JP2010282060A - 表示駆動用基板、表示装置、及び表示駆動用基板の製造方法 - Google Patents

表示駆動用基板、表示装置、及び表示駆動用基板の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】歩留まりを改善した表示駆動用基板を提供する。
【解決手段】表示領域12にマトリクス状に設けられた複数の画素回路11と、表示領域12の各行に設けられ、対応行の各画素回路11に共通に接続されたゲート線と、各ゲート線に接続されたゲートドライバ13と、前記各ゲート線の延長部に設けられたゲートドライバ接続端子15とを備える表示駆動用基板10が、集合基板1上に複数形成されている。表示駆動用基板10は、さらに、電気的に接続された状態から電気的に切断された状態へ変更できる切断部14を備えてもよい。
【選択図】図1

Description

本発明は、有機EL表示装置や液晶表示装置などのFPD(Flat Panal Display)に用いられる表示駆動用基板、及びそれを用いた表示装置に関する。
従来のCRT(Cathode Ray Tube)に代わり、近年、FPDに対する関心が高まってきている。代表的なFPDとしてはLCD(Liquid Crystal Display)、PDP(Plasma Display Panel)が既に実現されているが、以下に挙げるような問題点を有していることが知られている。
LCDは、液晶自体が非発光であるため高輝度のバックライトを必要とし、消費電力が高くなる傾向がある。また、視野角、応答速度の面でもCRTに及ばない。PDPは自発光であり、視野角、応答速度の面でCRTと同等以上であるものの、駆動するためには高電圧が必要であり、低消費電力化が困難であるという問題がある。
近年、次世代のFPD候補として有機EL表示装置が注目されている。有機EL表示装置は、LCD、PDPで問題となっている上記の課題を解決しうる可能性がある。
一方で、有機ELディスプレイの実現のためには解決すべき課題が多い。すなわち、有機ELは電流駆動型の素子であるため、大画面のディスプレイを実現するためには、配線の抵抗を低抵抗化することが必要である。なぜなら、有機ELを流れる電流Iと配線抵抗Rの積I×Rが電圧降下として発生し、結果ディスプレイのムラの原因となってしまうからである。もう1つの課題として、一般的に有機EL素子や液晶素子を駆動するためにTFT(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)素子が必要となるが、有機ELを駆動するためにはこのTFT素子を液晶駆動用と比べて高性能化することが必要である。
大型液晶を駆動するためのTFTとして、一般的にゲート電極が半導体層よりも下にあり、かつ半導体層がアモルファスシリコンである、ボトムゲート構造のアモルファスシリコンTFTが用いられるが、この構造においてTFTを高性能化するためには半導体層をアモルファスシリコンから結晶性を向上させた、マイクロクリスタルシリコン、ポリシリコンにする必要がある。
中小型の液晶、有機ELでは一般的にポリシリコンTFTが用いられ、その高移動度、高信頼性を利用して画素部の周辺駆動回路部も作りこまれる、所謂SOG(System On Glass)によるシステム集積化が盛んに行われている。この周辺駆動回路としてはゲートドライバ、ソースドライバ、電源回路、インターフェース回路等が含まれる。従来、周辺駆動回路としてパネルに実装していたものを一体形成できるため、コストを削減できるというメリットがある。
近年、このSOG技術を利用し、アモルファスシリコンTFTでゲートドライバ回路を構成する試みが盛んになされている(例えば、特許文献1を参照)。大型パネルでは画素数が多くなり、結果として画素を駆動するためのドライバが多数必要になりがちであるため、このゲートドライバ回路のパネルへの一体形成によるコスト削減効果は大きい。さらに、有機ELでは液晶に比べて配線数が多くなる傾向があるため、より効果が大きいことが期待できる。
特開2002−55660号公報
しかし、大型パネルでSOGを実現するには以下の課題がある。すなわち、大型パネルではガラス基板上に一度に形成される個数(以下、取れ数と呼ぶ)が中小型パネルと比べて非常に少ないため、パネルの製造過程における歩留まりの影響が大きい。つまり、ゲートドライバ回路を一体形成することで歩留まりの低下が懸念される。
さらに、一般的にパネルの画素部は簡易な回路パターンであるため製造途中での修正を実施しやすく歩留まり向上が期待できるが、ゲートドライバ回路部はパターンが密集している、複雑な回路構成であるため修正による歩留まり向上が期待しにくいという課題がある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、表示駆動用基板上に形成されたゲートドライバを備えるとともに、歩留まりの向上に適した構成の表示駆動用基板およびそのような表示駆動用基板を製造する方法を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、本発明の表示駆動用基板は、基板上の表示領域にマトリクス状に設けられた複数の画素回路と、前記表示領域の各行に設けられ、対応行の各画素回路に共通に接続されたゲート線と、前記基板上に形成され、前記各ゲート線に接続されたゲートドライバと、前記基板上の前記各ゲート線の延長部に設けられ、ゲートドライバ用半導体装置を接続可能なゲートドライバ接続端子とを備える。
この構成によれば、前記ゲートドライバ接続端子を介して、前記ゲートドライバ用半導体装置を前記各ゲート線に接続することができるため、前記ゲートドライバの動作が不良であっても、前記ゲートドライバ用半導体装置による代替が可能となる。その結果、表示駆動用基板の歩留まりが改善され、表示駆動用基板の低価格化や材料利用効率の向上に貢献できる。
また、前記表示駆動用基板は、さらに、前記基板上に、電気的に接続された状態から電気的に切断された状態へ変更できる切断部を備え、前記ゲートドライバと前記各ゲート線とは前記切断部を介して接続されていてもよい。
この構成によれば、前記ゲートドライバが不良である場合に、前記ゲートドライバを前記切断部にて前記各ゲート線から確実に分離することができる。
また、前記ゲートドライバと前記ゲートドライバ接続端子とは前記表示領域を挟んで反対側に配置されていてもよい。
この構成によれば、前記ゲートドライバを構成する配線と前記ゲートドライバ接続端子を構成する配線とが干渉しない簡素な配線構造となり、表示駆動用基板の歩留まりをさらに向上させることができる。
また、前記ゲートドライバと前記ゲートドライバ接続端子とは前記表示領域の同じ側に配置されており、前記ゲートドライバ接続端子は、前記ゲートドライバよりも前記基板の縁に近い位置に配置されていてもよい。
この構成によれば、前記表示領域の、前記ゲートドライバおよび前記ゲートドライバ接続端子とは反対の側を、自由な用途に利用することができる。例えば、前記表示領域の反対側に、もう1組の前記ゲートドライバおよび前記ゲートドライバ接続端子を設けてもよい。そのような構成は、表示領域の両側からゲート線を駆動する大型の表示装置に好適である。
また、前記基板上に、少なくとも第1金属膜、第2金属膜が、絶縁膜を介してこの順に積層されており、前記各画素回路は、対応行のゲート線に接続された薄膜トランジスタを有し、前記第1金属膜は、前記ゲート線、前記ゲートドライバ接続端子、および前記薄膜トランジスタのゲート電極として用いられ、前記第2金属膜は、前記薄膜トランジスタのソースおよびドレイン電極として用いられているとしてもよい。
この構成によれば、前記第1金属膜および前記第2金属膜のみを用いた簡素な構成で、前記表示駆動用基板を実現することができる。
また、前記基板上に、少なくとも第1金属膜、第2金属膜、第3金属膜が、それぞれ絶縁膜を介してこの順に積層されており、前記各画素回路は、対応行のゲート線に接続された薄膜トランジスタを有し、前記第1金属膜は、前記ゲート線および前記薄膜トランジスタのゲート電極として用いられ、前記第2金属膜は、前記薄膜トランジスタのソースおよびドレイン電極として用いられ、前記第1金属膜とビアで接続された前記第3金属膜が、前記ゲートドライバ接続端子として用いられているとしてもよい。
この構成によれば、前記薄膜トランジスタのゲート電極、ソース電極、およびドレイン電極のいずれとも干渉しない前記第3金属膜を前記ゲートドライバ接続端子として用いるので、前記ゲートドライバ接続端子の配置の自由度が高まる。
また、前記ゲートドライバと前記各ゲート線とは前記切断部において電気的に切断されており、前記ゲートドライバ接続端子に、前記ゲートドライバ用半導体装置が接続されていてもよい。
この構成によれば、前記ゲートドライバの動作不良が適切にリペアされた前記表示駆動用基板が得られる。
本発明は、表示駆動用基板として実現できるだけでなく、表示駆動用基板を用いた表示装置、および表示駆動用基板を製造する方法として実現することもできる。
本発明の表示駆動用基板は、表示駆動用基板上に形成されたゲートドライバを備えるとともに、当該ゲートドライバの動作不良時に、代替用の外付けのゲートドライバ用半導体装置を接続できるゲートドライバ接続端子を備えているので、ゲートドライバの不良を外付けのゲートドライバ用半導体装置にてリペアすることができる。その結果、歩留まりを大きく向上することが可能となる。
本発明の第1の実施の形態に係る表示駆動用基板のレイアウトの一例を示す平面図 表示駆動用基板の機能的な構成の一例を示すブロック図 表示駆動用基板を用いた有機EL表示装置の構造の一例を示す斜視図 (A)〜(C)表示駆動用基板の要部の構造の一例を示す平面図および断面図 表示駆動用基板の製造方法を説明するフローチャート 有機EL表示装置を用いたテレビジョンセットの一例を示す外観図 本発明の第2の実施の形態に係る表示駆動用基板の構造の一例を示す平面図 表示駆動用基板の機能的な構成の一例を示すブロック図 (A)〜(C)表示駆動用基板の要部の構造の一例を示す平面図および断面図
本発明の表示駆動用基板は、有機EL材料、液晶材料、電極などからなる表示機能層を積層することによって表示装置を構成するための基板であり、いわゆるバックプレーンと呼ばれる、表示装置の一部品である。
本発明の表示駆動用基板は、表示駆動用基板上に形成されたゲートドライバを備えるとともに、当該ゲートドライバの動作不良時に、代替用の外付けのゲートドライバ用半導体装置を接続できるゲートドライバ接続端子を備えていることを特徴とする。
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態に係る表示駆動用基板、および当該表示駆動用基板を用いて構成される表示装置について説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る表示駆動用基板のレイアウトの一例を示す平面図である。図1には、複数の表示駆動用基板10が形成された集合基板1が示されている。集合基板1は、切断線2において個々の表示駆動用基板10に切り分けられる。
集合基板1上には、個々の表示駆動用基板10に対応して、表示領域12にマトリクス状に設けられた複数の画素回路11と、ゲートドライバ13と、電気的に接続された状態から電気的に切断された状態へ変更できる切断部14と、ゲートドライバ接続端子15と、ソースドライバ接続端子16とが形成されている。
図2は、表示駆動用基板10の機能的な構成の一例を示すブロック図である。
図2には、図1に示されている構成要素に加えて、表示領域12の行ごとに形成されているゲート線17、および列ごとに形成されているソース線18が示されている。ゲートドライバ接続端子15は、ゲート線17の延長部19に設けられている。ソースドライバ接続端子16は、ソース線18の延長部に設けられている。
個々の画素回路11は、選択用TFT31、コンデンサ32、駆動用TFT33、および、後に上層に設けられる表示素子と接続される接続端子34から構成される。このように構成される画素回路11は、アクティブマトリクス型の有機EL表示装置を駆動する画素回路の最も基本的な一例である。実用には、駆動用TFT33の画素間でのばらつきを補償し、また経時的に劣化する有機EL素子の発光特性を回復させるためTFTを追加的に設けてもよい。
なお、画素回路11は、有機EL素子を駆動する回路に限定されるものでなく、液晶素子を駆動する回路であってもよい。液晶素子を駆動する場合の画素回路11は、選択用TFT31と接続端子34とで構成される。
ゲートドライバ13は、各ゲート線17に順次、行選択信号を供給する回路である。ゲートドライバ13の回路構成は本発明の特徴ではないため詳細な説明は省略するが、一例として、選択される行を示すビットをラインクロック信号に同期して循環させるシフトレジスタと、当該シフトレジスタの出力に従ってゲート線17を駆動する行ごとのバッファとで構成してもよい。
切断部14は、一例として、NチャネルMOSFETで構成される行ごとの切断用TFT22から構成される。切断用TFT22のソースはゲートドライバ13の対応行の出力に接続され、ドレインは対応行のゲート線17に接続されている。各切断用TFT22のゲートは制御線24に共通に接続され、制御線24を介して、ゲートドライバ13の動作の良否に応じた制御信号が印加される。
すなわち、ゲートドライバ13が良好に動作するとき、Highレベルの制御信号が制御線24を介してゲートに印加されて、各切断用TFT22はオンする。これにより、ゲートドライバ13の出力信号は、切断用TFT22を介してゲート線17に伝送される。
ゲートドライバ13の動作不良時(つまり、外付けのゲートドライバ用半導体装置の使用時)には、Lowレベルの制御信号が制御線24を介してゲートに印加されて、各切断用TFT22はオフする。これにより、ゲートドライバ13と各ゲート線17との間は電気的に切断された状態となり、ゲートドライバ13の出力信号は、各ゲート線17に伝送されない。
本発明は、このような制御信号を生成するための構成を限定しないが、一例を挙げれば、表示駆動用基板10上に図示しない切断部制御回路を設け、切断部制御回路にて上述の制御信号を生成して、制御線24へ供給してもよい。また、外付けのソースドライバ用半導体装置にて上述の制御信号を生成し、ソースドライバ接続端子16を介して制御線24へ供給する構成も考えられる。
なお、切断用TFT22に異常があり、制御線24からの電圧に従ってオフさせることができない場合は、ゲート線17を、ゲートドライバ13と表示領域12との間で、レーザ等により機械的に切り離してもよい。
ゲートドライバ接続端子15は、ゲート線17の延長部19を、外付けのゲートドライバ用半導体装置が接続できる形状に並べて構成される。
ゲートドライバ接続端子15には、ゲートドライバ13の動作不良時に、外付けのゲートドライバ用半導体装置が接続される。このとき、ゲートドライバ13と各ゲート線17とは切断部14において電気的に切断された状態とし、ゲート線17は外付けのゲートドライバ用半導体装置によって駆動される。
一例として、外付けのゲートドライバ用半導体装置がFPC(フレキシブルプリント基板)にマウントされている場合に、ゲートドライバ接続端子15は、ゲート線17の延長部19を、ゲートドライバ用半導体装置がマウントされたFPCの接続端子のピッチで配置することによって構成される。
ソースドライバ接続端子16は、ゲートドライバ接続端子15と同様に、ソース線18の延長部を、外付けのソースドライバ用半導体装置が接続できる形状に並べて構成される。ソースドライバ接続端子16には、外付けのソースドライバ用半導体装置が接続される。
次に、表示駆動用基板10の全体構成、および表示駆動用基板10を用いて構成される有機EL表示装置について説明する。
図3は、表示駆動用基板10の全体構成、および表示駆動用基板10を用いて構成される有機EL表示装置50の概念的な構成を説明する斜視図である。
図3では、表示駆動用基板10の全体構成として、ソースドライバ接続端子16に、FPC41にマウントされた外付けのソースドライバ用半導体装置42が接続されている例が示される。表示駆動用基板10上に形成されているゲートドライバ13は正常に動作しており、ゲートドライバ接続端子15には何も接続されていない。
なお、ゲートドライバ13の動作不良時には、切断部14の電気的な接続が切断され、FPC43にマウントされた外付けのゲートドライバ用半導体装置44がゲートドライバ接続端子15に取り付けられる。
FPC41にマウントされた外付けのソースドライバ用半導体装置42、およびゲートドライバ接続端子15に取り付けられている場合のFPC43にマウントされた外付けのゲートドライバ用半導体装置44は、表示駆動用基板10に含まれる。
このように構成された表示駆動用基板10上に、一例として、平坦化膜51、発光機能層52、および封止基板53からなる表示機能層54を積層することによって、有機EL表示装置50が構成される。
発光機能層52は、少なくとも陽極、有機発光層、および陰極を含む積層体であり、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、電子注入層などの機能層が含まれていてもよい。表示機能層54の詳細については、後ほど説明する。
次に、表示駆動用基板10の要部の構造について説明する。
図4(A)は、表示駆動用基板10の要部である図2の破線部101および破線部102の構造の一例を示す平面図である。図4(B)は、図4(A)のAA切断面を示す断面図であり、図4(C)は図4(A)のBB切断面を示す断面図である。
図4に示されるように、表示駆動用基板10は、基板110上に、第1金属膜120、ゲート絶縁膜130、半導体層140、第2金属膜150、および層間絶縁膜160をこの順に積層して構成されている。
第1金属膜120はパターニングされ、切断部14における制御線24、切断用TFT22のゲート電極221、画素回路11における選択用TFT31のゲート電極311、ゲート線17、およびゲート線17の延長部19として用いられている。
半導体層140はパターニングされ、切断用TFT22のチャネル領域220、および選択用TFT31のチャネル領域310として用いられている。
第2金属膜150はパターニングされ、切断用TFT22のソース電極222、ドレイン電極223、ソース線18、選択用TFT31のソース電極312、ドレイン電極313として用いられている。
また、ゲート絶縁膜130に開けられた貫通孔に、ゲート線17と切断用TFT22のドレイン電極223とを接続するビア131が設けられている。
次に、図4(A)〜図4(C)に示される構造を作製する方法の一例を説明する。なお、以下に説明する製造方法は、図1に示される集合基板1について実施され、集合基板1上の複数の表示駆動用基板10が同時に作製される。
まず、基板110を準備する。基板110には、一般的に、ガラス、石英等の絶縁性材料が用いられる。基板110からの不純物の拡散を防止するために、基板110の上面に、図示しない酸化珪素膜または窒化珪素膜を100nm程度の厚みで形成してもよい。
次に、第1金属膜120を成膜し、フォトリソグラフィー法、エッチング法などによりパターニングすることで、切断部14における制御線24、切断用TFT22のゲート電極221、画素回路11における選択用TFT31のゲート電極311、ゲート線17、およびゲート線17の延長部19を形成する。
第1金属膜120には、耐熱性を有する金属として、Mo(モリブデン)、W(タングステン)、Ta(タンタル)、Ti(チタン)、Ni(ニッケル)から選択される金属単体またはこれらの合金が用いられる。厚みは100nm程度が望ましい。
続いて、ゲート絶縁膜130と半導体層140とを同一真空内で連続して、プラズマCVD法等により形成する。
ゲート絶縁膜130として、酸化珪素膜、窒化珪素膜、またはこれらの積層膜を、200nm程度の厚みに成膜する。
半導体層140として、まず非晶質シリコン膜を50nm程度の厚みに成膜し、その後、例えば400℃〜500℃の炉内で脱水素を行った後、エキシマレーザ等により非晶質シリコン膜を多結晶シリコン膜へ改質し、さらに、真空中で数秒〜数10秒の水素プラズマ処理を行う。
次に、半導体層140を、フォトリソグラフィー法、エッチング法等によりパターニングすることで、切断用TFT22のチャネル領域220、および選択用TFT31のチャネル領域310を形成する。
続いて、ゲート絶縁膜130に、フォトリソグラフィー法、エッチング法等により、後にビア131を設けるための貫通孔を形成する。
その後、第2金属膜150を成膜しパターニングすることで、切断用TFT22のソース電極222、ドレイン電極223、ソース線18、選択用TFT31のソース電極312、ドレイン電極313を形成する。第2金属膜150には、低抵抗金属であるAlを用い、厚みは300nm程度である。
第2金属膜150を構成する材料はゲート絶縁膜130に形成された貫通孔内にも配置され、ビア131が形成される。ビア131により、ゲート線17と切断用TFT22のドレイン電極223とが接続される。
また、一般的に、第2金属膜150を構成するAlの上部、下部、もしくは両方にMo等の耐熱性の金属がバリアメタルとして形成される。バリアメタルの厚みは50nm程度である。より低い抵抗が求められる場合、Alの代わりにCuが用いられる場合もある。また、厚みを増加させることでも、より低い抵抗が実現できる。
また、切断用TFT22のソース電極222およびドレイン電極223とチャネル領域220との間、ならびに選択用TFT31のソース電極312およびドレイン電極313とチャネル領域310との間には、一般的に、図示しない低抵抗半導体層が形成される。
低抵抗半導体層は、一般的に、リン等のn型ドーパントがドーピングされた非晶質シリコン層、もしくはボロン等のp型ドーパントがドーピングされた非晶質シリコン層が用いられる。厚みとしては20nm程度である。
その後、酸化珪素膜、窒化珪素膜、またはこれらの積層膜からなる層間絶縁膜160を形成する。
これらの工程を経て、図4(A)〜図4(C)に示される構造が作製される。
上記の説明では、図2の破線部101および破線部102の構造に着目して説明したが、第1金属膜120、半導体層140、および第2金属膜150を所望の形状にパターニングすることで、図2の全体に対応する構造が作製される。
次に、ソースドライバ用半導体装置42およびゲートドライバ用半導体装置44を含む表示駆動用基板10の全体を製造する方法について、図5を参照して説明する。
図5は、表示駆動用基板10の全体を製造するための方法を説明するフローチャートである。
まず、上述した製造方法に従って集合基板1を作製し(S11)、集合基板1を個々の表示駆動用基板10に切り分ける(S12)。集合基板1の切り分けは、例えば、集合基板1の切断線2(図1を参照)の位置にダイヤモンドカッターなどでスクライブを設け、スクライブにおいて集合基板1を割ることで行ってもよい。
表示駆動用基板10上に形成されているゲートドライバ13の動作を検査する(S13)。ゲートドライバ13の検査は、一例として、表示駆動用基板10にプローブを介して接続した電気検査機にて行ってもよい。このとき、プローブはゲートドライバ接続端子15もしくは検査用に予め設けてある端子に接続される。
検査結果がOKである場合は(S14でOK)、ステップS17へ進む。検査結果がNGである場合のみ(S14でNO)、切断部14を切断し(S15)、表示駆動用基板10にゲートドライバ用半導体装置44を接続する(S16)。
切断部14は、制御線24を介して切断用TFT22のゲートにLowレベルの制御信号を印加することで切断される。Lowレベルの制御信号の印加で切断用TFT22がオフし、ゲートドライバ13と各ゲート線17との電気的な接続が切断される。
なお、前述したように、制御線24からの電圧に従って切断用TFT22をオフさせることができない場合は、ゲート線17を、ゲートドライバ13と表示領域12との間で、レーザ等により機械的に切り離してもよい。
ゲートドライバ用半導体装置44の接続は、例えば、表示駆動用基板10のゲートドライバ接続端子15と、ゲートドライバ用半導体装置44がマウントされているFPC43の接続端子とを位置合わせした後、異方性導電シートを介して圧着することで行ってもよい。
表示駆動用基板10にソースドライバ用半導体装置42を接続する(S17)。ソースドライバ用半導体装置42の接続は、例えば、表示駆動用基板10のソースドライバ接続端子16と、ソースドライバ用半導体装置42がマウントされているFPC41の接続端子とを位置合わせした後、異方性導電シートを介して圧着することで行ってもよい。
これらの工程を経て、表示駆動用基板10が完成する。完成した表示駆動用基板10は、いわゆるバックプレーンと呼ばれ、表示装置の一部品として流通される。
以上説明した表示駆動用基板10の構成および製造方法によれば、表示駆動用基板10上に形成されたゲートドライバ13の動作不良時には、ゲートドライバ13と各ゲート線17との間を切断部14において電気的に切断された状態とすると共に、ゲートドライバ接続端子15にゲートドライバ用半導体装置44を接続し、ゲートドライバ用半導体装置44にて各ゲート線17を駆動する。
その結果、ゲートドライバ13が動作不良であっても、ゲートドライバ用半導体装置44による代替が可能となり、表示駆動用基板10の歩留まりが改善されるので、表示駆動用基板10の低価格化や材料利用効率の向上に貢献できる。
次に、表示駆動用基板10を用いて有機EL表示装置50を製造する方法について説明する。図3に示されるように、有機EL表示装置50は、表示駆動用基板10上に、平坦化膜51、発光機能層52、封止基板53を積層して構成される。
まず、表示駆動用基板10の表示領域12に、絶縁性の材料からなる平坦化膜51を形成する。形成された平坦化膜51、ならびに、表示駆動用基板10の層間絶縁膜160およびゲート絶縁膜130に、各画素回路11の接続端子34に達する貫通孔を形成する。
次に、発光機能層52を構成する陽極を形成する。陽極には、例えば、Mo、Al、Au(金)、Ag(銀)、Cu(銅)から選択される金属単体またはこれらの合金、PEDOT:PSSなどの有機導電性材料、酸化亜鉛、および、鉛添加酸化インジウムのうちのいずれかの材料が用いられる。
陽極を構成する材料を、真空蒸着法、電子ビーム蒸着法、RFスパッタ法などにより平坦化膜51上に成膜した後、フォトリソグラフィー法、エッチング法等によりパターニングすることで、画素ごとに分離された陽極を形成する。また、陽極を構成する材料を、印刷法により平坦化膜51上の所望の位置のみに配置することで、画素ごとに分離された陽極を形成してもよい。
陽極を構成する材料は、平坦化膜51、層間絶縁膜160、およびゲート絶縁膜130に形成された貫通孔内にも配置され、陽極は画素回路11の接続端子34に接続される。
次に、パターニングされた陽極上に、発光機能層52を構成する正孔注入層、正孔輸送層、有機発光層、電子輸送層、電子注入層、および陰極を形成する。
これらの層の材料として、例えば、正孔注入層には銅フタロシアニン、正孔輸送層にはα−NPD(Bis[N−(1−Naphthyl)−N−Phenyl]benzidine)、有機発光層にはAlq3(tris(8−hydroxyquinoline)aluminum)、電子輸送層にはオキサゾール誘導体、電子注入層にはAlq3を用いることができる。なお、これらの材料は一例であって他の材料を用いてもよい。
また、陰極には、可視光透過性を有する導電性材料として、例えば、ITO(Indium Tin Oxide)、SnO2、In23、ZnO、またはこれらを組み合わせた材料が用いられる。
最後に、ガラスまたは樹脂などの透明材料からなる封止基板53およびガラスフリットなどを用いて表示駆動用基板10の表示領域12を封止して、有機EL表示装置50が完成する。
図6は、完成した有機EL表示装置50を組み込んだテレビジョンセット3の一例を示す外観図である。歩留まりが改善された表示駆動用基板10を用いた有機EL表示装置50を組み込むことで、テレビジョンセット3をより安価に製造することができる。
(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2に係る表示駆動用基板について説明する。なお、実施の形態1と同じ構成要素については、実施の形態1と同じ符号を付し、説明を省略することがある。
図7は、本発明の実施の形態2に係る表示駆動用基板のレイアウトの一例を示す平面図である。図7には、複数の表示駆動用基板60が形成された集合基板4が示されている。集合基板4は、切断線2において個々の表示駆動用基板60に切り分けられる。
表示駆動用基板60は、実施の形態1に係る表示駆動用基板10と比べて、ゲートドライバ13、切断部14、およびゲートドライバ接続端子15がそれぞれ2つずつ、互いに表示領域12を挟んで反対側に設けられている点、および、ゲートドライバ接続端子15は表示領域12の同じ側に設けられたゲートドライバ13よりも表示駆動用基板60の縁に近い位置(つまり、表示駆動用基板60のより外側)に配置されている点で異なっている。
表示駆動用基板60において、2つのゲートドライバ13を同期させてゲート線17を両側から駆動すれば、表示領域12の大型化に伴ってゲート線17が長くなった場合でも、1つのゲートドライバ13ではゲート線17を駆動する能力が不足する懸念が緩和される。
また、表示領域12の一側に配置されたゲートドライバ13で奇数行のゲート線17だけを駆動し、他側に配置されたゲートドライバ13で偶数行のゲート線17だけを駆動してもよい。そうすれば、個々のゲートドライバ13に要求される動作速度を下げることができるので、回路設計の簡素化や消費電力の低減に役立つ。
表示駆動用基板60は、このような特徴と、実施の形態1で説明した表示駆動用基板10の特徴とを併せ持つ基板である。
図8は、表示駆動用基板60の機能的な構成の一例を示すブロック図である。図2に示される表示駆動用基板10の機能的な構成と比べて、ゲートドライバ13、切断部14、およびゲートドライバ接続端子15がそれぞれ2つずつ設けられている点の他に、2つの延長部20がそれぞれ表示領域12を挟んだ反対側でゲート線17から分岐しており、ゲートドライバ接続端子15がゲート線17から分岐した延長部20に設けられている点が異なっている。
画素回路11、ゲートドライバ13、および切断部14の内容は、実施の形態1と同様であるため説明を省略する。
次に、表示駆動用基板60の要部の構造について説明する。
図9(A)は、表示駆動用基板60の要部である図8の破線部601および破線部602の構造の一例を示す平面図である。図9(B)は、図9(A)のAA切断面を示す断面図であり、図9(C)は図9(A)のBB切断面を示す断面図である。
図4(A)〜図4(C)に示される表示駆動用基板10の要部の構造と比べて、層間絶縁膜160の上に第3金属膜170が追加されている。第3金属膜170はパターニングされ、ゲート線17の延長部20として用いられている。
また、層間絶縁膜160およびゲート絶縁膜130に設けられた貫通孔に、ゲート線17と、ゲート線17の延長部20とを接続するビア132が追加されている。
次に、図9(A)〜図9(C)に示される構造を作製する方法の一例を説明する。
まず、実施の形態1で説明した製造方法に従って、基板110から層間絶縁膜160までの構造を形成する。
続いて、層間絶縁膜160およびゲート絶縁膜130に、フォトリソグラフィー法、エッチング法等により、後にビア132を設けるための貫通孔を形成する。
その後、第3金属膜170を成膜しパターニングすることで、ゲート線17の延長部20を形成する。第3金属膜170には、低抵抗金属であるAlを用い、厚みは300nm程度である。第3金属膜170には、第2金属膜150と同様に、バリアメタルを設けてもよい。
第3金属膜170を構成する材料は層間絶縁膜160およびゲート絶縁膜130に形成された貫通孔内にも配置され、ビア132が形成される。ビア132により、ゲート線17と、ゲート線17の延長部20とが接続される。
これらの工程を経て、図9(A)〜図9(C)に示される構造が作製される。
表示駆動用基板60の全体を製造するための方法、および表示駆動用基板60を用いて有機EL表示装置を製造する方法については、表示駆動用基板10に関して実施の形態1で説明した内容と同等であるため、説明を省略する。
以上、本発明の表示駆動用基板、表示駆動用基板の製造方法、および表示駆動用基板を用いた表示装置について、実施の形態に基づいて説明した。本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではない。本発明の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を各実施の形態に施したものや、異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、本発明の範囲内に含まれる。
本発明は、歩留まりが改善された表示駆動用基板であり、表示駆動用基板を用いた表示装置、表示装置を組み込んだテレビジョンセットなどの、各種電子機器の低価格化や材料利用効率の向上に貢献できる。
1 集合基板
2 切断線
3 テレビジョンセット
4 集合基板
10、60 表示駆動用基板
11 画素回路
12 表示領域
13 ゲートドライバ
14 切断部
15 ゲートドライバ接続端子
16 ソースドライバ接続端子
17 ゲート線
18 ソース線
19、20 延長部
22 切断用TFT
24 制御線
31 選択用TFT
32 コンデンサ
33 駆動用TFT
34 接続端子
41、43 FPC
42 ソースドライバ用半導体装置
44 ゲートドライバ用半導体装置
50 有機EL表示装置
51 平坦化膜
52 発光機能層
53 封止基板
54 表示機能層
101、102、601、602 破線部
110 基板
120 第1金属膜
130 ゲート絶縁膜
131、132 ビア
140 半導体層
150 第2金属膜
160 層間絶縁膜
170 第3金属膜
220、310 チャネル領域
221、311 ゲート電極
222、312 ソース電極
223、313 ドレイン電極

Claims (9)

  1. 基板上の表示領域にマトリクス状に設けられた複数の画素回路と、
    前記表示領域の各行に設けられ、対応行の各画素回路に共通に接続されたゲート線と、
    前記基板上に形成され、前記各ゲート線に接続されたゲートドライバと、
    前記基板上の前記各ゲート線の延長部に設けられ、ゲートドライバ用半導体装置を接続可能なゲートドライバ接続端子と
    を備える表示駆動用基板。
  2. 前記表示駆動用基板は、さらに、
    前記基板上に、電気的に接続された状態から電気的に切断された状態へ変更できる切断部を備え、
    前記ゲートドライバと前記各ゲート線とは前記切断部を介して接続されている
    請求項1に記載の表示駆動用基板。
  3. 前記ゲートドライバと前記ゲートドライバ接続端子とは前記表示領域を挟んで反対側に配置されている
    請求項1または2に記載の表示駆動用基板。
  4. 前記ゲートドライバと前記ゲートドライバ接続端子とは前記表示領域の同じ側に配置されており、
    前記ゲートドライバ接続端子は、前記ゲートドライバよりも前記基板の縁に近い位置に配置されている
    請求項1または2に記載の表示駆動用基板。
  5. 前記基板上に、少なくとも第1金属膜、第2金属膜が、絶縁膜を介してこの順に積層されており、
    前記各画素回路は、対応行のゲート線に接続された薄膜トランジスタを有し、
    前記第1金属膜は、前記ゲート線、前記ゲートドライバ接続端子、および前記薄膜トランジスタのゲート電極として用いられ、
    前記第2金属膜は、前記薄膜トランジスタのソースおよびドレイン電極として用いられている
    請求項1から4のいずれか1項に記載の表示駆動用基板。
  6. 前記基板上に、少なくとも第1金属膜、第2金属膜、第3金属膜が、それぞれ絶縁膜を介してこの順に積層されており、
    前記各画素回路は、対応行のゲート線に接続された薄膜トランジスタを有し、
    前記第1金属膜は、前記ゲート線および前記薄膜トランジスタのゲート電極として用いられ、
    前記第2金属膜は、前記薄膜トランジスタのソースおよびドレイン電極として用いられ、
    前記第1金属膜とビアで接続された前記第3金属膜が、前記ゲートドライバ接続端子として用いられている
    請求項1から4のいずれか1項に記載の表示駆動用基板。
  7. 前記ゲートドライバと前記各ゲート線とは前記切断部において電気的に切断されており、
    前記ゲートドライバ接続端子に、前記ゲートドライバ用半導体装置が接続されている
    請求項2から6のいずれか1項に記載の表示駆動用基板。
  8. 請求項1から7のいずれか1項に記載の表示駆動用基板と、
    前記表示駆動用基板上に形成された表示機能層と
    を備える表示装置。
  9. 請求項1に記載の表示駆動用基板を製造する方法であって、
    前記ゲートドライバの動作を検査する工程と、
    前記ゲートドライバの動作が不良の場合に、前記ゲートドライバと前記ゲート線との間を電気的に切断された状態にし、前記ゲートドライバ接続端子に前記ゲートドライバ用半導体装置を接続する工程と
    を含む表示駆動用基板の製造方法。
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