JP2010272026A - タイミング調整回路及びタイミング調整方法 - Google Patents

タイミング調整回路及びタイミング調整方法 Download PDF

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Abstract

【課題】入力信号を取り込むタイミングのずれを補正すること。
【解決手段】DLL回路31は、データストローブ信号DQSに基づいて、その信号DQSを遅延させた遅延信号DQSdを生成する。遅延信号DQSdは、位相(タイミング)が互いに異なる複数の遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)を含む。ラッチ回路32は、複数の遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)によりデータDQをラッチした複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)を出力する。位相調整回路33は、複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)に基づいて、データDQの第1遷移と第2遷移とを判定し、第1遷移と第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを、基準遅延信号S(0)のタイミングを近づけるように、DLL回路31の遅延時間を調整する。
【選択図】図2

Description

タイミング調整回路及びタイミング調整方法に関するものである。
従来、半導体記憶装置としてDRAM(Dynamic Random Access Memory)が用いられている。また、近年では、システムの動作速度の高速化に対応するため、高速なデータ転送方式としてダブルデータレート方式が採用されている。このような半導体記憶装置はDDR−SDRAM(Double Data Rate Synchronous DRAM )やDDR2−SDRAMと呼ばれる。
ダブルデータレート方式のSDRAM(以下、単にメモリという)は、データストローブ信号に同期してデータを出力する。メモリに接続されたシステム回路に含まれるメモリコントローラは、同システム回路に含まれるCPUからの要求に応答してメモリをアクセスする。メモリコントローラは、図12に示すように、遅延ロックループ(Delay Locked Loop:DLL)回路101とフリップフロップ回路102,103を含む。DLL回路101は、図13に示すように、データストローブ信号DQSを所定時間遅延した遅延データストローブ信号(以下、単に遅延信号という)DQSdを生成する。フリップフロップ回路102は、遅延信号DQSdに応答してデータDQをラッチする。フリップフロップ回路103は、システム側のクロック信号(不図示)に応答してフリップフロップ回路102の出力信号をラッチする。このフリップフロップ回路103の出力信号が、システム回路のリードデータRDとして使用される。
なお、図12には図示しないが、DLL回路101は、遅延信号DQSdと位相が180度異なる第2の遅延信号を生成する。そして、メモリコントローラは、第2の遅延ストローブ信号によりデータDQをラッチするフリップフロップ回路を含む。このフリップフロップ回路と上記のフリップフロップ回路102,103により、データストローブ信号DQSの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとに同期して出力されるデータを取り込む。
上記の構成により、システム回路は、データストローブ信号DQSの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとに同期して入力信号、つまりデータDQを取り込む。メモリは、データストローブ信号DQSに同期してデータDQを出力する。DLL回路101における遅延時間を、データストローブ信号DQSの周期の1/4(位相では90度)とすることにより、遅延信号DQSdにてフリップフロップ回路102がデータDQを取り込むタイミングを、そのデータDQの有効期間の中心(パルスの中心)とすることにより、データDQを確実に取り込むことができる。
ところで、システム回路を形成するプロセスにおける変動等の要因により、回路毎(チップ毎)に配線の遅延時間が異なる場合がある。このような場合、フリップフロップ回路102における遅延信号DQSdの到達時刻とデータDQの到達時刻にずれが生じる、即ち、遅延信号DQSdのエッジタイミングが、データDQの有効期間の中心からずれる。転送速度が高いシステム回路では、データDQの有効期間が短いため、データDQと遅延信号DQSdのタイミングのずれは、フリップフロップ回路102,103に間違ったデータをラッチさせる、即ちリードデータRDに誤りを生じさせる。
このため、システム回路に含まれる回路には、例えば起動時などのタイミングで、DLL回路101の遅延時間を変更して所定値のデータを読み込む動作を繰り返すことにより、遅延時間を調整するトレーニング動作(タイミングキャリブレーション)を行うものがある(例えば、特許文献1参照)。
特開2003−091453号公報
しかし、データDQと遅延信号DQSdとの間の相対的なタイミングのずれは、システム回路の環境温度の変化や、システム回路の動作電源電圧の変化によりも生じる。このようなタイミングのずれは、リードデータRDに誤りを生じさせる。なお、トレーニング動作を再度実行すると、トレーニング動作はメモリをアクセスするシステム回路におけるリードライト動作に対してオーバーヘッドとなる。
本発明の一側面によれば、互いに異なるタイミングに基づいて入力信号を取り込む複数の取込部と、前記複数の取込部において前記入力信号を取り込むタイミングが隣接する取込部による取り込み結果に基づいて、前記入力信号の第1遷移と第2遷移とを判定する判定部と、前記入力信号の取り込みタイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する調整部と、を有する。
本発明の一側面によれば、入力信号を取り込むタイミングのずれが補正される。
システムの概略構成図である。 インタフェース回路の概略構成図である。 DLL回路の動作を示す波形図である。 (a)(b)はDLL回路の一例を示す回路図である。 ラッチ回路の一例を示す回路図である。 位相調整回路のブロック回路図である。 中心位置演算処理の説明図である。 位相調整回路のブロック回路図である。 中心位置演算処理の説明図である。 位相調整回路のブロック回路図である。 データ判定処理の説明図である。 従来のインタフェース回路の回路図である。 従来のインタフェース回路の動作波形図である。
(第1実施形態)
以下、第1実施形態を図面に従って説明する。
図1に示すように、このシステムは、システム回路11とメモリ12を含む。このシステム回路11は、システム装置の一例として挙げられる。メモリ12は、対象回路の一例として挙げられる。システム回路11は、例えば1つのチップ(半導体集積回路装置:LSI)であって、コア論理回路(以下、単にコア回路という)21とメモリコントローラ22とインタフェース回路23を含む。メモリ12は、同期式の半導体記憶装置であり、例えばダブルデータレート方式のダイナミックランダムアクセスメモリ(Double Data Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory:DDR−SDRAM)である。
コア回路21は、例えばCPUであり、実行する処理に応じて、メモリ12のデータを読み込むためのリード要求と、そのデータが格納されたアドレスをメモリコントローラ22に出力する。また、コア回路21は、メモリ12にデータを書き込むためのライト要求と、そのデータを格納するアドレスをメモリコントローラ22に出力する。
メモリコントローラ22は、コア回路21からの要求に応じて、インタフェース回路23を介してメモリ12をアクセスする。例えば、コア回路21からの要求が書き込みの場合、コントローラ22は、インタフェース回路23を介してコマンド、アドレス及びデータをメモリ12に供給し、メモリ12は、そのデータを該当するアドレスに記憶する。また、コア回路21からの要求が読み出しの場合、コントローラ22は、インタフェース回路23を介してメモリ12から読み出したデータをコア回路21に出力する。
図2に示すように、メモリ12とインタフェース回路23は、データストローブ信号DQSによりデータDQの授受を行うように構成されている。このように、メモリ12とメモリコントローラ22との間に介在されたインタフェース回路23は、物理層回路(DDR−PHY )と呼ばれる。
インタフェース回路23は、遅延同期ループ(Delay Locked Loop:DLL)回路(以下、DLL回路という)31、ラッチ回路32、位相調整回路33を含む。
DLL回路31は、データストローブ信号DQSに基づいて、その信号DQSを遅延させた遅延データストローブ信号(以下、単に遅延信号という)DQSdを生成する。遅延信号DQSdは、複数の遅延データストローブ信号(遅延信号)を含む。本実施形態では、図3に示すように、遅延信号DQSdは、基準遅延信号S(0)を中心として、その基準遅延信号S(0)よりも位相が遅れた複数(n個)の遅延信号S(+1)〜S(+n)と、基準遅延信号S(0)よりも位相が進んだ複数(n個)の遅延信号S(−n)〜S(−1)を含む。各遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)はそれぞれ位相が異なる信号である。
各遅延信号S(−n)〜S(+n)は、データストローブ信号DQSを遅延させたものであるから、同信号DQSと同じ波形である。従って、各遅延信号S(−n)〜S(+n)は、それぞれの位相に応じたタイミングで遷移する。つまり、DLL回路31は、互いに異なるタイミングで遷移する複数の遅延信号S(−n)〜S(+n)を生成する。そして、DLL回路31は、基準遅延信号S(0)を中心として各遅延信号S(−n)〜S(+n)を生成する。従って、基準遅延信号S(0)のタイミングが、複数の遅延信号S(−n)〜S(+n)のタイミングの中心タイミングとなる。
そして、「n」は、基準遅延信号S(0)のタイミング(中心タイミング)から各遅延信号のタイミングまでの番号である。この番号nは、基準遅延信号S(0)と他の遅延信号S(−n)〜S(−1),S(+1)〜S(+n)の位相差(タイミング差)を示す。そして、番号における符号は、基準遅延信号S(0)に対する他の遅延信号の位相の進み又は遅れ、つまりタイミングが早いか遅いかを示す。
最も位相が遅れた遅延信号(最遅遅延信号)S(+n)と、最も位相が進んだ遅延信号(最進遅延信号)S(−n)との位相差は、1つのデータDQを判別可能な時間、例えばデータDQのパルス幅に応じて設定されている。メモリ12は、データストローブ信号DQSの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとに同期してデータDQを出力する。従って、「1」又は「0」のデータDQのパルス幅は、データストローブ信号DQSの立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの時間に対応する。データDQを正しくラッチするためには、「1」又は「0」のパルスの中心でラッチすることが好ましい。つまり、データストローブ信号DQSを遅延させた信号のエッジ、即ち信号が遷移するタイミングをパルスの中心に合わせる必要がある。
同じデータ、例えば「1」が連続する場合、その連続するデータの間、データDQはHレベルとなるため、1つのデータDQのパルス中心を検出することはできない。従って、「1」又は「0」のデータDQのパルスの中心は、時間に従って転送されるデータ列が、「010」又は「101」のときに、検出することができる。このデータ列において、データDQが「1」又は「0」であるときのパルス幅は、データストローブ信号DQSの周期の1/2となる。
そして、「1」のパルスを検出するためには、データDQが遷移する期間、即ちデータDQがLレベルからHレベルに遷移するタイミングから、データDQがHレベルからLレベルに遷移するタイミングまでの期間よりも長い期間でデータDQをサンプリングする必要がある。なお、「1」及び「0」のパルス幅は、データDQを伝達する経路上の特性(配線や回路の遅延、回路の出力部のバランス、しきい値レベル、等)に応じて変化する。この変化により、データDQのパルス幅が、データストローブ信号DQSの周期の1/2よりも短くなる場合がある。従って、最も位相が遅れた遅延信号S(+n)と、最も位相が進んだ遅延信号S(−n)との位相差を、データDQとデータストローブ信号DQSの遅延時間差と、上記の変化(配線遅延や温度変化等)を考慮して、この1つのデータDQのパルスを包含し、データDQの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジを検出できるように設定する。なお、本実施形態では一例として360度の位相差に設定されている。つまり、本実施形態のDLL回路31は、360度の位相の範囲内で、複数の遅延信号S(−n)〜S(+n)を生成する。
DLL回路31が生成する遅延信号の数(2n+1)は、上記の位相差(=360度)を分割する数(2n)に対応し、遅延信号のうちの1つがデータDQのデータアイ(「1」又は「0」が確定している期間)の中心に対応するように、DLL回路31の構成に応じて設定される。DLL回路31には、メモリコントローラ22から設定コードDC1が供給され、後述する位相調整回路33から設定コードDC2が供給される。DLL回路31は、設定コードDC1,DC2に応じた遅延時間を、データストローブ信号DQSのタイミングに対する遅延信号DQSdの中心タイミング、つまり基準遅延信号S(0)の遅延時間とするように、各遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)を生成する。
ラッチ回路32は、複数の遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)に対応する複数((2n+1)個)のラッチを含み、各遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)によりそれぞれデータDQをラッチする。そして、ラッチ回路32は、基準遅延信号S(0)によりデータDQをラッチしたデータに基づく信号を、リードデータRDaとして出力する。また、ラッチ回路32は、各遅延信号S(−n)〜S(+n)によりデータDQをラッチした複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)を出力する。このラッチ回路32は取込部の一例として挙げられる。
上記のメモリコントローラ22は、所定のタイミングで、データストローブ信号DQSのトレーニング動作を行うように構成されている。所定のタイミングは、例えば、電源投入後に実行される初期化処理のとき、パワーオンリセット信号が入力されてから一定期間の後、等のように、コア回路21がメモリ12をアクセスしない期間である。
トレーニング動作の一例を説明する。なお、メモリコントローラ22の動作に対して、上記の遅延信号S(−n)〜S(+n)のうち、基準遅延信号S(0)のみが関係するため、この信号について記述する。
先ず、メモリコントローラ22は、メモリ12の所定のアドレスA1に所定のデータTdを書き込む。そして、所定の設定コードをDLL回路31に供給し、そのDLL回路31は、設定コードに応じた時間、データストローブ信号DQSから遅延した基準遅延信号S(0)を生成する。
次に、コントローラ22は、メモリ12のアドレスA1からデータTd(リードデータRDa)を読み込み、基準遅延信号S(0)の遅延時間を変更(例えば増加)するように設定コードをDLL回路31に供給する。このデータTdの読み込みと、基準遅延信号S(0)の遅延時間の変更とを、繰り返すことにより、複数の遅延時間に対応するタイミングにて取り込んだデータTdを記憶する。この複数のデータTdは、取込タイミングを変更することで、データTdの論理レベルに応じたパルス波形を示す。従って、コントローラ22は、このパルス波形から、データTdのパルス中心に対応するタイミング、即ち設定コードDC1を検出する。そして、コントローラ22は、検出した設定コードDC1をDLL回路31に供給する。
DLL回路31は、コントローラ22から供給される設定コードDC1を記憶し、その設定コードDC1に応じた遅延時間(タイミング)にて、遅延信号S(0)、即ち各遅延信号S(−n)〜S(+n)を生成する。このような、コントローラ22によるトレーニング動作によって、データDQに対してDLL回路31にて生成される遅延信号DQSdのタイミングのずれが補正される。なお、このトレーニング動作は、遅延信号DQSdの遅延時間を変更しながらメモリ12からデータTdを読み出すことにより、図1に示すコア回路21がリード動作を行うときには実行不可能である。言い換えれば、メモリコントローラ22は、コア回路21がメモリ12に対するリード動作を行わない期間に、上記のトレーニング動作を行う。
図2に示す位相調整回路33は、複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)のうち、有効なラッチデータにおける中心位相(中心タイミング)を検出する。そして、位相調整回路33は、検出した中心タイミングに、基準遅延信号S(0)のタイミングを近づけるように、設定コードDC2を生成し、その設定コードDC2をDLL回路31に供給する。DLL回路31は、その設定コードDC2に応じた遅延時間(タイミング)にて、遅延信号S(−n)〜S(+n)を生成する。即ち、位相調整回路33は、検出した中心タイミングに、基準遅延信号S(0)のタイミングを近づけるように、DLL回路31の遅延時間を調整する。この位相調整回路33は、タイミング調整回路、判定部、調整部の一例として挙げられる。
有効なラッチデータD(−n)〜D(+n)は、上記の1つのデータDQのパルス中心が判定可能な信号である。複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)のレベルは、データDQを複数の遅延信号S(−n)〜S(+n)で取り込んだレベル、即ち互いに異なるタイミングにてデータDQを取り込んだレベルである。従って、ラッチデータD(−n)〜D(+n)のレベルは、データDQのレベル変化に対応する。上記したように、パルス中心が判定可能なデータDQの信号列、つまり波形変化は、「010」又は「101」である。つまり、複数の遅延信号S(〜n)〜S(+n)による取込期間において、データDQの波形は、「0」から「1」への遷移(第1遷移)と、「1」から「0」への遷移(第2遷移)とを含む。従って、位相調整回路33は、第1遷移と第2遷移とが存在するラッチデータD(−n)〜D(+n)を有効と判定し、第1遷移と第2遷移の何れか一方が存在する、又は何れも存在しないラッチデータD(−n)〜D(+n)を無効と判定する。
上記遷移の有無は、ラッチデータD(−n)〜D(+n)を取り込むタイミングが隣接する信号レベルにより判定できる。即ち、ラッチ回路32は、位相が異なる遅延信号S(−n)〜S(+n)によりデータDQをラッチしてラッチデータD(−n)〜D(+n)を生成する。従ってデータDQの信号レベルが変化していれば、タイミングが隣接する2つのラッチ信号のレベルが異なる。従って、タイミングが隣接する2つのラッチ信号の信号レベルを比較し、それらの信号レベルが異なる場合に、それらのタイミングの間に遷移があることが判定できる。
第1遷移と第2遷移の間隔は、「1」又は「0」のデータDQのパルス幅に対応する。従って、位相調整回路33は、ラッチデータD(−n)〜D(+n)における第1遷移と第2遷移とを判定し、第1遷移と第2遷移に応じた期間の中心タイミングを検出する。そして、位相調整回路33は、期間の中心タイミングに、遅延信号S(−n)〜S(+n)の中心タイミング、即ち基準遅延信号S(0)のタイミングを近づけるように、各遅延信号S(−n)〜S(+n)のタイミング、即ちDLL回路31の遅延時間を調整する。
ラッチ回路32は、この調整された基準遅延信号S(0)によりデータDQをラッチしてリードデータRDaを出力する。上記したように、基準遅延信号S(0)のタイミングは、メモリ12から読み出されたデータDQのパルスの中心タイミングに近づくように調整されているため、データDQとデータストローブ信号DQSとの間に発生する位相ずれを低減することができる。
また、位相調整回路33は、データDQの第1遷移と第2遷移とを判定する。図1に示すコア回路21からの要求に応じてメモリ12から読み出されるデータDQは、例えば同じレベルが連続するような場合もあり、信号レベルがランダムに変化する。そして、位相調整回路33は、信号レベルがランダムに変化するデータDQにあって、第1遷移と第2遷移とを判定して、第1遷移と第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに応じてDLL回路31が生成する遅延信号DQSdの中心タイミング(基準遅延信号S(0)のタイミング)を調整する。従って、コア回路21がメモリ12からデータDQを読み出す場合、読み出されたデータDQを利用して遅延信号DQSdのタイミング調整を行ってよいため、タイミング調整のためにコア回路21の読み出し動作を抑制(停止)させなくてもよく、メモリ12からのデータ読み出しに対するオーバーヘッドを低減することができる。
次に、DLL回路31、ラッチ回路32、位相調整回路33の構成例を説明する。
なお、説明及び図面の便宜上、上記の遅延信号における個数nを「3」として説明する。従って、本実施形態のDLL回路31は、互いに位相(タイミング)が異なる7つの遅延信号S(−3)〜S(0)〜S(+3)を生成する。
図4(a)に示すように、DLL回路31は、遅延部31aとDLL部31bを含む。
遅延部31aは、データストローブ信号DQSに基づく遅延信号DQS2を生成する。更に、遅延部31aは、データストローブ信号DQSに対する遅延信号DQS2の遅延時間を、メモリコントローラ22(図2参照)から供給される設定コードDC1に応じた時間とする。つまり、遅延部31aは、設定コードDC1に応じた時間、データストローブ信号DQSを遅延させて遅延信号DQS2を生成する。
DLL部31bは、遅延信号DQS2に基づいて、互いに位相が異なる、つまり互いに異なるタイミングの遅延信号S(−3)〜S(+3)を生成する。更に、DLL部31bは、遅延信号DQS2に対する基準遅延信号S(0)の遅延時間を、位相調整回路33(図2参照)から供給される設定コードDC2に応じた時間とする。
図4(b)に示すように、DLL部31bは、レジスタ41、遅延回路42,43、スイッチ制御回路44を含む。
第1の遅延回路42は、複数の遅延素子42a〜42gと、複数のスイッチSW1a〜SW1gを含む。複数の遅延素子42a〜42gは直列に接続されている、即ち各遅延素子42a〜42fの出力端子は遅延素子42b〜42gの入力端子にそれぞれ接続されている。そして、初段の遅延素子42aにはデータストローブ信号DQSが入力されている。また、各遅延素子42a〜42gの出力端子にはスイッチSW1a〜SW1gの第1端子がそれぞれ接続され、各スイッチSW1a〜SW1gの第2端子は相互に接続され、その接続点は第2の遅延回路43に接続されている。
各遅延素子42a〜42gは例えば直列接続された偶数個のインバータ回路を含み、入力信号を遅延した信号を出力する。入力信号に対する出力信号の遅延時間は、遅延素子42a〜42gの構成に基づく。スイッチSW1a〜SW1gは、例えばNチャネルMOSトランジスタやCMOS構造のアナログスイッチであり、スイッチ制御回路44から供給される信号に応答してオンオフする。
スイッチ制御回路44は、複数のスイッチSW1a〜SW1gのうち、レジスタ41に記憶された設定コードDC2に対応する1つのスイッチをオンし、他のスイッチをオフする。従って、第1の遅延回路42は、レジスタ41の値に応じた1つのスイッチをオンすることにより、オンしたスイッチまでの遅延素子の段数に応じた遅延をデータストローブ信号DQSに加えた遅延信号DDQSを生成する。
第2の遅延回路43は、複数(7個)の遅延素子43a〜43gを含む。遅延素子43a〜43gは直列に接続されている、即ち各遅延素子43a〜43fの出力端子は遅延素子43b〜43gの入力端子にそれぞれ接続されている。そして、初段の遅延素子43aには、第1の遅延回路42により生成された遅延信号DDQSが供給される。各遅延素子43a〜43gは、例えば直列接続された偶数個のインバータ回路を含み、入力信号を遅延した信号を出力する。入力信号に対する出力信号の遅延時間は、遅延素子43a〜43gの構成に基づく。そして、各遅延素子43a〜43gは、それぞれ遅延信号S(−3)〜S(+3)を出力する。
上記したように、スイッチ制御回路44は、レジスタ41に記憶された設定コードDC2に応じた1つのスイッチをオンする。変更した設定コードDC2をレジスタ41に格納することにより、遅延信号DQS2、即ちデータストローブ信号DQSに対する遅延信号DDQSの遅延時間を変更する。従って、DLL部31bは、設定コードDC2に応じて、遅延信号DQS2に対する基準遅延信号S(0)の遅延時間を調整し、その遅延信号S(0)を含む複数の遅延信号S(−3)〜S(+3)を生成する。従って、設定コードDC2を変更することにより、データストローブ信号DQSに対する各遅延信号S(−3)〜S(+3)の位相差、つまり各遅延信号S(−3)〜S(+3)のタイミングを変更することができる。
図5に示すように、ラッチ回路32は、ラッチ回路51,52を含む。第1のラッチ回路51は、遅延信号S(−3)〜S(+3)に応答してラッチデータD(−3)〜D(+3)を生成する。第2のラッチ回路52は基準遅延信号S(0)に応答してリードデータRDaを生成する。
第1のラッチ回路51は、位相(タイミング)が互いに異なる複数の遅延信号S(−3)〜S(+3)によりデータDQをラッチするラッチ部53と、そのラッチ部53にてラッチしたデータを位相調整回路33(図2参照)に受け渡すためのラッチ部54を含む。
第1のラッチ部53は、遅延信号S(−3)〜S(+3)に対応する複数(7個)のフリップフロップ回路(以下、FF回路という)53a〜53gを含む。FF回路53aのデータ端子DにはデータDQが供給され、クロック端子には対応する遅延信号S(−3)が供給される。FF回路53aは、遅延信号S(−3)に応答して、その遅延信号S(−3)の立ち上がりエッジに同期してデータDQをラッチし、そのラッチレベルと等しいレベルのラッチデータLDaを出力端子Qから出力する。同様に、各FF回路53b〜53gは、データ端子Dに供給されるデータDQを、それぞれに対応する遅延信号S(−2)〜S(+3)の立ち上がりエッジに同期してラッチし、そのラッチレベルと等しいレベルのラッチデータLDb〜LDgをそれぞれ出力する。
第2のラッチ部54は、第1のラッチ部53にて生成されたラッチデータLDa〜LDgに対応する複数(7個)のFF回路54a〜54gを含む。FF回路54aのデータ端子Dには対応するラッチデータLDaが供給され、クロック端子にはクロック信号CK1が供給される。
クロック信号CK1は、例えばラッチデータD(−3)〜D(+3)を受け取り、各ラッチデータを処理する回路、即ち図2に示す位相調整回路33から供給される。位相調整回路33は、基準遅延信号S(0)に基づいて、第1のラッチ部53にて生成されたラッチデータLDa〜LDgを取り込むようにクロック信号CK1を生成する。例えば、位相調整回路33は、基準遅延信号S(0)の周波数と等しく、信号S(0)より所定時間遅延したクロック信号CK1を生成する。基準遅延信号S(0)に対するクロック信号CK1の遅延時間は、基準遅延信号S(0)に応答してデータDQをラッチしたFF回路53dの出力信号をFF回路54dにてラッチするように設定されている。
FF回路54aは、クロック信号CK1に応答して、そのクロック信号CK1の立ち上がりエッジに同期してラッチデータLDaをラッチし、そのラッチレベルと等しいレベルのラッチデータD(−3)を出力端子Qから出力する。同様に、FF回路54b〜54gは、データ端子Dにそれぞれ供給されラッチデータLDb〜LDgを、クロック信号CK1の立ち上がりエッジに同期してラッチし、そのラッチレベルと等しいレベルのラッチデータD(−2)〜D(+3)をそれぞれ出力する。なお、上記第2のラッチ部54の構成は一例を示すものであり、各FF回路54a〜55gが信号をラッチするタイミングが、前段のFF回路53a〜53gの出力信号のタイミングに応じて調整されることはいうまでもない。
第2のラッチ回路52は、FF回路55を含む。このFF回路55は、クロック端子にクロック信号CK2が供給され、データ端子Dに第1のラッチ部53のFF回路53dのラッチ信号LDdが供給されている。クロック信号CK2は、リードデータRDaを受け取り、このリードデータRDaを処理する回路、例えば図2に示すメモリコントローラ22から供給される。コントローラ22は、基準遅延信号S(0)に基づいて、基準遅延信号S(0)の周波数と等しく、信号S(0)より所定時間遅延したクロック信号CK2を生成する。基準遅延信号S(0)に対するクロック信号CK2の遅延時間は、基準遅延信号S(0)に応答してデータDQをラッチしたFF回路53dの出力信号をFF回路55にてラッチするように設定されている。FF回路55は、基準遅延信号S(0)に応答するFF回路53dの出力信号(ラッチデータLDd)をクロック信号CK2の立ち上がりエッジに同期してラッチし、そのラッチしたレベルのリードデータRDaを出力する。
なお、図示しないが、ラッチ回路32は、基準遅延信号S(0)の立ち下がりエッジに同期してデータDQをラッチするFF回路と、そのFF回路の出力信号をクロック信号CK2によりラッチしてリードデータを生成するFF回路を含む。これらのFF回路と、上記のFF回路53d,55により、データストローブ信号DQSの立ち上がりエッジと立ち下がりエッジとに同期して出力されるデータDQを内部回路(例えば、メモリコントローラ22)に取り込む。なお、DLL部31bにおいて基準遅延信号S(0)と位相が180度異なる反転遅延信号を生成し、その反転遅延信号の立ち上がりエッジに同期してデータDQをラッチし、そのラッチデータを更にクロック信号CK2によりラッチしたデータをリードデータとしてもよい。
図6に示すように、位相調整回路33は、クロック信号生成回路61、位相調整信号生成回路62、データ中心演算回路63、平均化回路64、位相更新信号生成回路65、コード変換回路66を含む。
クロック信号生成回路61は、上記のクロック信号CK1を生成する。例えば、クロック信号生成回路61は、データストローブ信号DQSに基づいてクロック信号CK1を生成する。クロック信号CK1は、上記のラッチ回路32に供給されるとともに、位相調整回路33に含まれる各回路62〜66に供給される。従って、位相調整回路33に含まれる各回路62〜66は、クロック信号CK1に基づいて、同期して動作する。なお、クロック信号CK1を位相調整回路33の外部から供給することにより、クロック信号生成回路61を省略してもよい。
位相調整信号生成回路62は、リードイネーブル信号REに基づいて活性化信号PEを生成する。例えば、位相調整信号生成回路62は、信号REをバッファリングして活性化信号PEを生成する。この活性化信号PEは、各回路63〜65に供給される。リードイネーブル信号REは、図1に示すコア回路21がメモリ12からデータDQを読み出すときを示す信号であり、例えば、データDQを読み出す時にHレベルとなり、それ以外の時にLレベルとなる。
データ中心演算回路63及び平均化回路64は、Hレベルの活性化信号PEに応答して活性化し、Lレベルの活性化信号PEに応答して非活性化する。各回路63,64がデータDQの読み出し時に活性化し、それ以外の時に非活性化することで、メモリ12から出力されるデータDQに基づいて、DLL部31bの位相を調整する。図2に示すように、メモリ12とインタフェース回路23は、データストローブ信号DQSによりデータDQの授受を行う。つまり、インタフェース回路23は、メモリ12に書き込むライトデータをデータDQとしてデータストローブ信号DQSとともに出力する。従って、データストローブ信号DQSとデータDQを伝達する信号線は、双方向バスとして用いられる。このため、リードイネーブル信号REに基づいてメモリ12からデータDQを読み出す時に回路63,64を活性化することで、リード時におけるデータDQに対するデータストローブ信号DQSの位相を調整し、データDQとデータストローブ信号DQSの間の位相ずれを低減してリードデータRDaの誤判定を低減する。また、各回路63,64を非活性化することにより、消費電流を低減する。
データ中心演算回路63は、例えばクロック信号CK1の立ち上がりエッジに同期して、ラッチ回路32から出力されるラッチデータD(−3)〜D(+3)を順次受け取る。そして、データ中心演算回路63は、受け取ったラッチデータD(−3)〜D(+3)が有効なデータか否かを判定する。有効なデータは、上記したように、第1遷移と第2遷移とがそれぞれ1つずつ存在するデータである。データ中心演算回路63は、その判定結果に応じたデータフラグDFを出力する。例えば、データ中心演算回路63は、ラッチデータD(−3)〜D(+3)を有効と判定した場合に論理「1」(Hレベル)のデータフラグDFを出力し、ラッチデータを無効と判定した場合に論理「0」(Lレベル)のデータフラグDFを出力する。
そして、データ中心演算回路63は、有効と判定したラッチデータD(−3)〜D(+3)の中心タイミングを算出する。例えば、データ中心演算回路63は、第1遷移と第2遷移との間に含まれるラッチデータの番号の平均値を算出し、その平均値を第1遷移と第2遷移とに応じた期間の中心タイミングの値(以下、期間中心値という)DRとする。なお、データ中心演算回路63は、算出した平均値に対して、制御性等の設定に応じた演算処理を実施し、その処理後の値を期間中心値DRとする。第1遷移と第2遷移のタイミングに応じて、平均値が小数点以下の値を含む場合がある。このとき、データ中心演算回路63は、設定に応じて、小数点以下の値を切り上げて平均値を整数化し、その処理後の値を期間中心値DRとする。切り上げ処理を行うことにより、期間中心値DRが「0」以外の場合、即ち期間中心値DRが基準遅延信号S(0)からわずかにずれてもそのずれを補正する。つまり、遅延信号DQSdとデータDQのタイミングずれに対する応答性が高くなる。従って、期間中心値DRと基準遅延信号S(0)とを精度良く一致させることができるため、より短いパルス幅のデータDQを出力する場合に有効となる。
ラッチデータのパターン例を図7に示す。図7において、破線で囲まれた値は、第1遷移と第2遷移とに応じた期間のタイミングでラッチされたデータレベルを示す。
例えば「パターン1」は、ラッチデータD(−2)とラッチデータD(−1)の値が異なるため、この間に第1遷移が存在する。また、ラッチデータD(+1)とラッチデータD(+2)の値が相違するため、この間に第2遷移が存在する。従って、データ中心演算回路63は、第1遷移と第2遷移との応じた期間のラッチデータD(−1)〜D(+1)に基づいて、期間中心値DR(=0)を算出する。
また、「パターン6」は、ラッチデータD(0)とラッチデータD(+1)の値が異なるため、この間に第2遷移が存在する。また、ラッチデータD(+2)とラッチデータD(+3)の値が相違するため、この間に第1遷移が存在する。従って、データ中心演算回路63は、第1遷移と第2遷移との応じた期間のラッチデータD(+1)〜D(+2)に基づいて、期間中心値DR(=+2)を算出する。なお、期間中心値DRを「+1」としてもよい。また、期間中心値DRを「+1」と「+2」の中間として「+1.5」としてもよい。また、期間中心値が少数になる場合には、当該パターンを無効としてもよい。
また、「パターン7」は遷移が存在せず、「パターン9」は遷移が1つしか存在しない。従って、データ中心演算回路63はこれらのパターンのラッチデータを無効と判定して、「0」のデータフラグDFを出力する。そして、データ中心演算回路63は、期間中心の演算処理をキャンセルして値「0」の期間中心値DRを出力する。
尚、データ中心演算回路63は、期間中心を演算した結果が「0」である場合もその値「0」の期間中心値DRを出力する。この場合、データ中心演算回路63は「1」のデータフラグDFを出力する。従って、データフラグDFは、データ中心演算回路63から出力される期間中心値DRが有効か無効かを示すということもできる。
また、「パターン8」は遷移が4つ存在する。このように、不連続なデータは、ノイズなどの偶発的なレベル変動により発生するが、ノイズによるレベルのラッチデータを特定することはできない。このため、データ中心演算回路63は、この「パターン8」のラッチデータを無効と判定する。
なお、「パターン3」は第1遷移と第2遷移がそれぞれ1つ存在するが、第1遷移と第2遷移とに応じた期間のラッチデータは1つ(D(+2))である。データDQのパルス幅から、この例では、第1遷移と第2遷移との間に3個乃至4個のラッチデータが存在し、許容可能なレベル変動を考慮しても、2個乃至5個のラッチデータが存在する。従って、1個のラッチデータのみ存在する場合には、そのデータはノイズにより発生した可能性が高い。従って、データ中心演算回路63は、第1範囲と第2範囲との間に存在するラッチデータの数、即ちタイミングの数の範囲をレジスタ等に記憶し、その範囲内のデータ数(タイミング数)のラッチデータを有効と判定し、範囲外のデータ数のラッチデータを無効と判定する。ようにしてもよい。
尚、演算処理として、切り捨て、四捨五入、平均値を超えない最大の整数を用いる、等の処理を実施するようにしてもよい。例えば、演算処理として切り捨てを実行するように設定した場合、期間中心値DRは、基準遅延信号S(0)に近い値として得られ、絶対値が1未満の平均値の場合には期間中心値DRの値は「0」となる。従って、遅延信号DQSdとデータDQとのずれに対する応答性が低くなる。このため、緩やかにタイミングずれを補正することができる。
図6に示すように、平均化回路64は、加算回路71、カウンタ72、除算回路73を含む。
加算回路71は、データ中心演算回路63から出力される期間中心値DRを累積加算し、その演算結果のデータを出力する。
カウンタ72は、データ中心演算回路63から出力されるデータフラグDFのうち、有効なデータフラグDFに応答してカウント値をカウントアップ(+1)し、そのカウント値を出力する。つまり、カウンタ72は、「1」のデータフラグDFの数をカウントする。
除算回路73は、有効なデータにおける中心位置の平均値を算出する。即ち、除算回路73は、加算回路71から出力される演算結果(合計値)を、カウンタ72から出力されるカウント値(有効データ数)で除算し、その演算結果に基づいて、平均値を算出する。例えば、除算回路73は、演算結果のうち、小数点以下の値を切り上げて演算結果を生成する。そして、除算回路73は、その演算結果の小数点以下の値を切り捨てて演算結果を整数化し、その処理後の値を出力する。つまり、平均化回路64は、データ中心演算回路63により算出した期間中心値DRの平均値を算出する。
位相更新信号生成回路65は、位相調整信号生成回路62から出力される活性化信号PEに基づいて、DLL回路の設定データを更新するための更新許可信号UEを生成する。本実施形態において、活性化信号PEは、メモリ12からデータDQを読み出す期間を示すリードイネーブル信号REをバッファリングしたものである。位相更新信号生成回路65は、メモリ12からデータDQを読み出していない期間に設定データを更新するように、更新許可信号UEを生成する。例えば、位相更新信号生成回路65は、活性化信号PEを論理反転したレベルの更新許可信号UEを生成する。従って、更新許可信号UEは、メモリ12からデータDQを読み出すときにはLレベルとなり、それ以外のときにHレベルとなる。
コード変換回路66は、平均化回路64から出力される期間中心を、DLL部31bの遅延時間を調整するためのコードに変換する。そして、コード変換回路66は、位相更新信号生成回路65から出力される更新許可信号UEに基づいて、メモリ12からデータDQを読み出していない期間、即ちHレベルの更新許可信号UEに応答して、コードをDLL部31bに出力し、DLL部31bは、そのコードをレジスタ41(図4参照)に記憶する。
例えば、図4に示すDLL部31bにおいて、オンされたスイッチSW1dにより遅延時間が調整された遅延信号S(−3)〜S(+3)が生成されている。この状態において、期間中心の値が「+1」の場合、コード変換回路66は、この期間中心をDLL部31bのスイッチを制御するためのコードに変換する。そして、DLL部31bは、そのコードに応答して,スイッチSW1dをオフしスイッチSW1eをオンする。これにより、遅延信号S(−3)〜S(+3)のタイミングが遅い方にシフトされ、基準遅延信号S(0)のタイミングが、前回の遅延信号S(+1)のタイミングと一致する。
以上記述したように、本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)ラッチ回路32は、位相(タイミング)が互いに異なる複数の遅延信号S(−n)〜S(0)〜S(+n)によりデータDQをラッチした複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)を出力する。位相調整回路33は、複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)に基づいて、データDQの第1遷移と第2遷移とを判定し、第1遷移と第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを、基準遅延信号S(0)のタイミングを近づけるように、DLL回路31の遅延時間を調整する。この結果、基準遅延信号S(0)のタイミングは、メモリ12から読み出されたデータDQのパルスの中心タイミングに近づくように調整されているため、データDQとデータストローブ信号DQSとの間に発生する位相ずれを低減することができる。
(2)位相調整回路33は、コア回路21からの要求に応じてメモリ12から読み出されたデータDQのように、信号レベルがランダムに変化するデータDQにあって、第1遷移と第2遷移とを判定してそれらの遷移に応じた期間の中心タイミングに応じてDLL回路31が生成する遅延信号DQSdの中心タイミング(基準遅延信号S(0)のタイミング)を調整する。従って、コア回路21がメモリ12からデータDQを読み出すときにそのデータDQを取り込む遅延信号DQSdのタイミング調整を行うことができるため、タイミング調整のためにコア回路21の読み出し動作を抑制(停止)させる必要が無く、メモリ12からのデータ読み出しに対するオーバーヘッドを低減することができる。
(3)位相調整回路33は、コア回路21からの要求に応じてメモリ12から読み出されたデータDQに基づいて、第1遷移と第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに、DLL回路31が生成する遅延信号DQSdの中心タイミング(基準遅延信号S(0)のタイミング)が近づくように調整する。従って、コア回路21の動作中に、温度変化等の影響によるタイミングずれを補正することができる。また、コア回路21の動作中にタイミングずれを補正することができるため、メモリ12からの読み出し動作に対するオーバーヘッドの増加を抑制することができる。
(第2実施形態)
以下、第2実施形態を図面に従って説明する。
なお、本実施形態において、上記した実施形態と同じ部材については同じ符号を付してその説明のすべて又は一部を省略する。
図8は、本実施形態のインタフェース回路23aの回路図である。このインタフェース回路23aは、4ビットのデータDQ0〜DQ3を入力するものである。つまり、このインタフェース回路23aは、4つの出力端子を有し、データストローブ信号DQSに基づいて4ビットのデータDQ0〜DQ3を出力するメモリと接続されるものである。そして、インタフェース回路23aは、4ビットのデータDQ0〜DQ3とデータストローブ信号DQSとに基づいて、4ビットのデータDQ0〜DQ3を取り込むタイミングを調整する。
インタフェース回路23aは、DLL回路31、ラッチ回路32a、位相調整回路33aを含む。
ラッチ回路32aは、4ビットのデータDQ0〜DQ3に対応して4つのブロック81a〜81dを有している。各ブロック81a〜81dは、第1実施形態のラッチ回路32と同様に構成されている。各ブロック81a〜81dは、それぞれ遅延信号S(−n)〜S(+n)に応答してデータDQ0〜DQ3をラッチし、ラッチデータD0〜D3を出力する。図8では、1つの信号のごとく示しているが、各ラッチデータD0〜D3は、それぞれ異なるタイミングの遅延信号S(−n)〜S(+n)によりデータDQ0〜DQ3を取り込んだラッチデータを含む。例えば、ラッチデータD0は、ブロック81aにおいて、データDQ0を遅延信号S(−n)〜S(+n)によりラッチしたラッチデータD0(−n)〜D0(+n)を含む。同様に、ラッチデータD1は、ブロック81bにおいて、データDQ1を遅延信号S(−n)〜S(+n)によりラッチしたラッチデータD1(−n)〜D1(+n)を含む。また、ラッチデータD2は、ブロック81cにおいて、データDQ2を遅延信号S(−n)〜S(+n)によりラッチしたラッチデータD2(−n)〜D2(+n)を含む。また、ラッチデータD3は、ブロック81dにおいて、データDQ3を遅延信号S(−n)〜S(+n)によりラッチしたラッチデータD3(−n)〜D3(+n)を含む。
位相調整回路33aは、クロック信号生成回路61、位相調整信号生成回路62、データ中心演算回路63a、平均化回路64、位相更新信号生成回路65、コード変換回路66を含む。
データ中心演算回路63aは、4ビットのデータDQ0〜DQ3に対応するラッチデータD0〜D3のうち、有効なラッチデータを各タイミング毎に論理演算し、その演算結果に基づいて期間中心値DRを算出する。有効なラッチデータの判定は、第1実施形態と同じである。
図9には、n=3の場合のラッチデータの例が示されている。図9において、図7と同様に、破線で囲まれた値は、第1遷移と第2遷移とに応じた期間のタイミングでラッチされたデータレベルを示す。
例えば、データDQ0をラッチしたラッチデータD0(−3)〜D0(+3)は、「0001110」であり、第1遷移と第2遷移とがそれぞれ1つずつ存在する。従って、図8に示すデータ中心演算回路63aは、このデータDQ0に対応するラッチデータを有効と判定する。同様に、データ中心演算回路63aは、データDQ1,DQ3をラッチしたラッチデータD1(−3)〜D1(+3),D3(−3)〜D3(+3)を有効と判定する。一方、データDQ2をラッチしたラッチデータD2(−3)〜D2(+3)は「1111111」である。従って、データ中心演算回路63aは、このデータDQ2に対応するラッチデータを無効と判定する。
そして、データ中心演算回路63aは、有効と判定したラッチデータを、タイミング毎に論理演算し、演算結果について、第1遷移と第2遷移とに応じた期間のタイミング中心(期間中心)を算出する。図9中、「AND」に示すデータ「0001110」は、論理積演算結果を示す。データ中心演算回路63aは、このデータに基づいて期間中心値DR(=+1)を算出する。そして、データ中心演算回路63aは、期間中心値DRが有効であることを示すデータフラグDF(=1)を出力する。
また、データ中心演算回路63aは、有効と判定したラッチデータが1ビット分のみの場合に、論理演算処理を省略し、その有効と判定したラッチデータにより期間中心値DRを算出する。また、データ中心演算回路63aは、すべてのビットのラッチデータを有効ではないと判定した場合に、論理演算処理及び中心演算を行うことなく、値が0の期間中心値DRと、その期間中心値DRが無効であることを示す「0」のデータフラグDFを出力する。
平均化回路64は、データ中心演算回路63aから出力される期間中心値DRの平均値を算出し、コード変換回路66はその平均値をコードに変換する。そのコードを、データDQ0〜DQ3を読み出していない期間にDLL回路31(DLL部31b)に格納する。このようにして、位相調整回路33aは、データDQ0〜DQ3を取り込む遅延信号S(−n)〜S(+n)の中心タイミング(遅延信号S(0)のタイミング)を、データDQ0〜DQ3のパルス中心の共通なタイミングに近づけるように補正する。
以上記述したように、本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)ラッチ回路32aは、タイミングが異なる複数の遅延信号により複数ビットのデータDQ0〜DQ3をラッチしたラッチデータを出力する。位相調整回路33aは、そのラッチデータに基づいて、データDQ0〜DQ3の第1遷移と第2遷移とを判定し、その判定結果に基づいて、データDQ0〜DQ3に対応するラッチデータを論理演算した結果における中心タイミングに、遅延信号の中心タイミングを近づけるように、遅延信号の中心タイミングを調整するようにした。従って、各データDQ0〜DQ3に共通なデータストローブ信号DQSを、全てのデータDQ0〜DQ3を取り込むために最適なタイミングに調整することができる。
(第3実施形態)
以下、第3実施形態を図面に従って説明する。
なお、本実施形態において、上記した実施形態と同じ部材については同じ符号を付してその説明のすべて又は一部を省略する。
図10は、本実施形態のインタフェース回路23aの回路図である。このインタフェース回路23aは、上記した第1実施形態におけるインタフェース回路23と置き換えて使用される。即ち、本実施形態におけるシステム回路は、図1に示すコア回路21及びメモリコントローラ22と、図10に示すインタフェース回路23bを含む。
このインタフェース回路23bは、DLL回路31、ラッチ回路32、位相調整回路33bを含む。
位相調整回路33bは、クロック信号生成回路61、位相調整信号生成回路62、コード変換回路66、データ判定回路67、期間中心検出回路68を含む。
データ判定回路67は、上記実施形態のデータ中心演算回路63に含まれる判定機能、即ち、ラッチデータが有効か無効かを判定する機能を持ち、有効と判定したラッチデータDと、有効を示すデータフラグDFを出力する。このラッチデータDは、遅延信号S(−n)〜S(+n)でデータDQを取り込んだラッチデータD(−n)〜D(+n)を含む。
なお、データ判定回路67は、第1遷移と第2遷移とに応じた期間におけるデータレベルが「0」の場合に、ラッチデータの論理レベルを反転して出力する。例えば、ラッチデータが図7に示す「パターン6」のように「1111001」の場合、各ラッチデータのレベルを論理反転して「0000110」として出力する。
期間中心検出回路68は、加算回路91、カウンタ92、データ中心演算回路93を含む。加算回路91は、データ判定回路67から出力されるラッチデータD(−n)〜D(+n)をタイミング毎に累積加算し、その加算結果を出力する。
図11には、n=3の場合のラッチデータの例が示されている。図11において、図7,9と同様に、破線で囲まれた値は、第1遷移と第2遷移とに応じた期間のタイミングでラッチされたデータレベルを示す。
図11において、データ1〜4は有効なデータであり、データ5〜7は無効なデータである。データ判定回路67は、データ1〜4(ラッチデータ)を出力するとともに、「1」のデータフラグDFを出力し、データ5〜7を出力しない。加算回路91は、データ1〜4を累積加算する。図11において最下段には、データ1〜4に対する加算回路91の加算結果(累積値)を示す。
カウンタ92は、データ判定回路67から出力されるデータフラグDFをカウントし、カウント値が設定値と等しくなったときにカウントアップ信号を出力する。設定値は、データ判定回路67から出力されるデータ、即ちラッチデータを累積加算する個数である。
データ中心演算回路93は、カウンタ92から出力されるカウントアップ信号に応答して加算回路91から出力される累積値を入力し、その累積値に基づいて、期間の中心タイミングを演算する。
上記したように、データ判定回路67は、複数のタイミングに対応するラッチデータのうち、両端のデータを「0」としてデータを出力する。従って、タイミング毎に累積した累積値は、データDQのパルス中心の存在確率に応じた値となる。つまり、データDQのパルス中心を取り込んだタイミングに対応する累積値が最も大きな値となる。従って、データ中心演算回路93は、累積値が最も大きいタイミングを、期間中心として出力する。なお、複数のタイミングに対する累積値が等しくなった場合、データ中心演算回路93は、それらのタイミングに対応する番号の平均値を期間中心とする。
コード変換回路66はデータ中心演算回路93から出力される期間中心の値をコードに変換する。そのコードを、データDQを読み出していない期間にDLL回路31(DLL部31b)に格納する。このようにして、位相調整回路33bは、データDQを取り込む遅延信号S(−n)〜S(+n)の中心タイミング(遅延信号S(0)のタイミング)を、データDQのパルス中心のタイミングに近づけるように補正する。
以上記述したように、本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
(1)位相調整回路33bは、複数のラッチデータD(−n)〜D(+n)に基づいて、データDQの第1遷移と第2遷移とを判定し、ラッチデータ(−n)〜D(+n)をタイミング毎に累積加算し、その加算結果に基づいて第1遷移と第2遷移とに対応する期間の中心タイミングを算出する。そして、位相調整回路33bは、算出した中心タイミングに、遅延信号S(−n)〜S(+n)の中心タイミングを近づけるように補正するようにした。その結果、基準遅延信号S(0)のタイミングは、メモリ12から読み出されたデータDQのパルスの中心タイミングに近づくように調整されているため、データDQとデータストローブ信号DQSとの間に発生する位相ずれを低減することができる。
尚、各実施形態は、以下の態様で実施してもよい。
・第2実施形態において、データ中心演算回路63aは、データのビット数に応じて、ラッチデータが有効か否かを判定するようにしてもよい。例えば、データが4ビットであって2ビット以上のデータが有効な場合に期間中心値DRを算出してもよい。また、データが8ビットであって3ビット以上のデータが有効な場合に期間中心値DRを算出する。このようにすることで、複数ビットに共通な遅延データに対して中心タイミングのずれを補正することができる。
・各実施形態において、位相更新信号生成回路65は、期間中心値DRの平均値が算出された後に更新のための更新許可信号UEを出力するようにしてもよい。例えば、カウンタ72は平均値を算出するときのカウント値(例えば100)をカウントしたときにカウントアップ信号を出力し、位相更新信号生成回路65は、そのカウントアップ信号に応答して、活性化信号PE(又はリードイネーブル信号RE)を論理反転したレベルの更新許可信号UEを出力する。なお、カウンタはカウント値を出力し、位相更新信号生成回路65が平均値を算出するときのカウント値を入力したときに更新許可信号UEを出力するようにしてもよい。また、カウンタはカウント値を出力し、除算回路が平均値を算出したときに信号を出力し、その信号により位相更新信号生成回路が更新許可信号UEを出力するようにしてもよい。
・実施形態では、位相調整信号生成回路62を有することとしたが、位相調整信号生成回路62を省略し、リードイネーブル信号REを位相調整回路33に含まれる各回路に供給するようにしてもよい。
・実施形態では、データストローブ信号DQSのトレーニング動作を行うメモリコントローラ22を用いたが、トレーニング動作を行う機能を有していないメモリコントローラを用いて実施してもよい。この場合、DLL回路31の遅延部31aには、データストローブ信号DQSに対する遅れがない遅延信号DQS2を生成するように設定コードが設定される。なお、遅延部31aを省略してもよい。
・実施形態では、メモリコントローラ22がトレーニング動作を行うこととしたが、その他の回路、例えばコア回路21がトレーニング動作を実行するようにしてもよい。
・各実施形態は、インタフェース回路23を含むシステム回路11について説明したが、データDQ及びデータストローブ信号DQSを受信する回路、例えばSDRAMやメモリコントローラに上記のインタフェース回路を適用してもよい。
・各実施形態では、図4に例示したように、遅延信号S(−3)〜S(+3)の遅延時間、即ち位相差を一定としたが、遅延信号相互間の位相差を異なるように設定してもよい。例えば、遅延信号S(−n)〜S(+n)において、データDQのエッジが存在する確率の高いタイミング付近の遅延信号間の位相差を、エッジが存在する確率が低いタイミング付近の遅延信号間の位相差よりも小さくしてもよい。位相差の小さな遅延信号により、データDQの第1遷移と第2遷移の検出精度が向上する。従って、基準遅延信号S(0)とデータDQの中心位置との小さな位相差ずれを検出する、即ち位相差ずれを精度よく検出することができるため、基準遅延信号S(0)をデータDQの中心に精度良く合わせることができる。
・実施形態では、カウンタ72からカウント値を出力し、除算回路73にてカウント値を除数として演算を行うようにした。これを、カウンタが内蔵するレジスタに格納された設定値とカウント値を比較し、カウント値が設定値未満であるときには第1のレベル(例えばLレベル)のカウント終了信号を出力し、設定値とカウント値が等しくなるとカウントアップを停止し、第2のレベル(例えばHレベル)のカウント終了信号を出力するようにする。そして、除算回路は、設定値を除数として演算を行うようにしてもよい。
・各実施形態では、データ中心演算回路63にて小数点以下を切り上げ、平均化回路64にて小数点以下を切り捨てるようにしたが、データ中心演算回路63にて小数点以下を切り捨て、平均化回路64にて小数点以下を切り上げるようにしてもよい。また、両回路63,64にて例えば小数点以下を切り上げるように、同じ処理方法にて演算結果を整数化するようにしてもよい。尚、演算結果を整数化する方式として、上記の切り上げ以外に、切り捨て、四捨五入、演算結果を越えない最大の整数を採用する、等の種々の方式を用いてもよい。
・各実施形態では、遅延信号S(−3)〜S(+3)において遷移のタイミングが入力信号の第1遷移と第2遷移との間の中心タイミングにより近い遅延信号に注目し、中心タイミングにより近い遅延信号が入力されるラッチ回路(例えば、図5のラッチ回路53a〜53gのうちの何れか)の出力信号を選択して、選択された信号(LDa〜LDgのうちの何れか)をラッチ回路55に入力してもよい。
・上記第2実施形態において、4ビットのデータDQをそれぞれラッチしたラッチデータのうち、有効なラッチデータを論理積(AND)演算処理した後に中心位置を算出するようにしたが、その他の論理演算処理、例えば論理和(OR)演算処理した後に中心位置を算出するようにしてもよい。
・各実施形態は、メモリ12から出力されるデータDQを取り込むインタフェース回路23に具体化したが、メモリ以外の回路から出力される信号を取り込む入力回路、例えば、通信用の回路から出力される信号を取り込む回路に具体化してもよい。
・各実施形態は、データストローブ信号DQSに基づいてデータDQを取り込むインタフェース回路23に具体化したが、その他の信号、例えばクロック信号によりデータを取り込む回路に具体化してもよい。
上記各実施形態に関し、以下の付記を開示する。
(付記1)
互いに異なるタイミングに基づいて入力信号を取り込む複数の取込部と、
前記複数の取込部において前記入力信号を取り込むタイミングが隣接する取込部による取り込み結果に基づいて、前記入力信号の第1遷移と第2遷移とを判定する判定部と、
前記入力信号の取り込みタイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する調整部と、
を有することを特徴とするタイミング調整回路。
(付記2)
前記調整部は、前記入力信号の前記取り込みタイミングとなる前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整することを特徴とする付記1に記載のタイミング調整回路。
(付記3)
前記判定部は、隣接する前記取込部の取り込み結果に応じた前記入力信号のレベルが互いに異なる場合に前記入力信号に遷移があると判定することを特徴とする付記2に記載のタイミング調整回路。
(付記4)
前記調整部は、前記複数の取込部による取り込み結果に前記第1遷移と前記第2遷移がそれぞれ含まれる場合に前記取り込み結果を有効と判定する、
ことを特徴とする付記2又は3に記載のタイミング調整回路。
(付記5)
前記判定部は、前記有効と判定した前記取り込み結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを算出し、
前記調整部は、前記判定部にて算出された期間の中心タイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるように、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを調整する、
ことを特徴とする付記4に記載のタイミング調整回路。
(付記6)
前記判定部は、算出した中心タイミングに応じた期間中心値を出力し、
前記調整部は、前記判定部から出力される複数の期間中心値の平均値を算出し、前記複数の期間中心値の平均値に応じたタイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるように、前記中心タイミングを調整する、
ことを特徴とする付記5に記載のタイミング調整回路。
(付記7)
前記入力信号は、複数のビットを含み、
前記判定部は、前記入力信号に含まれる各ビットの取り込み結果を、各ビットに対して前記第1遷移と前記第2遷移とを判定する、
ことを特徴とする付記2〜6の何れか1項に記載のタイミング調整回路。
(付記8)
前記調整部は、前記判定部の判定結果に基づいて、前記入力信号を取り込むタイミング毎に各ビットの取り込み結果を論理演算し、その演算結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるようにその中心タイミングを調整することを特徴とする付記7に記載のタイミング調整回路。
(付記9)
前記調整部は、前記判定部により有効と判定された前記取り込み結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを算出し、その中心タイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるように、前記中心タイミングを調整することを特徴とする付記2に記載のタイミング調整回路。
(付記10)
前記調整部は、前記判定部により有効と判定された前記取り込み結果を前記入力信号を取り込むタイミング毎に累積し、各タイミングの累積結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを算出することを特徴とする付記4に記載のタイミング調整回路。
(付記11)
コア回路と、コントローラと、インタフェース回路とを有し、
前記コア回路は、前記コントローラを介して前記インタフェース回路に接続された対象回路からデータを読み出し、
前記インタフェース回路は、前記対象回路から出力される入力信号を、前記対象回路から出力されるストローブ信号に基づいて取り込み、
更に、前記インタフェース回路は、前記入力信号を取り込むタイミングを調整するタイミング調整回路を有し、
前記タイミング調整回路は、
互いに異なる複数のタイミングに基づいて入力信号を取り込み、
前記入力信号を取り込む複数のタイミングのうち、隣接するタイミングによる取り込み結果に基づいて、前記入力信号の第1遷移と第2遷移とを判定し、
前記入力信号の取り込みタイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する、
ことを特徴とするシステム装置。
(付記12)
互いに異なる複数のタイミングに基づいて入力信号を取り込み、
前記入力信号を取り込む複数のタイミングのうち、隣接するタイミングによる取り込み結果に基づいて、前記入力信号の第1遷移と第2遷移とを判定し、
前記入力信号の取り込みタイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する、
ことを特徴とするタイミング調整方法。
11 システム回路
21 コア論理回路
22 メモリコントローラ
23 インタフェース回路
31 遅延ロックループ回路(DLL回路)
32 ラッチ回路
33 位相調整回路
DR 期間中心値

Claims (10)

  1. 互いに異なるタイミングに基づいて入力信号を取り込む複数の取込部と、
    前記複数の取込部において前記入力信号を取り込むタイミングが隣接する取込部による取り込み結果に基づいて、前記入力信号の第1遷移と第2遷移とを判定する判定部と、
    前記入力信号の取り込みタイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する調整部と、
    を有することを特徴とするタイミング調整回路。
  2. 前記調整部は、前記入力信号の前記取り込みタイミングとなる前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する
    ことを特徴とする請求項1に記載のタイミング調整回路。
  3. 前記判定部は、隣接する前記取込部の取り込み結果に応じた前記入力信号のレベルが互いに異なる場合に前記入力信号に遷移があると判定することを特徴とする請求項2に記載のタイミング調整回路。
  4. 前記調整部は、前記複数の取込部による取り込み結果に前記第1遷移と前記第2遷移がそれぞれ含まれる場合に前記取り込み結果を有効と判定する、
    ことを特徴とする請求項2又は3に記載のタイミング調整回路。
  5. 前記判定部は、前記有効と判定した前記取り込み結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを算出し、
    前記調整部は、前記判定部にて算出された期間の中心タイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるように、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを調整する、
    ことを特徴とする請求項4に記載のタイミング調整回路。
  6. 前記判定部は、算出した中心タイミングに応じた期間中心値を出力し、
    前記調整部は、前記判定部から出力される複数の期間中心値の平均値を算出し、前記複数の期間中心値の平均値に応じたタイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるように、前記中心タイミングを調整する、
    ことを特徴とする請求項5に記載のタイミング調整回路。
  7. 前記入力信号は、複数のビットを含み、
    前記判定部は、前記入力信号に含まれる各ビットの取り込み結果を、各ビットに対して前記第1遷移と前記第2遷移とを判定する
    ことを特徴とする請求項2〜6の何れか1項に記載のタイミング調整回路。
  8. 前記調整部は、前記判定部の判定結果に基づいて、前記入力信号を取り込むタイミング毎に各ビットの取り込み結果を論理演算し、その演算結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに、前記互いに異なるタイミングにおける中心タイミングを近づけるようにその中心タイミングを調整することを特徴とする請求項7に記載のタイミング調整回路。
  9. 前記調整部は、前記判定部により有効と判定された前記取り込み結果を前記入力信号を取り込むタイミング毎に累積し、各タイミングの累積結果に基づいて前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングを算出することを特徴とする請求項4に記載のタイミング調整回路。
  10. 互いに異なる複数のタイミングに基づいて入力信号を取り込み、
    前記入力信号を取り込む複数のタイミングのうち、隣接するタイミングによる取り込み結果に基づいて、前記入力信号の第1遷移と第2遷移とを判定し、
    前記入力信号の取り込みタイミングを前記第1遷移と前記第2遷移とに応じた期間の中心タイミングに近づくように調整する、
    ことを特徴とするタイミング調整方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015197933A (ja) * 2014-03-31 2015-11-09 株式会社メガチップス データストローブエッジ検出回路、データストローブ処理回路及びデータリード回路
JP2018054628A (ja) * 2012-03-28 2018-04-05 テラダイン・インコーポレーテッドTeradyne Incorporated エッジトリガ較正

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8675798B1 (en) * 2010-12-23 2014-03-18 Netlogic Microsystems, Inc. Systems, circuits, and methods for phase inversion
US8400845B2 (en) 2011-01-06 2013-03-19 International Business Machines Corporation Column address strobe write latency (CWL) calibration in a memory system
US8520455B2 (en) 2012-01-10 2013-08-27 Apple Inc. Method and apparatus for training a DLL in a memory subsystem
US20140281662A1 (en) 2013-03-12 2014-09-18 Uniquify, Inc. Dynamically adaptive bit-leveling for data interfaces
US8947140B2 (en) 2013-03-12 2015-02-03 Uniquify, Inc. Continuous adaptive training for data interface timing calibration
KR102323569B1 (ko) 2015-09-30 2021-11-08 삼성전자주식회사 샘플링 포인트를 독립적으로 조절할 수 있는 데이터 처리 회로와 이를 포함하는 데이터 처리 시스템
US10276229B2 (en) 2017-08-23 2019-04-30 Teradyne, Inc. Adjusting signal timing
KR102499037B1 (ko) 2018-01-10 2023-02-13 삼성전자주식회사 메모리 장치 및 이를 포함하는 메모리 시스템
US10607671B2 (en) * 2018-02-17 2020-03-31 Micron Technology, Inc. Timing circuit for command path in a memory device
KR20200112040A (ko) * 2019-03-20 2020-10-05 에스케이하이닉스 주식회사 캘리브레이션 회로를 포함하는 반도체 장치 및 그의 트레이닝 방법
US10942220B2 (en) 2019-04-25 2021-03-09 Teradyne, Inc. Voltage driver with supply current stabilization
US11119155B2 (en) 2019-04-25 2021-09-14 Teradyne, Inc. Voltage driver circuit
US11283436B2 (en) 2019-04-25 2022-03-22 Teradyne, Inc. Parallel path delay line
US10761130B1 (en) 2019-04-25 2020-09-01 Teradyne, Inc. Voltage driver circuit calibration
CN113228178A (zh) * 2019-12-30 2021-08-06 成都海光集成电路设计有限公司 调节存储器系统的读取速度方法、比较电路及存储器系统
DE102020124101A1 (de) * 2020-02-04 2021-08-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Elektronische vorrichtung mit einer speichervorrichtung und trainingsverfahren

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07264175A (ja) * 1994-03-17 1995-10-13 Fujitsu Ltd 非同期データのクロック乗換回路
JPH0983500A (ja) * 1995-09-07 1997-03-28 Fujitsu Ltd バースト同期回路
JP2000031951A (ja) * 1998-07-15 2000-01-28 Fujitsu Ltd バースト同期回路
JP2000151567A (ja) * 1998-11-17 2000-05-30 Oki Electric Ind Co Ltd 同期検出方法及び装置、並びに位相同期方法及び装置
JP2002082830A (ja) * 2000-02-14 2002-03-22 Mitsubishi Electric Corp インターフェイス回路
JP2005525623A (ja) * 2002-02-11 2005-08-25 マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド メモリへのアクセスを制御するためのメモリおよび適応タイミングシステム
JP2010086246A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Nec Electronics Corp メモリインターフェース及びメモリインターフェースの動作方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7167023B1 (en) * 2001-08-29 2007-01-23 Altera Corporation Multiple data rate interface architecture
JP2003091453A (ja) 2001-09-17 2003-03-28 Ricoh Co Ltd メモリ制御装置
US7154979B2 (en) * 2001-10-31 2006-12-26 Intel Corporation Timing recovery with variable bandwidth phase locked loop and non-linear control paths
US6614314B2 (en) * 2001-12-03 2003-09-02 Gennum Corporation Non-linear phase detector
US7340707B2 (en) * 2004-05-21 2008-03-04 Broadcom Corporation Automatic tuning of signal timing
JP2008514086A (ja) * 2004-09-14 2008-05-01 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 遅延制御回路および遅延制御方法
US7285996B2 (en) * 2005-09-30 2007-10-23 Slt Logic, Llc Delay-locked loop
US8122275B2 (en) * 2006-08-24 2012-02-21 Altera Corporation Write-leveling implementation in programmable logic devices
US8793525B2 (en) * 2007-10-22 2014-07-29 Rambus Inc. Low-power source-synchronous signaling

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07264175A (ja) * 1994-03-17 1995-10-13 Fujitsu Ltd 非同期データのクロック乗換回路
JPH0983500A (ja) * 1995-09-07 1997-03-28 Fujitsu Ltd バースト同期回路
JP2000031951A (ja) * 1998-07-15 2000-01-28 Fujitsu Ltd バースト同期回路
JP2000151567A (ja) * 1998-11-17 2000-05-30 Oki Electric Ind Co Ltd 同期検出方法及び装置、並びに位相同期方法及び装置
JP2002082830A (ja) * 2000-02-14 2002-03-22 Mitsubishi Electric Corp インターフェイス回路
JP2005525623A (ja) * 2002-02-11 2005-08-25 マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド メモリへのアクセスを制御するためのメモリおよび適応タイミングシステム
JP2010086246A (ja) * 2008-09-30 2010-04-15 Nec Electronics Corp メモリインターフェース及びメモリインターフェースの動作方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018054628A (ja) * 2012-03-28 2018-04-05 テラダイン・インコーポレーテッドTeradyne Incorporated エッジトリガ較正
JP2015197933A (ja) * 2014-03-31 2015-11-09 株式会社メガチップス データストローブエッジ検出回路、データストローブ処理回路及びデータリード回路

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