JP2010276362A - 分光蛍光光度計および分光分析光度計 - Google Patents
分光蛍光光度計および分光分析光度計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2010276362A JP2010276362A JP2009126541A JP2009126541A JP2010276362A JP 2010276362 A JP2010276362 A JP 2010276362A JP 2009126541 A JP2009126541 A JP 2009126541A JP 2009126541 A JP2009126541 A JP 2009126541A JP 2010276362 A JP2010276362 A JP 2010276362A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- spectrum
- spectrometer
- spectroscope
- fluorescence
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】コンピュータ10は、励起側分光器2および蛍光側分光器7が輝線スペクトルを有する入射光を往方向および復方向にスペクトルスキャンしたとき、検知器8によって得られる蛍光スペクトルを取得し、その蛍光スペクトルを既知の輝線の波長と比較することによって、励起パルスモータ12や蛍光パルスモータ11で設定される往方向および復方向スキャン時の波長設定誤差を取得し、各方向スキャン時の波長校正値とする。従って、両方向スキャン時での蛍光スペクトルの波長校正が可能となる。従って、片方向スキャン時の蛍光スペクトルしか利用できない場合に比べ、3次元蛍光スペクトル測定の高速化または高精度化が可能となる。
【選択図】図1
Description
請求項6に記載の分光蛍光光度計は、請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の分光蛍光光度計であって、前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、前記復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であることを特徴とする。
請求項11に記載の分光分析光度計は、請求項7ないし請求項9のいずれか1項に記載の分光分析光度計であって、前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、前記復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であることを特徴とする。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る分光蛍光光度計の構成の例を示した図である。図1に示すように、分光蛍光光度計100は、光度計部110、データ処理部120、操作・表示部130を含んで構成される。
図13は、本発明の第2の実施形態に係る分光分析光度計の構成の例を示した図である。図13に示すように、分光分析光度計150は、光度計部155、データ処理部120、操作・表示部130を含んで構成され、第1の実施形態における分光蛍光光度計100の一部が改変されて、測定試料6の透過率や吸光度を測定する装置にされたものである。従って、分光分析光度計150の構成は、図1に示した分光蛍光光度計100(または、図7に示した波長校正用光源15を内蔵した分光蛍光光度計100a)の構成とほとんど同じである。以下、その構成と相違する部分についてのみ説明する。
以上に説明した実施形態では、励起側パルスモータ12や蛍光側パルスモータ11などの波長駆動系で生じるバックラッシュに起因する波長設定誤差を実測し、実測した誤差を校正値とすることによって、バックラッシュに起因する波長設定誤差の影響を回避できるようにしたが、例えば、励起側パルスモータ12および蛍光側パルスモータ11として回折格子を直接回転させるダイレクトドライブモータを用いることによって、バックラッシュを防止するようにしてもよい。
2 励起側分光器(第1の分光器)
3 ビームスプリッタ
4 モニタ検知器
5 試料設置部
6 測定試料
7 蛍光側分光器(第2の分光器)
8 検知器
9 A/D変換器
10 コンピュータ
11 蛍光側パルスモータ
12 励起側パルスモータ
13 モニタ表示装置
14 操作パネル
15 波長校正用光源
16 光源切替ミラー
19 ミラー
100 分光蛍光光度計
110 光度計部
120 データ処理部
130 操作・表示部
150 分光分析光度計
Claims (11)
- それぞれ、入射光をスペクトルスキャンして、そのスペクトルスキャン時に設定される波長の光を選択的に取り出す第1の分光器および第2の分光器と、
所定の光源からの入射光のうち、前記第1の分光器により選択的に取り出された第1の波長の選択光が、測定試料に照射され、前記選択光の照射により前記測定試料から発せられた蛍光または間接光が前記第2の分光器へ入射されたとき、前記第2の分光器により選択的に取り出された第2の波長の蛍光または間接光の強度を検出する検知器と、
前記第1の分光器および第2の分光器に対するスペクトルスキャン動作を制御するとともに、前記検知器によって検出される蛍光の強度を取得し、前記取得した蛍光の強度を、前記第1の波長と前記第2の波長とに対応付けて、前記蛍光の3次元スペクトルを生成するデータ処理部と、
を備え、
前記データ処理部は、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに既知の輝線スペクトルを有する入射光が入射されたとき、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対し、前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンを指示し、
前記指示に基づく前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンによって前記検知器から得られる往方向スペクトルおよび復方向スペクトルを、前記既知の輝線スペクトルと比較して、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける往方向波長校正値および復方向波長校正値を取得し、
前記測定試料から発せられる蛍光の3次元スペクトルを生成する場合には、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対してそれぞれ設定された前記第1の波長および第2の波長を、そのとき前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおいて行われていたスペクトルスキャンの方向に応じて、前記往方向波長校正値または復方向波長校正値により校正すること
を特徴とする分光蛍光光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料から発せられる蛍光の3次元スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの開始を指示し、前記第1の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが開始され、前記第1の分光器の選択光の波長として所定の開始波長が設定されたとき、前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの一時停止を指示する第1の処理と、
前記第2の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの実行を指示し、前記第2の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の蛍光のスペクトルを取得する第2の処理と、
前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの再開を指示し、前記第1の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが再開され、前記第1の分光器の選択光の波長が所定の変量だけ増加または減少されて設定されたとき、前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの一時停止を指示する第3の処理と、
前記第2の分光器に対し、前記復方向のスペクトルスキャンの実行を指示し、前記第2の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される前記所定の波長範囲の蛍光のスペクトルを取得する第4の処理と、
前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの再開を指示し、前記第1の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが再開され、前記第1の分光器の選択光の波長が所定の変量だけ増加または減少されて設定されたとき、前記第1の分光器に対し前記往方向スキャンの一時停止を指示する第5の処理と、
前記第1の分光器の選択光の波長が所定の終了波長に到達したか否かを判定し、前記第1の分光器の選択光の波長が前記所定の終了波長に到達していないとき、前記第2の処理以降の処理を繰り返して実行し、前記第1の分光器の選択光の波長が前記所定の終了波長に到達したとき、前記第2の分光器に対し前記往方向のスペクトルスキャンの終了を指示する第6の処理と、
を実行すること
を特徴とする請求項1に記載の分光蛍光光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料から発せられる蛍光の3次元スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの開始を指示し、前記第1の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが開始され、前記第1の分光器の選択光の波長として所定の開始波長が設定されたとき、前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの一時停止を指示する第1の処理と、
前記第2の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの実行を指示し、前記第2の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の蛍光のスペクトルを取得する第2の処理と、
前記第2の分光器に対し、前記復方向のスペクトルスキャンの実行を指示し、前記第2の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される前記所定の波長範囲の蛍光のスペクトルを取得する第3の処理と、
前記第2の処理および第3の処理によってそれぞれ取得された前記蛍光のスペクトルを平均化する第4の処理と、
前記第1の分光器に対し、前記往方向のスペクトルスキャンの再開を指示し、前記第1の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが再開され、前記第1の分光器の選択光の波長が所定の変量だけ増加または減少されて設定されたとき、前記第1の分光器に対し前記往方向スキャンの一時停止を指示する第5の処理と、
前記第1の分光器の選択光の波長が所定の終了波長に到達したか否かを判定し、前記第1の分光器の選択光の波長が所定の終了波長に到達していないとき、前記第2の処理以降の処理を繰り返して実行し、前記第1の分光器の選択光の波長が所定のスキャン終了波長に到達したとき、前記第2の分光器に対し前記往方向のスペクトルスキャンの終了を指示する第6の処理と、
を実行すること
を特徴とする請求項1に記載の分光蛍光光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料から発せられる蛍光の3次元時間変化スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器および前記第2のうち一方の分光器を、入射光の0次光を選択して透過させるように設定する第1の処理と、
前記第1の分光器および前記第2のうち他方の分光器に対して、前記往方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記蛍光のスペクトルを取得する第2の処理と、
前記第1の分光器および前記第2のうち他方の分光器に対して、前記復方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記蛍光のスペクトルを取得する第3の処理と、
を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行すること
を特徴とする請求項1に記載の分光蛍光光度計。 - 前記往方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であり、復方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の分光蛍光光度計。 - 前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の分光蛍光光度計。 - それぞれ、入射光をスペクトルスキャンして、そのスペクトルスキャン時に設定される波長の光を選択的に取り出す第1の分光器および第2の分光器と、
所定の光源からの入射光のうち、前記第1の分光器により選択的に取り出された第1の波長の第1の選択光のうち、さらに、測定試料を透過した透過光が前記第2の分光器へ入射されたとき、前記第2の分光器により選択的に取り出された第2の波長の第2の選択光の強度を検出する検知器と、
前記第1の分光器および第2の分光器に対するスペクトルスキャン動作を制御するとともに、前記検知器によって検出される前記第2の選択光の強度を取得し、前記取得した第2の選択光の強度に基づき、前記測定試料の3次元時間変化透過・吸収スペクトルを生成するデータ処理部と、
を備え、
前記データ処理部は、
前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに既知の輝線スペクトルを有する入射光が入射されたとき、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対し、前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンを指示し、
前記指示に基づく前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける前記入射光の往方向および復方向でのスペクトルスキャンによって前記検知器から得られる往方向スペクトルおよび復方向スペクトルを、前記既知の輝線スペクトルと比較して、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおける往方向波長校正値および復方向波長校正値を取得し、
前記測定試料の3次元時間変化透過・吸収スペクトルを生成する場合には、前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれに対してそれぞれ設定された前記第1の波長および第2の波長を、そのとき前記第1の分光器および前記第2の分光器のそれぞれにおいて行われていたスペクトルスキャンの方向に応じて、前記往方向波長校正値または復方向波長校正値により校正すること
を特徴とする分光分析光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料の透過・吸光の3次元スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器および前記第2の分光器に対して、前記第1の波長と第2の波長とを一致させる同期スペクトルスキャンを前記往方向に実行することを指示し、前記指示された往方向の同期スペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第1の処理と、
前記第1の分光器および前記第2の分光器に対して、前記第1の波長と第2の波長とを一致させる同期スペクトルスキャンを前記復方向に実行することを指示し、前記指示された復方向の同期スペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第2の処理と、
を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行すること
を特徴とする請求項7に記載の分光分析光度計。 - 前記データ処理部は、
前記測定試料の透過・吸光の3次元スペクトルを生成する場合に、
前記第1の分光器および前記第2のうち一方の分光器を、入射光の0次光を選択して透過させるように設定する第1の処理と、
前記第1の分光器および前記第2のうち他方の分光器に対して、前記往方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記往方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第2の処理と、
前記第1の分光器および前記第2のうち他方の分光器に対して、前記復方向のスペクトルスキャンを指示し、前記他方の分光器による前記復方向のスペクトルスキャンが実行されたとき、前記検知器によって検出される所定の波長範囲の前記透過光のスペクトルを取得する第3の処理と、
を所定の終了時刻になるまで繰り返して実行すること
を特徴とする請求項7に記載の分光分析光度計。 - 前記往方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であり、復方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項7ないし請求項9のいずれか1項に記載の分光分析光度計。 - 前記往方向は、長波長側から短波長側へ向かう方向であり、復方向は、短波長側から長波長側へ向かう方向であること
を特徴とする請求項7ないし請求項9のいずれか1項に記載の分光分析光度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009126541A JP5215939B2 (ja) | 2009-05-26 | 2009-05-26 | 分光蛍光光度計および分光分析光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009126541A JP5215939B2 (ja) | 2009-05-26 | 2009-05-26 | 分光蛍光光度計および分光分析光度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010276362A true JP2010276362A (ja) | 2010-12-09 |
JP5215939B2 JP5215939B2 (ja) | 2013-06-19 |
Family
ID=43423472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009126541A Expired - Fee Related JP5215939B2 (ja) | 2009-05-26 | 2009-05-26 | 分光蛍光光度計および分光分析光度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5215939B2 (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012220472A (ja) * | 2011-04-14 | 2012-11-12 | Shimadzu Corp | 分光測定装置及びプログラム |
JP2013024825A (ja) * | 2011-07-26 | 2013-02-04 | Nikon Corp | 測定装置 |
JP2015180895A (ja) * | 2015-06-22 | 2015-10-15 | 国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構 | 判別フィルタ設計方法、判別方法、判別フィルタセット、判別装置、および、プログラム |
JP2016206121A (ja) * | 2015-04-28 | 2016-12-08 | 株式会社島津製作所 | 分析システム、分光蛍光光度計、演算処理装置および演算処理装置用プログラム |
CN107179285A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-09-19 | 北京汇智精仪科技有限公司 | 基于紫外可见吸收光谱和荧光光谱的水质监测探头及方法 |
US9976899B2 (en) | 2015-06-18 | 2018-05-22 | Seiko Epson Corporation | Spectroscopic measurement device, image forming apparatus, and spectroscopic measurement method |
JP2019020363A (ja) * | 2017-07-21 | 2019-02-07 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 光分析装置用の表示装置 |
JP2020051954A (ja) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 富士フイルム株式会社 | 試料撮影装置 |
WO2020076921A1 (en) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | Rigaku Analytical Devices, Inc. | Device for calibrating a spectrometer |
CN112782131A (zh) * | 2019-11-11 | 2021-05-11 | 成都辰显光电有限公司 | 一种光谱检测系统和光谱检测方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6127703B2 (ja) * | 1976-09-29 | 1986-06-26 | Akimitsu Wada | |
JPS6215418A (ja) * | 1985-07-13 | 1987-01-23 | Shimadzu Corp | 分光螢光光度計 |
JPH0312525A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
JP2006194812A (ja) * | 2005-01-17 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JP3132835U (ja) * | 2007-04-09 | 2007-06-21 | 株式会社島津製作所 | 3次元測定装置 |
JP2007222669A (ja) * | 2003-10-28 | 2007-09-06 | Veralight Inc | 組織の蛍光発光を用いた糖化最終産物または疾病状態の尺度の決定 |
-
2009
- 2009-05-26 JP JP2009126541A patent/JP5215939B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6127703B2 (ja) * | 1976-09-29 | 1986-06-26 | Akimitsu Wada | |
JPS6215418A (ja) * | 1985-07-13 | 1987-01-23 | Shimadzu Corp | 分光螢光光度計 |
JPH0312525A (ja) * | 1989-06-09 | 1991-01-21 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
JP2007222669A (ja) * | 2003-10-28 | 2007-09-06 | Veralight Inc | 組織の蛍光発光を用いた糖化最終産物または疾病状態の尺度の決定 |
JP2006194812A (ja) * | 2005-01-17 | 2006-07-27 | Shimadzu Corp | 分光蛍光光度計 |
JP3132835U (ja) * | 2007-04-09 | 2007-06-21 | 株式会社島津製作所 | 3次元測定装置 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012220472A (ja) * | 2011-04-14 | 2012-11-12 | Shimadzu Corp | 分光測定装置及びプログラム |
JP2013024825A (ja) * | 2011-07-26 | 2013-02-04 | Nikon Corp | 測定装置 |
JP2016206121A (ja) * | 2015-04-28 | 2016-12-08 | 株式会社島津製作所 | 分析システム、分光蛍光光度計、演算処理装置および演算処理装置用プログラム |
US9976899B2 (en) | 2015-06-18 | 2018-05-22 | Seiko Epson Corporation | Spectroscopic measurement device, image forming apparatus, and spectroscopic measurement method |
JP2015180895A (ja) * | 2015-06-22 | 2015-10-15 | 国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構 | 判別フィルタ設計方法、判別方法、判別フィルタセット、判別装置、および、プログラム |
CN107179285A (zh) * | 2017-05-26 | 2017-09-19 | 北京汇智精仪科技有限公司 | 基于紫外可见吸收光谱和荧光光谱的水质监测探头及方法 |
JP2019020363A (ja) * | 2017-07-21 | 2019-02-07 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 光分析装置用の表示装置 |
US10876967B2 (en) | 2017-07-21 | 2020-12-29 | Hitachi High-Tech Science Corporation | Display device for photometric analyzer |
JP2020051954A (ja) * | 2018-09-27 | 2020-04-02 | 富士フイルム株式会社 | 試料撮影装置 |
JP7015227B2 (ja) | 2018-09-27 | 2022-02-15 | 富士フイルム株式会社 | 試料撮影装置 |
US11372241B2 (en) | 2018-09-27 | 2022-06-28 | Fujifilm Corporation | Sample imaging apparatus |
WO2020076921A1 (en) * | 2018-10-11 | 2020-04-16 | Rigaku Analytical Devices, Inc. | Device for calibrating a spectrometer |
CN112782131A (zh) * | 2019-11-11 | 2021-05-11 | 成都辰显光电有限公司 | 一种光谱检测系统和光谱检测方法 |
CN112782131B (zh) * | 2019-11-11 | 2023-04-07 | 成都辰显光电有限公司 | 一种光谱检测系统和光谱检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5215939B2 (ja) | 2013-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5215939B2 (ja) | 分光蛍光光度計および分光分析光度計 | |
JP2009180706A (ja) | 液体クロマトグラフ用分光蛍光検出装置 | |
JP2011232106A (ja) | Icp発光分光分析装置 | |
JPS6337224A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
WO2012147551A1 (ja) | 分光光度計及びそのスリット条件決定方法 | |
WO2011092766A1 (ja) | 分光蛍光光度計、および液体クロマトグラフ用蛍光検出器 | |
JP2006194812A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
JP2006275892A (ja) | 発光分光分析装置 | |
WO2013190618A1 (ja) | 分光蛍光光度計 | |
JP5968201B2 (ja) | 着色剤同定方法、及び着色剤同定装置 | |
JP3982731B2 (ja) | 分光分析計の波長補正方法 | |
JPH11241948A (ja) | 分光測定装置 | |
JP3422294B2 (ja) | 分光光度計の波長校正方法 | |
US8810790B2 (en) | Spectrometer with wave gear device to reduce rotation of motor for extracting monochromatic light of specific wavelength | |
JP2005024403A (ja) | ダブルモノクロ形分光装置 | |
JP5584488B2 (ja) | 走査型回折格子分光器 | |
US7903253B2 (en) | Microscope | |
JP2015007548A (ja) | 分光蛍光光度計 | |
JP4506436B2 (ja) | 分光装置、これを備えた顕微鏡分光システム、及びデータ処理プログラム | |
JP6760494B2 (ja) | 分光蛍光光度計、分光測定方法、及び分光蛍光光度計用制御ソフトウェア | |
JP5736970B2 (ja) | 分光素子の同期駆動方法及び同期駆動装置、並びにクロマトグラフ用検出器 | |
JP2008292249A (ja) | 分光光度計 | |
US20180088036A1 (en) | Method and System for Spectroscopically Measuring Optical Properties of Samples | |
JP2012018011A (ja) | 分光光度計 | |
JP2012247334A5 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110905 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120919 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121120 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130118 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130205 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130301 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160308 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |