JP2010507806A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010507806A5 JP2010507806A5 JP2009534620A JP2009534620A JP2010507806A5 JP 2010507806 A5 JP2010507806 A5 JP 2010507806A5 JP 2009534620 A JP2009534620 A JP 2009534620A JP 2009534620 A JP2009534620 A JP 2009534620A JP 2010507806 A5 JP2010507806 A5 JP 2010507806A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radiation
- microbolometer
- absorbing layer
- roic
- dual band
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 6
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N Silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 4
- 229910001120 nichrome Inorganic materials 0.000 claims 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims 3
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N TiO Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910001929 titanium oxide Inorganic materials 0.000 claims 2
- GRUMUEUJTSXQOI-UHFFFAOYSA-N vanadium dioxide Chemical compound O=[V]=O GRUMUEUJTSXQOI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 claims 2
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 claims 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 claims 1
- 230000001808 coupling Effects 0.000 claims 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000005469 granulation Methods 0.000 claims 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 1
Claims (18)
- デュアル・バンド・マイクロボロメータであって、
第1波長の光を吸収する放射吸収層と、
読取り回路(ROIC)と、
多層の熱絶縁脚構造であって、前記放射吸収層を前記ROICに電気的に結合する第1の層と、前記ROICに対し前記熱絶縁脚構造を熱的に沈める第2の層とを含む、前記熱絶縁脚構造と、
第2波長の光を検出する少なくとも1つの放射検出器であって、前記放射吸収層を通じて延伸する対応の開口を介して前記ROICに電気的に結合された前記少なくとも1つの放射検出器とを含み、
前記放射吸収層は、酸化バナジウムおよび酸化チタニウムのうちの少なくとも1つを含む、前記デュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記少なくとも1つの放射検出器がSiPINフォトダイオード、InGaAsフォトダイオード、およびHgCdTeフォトダイオードのうちの少なくとも1つを含む、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記第1波長の光が長波赤外線(LWIR)放射を含み、また前記第2波長の光が短波赤外線(SWIR)放射を含む、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記少なくとも1つの放射検出器がLWIR放射に対して実質的に透過的である、請求項3記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記ROICに結合され、前記ROICから出力された画像情報を処理するプロセッサと、
前記プロセッサに結合され、処理された前記画像情報を表示するディスプレイと、
を更に含む、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記第2波長の光を検出する複数の放射検出器を有し、該放射検出器の各々が前記放射吸収層を通じて延伸する対応の開口を介して前記ROICに結合され、前記対応の開口は、中心から中心までのピッチで互いに間を設けられ、
前記放射吸収層は、実質的に前記ピッチの2倍である中心から中心までの距離で互いに間を設けられた接点で前記ROICと結合された、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記第1の層はNiCrを含み、前記第2の層は窒化シリコンを含む、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記放射吸収層が、該放射吸収層と実質的に平行な複数の層を介して前記熱絶縁脚構造に結合された第2の脚構造であって、前記熱絶縁脚構造と前記第2の脚構造とが前記実質的に平行な複数の層を横切って互いに横方向に間を設けられた、前記第2の脚構造を更に含む、請求項7記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記実質的に平行な複数の層は、複数の窒化シリコンの層の間に挟まれたNiCrの層を含む、請求項8記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記第1波長の光は、長波赤外線(LWIR)放射を含み、また前記第2波長の光が中波赤外線(MWIR)放射を含み、
前記放射吸収層は、前記放射検出器と前記ROICの間に配置されている、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記放射吸収層が前記放射検出器から電気的に絶縁された、請求項1記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 画像情報を出力するデュアル・バンド・マイクロボロメータであって、
第1波長の光を吸収する放射吸収層であって、酸化バナジウムおよび酸化チタニウムのうちの少なくとも1つを含む、前記放射吸収層と、
読取り回路(ROIC)と、
多層の熱絶縁脚構造であって、前記放射吸収層を前記ROICに電気的に結合する第1の層と、前記ROICに対し前記熱絶縁脚構造を熱的に沈める第2の層とを含む、前記熱絶縁脚構造と、
第2波長の光を検出する少なくとも1つの放射検出器であって、前記放射吸収層を通じて延伸する対応の開口を介して前記ROICに電気的に結合された前記少なくとも1つの放射検出器と、
デュアル・バンド撮像装置に結合され、前記画像情報を処理する処理手段と、
前記処理手段に結合され、処理された前記画像情報を表示するディスプレイ手段と、
を含む、前記デュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記第2波長の光を検出する複数の放射検出器を有し、該放射検出器の各々が前記放射吸収層を通じて延伸する対応の開口を介して前記ROICに結合され、前記対応の開口は、中心から中心までのピッチで互いに間を設けられ、
前記放射吸収層は、実質的に前記ピッチの2倍である前記中心から中心までの距離で互いに間を設けられた接点で前記ROICと結合された、請求項12記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記第1の層はNiCrを含み、前記第2の層は窒化シリコンを含む、請求項12記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記放射吸収層が、該放射吸収層と実質的に平行な複数の層を介して前記熱絶縁脚構造に結合された第2の脚構造であって、前記熱絶縁脚構造と前記第2の脚構造とが前記実質的に平行な複数の層を横切って互いに横方向に間を設けられた、前記第2の脚構造を更に含む、請求項14記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記実質的に平行な複数の層は、複数の窒化シリコンの層の間に挟まれたNiCrの層を含む、請求項15記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
- 前記第1波長の光は、長波赤外線(LWIR)放射を含み、また前記第2波長の光が中波赤外線(MWIR)放射を含み、
前記放射吸収層は、前記放射検出器と前記ROICの間に配置されている、請求項12記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。 - 前記放射吸収層が前記放射検出器から電気的に絶縁された、請求項12記載のデュアル・バンド・マイクロボロメータ。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/586,323 US7629582B2 (en) | 2006-10-24 | 2006-10-24 | Dual band imager with visible or SWIR detectors combined with uncooled LWIR detectors |
PCT/US2007/022461 WO2008127297A2 (en) | 2006-10-24 | 2007-10-23 | Dual band imager with visible or swir detectors combined with uncooled lwir detectors |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010507806A JP2010507806A (ja) | 2010-03-11 |
JP2010507806A5 true JP2010507806A5 (ja) | 2010-07-15 |
JP4677044B2 JP4677044B2 (ja) | 2011-04-27 |
Family
ID=39317041
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009534620A Active JP4677044B2 (ja) | 2006-10-24 | 2007-10-23 | 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7629582B2 (ja) |
EP (1) | EP2084501B1 (ja) |
JP (1) | JP4677044B2 (ja) |
IL (1) | IL198218A (ja) |
WO (1) | WO2008127297A2 (ja) |
Families Citing this family (36)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7057256B2 (en) | 2001-05-25 | 2006-06-06 | President & Fellows Of Harvard College | Silicon-based visible and near-infrared optoelectric devices |
US7442629B2 (en) | 2004-09-24 | 2008-10-28 | President & Fellows Of Harvard College | Femtosecond laser-induced formation of submicrometer spikes on a semiconductor substrate |
US8058615B2 (en) * | 2008-02-29 | 2011-11-15 | Sionyx, Inc. | Wide spectral range hybrid image detector |
US8399820B2 (en) | 2009-06-23 | 2013-03-19 | Sensors Unlimited, Inc. | Multicolor detectors and applications thereof |
KR100983818B1 (ko) * | 2009-09-02 | 2010-09-27 | 한국전자통신연구원 | 볼로미터용 저항재료, 이를 이용한 적외선 검출기용 볼로미터, 및 이의 제조방법 |
US9911781B2 (en) | 2009-09-17 | 2018-03-06 | Sionyx, Llc | Photosensitive imaging devices and associated methods |
US9673243B2 (en) | 2009-09-17 | 2017-06-06 | Sionyx, Llc | Photosensitive imaging devices and associated methods |
KR102095669B1 (ko) | 2009-09-17 | 2020-04-01 | 사이오닉스, 엘엘씨 | 감광성 이미징 장치 및 이와 관련된 방법 |
US8274027B2 (en) * | 2010-02-02 | 2012-09-25 | Raytheon Company | Transparent silicon detector and multimode seeker using the detector |
US8692198B2 (en) | 2010-04-21 | 2014-04-08 | Sionyx, Inc. | Photosensitive imaging devices and associated methods |
US9706138B2 (en) * | 2010-04-23 | 2017-07-11 | Flir Systems, Inc. | Hybrid infrared sensor array having heterogeneous infrared sensors |
WO2011160130A2 (en) | 2010-06-18 | 2011-12-22 | Sionyx, Inc | High speed photosensitive devices and associated methods |
FR2966976B1 (fr) * | 2010-11-03 | 2016-07-29 | Commissariat Energie Atomique | Imageur monolithique multispectral visible et infrarouge |
CN102175329B (zh) * | 2010-12-01 | 2012-11-21 | 烟台睿创微纳技术有限公司 | 红外探测器及其制作方法及多波段非制冷红外焦平面 |
US8471204B2 (en) * | 2010-12-23 | 2013-06-25 | Flir Systems, Inc. | Monolithic electro-optical polymer infrared focal plane array |
IL212401A0 (en) * | 2011-04-17 | 2012-01-31 | Elta Systems Ltd | A system and a method for extended swir thermal imaging |
US9496308B2 (en) | 2011-06-09 | 2016-11-15 | Sionyx, Llc | Process module for increasing the response of backside illuminated photosensitive imagers and associated methods |
WO2013010127A2 (en) | 2011-07-13 | 2013-01-17 | Sionyx, Inc. | Biometric imaging devices and associated methods |
US9064764B2 (en) | 2012-03-22 | 2015-06-23 | Sionyx, Inc. | Pixel isolation elements, devices, and associated methods |
US20130327942A1 (en) * | 2012-06-06 | 2013-12-12 | Raytheon Company | Compact spectrometer for remote hydrocarbon detection |
EP2923187B1 (en) * | 2012-11-26 | 2016-11-02 | Flir Systems, Inc. | Hybrid infrared sensor array having heterogeneous infrared sensors |
KR20150130303A (ko) | 2013-02-15 | 2015-11-23 | 사이오닉스, 아이엔씨. | 안티 블루밍 특성 및 관련 방법을 가지는 높은 동적 범위의 cmos 이미지 센서 |
US9939251B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-04-10 | Sionyx, Llc | Three dimensional imaging utilizing stacked imager devices and associated methods |
WO2014209421A1 (en) | 2013-06-29 | 2014-12-31 | Sionyx, Inc. | Shallow trench textured regions and associated methods |
US9873172B2 (en) * | 2014-04-28 | 2018-01-23 | Cannon Equipment Llc | Pallet checker |
KR102526997B1 (ko) * | 2015-07-31 | 2023-05-02 | 서울바이오시스 주식회사 | 광 검출 소자 및 이를 포함하는 전자 장치 |
ES2808826T3 (es) | 2015-06-10 | 2021-03-02 | Fundacio Inst De Ciencies Fotòniques | Sensor de imagen, sistema optoelectrónico que comprende dicho sensor de imagen y método de fabricación de dicho sensor de imagen |
US9881966B2 (en) * | 2015-07-17 | 2018-01-30 | International Business Machines Corporation | Three-dimensional integrated multispectral imaging sensor |
US10277838B2 (en) * | 2016-07-28 | 2019-04-30 | BAE Systems Imaging Solutions Inc. | Monolithic visible/IR fused low light level imaging sensor |
CN108151887A (zh) * | 2017-12-25 | 2018-06-12 | 湖南航天诚远精密机械有限公司 | 一种微波实验炉 |
GB201816609D0 (en) | 2018-10-11 | 2018-11-28 | Emberion Oy | Multispectral photodetector array |
US11515353B2 (en) | 2019-09-12 | 2022-11-29 | L3 Cincinnati Electronics Corporation | Mechanically stacked multicolor focal plane arrays and detection devices |
US11454546B2 (en) | 2020-05-27 | 2022-09-27 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Hybrid visible/NIR and LWIR sensor with resistive microbolometer |
US20220057269A1 (en) * | 2020-08-21 | 2022-02-24 | Analog Devices, Inc. | Multi-sensor using a thermal camera |
US11930264B2 (en) * | 2021-05-18 | 2024-03-12 | Magna Electronics Inc. | Vehicular driver monitoring system with camera view optimization |
CN113753568A (zh) * | 2021-09-29 | 2021-12-07 | 无锡根深地固科技有限公司 | 扁平栽培容器自动拆垛装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60154125A (ja) * | 1984-01-24 | 1985-08-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 赤外線検出器 |
GB2247985A (en) * | 1990-09-12 | 1992-03-18 | Philips Electronic Associated | Plural-wavelength infrared detector devices |
US5149956A (en) * | 1991-06-12 | 1992-09-22 | Santa Barbara Research Center | Two-color radiation detector array and methods of fabricating same |
US5581084A (en) * | 1995-06-07 | 1996-12-03 | Santa Barbara Research Center | Simultaneous two color IR detector having common middle layer metallic contact |
US5811815A (en) * | 1995-11-15 | 1998-09-22 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Dual-band multi-level microbridge detector |
US5808350A (en) | 1997-01-03 | 1998-09-15 | Raytheon Company | Integrated IR, visible and NIR sensor and methods of fabricating same |
US6097031A (en) * | 1997-07-25 | 2000-08-01 | Honeywell Inc. | Dual bandwith bolometer |
US6232602B1 (en) * | 1999-03-05 | 2001-05-15 | Flir Systems, Inc. | Enhanced vision system sensitive to infrared radiation |
FR2822541B1 (fr) * | 2001-03-21 | 2003-10-03 | Commissariat Energie Atomique | Procedes et dispositifs de fabrication de detecteurs de rayonnement |
US6667479B2 (en) * | 2001-06-01 | 2003-12-23 | Raytheon Company | Advanced high speed, multi-level uncooled bolometer and method for fabricating same |
US7075079B2 (en) * | 2001-06-27 | 2006-07-11 | Wood Roland A | Sensor for dual wavelength bands |
JP2003017672A (ja) * | 2001-07-04 | 2003-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 電子デバイス,その製造方法,カメラ及び車両 |
JP3675770B2 (ja) * | 2002-03-22 | 2005-07-27 | 株式会社東芝 | 熱型赤外線撮像素子 |
FR2844635B1 (fr) * | 2002-09-16 | 2005-08-19 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif detecteur de rayonnement electromagnetique avec boitier integre comportant deux detecteurs superposes |
JP4047802B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2008-02-13 | 埼玉日本電気株式会社 | 樹脂塗布機構及びそれに用いる樹脂吐出量の安定化方法 |
JP2006343229A (ja) * | 2005-06-09 | 2006-12-21 | Mitsubishi Electric Corp | イメージセンサ |
JP4901320B2 (ja) * | 2006-06-13 | 2012-03-21 | 三菱電機株式会社 | 2波長イメージセンサ |
-
2006
- 2006-10-24 US US11/586,323 patent/US7629582B2/en active Active
-
2007
- 2007-10-23 JP JP2009534620A patent/JP4677044B2/ja active Active
- 2007-10-23 EP EP07873454.8A patent/EP2084501B1/en active Active
- 2007-10-23 WO PCT/US2007/022461 patent/WO2008127297A2/en active Application Filing
-
2009
- 2009-04-19 IL IL198218A patent/IL198218A/en active IP Right Grant
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2010507806A5 (ja) | ||
JP4677044B2 (ja) | 非冷却lwir検出器に組み合わされた可視すなわちswir検出器を有するデュアル・バンド撮像装置 | |
US6495829B1 (en) | Thermal infrared array sensor for detecting a plurality of infrared wavelength bands | |
US8734010B2 (en) | Thermal detector, thermal detection device, electronic instrument, and thermal detector manufacturing method | |
US9171885B2 (en) | Infrared detector and infrared image sensor including the same | |
US8354642B2 (en) | Monolithic passive THz detector with energy concentration on sub-pixel suspended MEMS thermal sensor | |
US7262413B2 (en) | Photoconductive bolometer infrared detector | |
EP2581721B1 (en) | Infrared thermal detector and method of manufacturing the same | |
TW200950074A (en) | Backside illuminated imaging sensor with improved infrared sensitivity | |
CN102865922B (zh) | 火焰检测器和检测火焰的方法 | |
KR101427431B1 (ko) | 적외선 흡수체 및 열형 적외선 검출기 | |
JP2008204978A (ja) | 撮像素子 | |
JP2012159450A (ja) | 熱型光検出器、熱型光検出装置、電子機器および熱型光検出器の製造方法 | |
JP2008082791A (ja) | 赤外線センサ | |
KR101180647B1 (ko) | 마이크로 볼로미터에서 필 팩터를 높이기 위한 픽셀 디자인 | |
JP2003304005A (ja) | 熱型赤外線検出素子及び受光素子 | |
US8952480B2 (en) | Electronic device including thermal sensor and peltier cooler and related methods | |
US20150136984A1 (en) | Infrared imaging element, imaging device, and imaging system | |
JP2013083651A (ja) | 赤外線サーマルディテクタ及びその製造方法 | |
JP2016163125A (ja) | 固体撮像装置 | |
WO2024105713A1 (ja) | 熱型赤外線検出器及びその製造方法 | |
US20150122999A1 (en) | Thermal detector, thermal detection device, electronic instrument, and thermal detector manufacturing method | |
WO2011121706A1 (ja) | 赤外線撮像素子および赤外線撮像装置 | |
JP5456810B2 (ja) | 熱型赤外線検出器 | |
JP2011123024A (ja) | 光センサ |