JP2010503884A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (60)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2543990B1 (en) 2010-03-01 2019-06-26 Olympus Corporation Optical analysis device, optical analysis method, and computer program for optical analysis
WO2012002893A1 (en) * 2010-06-30 2012-01-05 Ge Healthcare Bio-Sciences Corp A system for synchronization in a line scanning imaging microscope
WO2012014778A1 (ja) 2010-07-26 2012-02-02 オリンパス株式会社 発光プローブを用いて溶液中の希薄粒子を検出する方法
CN103221806B (zh) 2010-09-10 2015-11-25 奥林巴斯株式会社 使用两个以上的波长带的光的测量的光学分析方法
WO2012032981A1 (ja) 2010-09-10 2012-03-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光強度を用いた光分析方法
CN103210302B (zh) 2010-10-19 2015-05-27 奥林巴斯株式会社 观测单个发光粒子的偏振特性的光分析装置、光分析方法
WO2012070414A1 (ja) 2010-11-25 2012-05-31 オリンパス株式会社 単一発光粒子の光の波長特性を用いた光分析装置及び光分析方法
DE102010061612B4 (de) * 2010-12-29 2023-12-28 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zum Ermitteln von Scankoordinaten zum Betreiben einer Scaneinheit eines konfokalen Scan-Mikroskops und konfokales Scan-Mikroskop
WO2012099234A1 (ja) 2011-01-20 2012-07-26 オリンパス株式会社 単一発光粒子からの光の検出を用いた光分析方法及び光分析装置
JP5856984B2 (ja) 2011-01-26 2016-02-10 オリンパス株式会社 核酸分子の多型識別方法
EP2669376B1 (en) 2011-01-26 2017-08-16 Olympus Corporation Method for identifying polymorphism of nucleic acid molecules
JP5904996B2 (ja) 2011-03-29 2016-04-20 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法並びに光分析用コンピュータプログラム
EP2706346A4 (en) 2011-04-13 2014-11-19 Olympus Corp PHOTO-ANALYSIS DEVICE USING SINGLE-LIGHT EMITTING PARTICLE DETECTION, METHOD FOR PHOTO-ANALYSIS, AND COMPUTER PROGRAM FOR PHOTO-ANALYSIS
EP2700935A4 (en) 2011-04-18 2014-10-22 Olympus Corp QUANTITATIVE PROCEDURE FOR TARGET PARTICLES, PHOTOMETRIC ANALYSIS DEVICE AND COMPUTER PROGRAM FOR PHOTOMETRIC ANALYSIS
EP2743682B1 (en) 2011-08-11 2017-05-31 Olympus Corporation Method for detecting target particles
EP2746748B1 (en) 2011-08-15 2017-12-06 Olympus Corporation Photometric analysis device using single light emitting particle detection, photometric analysis method and computer program for photometric analysis,
CN103765195B (zh) 2011-08-26 2018-06-01 奥林巴斯株式会社 利用光分析的单个粒子检测装置、单个粒子检测方法以及单个粒子检测用计算机程序
CN103765196B (zh) 2011-08-26 2016-03-02 奥林巴斯株式会社 利用单个发光粒子检测的光分析装置及光分析方法
JP6010035B2 (ja) 2011-08-30 2016-10-19 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
JP6010034B2 (ja) 2011-08-30 2016-10-19 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
DE102011087196A1 (de) * 2011-11-28 2013-05-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren
DE102012201286B4 (de) * 2012-01-30 2025-07-24 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Mikroskop und Verfahren für die wellenlängenselektive und örtlich hochauflösende Mikroskopie
EP2816388A4 (en) * 2012-02-15 2015-07-22 Olympus Corp LASER SCANNING TYPE VISUALIZATION DEVICE
CN104115001B (zh) 2012-02-17 2016-08-24 奥林巴斯株式会社 利用单个粒子检测的光分析装置、光分析方法
CN104115003B (zh) 2012-02-22 2016-03-23 奥林巴斯株式会社 目标粒子的检测方法
JP6095645B2 (ja) 2012-03-21 2017-03-15 オリンパス株式会社 標的核酸分子の検出方法
JP5940651B2 (ja) 2012-04-18 2016-06-29 オリンパス株式会社 標的粒子の検出方法
WO2013157319A1 (ja) 2012-04-18 2013-10-24 オリンパス株式会社 光分析を用いた単一粒子検出装置、単一粒子検出方法及び単一粒子検出用コンピュータプログラム
EP3029505A4 (en) 2013-07-31 2017-03-15 Olympus Corporation Optical microscope device, microscopy method, and computer program for microscopy using single-light-emitting-particle detection technology
DE102013215422B4 (de) * 2013-08-06 2022-02-24 Olympus Winter & Ibe Gmbh Optisches System eines Stereo-Videoendoskops mit seitlicher Blickrichtung und Stereo-Videoendoskop mit seitlicher Blickrichtung
US20150049375A1 (en) * 2013-08-16 2015-02-19 Optical Physics Company Compact beam director
JP6313776B2 (ja) 2013-10-07 2018-04-18 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析装置、光分析方法及び光分析用コンピュータプログラム
KR102197505B1 (ko) 2013-10-25 2020-12-31 마이크로소프트 테크놀로지 라이센싱, 엘엘씨 비디오 및 이미지 코딩 및 디코딩에서의 해시 값을 갖는 블록의 표현
CN105684441B (zh) 2013-10-25 2018-09-21 微软技术许可有限责任公司 视频和图像编码中的基于散列的块匹配
DE102013018672B4 (de) * 2013-11-07 2024-05-08 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Multispot-scanning mikroskop
US10368092B2 (en) 2014-03-04 2019-07-30 Microsoft Technology Licensing, Llc Encoder-side decisions for block flipping and skip mode in intra block copy prediction
US10567754B2 (en) * 2014-03-04 2020-02-18 Microsoft Technology Licensing, Llc Hash table construction and availability checking for hash-based block matching
CN105706450B (zh) 2014-06-23 2019-07-16 微软技术许可有限责任公司 根据基于散列的块匹配的结果的编码器决定
CN105981382B (zh) 2014-09-30 2019-05-28 微软技术许可有限责任公司 用于视频编码的基于散列的编码器判定
KR101898220B1 (ko) * 2015-08-04 2018-09-12 한국과학기술원 공초점 현미경 및 이를 이용한 영상 처리 방법
US10941915B2 (en) * 2015-09-07 2021-03-09 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Illumination device for illuminating a predetermined range with coherent light
CN108780222B (zh) * 2015-12-08 2021-07-06 密歇根大学董事会 用于实时横截面显微内镜的3d mems扫描仪
WO2017098597A1 (ja) 2015-12-09 2017-06-15 オリンパス株式会社 単一発光粒子検出を用いた光分析方法及び光分析装置
US10390039B2 (en) 2016-08-31 2019-08-20 Microsoft Technology Licensing, Llc Motion estimation for screen remoting scenarios
DE102016119730A1 (de) 2016-10-17 2018-04-19 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Optikgruppe für Detektionslicht für ein Mikroskop, Verfahren zur Mikroskopie und Mikroskop
US11095877B2 (en) 2016-11-30 2021-08-17 Microsoft Technology Licensing, Llc Local hash-based motion estimation for screen remoting scenarios
GB201704771D0 (en) * 2017-01-05 2017-05-10 Illumina Inc Modular optical analytic systems and methods
TWI631437B (zh) * 2017-11-06 2018-08-01 許家維 雷射投射鐘
CN109782564B (zh) * 2017-11-15 2021-03-23 许家维 雷射投射钟
WO2019148197A2 (en) * 2018-01-29 2019-08-01 Hamilton Thorne, Inc. Modular objective assembly with moveable laser beam
NL2022286B1 (en) * 2018-09-19 2020-05-07 Illumina Inc Structured illumination of a sample
CN109752916A (zh) * 2018-12-26 2019-05-14 江苏大学 一种平面激光拍摄装置及其方法
CN109917544A (zh) * 2019-03-19 2019-06-21 北京遥感设备研究所 一种透射式扫描稳像光学系统
CN111307068B (zh) * 2020-04-02 2025-02-25 元素光电智能科技(苏州)有限公司 光学三维测量系统
US11202085B1 (en) 2020-06-12 2021-12-14 Microsoft Technology Licensing, Llc Low-cost hash table construction and hash-based block matching for variable-size blocks
CN112230709B (zh) * 2020-10-16 2023-12-12 南京大学 一种可实现高精度光输入的光电计算装置及校准方法
CN112162395A (zh) * 2020-10-27 2021-01-01 江苏三米科思半导体设备有限公司 一种深紫外斜入射高分辨率暗场照明光学系统
EP4264352A4 (en) * 2020-12-15 2024-11-20 The Trustees of Columbia University in the City of New York POINT-OF-CARE MICROSCOPE FOR REAL-TIME ACQUISITION OF VOLUMETRIC HISTOLOGICAL IMAGES IN VIVO
KR102576472B1 (ko) * 2021-08-11 2023-09-11 주식회사 나노바이오라이프 다채널 광학 진단 장치
CN113946057A (zh) * 2021-10-14 2022-01-18 深圳赛陆医疗科技有限公司 一种多模光纤匀光装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2661007B1 (fr) * 1990-04-12 1994-04-01 Etat Francais Delegue Armement Dispositif d'aiguillage optique pour faisceau laser.
JP2855893B2 (ja) * 1991-03-13 1999-02-10 富士電機株式会社 光スイッチおよび光学式センサ
US5334830A (en) * 1991-05-29 1994-08-02 Olympus Optical Co., Ltd. Scanning optical microscope having a compact confocal optical system for adjusting position of aperture
WO1999060916A2 (en) * 1998-05-28 1999-12-02 Mckinley Optics, Inc. Multiple magnification stereo video telescope objective lens system
DE10039520A1 (de) * 2000-08-08 2002-02-21 Leica Microsystems Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten
CN2546893Y (zh) * 2001-12-01 2003-04-23 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 光开关装置
CN1222795C (zh) * 2002-06-21 2005-10-12 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种采用双压电晶片驱动器制作的二维光开关矩阵及其方法
US6857752B2 (en) 2003-04-11 2005-02-22 3M Innovative Properties Company Projection illumination system with tunnel integrator and field lens
US7220627B2 (en) * 2003-04-21 2007-05-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing a semiconductor device where the scanning direction changes between regions during crystallization and process
JP2005055718A (ja) * 2003-08-05 2005-03-03 Oki Electric Cable Co Ltd 光スイッチ素子
WO2005031428A1 (de) * 2003-09-25 2005-04-07 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
US7227113B2 (en) * 2003-11-21 2007-06-05 Olympus Corporation Confocal laser scanning microscope
JP4724411B2 (ja) * 2003-11-21 2011-07-13 オリンパス株式会社 共焦点レーザスキャニング顕微鏡
DE102004034959A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
DE102004034977A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Lichtrastermikroskop und Verwendung
DE102004034954A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop
JP2006058747A (ja) * 2004-08-23 2006-03-02 Hitachi Maxell Ltd 光スイッチ及び光スイッチング方法

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