JP2010286675A - 磁気光学空間光変調器 - Google Patents

磁気光学空間光変調器 Download PDF

Info

Publication number
JP2010286675A
JP2010286675A JP2009140510A JP2009140510A JP2010286675A JP 2010286675 A JP2010286675 A JP 2010286675A JP 2009140510 A JP2009140510 A JP 2009140510A JP 2009140510 A JP2009140510 A JP 2009140510A JP 2010286675 A JP2010286675 A JP 2010286675A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
magneto
layer
magnetic
spatial light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009140510A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshinaga Okubo
年永 大久保
Hirotaka Kawai
博貴 河合
Hiromitsu Umezawa
浩光 梅澤
Mitsuteru Inoue
光輝 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
FDK Corp
Toyohashi University of Technology NUC
Original Assignee
FDK Corp
Toyohashi University of Technology NUC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by FDK Corp, Toyohashi University of Technology NUC filed Critical FDK Corp
Priority to JP2009140510A priority Critical patent/JP2010286675A/ja
Publication of JP2010286675A publication Critical patent/JP2010286675A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】電圧駆動特性を向上させることで、必要な光変調量を保ちながら、駆動電圧を低減でき、読み取り・書き込みエラーが生じないようにする。
【解決手段】空間光変調器は、磁気光学効果により入射光の偏光方向に回転を与える多数の画素を備えている磁気光学層10と、各画素に個別に応力を印加する多数の応力付与要素を備えている圧電層12を具備している。磁気光学層は、非磁性基板16に磁性膜からなる画素14が縦横規則的に配列された2次元アレイ構造であり、圧電層は、基板側に位置し反射膜を兼ねる下部電極20、圧電素子層22、上部電極24が順に積層され、下部電極と上部電極が画素の部分で交差して応力付与要素を形成するマトリックス配線方式である。ここで各画素となる磁性層は、その膜厚が0.3〜2.2μmに設定されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、磁気光学効果(ファラデー効果)を利用して入射光を空間的に変調する空間光変調器に関し、更に詳しく述べると、磁気光学効果により入射光の偏光方向に回転を与える多数の画素を備えている磁気光学層と、各画素に個別に応力を印加する多数の応力付与要素を備えている圧電層を組み合わせた磁気光学空間光変調器に関するものである。
空間光変調器は、入射光の振幅、位相あるいは偏光の状態を空間的に変調する光デバイスであり、変調機能を有する多数の画素を2次元的に配列した構成となっている。このような2次元アレイ状の画素配列をもつ空間光変調器は、情報を高速で並列処理可能なことから、各種光学情報処理システムなどへの応用が期待されている。これらの分野では、大量の情報を高速で処理する必要があることから、空間光変調器としては、動作速度が大きく、また信頼性の高いものが要求されるため、近年、磁性ガーネット単結晶膜の磁気光学効果を利用する方式の研究開発が進められている。
この種の磁気光学空間光変調器は、電流を供給することによって画素に磁界を印加し磁化方向を制御する電流駆動方式であったが、最近、消費電力及び発熱の低減を図るべく、圧電効果を利用して各画素に個別に応力を付与可能とし、それによって画素の磁化方向を制御する電圧駆動方式が提案されている(特許文献1参照)。これは、多数の画素を含んでいる磁気光学層と、自ら変形することで各画素に応力を与える圧電層を具備しており、該圧電層は、圧電素子層を挟み各画素に対応した位置で交差するように配置した下部電極及び上部電極を備えている。磁気光学層の各画素は、それに加わる応力の大きさ及び方向に応じて内部磁気スピンが回転し磁気光学効果が変化する。このような電圧駆動式は、電流が殆ど流れないので発熱の問題が解消し、圧電材料(PZT)の高速動作により高フレーム速度が得られる利点がある。
ところで、従来の磁気光学空間光変調器において、画素を構成する磁性膜としては磁性ガーネットのLPE(液相エピタキシャル)膜が用いられており、磁気光学効果を考慮して、その膜厚は3μm程度の厚さに設定されている。電流駆動方式の場合は、このような磁性膜でも特に問題は生じていない。しかし、電圧駆動方式の場合には、これが問題となり、動作速度などの点で改善すべき点が多々生じている。
電圧駆動方式で高速動作を実現しようとすると、駆動電圧をできるだけ低くする必要があるが、従来構成の磁気光学層のままでは駆動電圧を低くすると、画素の隅々まで十分な応力を印加できず、必要な磁気光学特性が得られない。更に、下部電極が反射膜を兼ねているので、十分な反射機能を発現させるためには、ある程度の膜厚が必要となり、それも応力伝達の障害となる。そのため、読み取り・書き込みエラーを無くすには、高電圧駆動が不可欠であり、それが光変調動作の高速化を妨げる大きな要因となっていた。
特開2003−315756号公報
本発明が解決しようとする課題は、電圧駆動特性を向上させることで、必要な光変調量を保ちながら、駆動電圧を低減でき、読み取り・書き込みエラーが生じないようにすることである。
本発明は、それぞれ独立に磁化方向を設定可能で、磁気光学効果により入射光の偏光方向に回転を与える多数の画素を備えている磁気光学層と、変形することで前記の各画素に個別に応力を印加する多数の応力付与要素を備えている圧電層とを具備している空間光変調器において、前記磁気光学層は、非磁性基板に磁性膜からなる多数の画素が縦横規則的に配列された2次元アレイ構造であり、前記圧電層は、基板側に位置し反射膜を兼ねる下部電極、圧電素子層、上部電極がその順序で積層され、下部電極は画素アレイの一方向の画素列に対応するように行数分だけ並設され、上部電極は下部電極と直交する方向の画素行に対応するように列数分だけ並設され、それらが画素の部分で交差して応力付与要素を形成するマトリックス配線方式であって、各画素を形成する磁性層は、その膜厚が0.3〜2.2μmであることを特徴とする磁気光学空間光変調器である。ここで、各画素を形成する磁性層の膜厚は、0.8〜1.5μmに設定することが好ましい。なお、下部電極は、例えば白金単層からなり、その膜厚は0.1〜0.5μmとするのが望ましい。
例えば、磁気光学層は、非磁性基板表面の画素形成位置に設けた凹部内に磁性膜が結晶成長的に基板と一体化した状態で埋設され、且つ基板表面が平坦化され、画素が凹部間の仕切り壁により互いに磁気的に分離されて形成される画素埋め込み構造であって、各画素は、面垂直方向または面内方向に磁化方向をもち、下部電極と上部電極とで圧電素子層に所定の電圧を印加することにより、圧電素子層が歪み、その歪みが目的とする画素に伝播し、当該画素の内部磁気スピンを回転させることで磁気光学効果が変化するものとする。
本発明の磁気光学空間光変調器では、画素を形成する磁性層の膜厚が2.2μm以下というように薄く設定されているので、圧電層の駆動電圧が比較的低く、且つ反射膜を兼ねる下部電極が比較的厚くても、画素のほぼ全体にわたって必要な応力を印加できる。また、画素を形成する磁性層の膜厚は0.3μm以上に設定されているので、必要な磁気光学特性が得られる。これらの結果、本発明では、読み取り・書き込みエラーが生じず動作の信頼性を高めることができ、且つ高速動作を図ることができる。なお、本発明では、下部電極を比較的厚くできるため、反射膜として必要十分な反射特性を発揮させることができる。
磁気光学層を、非磁性基板表面の画素形成位置に設けた凹部内に磁性膜が結晶成長的に基板と一体化した状態で埋設され、且つ基板表面が平坦化され、画素が凹部間の仕切り壁により互いに磁気的に分離されて形成される画素埋め込み構造とすると、保磁力のバラツキが小さくなり、表面の平坦化により画素を薄くできるため本発明には最適である。
本発明に係る磁気光学空間光変調器の一例を示す分解斜視図。 その動作説明図。 磁性膜の膜厚と光強度比との関係を示すグラフ。 磁性膜の膜厚と画素に占める16MPa以上の応力領域との関係を示すグラフ。 試作品の駆動結果の例を示すグラフ。
本発明に係る磁気光学空間光変調器は、図1に示すように、磁気光学層10と、その上に位置する圧電層12を具備している。図1では分離して描かれているが、実際には、磁気光学層10の上に圧電層12が積層一体化される構成である。
磁気光学層10は、それぞれ独立に磁化方向を設定可能で、磁気光学効果により入射光の偏光方向に回転を与える多数の画素14を備えている。これら多数の画素14は、非磁性基板16に縦横規則的に2次元アレイ状に配列形成された磁性膜からなる。他方、圧電層12は、変形することで各画素14に個別に応力を印加する多数の応力付与要素を備えているものであり、基板側に位置し反射膜を兼ねる下部電極20、圧電素子層22、上部電極24がその順序で積層されてなる。下部電極20は画素アレイの一方向の画素列に対応するように行数分だけ並設され、上部電極24は下部電極20と直交する方向の画素行に対応するように列数分だけ並設され、それらが画素位置でのみ交差するマトリックス配線方式である。ここで、下部電極と上部電極が画素位置で交差する圧電層の部分が応力付与要素となる。
磁性膜からなる各画素は、面垂直方向または面内方向に磁化方向をもつ。下部電極と上部電極とで圧電素子層に所定の電圧を印加することにより、圧電素子層が歪み、その歪みが目的とする画素に伝播し、当該画素の内部磁気スピンを回転させることで磁気光学効果が変化する。これより、指定した画素での反射光量を変調させることができる。
このような電圧駆動方式では、デバイスの構造・製法上、圧電層を極端に厚くできないため、発生可能な応力には限界がある。駆動電圧を高めれば、ある程度は発生応力を大きくできるが、前述のように高速駆動の障害となる。そこで本発明では、画素への応力伝達効率を向上させることで、駆動電圧を高めなくても各画素のほぼ全体に十分な応力を印加できるように工夫している。具体的には、本発明では、各画素を構成する磁性膜は、その厚さが0.3〜2.2μmの範囲となるように設定している。
圧電素子層で発生した応力は、圧電素子層、反射膜を兼ねる下部電極、磁性膜(画素)へと伝達していく。応力伝達には材料のヤング率が影響する。上記材料のなかで、最もヤング率が大きいのが磁性膜であり、本発明は、この材料の厚みを薄くすることで伝達効率の向上を図っているのである。
圧電素子層は、膜厚を1μm以上にすればリークが抑制され、実用上問題なく使用できる。但し、膜厚1μmでは25Vの電圧印加で飽和する。従って、発生させる応力の大きさから、実際には膜厚4μm程度は必要であり、圧電素子層に印加する電圧は100V以下にする必要がある。他方、白金からなる下部電極は反射膜を兼ねており、必要な反射機能をもたせるためには0.1μm以上の膜厚としなければならない。電圧印加により、応力付与要素によって画素全体に応力を印加するが、どうしても画素の中心に対して周辺・深部での応力が小さくなるような応力分布となる。後述する実施例も含めて種々の試作・シミュレーションの結果をあわせると、応力による保磁力変化量としては3950A/m(50エルステッド)以上が必要であり、そのためには画素の80%以上を16MPa以上の応力領域とする必要があることが分かっている。磁性膜の膜厚を2.2μm以下としたのは、そうすることで画素の80%以上を16MPa以上の応力領域とすることができるからである。
また、磁性層が薄くなりすぎると、ファラデー回転角が小さくなりすぎ、ON画素とOFF画素との光強度比(コントラスト)が小さくなって、データ読み取りエラーの原因となる。エラー無く読み取るためには、8dB以上の光強度比が必要である。磁性膜の膜厚を0.3μm以上としたのは、光強度比を8dB以上にできるからである。
更に、画素となる磁性膜の膜厚を1.5μm以下にすると、画素に占める16MPa以上の応力領域はほぼ100%になり、また膜厚を0.8μm以上にすると、光強度比は14dB程度以上になる。これら応力と光強度比から、画素となる磁性膜の膜厚を0.8〜1.5μmの範囲に設定することが、より好ましい。
反射膜を兼ねる下部電極の膜厚は、前述のように0.1μm以上とする。但し厚すぎると、応力伝達が阻害される恐れがあるため、上限は0.5μm程度とする。
好ましい磁気光学層は、非磁性基板の表面の画素形成位置に設けた凹部内に磁性膜が結晶成長的に基板と一体化した状態で埋設され、且つ基板表面が平坦化され、画素が凹部間の仕切り壁により互いに磁気的に分離されて形成される画素埋め込み構造である。なお、磁気光学層にはアニール処理(熱処理)を施し、必要な磁気光学特性を発現させる。
作製プロセスとしては、まず、フォトレジストとイオンミリングで非磁性ガーネット単結晶からなる基板に表面加工して画素位置に矩形状の凹部を縦横規則的に間隔をあけて配列形成する。隣り合う凹部と凹部の間が仕切り壁となる。従って、凹部の底部も側壁(仕切り壁)も非磁性ガーネット単結晶である。次に、LPE(液相エピタキシャル)法により、基板の表面全体に磁性ガーネット単結晶膜を育成する。これによって、基板の表面全体(各凹部内及び仕切り壁上)に磁性ガーネット単結晶が結晶成長的に基板と一体化した状態で埋設される。その後、化学的機械研磨法によって基板表面全体を平坦化する。研磨は、仕切り壁の頂部が露出し磁性ガーネット単結晶の膜厚が所定の値となるまで行う。これによって、各画素が、凹部間の仕切り壁により、互いに磁気的に分離された状態となる画素埋め込み構造が得られる。このような画素埋め込み構造は、画素を薄くできるため、本発明には最適である。
白金(Pt)からなる下部電極を、画素アレイの行方向に並設し、その上にエアロゾエルデポジション法(AD法)によりPZTからなる圧電素子層を、磁気光学層の全面を覆うように形成する。続いて、画素アレイの行方向に延びる上部電極を、画素アレイの列方向に並設する。なお、圧電素子層には必要な分極処理を施す。
このようにして作製した磁気光学空間光変調器の使用状態の一例を図2に示す。偏光子30を通して入射した光は、非磁性基板16及び画素14を透過し、下部電極20の表面で反射した後、再び画素14及び非磁性基板16を透過し、検光子42を出射する。磁性膜からなる各画素14は、面垂直方向または面内方向に磁化方向をもち、下部電極20と上部電極24とで圧電素子層22に所定の電圧を印加することにより、下部電極と上部電極が交差している圧電素子層部分が歪み、その歪みが目的とする画素に伝播し、当該画素の内部磁気スピンを回転させることで磁気光学効果が変化する。これより、指定した画素からの反射光量を変調させることができ、検光子からの出射光の画素パターンとして検出できる。
磁性層の膜厚は、応力伝達に影響を及ぼし保磁力変化量との間に相関があり、且つファラデー回転角に直結するため空間光変調器としての光変調量との間にも相関がある。それ故、それら応力と光強度比の双方から、最適な膜厚を設定する必要がある。
まず、画素となる磁性膜(組成が(GdYBi)3 (FeGa)5 12の磁性ガーネットLPE単結晶膜)の膜厚と光強度比との関係を調べた。結果を図3に示す。磁性膜が薄くなるとファラデー回転角が小さくなるため、ON画素とOFF画素との光強度比が小さくなり、データ読み取りエラーの原因となる。読み取りエラーを無くすためには、試作実験などの結果から、光強度比は8dB以上でなければならず、そのことから磁性膜の膜厚は0.3μm以上とする必要があることが分かる。なお、図3から分かるように、光強度比は15dB程度でほぼ飽和に向かう。そこで、磁性膜の膜厚を0.8μm以上とするのが、より好ましい。それによって、動作の信頼性は、より一層高まる。
次に、画素となる磁性膜の膜厚と画素に占める16MPa以上の応力領域との関係を調べた。結果を図4に示す。この結果は、膜厚を変えて応力伝達の様子をシミュレーション解析した応力分布図から求めたものである。磁性膜が厚くなると、応力が周辺・深部まで十分に伝達されないため、画素に占める16MPa以上の応力領域は次第に減少する。なお、応力を16MPa以上と規定しているのは、16MPa以上の応力をかけないと磁性膜に保磁力変化が生じないためである。応力による保磁力変化量としては3950A/m(50エルステッド)以上が必要であり、そのためには画素の80%以上を16MPa以上の応力領域とする必要がある。図4から、磁性膜の膜厚は2.2μm以下にする必要があることが分かる。特に、磁性膜の膜厚を1.5μm以下にすると、画素に占める16MPa以上の応力領域をほぼ100%にすることができる。
磁性膜及び下部電極の膜厚が異なる電圧駆動型の磁気光学空間光変調器を作製し、駆動評価を行った。結果を図5に示す。評価に用いた試料は、磁性膜3μmで下部電極0.7μm(比較例)と、磁性膜2μmで下部電極0.5μm(本発明品)の2種類である。比較例では入力電圧の変化に対して保磁力変化が不安定・不十分なのに対して、本発明品では入力電圧の変化に対して保磁力変化が安定且つ十分(3950A/m(50エルステッド)以上)である。
これらの結果から、画素となる磁性膜の膜厚は0.3〜2.2μmとする必要があり、特に0.8〜1.5μmとすることがより好ましいことが分かる。
10 磁気光学層
12 圧電層
14 画素
16 非磁性基板
20 下部電極
22 圧電素子層
24 上部電極

Claims (4)

  1. それぞれ独立に磁化方向を設定可能で、磁気光学効果により入射光の偏光方向に回転を与える多数の画素を備えている磁気光学層と、変形することで前記の各画素に個別に応力を印加する多数の応力付与要素を備えている圧電層とを具備している空間光変調器において、
    前記磁気光学層は、非磁性基板に磁性膜からなる多数の画素が縦横規則的に配列された2次元アレイ構造であり、前記圧電層は、基板側に位置し反射膜を兼ねる下部電極、圧電素子層、上部電極がその順序で積層され、下部電極は画素アレイの一方向の画素列に対応するように行数分だけ並設され、上部電極は下部電極と直交する方向の画素行に対応するように列数分だけ並設され、それらが画素の部分で交差して応力付与要素を形成するマトリックス配線方式であって、各画素を形成する磁性層は、その膜厚が0.3〜2.2μmに設定されていることを特徴とする磁気光学空間光変調器。
  2. 各画素を形成する磁性層の膜厚が0.8〜1.5μmに設定されている請求項1記載の磁気光学空間光変調器。
  3. 下部電極は白金からなり、その膜厚が0.1〜0.5μmに設定されている請求項1又は2記載の磁気光学空間光変調器。
  4. 磁気光学層は、非磁性基板表面の画素形成位置に設けた凹部内に磁性膜が結晶成長的に基板と一体化した状態で埋設され、且つ基板表面が平坦化され、画素が凹部間の仕切り壁により互いに磁気的に分離されて形成される画素埋め込み構造であって、各画素は、面垂直方向または面内方向に磁化方向をもち、下部電極と上部電極とで圧電素子層に所定の電圧を印加することにより、圧電素子層が歪み、その歪みが目的とする画素に伝播し、当該画素の内部磁気スピンを回転させることで磁気光学効果が変化する請求項1乃至3のいずれかに記載の磁気光学空間光変調器。
JP2009140510A 2009-06-11 2009-06-11 磁気光学空間光変調器 Pending JP2010286675A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009140510A JP2010286675A (ja) 2009-06-11 2009-06-11 磁気光学空間光変調器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009140510A JP2010286675A (ja) 2009-06-11 2009-06-11 磁気光学空間光変調器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2010286675A true JP2010286675A (ja) 2010-12-24

Family

ID=43542417

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009140510A Pending JP2010286675A (ja) 2009-06-11 2009-06-11 磁気光学空間光変調器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2010286675A (ja)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000205941A (ja) * 1999-01-07 2000-07-28 Nikon Corp 音響光学素子
JP2003315756A (ja) * 2002-02-21 2003-11-06 Japan Science & Technology Corp 空間光変調器
JP2006201472A (ja) * 2005-01-20 2006-08-03 Rohm Co Ltd 光制御装置
JP2006259074A (ja) * 2005-03-16 2006-09-28 Fdk Corp 磁気光学デバイス及びその製造方法
JP2007310177A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Fdk Corp 空間光変調器

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000205941A (ja) * 1999-01-07 2000-07-28 Nikon Corp 音響光学素子
JP2003315756A (ja) * 2002-02-21 2003-11-06 Japan Science & Technology Corp 空間光変調器
JP2006201472A (ja) * 2005-01-20 2006-08-03 Rohm Co Ltd 光制御装置
JP2006259074A (ja) * 2005-03-16 2006-09-28 Fdk Corp 磁気光学デバイス及びその製造方法
JP2007310177A (ja) * 2006-05-18 2007-11-29 Fdk Corp 空間光変調器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2010020114A (ja) 磁気光学式空間光変調器
Ross et al. Two-dimensional magneto-optic spatial light modulator for signal processing
JP4497401B2 (ja) 磁気光学式空間光変調器
WO2006098131A1 (ja) 磁気光学デバイス及びその製造方法
US6876481B2 (en) Spatial light modulator
JP5782334B2 (ja) 空間光変調器およびその画素駆動方法
JP3982685B2 (ja) 空間光変調器
KR20030045629A (ko) 공간 광 변조기
JP2008064825A (ja) 多素子空間光変調器およびこれを備えた映像表示装置
JP5054595B2 (ja) レーザプロジェクタ
JP2007310177A (ja) 空間光変調器
JP2010286675A (ja) 磁気光学空間光変調器
JP6017165B2 (ja) 空間光変調器
JP2007171450A (ja) 磁気光学式空間光変調器
JP7002225B2 (ja) 光変調素子、空間光変調器、および空間光変調システム
JP2013257437A (ja) 光変調素子の製造方法
JP2018073871A (ja) 磁性素子の製造方法
JP2010060586A (ja) 光変調素子および空間光変調器
JP2010232374A (ja) 磁気抵抗素子ならびにこれを用いた磁気ランダムアクセスメモリおよび空間光変調器
US6788448B2 (en) Spatial light modulator
JP5388057B2 (ja) 磁気光学空間光変調器
JP6865544B2 (ja) 空間光変調器および空間光変調器の製造方法
JP2012141402A (ja) 空間光変調器
JP5054640B2 (ja) 光変調素子、光変調器、表示装置、ホログラフィ装置及びホログラム記録装置
JP4596468B2 (ja) 磁気光学式空間光変調器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Effective date: 20120611

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

A711 Notification of change in applicant

Effective date: 20120609

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20120609

A977 Report on retrieval

Effective date: 20121113

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20121205

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130204

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Effective date: 20130208

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130904