、関連付けられた視野点によって定められる異なる大きさ及び異なる位置のファセットが得られる。ここで、各ファセットに関連付けられた個々の1次光源の傾き角は、これらの1次光源によってそれぞれのファセット点へと放出される光線が1次光源の中心からそれに関連付けられた視野点の方向に誘導されるように調節される。
出射瞳の可能な最も均一な照明に向けての観点だけでなく、視野平面の均一性も考慮に入れながら最適化を実施することができる。これに関して、1次光源は、異なって設けられることになる。
照明システムの出射瞳の改善された照明では、その配列は、視野平面内での走査方向に延びる直線上に位置する照明部分のいかなる積分においても、出射瞳の部分照明に対して同じ積分値が得られるように選択することができる。
図5Aは、複数の1次光源を有するそのような構成要素を表している。この構成要素は、2つの部分から成り、その一方は、複数の1次光源42を含む光要素部分40である。図5Aから分るように、これらの1次光源42は、例えば、放電源によって構成される。1次放電源は、列と行の規則的アレイに配置される。可能な放電源は、Ne(ネオン)又はN2/O2放電源を含む。ヘリウム又はアルゴンのような他の不活性ガスを用いる放電源も同様に想定することができ、かつ可能である。個々の光源の直径は、約200μmである。別のガス充填剤として、キセノン(Xe)充填剤を用いることができる。Xe充填剤を用いた放電源は、13.5nmのEUV波長を有する光パルスを発生させることができる。この種類の1次光源の電力出力は、5ワットから200ワットの範囲にある。1次光源の直径は、0.1μmから40000μm、又は100μmから400μmの範囲にある。光源が作動される電圧は、100Vから3000V、好ましくは、600Vから1000Vの範囲にある。1次光源に対して200μmの寸法を用いると、数センチメートルの範囲の寸法を有するアレイは、数百個から数千個の1次EUV光源を収容することができる。
光源の光線は、中空カソード52内の孔50を通じて放出される。中空カソード52の寸法に基づいて、この種類の光源内で、光源から照明される視野平面への光路に配置された反射面54を用いて光を集光することが考えられる。反射面54を集光器表面とも呼ぶ。1つの集光器表面が、各光源に割り当てられる。この種類の相関は有利であるが、決して絶対要件ではない。
しかし、本発明によると、光ビームに対して収束効果を有する集光器、例えば、回転楕円体形の表面を有する集光器が好ましい。組合せ表面、例えば、回転楕円体と回転双曲体との組合せも同様に可能である。回転対称集光器表面の収束効果の結果として、複数の1次光源は、複数の光源像へと投影される。本発明の実施形態では、これらの光源像は、照明システムの視野平面、照明システムの出射瞳平面、又は視野平面と共役又は出射瞳平面と共役な平面のいずれでもない平面内に位置する。そのような場合には、視野平面には、図1Bに示すように照明スポットのみが位置するようになり、1次光源像は、視野平面の前又は後の光路内に置かれる。それにも関わらず、平面内の1次光源像の位置は、視野平面内の照明スポットの位置に影響を及ぼす。照明システムが、投影対物器械を有する投影露光装置の一部でる場合には、照明システムの視野平面は、投影対物器械の対物面に対応し、照明システムの出射瞳平面は、投影対物器械の入射瞳平面に対応する。投影対物器械の視野平面内には、投影対物器械の像平面内に投影される像を有する物体、例えば、構造化マスク、いわゆるレチクルが配置される。瞳平面内には、例えば、投影対物器械の開口絞りが配置される。各視野点には、この視野点から発する光線束の重心を表すエネルギ重み付き中心光線を割り当てることができる。理想的な場合には、全てのこれらのエネルギ重み付き中心光線の完全な組は、その後の投影光学器械の入射瞳に対応し、又は共役である瞳平面85又は87それぞれにおいて交差する。エネルギ重み付き中心光線は、主光線とも表している。
図示の例における中空カソード52.1、52.2、52.3の対称軸z1、z2、z3は、互いに実質的に平行に向けられる。1次光源42.1、42.2、42.3に割り当てられた個々のかすめ入射集光器54.1、54.2、54.3も同様に、各々対称軸HA1、HA2、HA3を有する。かすめ入射集光器のシェルは、それぞれの対称軸HA1、HA2、HA3に対して回転対称な閉ループ内を延びる表面、すなわち、いわゆる回転シェルである。集光器によって反射される光束の方向は、それぞれの集光器の対称軸HA1、HA2、HA3の方向に実質的に対応する。従って、反射光線束57.1、57.2、57.3の方向は、それぞれの集光器の対称軸HA1、HA2、HA3の方向を変更することによって設定及び調節することができる。従って、視野平面内の光源像又は照明スポットの位置は、それぞれのかすめ入射集光器を1次光源に対して傾斜することによって調節することができる。
当然ながら、光源の対称軸z1、z2、z3に加えて、それぞれに関連付けられた集光器の対称軸HA1、HA2、HA3を傾斜し、すなわち、図5Dに例示しているように、互いに対して平行でないようにすることができる。
最後に、光源像の位置は、調節することができる方向放出特性を有し、放射線の非対称放出を行う光源によって調節することができ、すなわち、光源像の位置及び従って照明システムの視野平面及び瞳平面内の照明は、光源の方向発光特性によって判断することができる。
好ましくは、複数の光源及び集光器の配列は、視野平面内の照明区域の重ね合わせが所定の視野形状、例えば、図1Bに示しているようなリング視野形状へと加え合わせられるように選択される。更に、複数の光源及び集光器の配列は、出射瞳平面内の照明区域が所定の出射瞳照明、例えば、ある一定のテレセントリシティを有する例えば円形出射瞳照明を形成するように選択することができる。
また、単一ユニットとしての構成も可能であり、光源は、集光器と共に1つの光源マイクロアレイを形成する。
単一ユニットとしての構成では、上述の光源像の異なる位置は、個々の1次光源及び集光器が互いに対して特定の角度をとり、例えば、集光器の軸が光源の軸に対して傾斜されるか又はその逆も同様であるという概念を通じて得られる。また、モータを用いて個々の1次光源を作動させるか又は例えばマイクロモータを用いて集光器を作動させることができ、それによって平面内の光源の位置が変化する。
光源から、照明される平面、好ましくは、視野平面への光路にかすめ入射集光器以外に光源の前部に配置された集光器が後ろ向きの方向に放出される光も取り込むように構成された別の実施形態を考えることができる。この種類のシステムは、例えば、LEDダイオード69.1、69.2、69.3、69.4が1次光源として用いられるシステムになる。この種類のLEDダイオードアレイでは、後部反射器73.1、73.2、73.3、73.4を用いて光を集光することが慣例である。
そのような後部反射器73.1、73.2、73.3、73.4は、好ましい方向を有し、この方向に関連して、回転対称構成を有することができる。後部反射器は、光収束効果を有するように設計することができる。
照明される物体を置くことができる視野平面を参照番号108で表している。図6から明らかであるように、光源像は視野平面108内に位置しない。従って、各光源は、視野平面108内のいわゆる照明スポットを照明する。図1Bに関して解説したように、全ての照明スポットを通しての総和は、例えば、弧形視野輪郭を有することができる視野照明を形成する。視野平面内で望ましい輪郭を照明することを可能にするためには、それぞれの1次光源の像を視野平面内の異なる区域内に投影することが必要である。これを達成するために、それぞれの1次光源69.1、69.2、69.3、69.4によって放出される個々の光束75.1、75.2、75.3、75.4は、図6に示しているように互いに対して傾斜される。互いに対する個々の光チャンネル又は光束75.1、75.2、75.3、75.4の傾斜角は、基本的に、それぞれの光束75.1、75.2、75.3、75.4の主光線CR1、CR2、CR3、及びCR4の傾斜角によって定められる。それぞれの1次光源69.1、69.2、69.3、69.4に関連付けられた光束75.1、75.2、75.3、75.4の主光線CR1、CR2、CR3、CR4の傾斜は、異なる手法で達成することができる。本発明の第1の実施形態では、それぞれの1次光源69.1、69.2、69.3、69.4に割り当てられた反射器が傾斜される。反射器の傾斜は、反射器によって形成された光束が傾斜した主光線を有するという効果を有する。光源を傾斜し、視野平面内の異なる区域を照明することにより、異なる視野輪郭を照明するだけでなく、異なる照明スポットを混合することで照明の均一性に影響を及ぼすことができる。
当然ながら、全く同一の手法で集光器を多集光器アレイへと組み立て、光束が視野平面内への望ましい方向に放射されるように、これらの集光器に割り当てられたそれぞれの1次光源を集光器に対して傾斜又は位置決めすることができるであろう。
互いに対して移動可能な反射器又は光源を用いて出射瞳内に照明を設定することの代替として、照明において必要なものよりも多くの1次光源を有する多光源アレイを設け、光源を個々に点灯及び消灯するように想定することができる。
上述のように、出射瞳内の第1の照明は、複数の光源の第1の部分集合によって形成することができ、出射瞳内の第2の照明は、複数の光源の第2の部分集合によって形成することができる。複数の1次光源の全体の中から第1の照明に関連付けられた光源を消灯し、複数の1次光源の第2の部分集合を点灯することにより、設定変更を非常に迅速に行うことができる。この種類の設定変更は、機械処理を用いるものよりもかなり高速に達成することができる。
図8は、複数の1次光源を有する本発明による光学要素が用いられる本発明による第1の照明システムを示している。複数の1次光源101.1、101.2、101.3を有する光学要素100は、例えば、それぞれの1次光源に割り当てられた集光器103.1、103.2、103.3を用いて、視野平面でもなく、瞳平面でもなく、又は視野平面及び/又は瞳平面と共役な平面でもない平面105内に1次光源の結像を行い、更に、照明される物体が配置された平面108内のリング視野の成形、並びに照明システムの出射瞳106の照明を行う。関連付けられた光源によって放出される光束109.1、109.2、109.3の傾き角度、及び光学要素における1次光源の配置は、本明細書で上述のように格子変換を用いて計算することができる。図8に示している1次光源の光学要素は、個々の1次光源を数千個まで備えることができる。照明システムの出射瞳に対応する図示の投影システムの入射瞳の場所は、投影対物器械の光軸HAOと、照明される視野の視野点、例えば、中心視野点への光束のエネルギ重み付き主光線107との交差点Sによって定められる。エネルギ重み付き主光線は、視野点102を通過する全ての照明光線のエネルギ重み付き平均を表している。複数の1次光を有する光学要素100は、例えば、1次光源が例えば図5Gに示しているように行と列で配置された多光源アレイとして配置することができる。図8に示している視野点102は、視野平面108内の照明視野の中心視野点である。更に、図8には、光源像104.1、104.2、104.3が形成された平面105を示している。図8から明らかであるように、光源像104.1、104.2、104.3は、視野平面108内に形成されない。従って、各光束109.1、109.2、109.3は、視野平面108内に照明スポットを形成する。
図10による実施形態の利点は、図10による実施形態における複数の光源を有する光学要素100を矩形視野に対して設計することができるという事実に見るべきである。
リング視野への成形は、この例では視野成形かすめ入射ミラーである視野成形要素110を通じて発生する。
図示の照明システムに対する代替として、複数の1次光源を有する光学要素を備えた照明システムは、1つ又はそれよりも多くの結像要素111.1、111.2を含むことができる。1つの法線入射ミラー111.1を有するそのような照明システムの第1の実施形態を図12に提供している。図11に示している実施形態は、複数の光源101.1、101.2、101.3を有する光学要素が、視野平面108又はそれと共役な平面、又は出射瞳平面106又はそれに共役な平面のいずれにも置かれない実施形態でもある。更に、このシステムは、光源像104.2が、光学要素100から視野平面108への光路内で視野平面108の前に置かれた平面105内に位置することになるシステムである。また、中心視野点102と、中心視野点102への主光線107とその後の投影対物器械の光軸HAOとの交差点とを示している。
図14は、例えば、図2又は図4に示している照明視野の中心視野点への照明光束の主光線CRBを示している。ここに示しているように、照明光束の主光線CRBは、反射物体REFLOBJ、例えば、レチクル上で反射され、図示の第1のミラーS1及び第2のミラーS2を有する投影対物器械内に投影光束の主光線CRPとして入射する。負の後部焦点の概念は、主光線CRB又はCRPが反射物体、例えば、レチクルの前の光路内で投影対物器械の光軸と交差することを意味する。それとは対照的に、正の後部焦点を有するシステムにおける交差点は、反射物体REFLOBJの後の光路内に位置する。
図8から図13に示すように、正の入射瞳後部焦点を有するシステムでは、入射瞳は、対物面から像平面への光路内で対物面内の反射物体REFLOBJの後の位置に配置されることになる。負の後部焦点を有するシステムでは、鏡像入射瞳REは、光源から反射物体への光路内で入射瞳の前の位置に配置されることになる。
更に、負の後部焦点を有するシステムでは、反射物体において反射された光束の主光線は、投影対物器械の光軸に対して発散するように延びている。
正の後部焦点を有するシステムは、反射物体REFLOBJにおいて反射された光束の主光線が光軸に対して収束するように延びるシステムである。
1mradのテレセントリシティ及び約1メートルの入射瞳後部焦点(視野平面と出射瞳の間のエネルギ重み付き中心光線の長さとして定められる)という要件では、2mmよりも短い視野平面108内の光源像の間の理想的距離が見出される。2mmよりも短い距離では、2つの選択されたターゲット点の間の視野平面108の視野内の点による出射瞳内のテレセントリシティ誤差は、1mradよりも小さい。
71.1、71.2、71.3、71.4 1次光源像
73.1、73.2、73.3、73.4 後部反射器
108 視野平面
Claims (28)
- 複数の1次光源(42.1、42.2、42.3、42.4、42.5、42.6、69.1、69.2、69.3、69.4、101.1、101.2、101.3、2100.1、2100.2)を有する光学要素(100)を含み、
視野輪郭(2112)を有する視野平面(2108)内の視野を照明し、
各1次光源が前記視野平面内の区域(2106.1、2106.2)を照明するように構成され、
前記区域(2106.1、2106.2)の大きさ(SP(1)、SP(2))が、前記視野輪郭(2112)によって囲まれる区域の大きさ(SF)よりも小さい、
ことを特徴とする照明システム。 - 前記複数の1次光源(42.1、42.2、42.3、42.4、42.5、42.6)を有する光学要素(100)は、光源アレイで配置されることを特徴とする請求項1に記載の照明システム。
- 前記複数の1次光源(42.1、42.2、42.3、69.1、69.2、69.3、69.4)を有する光学要素は、該複数の1次光源の1つ又はそれよりも多くから光を受け取る反射面(54.1、54.2、54.3、73.1、73.2、73.3)を有し、
前記1次光源(42.1、42.2、42.3、69.1、69.2、69.3、69.4)及び前記反射面(54.1、54.2、54.3、73.1、73.2、73.3)は、該複数の1次光源から発する複数の光束(75.1、75.2、75.3、75.4)が異なる方向に放出されるような方法で互いに対して位置決めされるか又は位置決めすることができる、
ことを特徴とする請求項1から請求項2のいずれか1項に記載の照明システム。 - 少なくとも1つの反射面(73.1、73.2、73.3、73.4)が、前記複数の光源(69.1、69.2、69.3、69.4、101.1、101.2、101.3)の各々に割り当てられることを特徴とする請求項3に記載の照明システム。
- 前記1次光源(42.1、42.2、42.3、69.1、69.2、69.3、69.4)及び前記反射面は、個々の該光源をそれぞれの該反射面(54.1、54.2、54.3、73.1、73.2、73.3、73.4)に対してシフト及び/又は傾斜させることによって互いに対するそれらの位置を調節することができることを特徴とする請求項3又は請求項4のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記1次光源(42.1、42.2、42.3、69.1、69.2、69.3、69.4)及び前記反射面は、該反射面(54.1、54.2、54.3、73.1、73.2、73.3)をそれぞれの個々の該光源に対してシフト及び/又は傾斜させることによって互いに対するそれらの位置を調節することができることを特徴とする請求項3又は請求項5のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記1次光源(42.1、42.2、42.3、69.1、69.2、69.3、69.4)及び前記反射面は、該反射面(54.1、54.2、54.3、73.1、73.2、73.3、73.4)をシフト及び/又は傾斜させ、かつそれぞれの個々の該光源を互いに対してシフト及び/又は傾斜させることによって互いに対するそれらの位置を調節することができることを特徴とする請求項3又は請求項4のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記反射面は、かすめ入射集光器(54.1、54.2、54.3)の一部であることを特徴とする請求項3から請求項7のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記反射面は、法線入射集光器(73.1、73.2、73.3、73.4)の一部であることを特徴とする請求項3から請求項7のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記複数の1次光源及び前記反射面の各々が、光源ユニットを形成し、
個々の前記光源ユニットは、異なる該光源ユニットに関連付けられた光束(75.1、75.2、75.3、75.4)が異なる方向に放出されるような方法で互いに対してシフト及び/又は傾斜されるか又はそれが可能である、
ことを特徴とする請求項3から請求項9のいずれか1項に記載の照明システム。 - 前記1次光源は、レーザダイオードであることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記1次光源は、放電源であることを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の照明システム。
- 少なくとも1つの反射面が、正の光パワーを有することを特徴とする請求項3から請求項12のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記正の光パワーは、前記1次光源の多数の像が前記視野平面に生成されるように選択されることを特徴とする請求項13に記載の照明システム。
- 出射瞳を有し、
前記複数の1次光源は、前記出射瞳内の区域を照明し、
前記区域は、出射瞳輪郭によって囲まれている、
ことを特徴とする請求項1から請求項14に記載の照明システム。 - 前記光学要素の前記複数の1次光源の少なくとも一部は、特定の1次光源を選択的に点灯及び消灯することによって異なる出射瞳輪郭を発生させることができるように点灯及び消灯することが可能であることを特徴とする請求項15に記載の照明システム。
- 前記複数の1次光源のうちの第1の複数のものが、前記出射瞳の第1の区域を照明し、該複数の1次光源のうちの第2の複数のものが、該出射瞳の第2の区域を照明することを特徴とする請求項15から請求項16のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記第1の区域は、環状出射瞳輪郭によって囲まれ、前記第2の区域は、双極又は四重極出射瞳輪郭によって囲まれていることを特徴とする請求項17に記載の照明システム。
- 前記複数の1次光源を有する光学要素は、該複数の1次光源の1つ又はそれよりも多くから光を受け取る反射面を有し、該反射面は、異なる出射瞳輪郭によって囲まれた区域が照明されるように、該1次光源に対するそれらの位置を変更することができることを特徴とする請求項15に記載の照明システム。
- 前記複数の光源を有する光学要素から前記視野平面までの光路において、該視野平面における視野輪郭を有する視野の成形のためのかすめ入射視野ミラー(110)を更に含むことを特徴とする請求項1から請求項19のいずれか1項に記載の照明システム。
- 前記かすめ入射視野ミラーは、凸ミラーであることを特徴とする請求項20に記載の照明システム。
- 前記複数の光源を有する光学要素から前記視野平面までの光路において、該複数の1次光源を有する光学要素の像を前記出射瞳内に投影する役割をする凹ミラーを含むことを特徴とする請求項1から請求項21のいずれか1項に記載の照明システム。
- 請求項1から請求項22のいずれか1項に記載の照明システムと、
投影対物器械(112)と、
を含むことを特徴とする投影露光装置。 - 前記投影対物器械は、少なくとも6つのミラー(114.1、114.2、114.3、114.4、114.5、114.6)を含むことを特徴とする請求項23に記載の投影露光装置。
- 前記投影対物器械は、入射側に正の後部焦点を有することを特徴とする請求項23から請求項24のいずれか1項に記載の投影露光装置。
- 前記投影対物器械は、入射側に負の後部焦点を有することを特徴とする請求項23から請求項24のいずれか1項に記載の投影露光装置。
- 前記照明システムは、マスクが配置された視野平面を照明し、
前記投影対物器械は、前記マスクの像を感光担持基板上に投影する、
ことを特徴とする請求項23から請求項26のいずれか1項に記載の投影露光装置。 - 請求項23から請求項27のいずれか1項に記載の投影露光装置を用いてマイクロ電子部品、特に半導体チップを製造する方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US90223407P | 2007-02-20 | 2007-02-20 | |
DE102007008702 | 2007-02-20 | ||
US60/902,234 | 2007-02-20 | ||
DE102007008702.2 | 2007-02-20 | ||
PCT/EP2008/001278 WO2008101664A1 (en) | 2007-02-20 | 2008-02-19 | Optical element with multiple primary light sources |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2010519726A true JP2010519726A (ja) | 2010-06-03 |
JP5218994B2 JP5218994B2 (ja) | 2013-06-26 |
Family
ID=41163721
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009549383A Expired - Fee Related JP5218994B2 (ja) | 2007-02-20 | 2008-02-19 | 複数の1次光源を有する光学要素 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8253927B2 (ja) |
JP (1) | JP5218994B2 (ja) |
KR (1) | KR20090115712A (ja) |
WO (1) | WO2008101664A1 (ja) |
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WO2008101664A1 (en) | 2008-08-28 |
JP5218994B2 (ja) | 2013-06-26 |
KR20090115712A (ko) | 2009-11-05 |
US20090257040A1 (en) | 2009-10-15 |
US8253927B2 (en) | 2012-08-28 |
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