JP2010267579A - 導電性接着剤およびこれを用いた半導体装置の製造方法並びに半導体装置 - Google Patents

導電性接着剤およびこれを用いた半導体装置の製造方法並びに半導体装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 接合性、電気伝導性、熱伝導性が良好で、かつ熱応力を緩和できる信頼性の高い半導体装置の接合体を形成できる導電性接着剤およびこれを用いた半導体装置の製造方法、並びに半導体装置を提供する。
【解決手段】 平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛、これらの化合物もしくは合金の少なくともいずれかを含む複数の固体導電性粒子と、前記固体導電性粒子と金属接合されず、かつ前記固体導電性粒子より潤滑性の高い固体潤滑性粒子と、水または有機溶剤とを備えた導電性接着剤を提供する。
【選択図】 図1

Description

この発明は、導電性フィラーを含有する導電性接着剤およびこの導電性接着剤を用いて半導体素子を配線基板の電極に実装する半導体装置の製造方法、並びにこの導電性接着剤を用いて実装された半導体装置に関するものであり、特にパワー半導体装置の高温動作に対応できる導電性接着剤の組成に関する。
従来のパワー半導体装置は、例えば半導体素子の能動面を上向きにして、上記半導体素子を配線基板上の電極にダイボンド材等で接合して接合体を形成し、さらに能動面上の端子と配線基板上の電極をワイヤボンディング等で電気的に接続する構成がとられている。上記ダイボンド材としては、実装性、電気伝導性、熱伝導性等の観点から主にはんだが用いられる。
一方弾性表面波(SAW:Surface Acoustic Wave)デバイス等の周波数特性を要するものでは、接合体によるストレスが性能に影響するため、導電性フィラーと樹脂を含有する導電性接着剤を用いて接合する方法がとられている。樹脂を含有する導電性接着剤は応力緩和に優れる反面、樹脂を介して熱伝導および電気経路が形成されるため、電気伝導性、熱伝導性がはんだダイボンド材に比し劣る。
これらの問題を解決するために、導電性フィラーをナノ粒子とし、導電性フィラー同士を金属接合させ、電気伝導性、熱伝導性を向上させる方法が検討されている(例えば特許文献1)。また、発泡金属板を挟持させて応力を緩和する方法も検討されている(例えば特許文献2)。
特開2005−12154号公報 特開2006−352080号公報
しかしながら、環境への配慮からはんだ中に鉛を含まないことが好ましい。また次世代パワーデバイスとして期待されているワイドギャップ半導体の特徴のひとつである高温動作に対応するには、耐熱性が高く、電気伝導性および熱伝導性に優れるとともに、熱ひずみや熱疲労に対する高い耐性が要求される。
しかし、鉛フリーはんだで融点300℃以上を達成することは難しい。上記導電性フィラーをナノ粒子とし、導電性フィラー同士を金属接合させる方法では、ナノ粒子は融着して非常に緻密な薄膜となるため応力緩和特性が期待できない。また発泡体で緩衝性を付与しても接合性低下や電気伝導性、熱伝導性を確保できない問題があった。
この発明は、上述のような問題点を解決して、接合性、電気伝導性、熱伝導性が良好で、かつ熱応力を緩和できる信頼性の高い半導体装置の接合体を形成できる導電性接着剤およびこれを用いた半導体装置の製造方法、並びに半導体装置を提供することを目的とする。
本発明に係る第1の導電性接着剤は、平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛、これらの化合物もしくは合金の少なくともいずれかを含む複数の固体導電性粒子と、前記固体導電性粒子と金属接合されず、かつ前記固体導電性粒子より潤滑性の高い固体潤滑性粒子と、水または有機溶剤とを備えたものである。
本発明に係る第1の半導体装置は、配線基板と、前記配線基板に具備された電極と、前記電極と半導体素子とを電気的に接続する接合体を有し、前記接合体は、平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛の少なくともいずれかを含み、互いに金属接合された複数の固体導電性粒子と、前記固体導電性粒子と金属接合されない固体潤滑性粒子とを備えるものである。
本発明によれば、接合性、電気伝導性、熱伝導性が良好で、かつ熱応力を緩和できる信頼性の高い半導体装置の接合体を形成できる。
本発明の実施の形態1に係る導電性接着剤の概略図である。 本発明の実施の形態2に係る導電性接着剤の概略図である。 本発明の実施の形態3に係る半導体装置の概略図である。 本発明の実施の形態3に係る接合体を形成する工程を模式的に示す概略図である。 本発明の実施の形態3に係る半導体装置の概略図である。 本発明の実施の形態4に係る接合体を形成する工程を模式的に示す概略図である。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1に係る導電性接着剤のイメージを示す概略図である。図1において、1は固体導電性粒子、2は固体潤滑性粒子、3は有機溶剤である。ここで固体導電性粒子1は、平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛、これらの化合物もしくは合金の少なくともいずれかを含む。
また固体潤滑性粒子2は潤滑性を有する固体粒子であって、せん断強さが小さく過大な力に対して優先的に変形することで、系全体としての応力を緩和する効果が期待できる。例えば、分子間凝集力が小さく摩擦係数を小さくできる四フッ化エチレン(PTFE)等のフッ素樹脂、ポリイミド、高密度ポリエチレン等のオレフィン系樹脂、シリコーン樹脂、また、層間の結合力が弱くせん断変形し易いタルク、黒鉛、さらに層面内の強固な結合に比べて層間の結合が非常に弱いため、層間が滑ることで潤滑性を発揮できるタルク、黒鉛、窒化ホウ素、二硫化モリブデン、二硫化タングステン、フッ化黒鉛を用いることができる。
固体導電性粒子1と固体潤滑性粒子2とは、いずれか低い方の融点以下で互いに金属接合せず、かつ固体導電性粒子1より固体潤滑性粒子2の潤滑性が高くなるように選定すればよい。
本実施の形態による導電性接着剤は、融点が高く、かつ複数の固体導電性粒子1を金属接合させ、金属結合による電気伝導および熱伝導を確保でき、かつ前記複数の固体導電性粒子1の隙間を固体潤滑性粒子2で埋めることができるため、熱応力を緩和して剥離、クラック等の発生を抑制できる接合体を形成できる。また有機溶剤3により、粘度や分散性を制御できる。
ここで、固体導電性粒子1の融点以下の温度で金属接合させて接合体を形成するためには、固体導電性粒子1は微粒子化し、比表面積を大きくすることが好ましいため平均粒径を0.1〜100μm、程度とする。平均粒径0.5〜20μmであればさらに好ましい。
固体導電性粒子1は球状粒子を用いると粘性および流動性制御しやすい点で好ましい。断面形状が楕円、多角形、星形、中空の対称形、針状、フレーク状のものを用いてもよい。複数の球状粒子等が集合した凝集体を用いてもよい。
有機溶剤3は、粘度調整と固体導電性粒子1の表面活性を保持できるアルコール類、エステル類、ケトン類、エーテル類、芳香族炭化水素類を用いることができる。水を用いてもよい。接合体を形成するため、揮発除去することが好ましく、90〜180℃に沸点を持つものがよい。
有機溶剤3は、固体導電性粒子1及び固体潤滑性粒子2を溶かさず、固体導電性粒子1の表面活性を失活させないものを用いる必要があるが、固体導電性粒子1同士を金属接合させる加熱工程において、変形、融解、分解消失してもよい。
実施の形態2.
図2は本発明の実施の形態2に係る導電性接着剤のイメージを示す概略図である。図2において、4は被覆層である。ここで被覆層4は、固体導電性粒子1より融点の低い金属で形成され、固体導電性粒子1の表面に0.1〜10μm程度の厚さで設けられたものである。材料としては、例えばはんだを用いることができる。被覆層4を設けることで、被覆層4の融点以上、固体導電性粒子1の融点以下の比較的低い温度に加熱することで固体導電性粒子同士を金属接合させることができる。
また被覆層4に、例えば、錫等の固体導電性粒子1より柔らかい軟金属を設ければ、固体導電性粒子同士が接触する際に被覆層4が塑性変形するが、このとき被覆層4の酸化膜が破れて現れた新生面間が接合しうるため、加圧によって固体導電性粒子同士を金属接合できる効果がある。
実施の形態3.
図3は本発明の実施の形態3に係る半導体装置の例を示す断面図である。本実施の形態に係る半導体装置は、例えば半導体素子5の能動面を上向きにして、配線基板となる絶縁層6上の電極71に例えば実施の形態1に示す導電性接着剤で接合体8を形成し、さらに能動面上の端子と絶縁層6上の電極72をワイヤボンディング9等で電気的に接続するパワー半導体装置の構成がとられている。また半導体素子5の動作等により発生した熱は例えば銅製のヒートシンク10により逃がされる。
図4は接合体8を形成する工程を模式的に示す概略図である。まず電極71上に例えば実施の形態1に示した導電性接着剤を塗布する(図4(a))。次に固体導電性粒子1、固体潤滑性粒子2いずれかの低い方の融点以下の温度下で、半導体素子5の裏面を、上記導電性接着剤上に押し付ける。さらに加圧した状態で、複数の固体導電性粒子1同士を金属接合させて複数の固体導電性粒子1の接点が金属結合を形成するまで所定時間熱処理する。またこの処理において、導電性接着剤中の有機溶剤3を揮発させるとともに、複数の接点を有する複数の固体導電性粒子1の隙間を埋めるように固体潤滑性粒子2を具備する接合体8を形成する(図4(b))。
ここで、固体導電性粒子1にAg(融点962℃)を使用した場合は、例えば280℃程度の温度で、40MPa程度の圧力で1分程度加圧、あるいは200℃程度の温度で1時間保持すればよい。
上記工程により、接合体8は、複数の固体導電性粒子1同士が金属結合し、高い電気伝導度を確保できるとともに、熱抵抗が低い熱伝導パスを形成するため高い熱伝導率を確保できる。さらに、固体潤滑性粒子2は固体導電性粒子1同士の結合には関与せず、固体導電性粒子1の三次元積層構造中に不連続な間隙を形成する働きをするため、緩衝性を確保することがき、応力緩和に優れる接合体8を形成することができる。
なお、上記加熱温度、加圧圧力は、選択される固体導電性粒子1、固体潤滑性粒子2により適宜選択できる。
さらに、接合体8の厚みは、電気伝導性、熱伝導性、応力緩和性のいずれにも影響し、特に熱伝導性と応力緩和性とはトレードオフの関係にある。このため、好適な接合体8の厚さは数〜数百μmの範囲で選択される。平均粒径0.1〜10μm程度の固体導電性粒子1を用いることにより、接合体8厚さの制御が可能となる。
また2種以上の固体導電性粒子1を上記工程で金属接合することにより、接点の合金化も可能となる。
このように製造された半導体装置は、特に接合体8において、接合性、電気伝導性、熱伝導性が良好で、かつ熱応力を緩和できるため、高温下においても故障を生じることがなく、信頼性を向上できる。
なお、本実施の形態では、絶縁層6上の電極71に接合体8を形成する例について説明したが、図5に示すようにリードフレーム11を配線基板として用い、これに接合体8を形成してもよい。実施の形態1に係る導電性接着剤を用いる例を示したが、実施の形態2に係る導電性接着剤を用いいてもよい。
実施の形態4.
図6は、本発明の実施の形態4に係る接合体8を形成する工程を模式的に示す概略図である。まず電極71上に例えばAgめっきにより1μm程度の金属層12を形成する。次いで金属層12上に例えば実施の形態1に示した導電性接着剤8を塗布する(図6(a))。次に固体導電性粒子1、固体潤滑性粒子2いずれかの低い方の融点以下の温度下で、予め裏面に金属層13としてNi(7μm厚)/Au(0.02μm厚)めっきを施した半導体素子5を、上記導電性接着剤上に押し付ける。さらに加圧した状態で、複数の固体導電性粒子1同士を金属接合させて複数の固体導電性粒子1の接点が金属結合を形成するまで所定時間熱処理する。またこの処理において、導電性接着剤中の有機溶剤3を揮発させるとともに、複数の接点を有する複数の固体導電性粒子1の隙間を埋めるように固体潤滑性粒子2を具備する接合体8を形成する(図6(b))。
上記工程により、接合体8は、複数の固体導電性粒子1同士が金属結合し、高い電気伝導度を確保できるとともに、熱抵抗が低い熱伝導パスを形成するため高い熱伝導率を確保できる。さらに、固体潤滑性粒子2は固体導電性粒子1同士の結合には関与せず、固体導電性粒子1の三次元積層構造中に不連続な間隙を形成する働きをするため、緩衝性を確保することがき、応力緩和に優れる接合体8を形成することができる。
また、半導体素子5の裏面に設けた金属層13と接合体8との界面も金属接合され、金属結合が生じることにより電気伝導率および熱伝導率の界面抵抗を下げると同時に、接着界面強度を高めることができる。電極71上に金属層12を設けることにより、接着界面強度を高めることができる。金属層12、金属層13はいずれか一方のみ設けても良い。
金属層12、13は、最表層が固体導電性粒子1と金属結合しうる金、銀、銅、白金、パラジウム、ニッケル、コバルト、モリブデン、タングステン、チタン、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛やこれらの化合物を単層または多層に成膜すればよい。成膜方法は、電解あるいは無電解めっき、スパッタ、蒸着、CVDを用いればよい。上記金属の微粒子を分散したスラリーを塗布してもよい。
このようにして例えば図3、図5に示された半導体装置が製造できる。これらの半導体装置は、特に接合体8において優れた電気伝導性、熱伝導性、応力緩和性を有するため、高温動作環境に対応でき、熱ストレスに優れる。
上記実施の形態1〜3において、半導体素子5にシリコン半導体素子を用いる例を示したが、SiC、GaN、ダイヤモンド半導体などのワイドギャップ半導体素子を用いてもよい。これらを用いたパワー半導体装置は、高温で使用されるので、さらに効果が顕著となる。
以下、本発明による具体的実施例について説明する。
実施例1.
固体導電性粒子1として平均粒径0.3μmのAg粒子を、固体潤滑性粒子2として、平均粒径3μmの黒鉛(SECカーボン(株)製の高純度人造黒鉛粉SECファインパウダーSGP−3(Ag粒子に対して1.5質量%)を、有機溶剤3としてエチレングリコールを用い、200Pa・sに粘度調整したものを真空混練して、導電性接着剤を作製した。上記実施の形態3に準じ循環式オーブンで180℃2時間加熱して、接合体8を作製した。
実施例2.
固体導電性粒子1として平均粒径0.3μmのAg粒子を、固体潤滑性粒子2として、平均粒径3μm、Tg270℃の熱可塑性樹脂フィラーSABIC Innovative Plastics社製EXTEM1005(Ag粒子に対して1.5質量%)を、有機溶剤3としてエチレングリコールを用い、200Pa・sに粘度調整したものを真空混練して、導電性接着剤を作製した。上記実施の形態3に準じ循環式オーブンで180℃2時間加熱して、接合体8を作製した。
実施例3.
固体導電性粒子1として平均粒径0.3μmのAg粒子を、固体潤滑性粒子2として平均粒径2μmのシリコーン樹脂フィラー東レダウコーニング(株)製のトレフィルE−606(Ag粒子に対して1.5質量%)を、有機溶剤3としてエチレングリコールを用い、200Pa・sに粘度調整したものを真空混練して、導電性接着剤を作製した。上記実施の形態3に準じ循環式オーブンで180℃2時間加熱して、接合体8を作製した。
比較例1.
比較例1として、ニホンハンダ(株)製導電性接着剤MAX101(球状銀フィラー約92質量%、トリエチレングリコールジメチルエーテル約8%含む)を、上記実施の形態3に準じ循環式オーブンで180℃2時間加熱して、接合体8を作製した。
比較例2.
比較例2として、ニホンハンダ(株)製導電性接着剤MAX101(球状銀フィラー約92質量%、トリエチレングリコールジメチルエーテル約8%含む)100に対して、ナガセケムテックス社製ビスフェノールA型エポキシ樹脂CY230を10質量%と脂肪族ポリアミンHY951を1質量%添加した導電性接着剤を作製し、上記実施の形態3に準じ循環式オーブンで180℃2時間加熱して、接合体8を作製した。
(評価試験)
粒度分布は堀場製作所(株)製レーザ式粒度分布計LA−910を用いて測定した。粘度は東機産業(株)コーンプレート型粘度計RE115を用い、コーンスピンドル3°、径14mm、回転数5rpmで行った。
また、上記実施例1〜3、および比較例1、2と同じ条件で、5×25×0.2mmの硬化物試験片を作製し、アイコーエンジニアリング(株)社製RX−10を用いて引張り強度試験を行った。
さらに、10×10×1mmの銅板の片面にNi(3μm厚)/Au(0.02μm厚)めっきした基材に上記実施例1〜3、および比較例1、2の導電性接着剤をディスペンサーで供給し、裏面にAu(0.05μm厚)めっきしたものとめっきをしていない7×7×0.4mmのシリコンチップをマウントし、循環式オーブン中で180℃×2hr加熱してサンプルを作製した。これらのサンプルに対して−55℃⇔150℃のヒートサイクルを1000サイクル試験し、試験前後の接合部について超音波画像装置(SAT)による剥離観察を行った。SAT観察は、日立建機ファインテック(株)製mi−scopei120hyperで25MHzの音響レンズを用いて行った。
表1に、上記評価試験において、引張り試験から得られた弾性率、破断伸びを示す。
Figure 2010267579
表1より、本発明に係る実施例1〜3の弾性率は、比較例1に比べて、弾性率が低く、破断伸びが向上していることがわかる。弾性率が低ければ、熱応力が低減でき、破断伸びが大きければ、熱ひずみに対する耐性が増す。したがって、本発明に係る導電性接着剤は特に応力緩和特性優れていることがわかる。
表2に、上記評価試験において、ヒートサイクル後の接合体8の観察結果を示す。チップ面積を100としたときのクラック発生面積をクラック率として評価した.
Figure 2010267579
◎:クラック率10%以下
○:クラック率10〜20%以下
△:クラック率20〜50%以下
×:クラック率50%超
表2より、本発明に係る実施例1〜3の導電性接着剤を用いた場合、比較例1、2に比べてヒートサイクル特性が著しく向上することがわかる。
したがって、金属層12、13を設けたことで、接合信頼性が著しく向上することがわかる。
1 固体導電性粒子、2 固体潤滑性粒子、3 有機溶剤、4 被覆層、5 半導体素子、6 絶縁層、71,72 電極、8 接合体、9 ワイヤボンディング、10 ヒートシンク、11 リードフレーム、12、13 金属層

Claims (7)

  1. 平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛、これらの化合物もしくは合金の少なくともいずれかを含む複数の固体導電性粒子と、
    前記固体導電性粒子と金属接合されず、かつ前記固体導電性粒子より潤滑性の高い固体潤滑性粒子と、
    水または有機溶剤と
    を備えた導電性接着剤。
  2. 固体潤滑性粒子は、四フッ化エチレン、ポリイミド、高密度ポリエチレン、タルク、グラファイト、二硫化モリブデン、二硫化タングステン、黒鉛、フッ化黒鉛、窒化ホウ素、銅、ニッケル、鉛、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛の少なくともいずれかであることを特徴とする請求項1に記載の導電性接着剤。
  3. 固体導電性粒子は、被覆層を有することを特徴とする請求項1に記載の導電性接着剤。
  4. 配線基板と、
    前記配線基板に具備された電極と、
    前記電極と半導体素子とを電気的に接続する接合体を有し、
    前記接合体は、平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛の少なくともいずれかを含み、互いに金属接合された複数の固体導電性粒子と、
    前記固体導電性粒子と金属接合されない固体潤滑性粒子と
    を備える半導体装置。
  5. 接合体と、電極および半導体素子の少なくともいずれかとの間には、金属層を備えることを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
  6. 金属層は、金、銀、銅、白金、パラジウム、ニッケル、コバルト、モリブデン、タングステン、チタン、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛の少なくともいずれかの金属、または上記金属の化合物を含む単層または多層であることを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
  7. 配線基板と、前記配線基板に具備された電極と、前記電極と半導体素子とを電気的に接続する接合体を有する半導体装置の製造方法であって、
    前記電極上に、
    平均粒径0.1〜100μmの金、銀、銅、白金、パラジウム、ロジウム、ニッケル、鉄、コバルト、錫、インジウム、アルミニウム、亜鉛、これらの化合物もしくは合金の少なくともいずれかを含む複数の固体導電性粒子と、前記固体導電性粒子と金属接合されず、かつ前記固体導電性粒子より潤滑性の高い固体潤滑性粒子と、水または有機溶剤とを備えた導電性接着剤を塗布する工程と、
    前記固体導電性粒子の融点以下の温度下で、前記半導体素子の裏面を、前記導電性接着剤上に押し付ける工程と、
    加圧した状態で複数の前記固体導電性粒子同士を金属接合させて複数の前記固体導電性粒子の接点が金属結合を形成するまで所定時間熱処理する工程と、
    前記導電性接着剤中の前記水または前記有機溶剤を揮発させるとともに前記複数の固体導電性粒子の隙間を埋めるように前記固体潤滑性粒子を配置させて前記接合体を形成する工程と
    を備えた半導体装置の製造方法。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012253088A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体装置
US20130087605A1 (en) * 2011-10-06 2013-04-11 Fujitsu Limited Conductive bonding material, conductor bonding method, and semiconductor device production method
JP2013206765A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk ダイボンド用導電性ペースト及び該導電性ペーストによるダイボンド方法
JP2016536461A (ja) * 2013-08-29 2016-11-24 アルファ・メタルズ・インコーポレイテッドAlpha Metals, Inc. 電気部品および機械部品を接合するための複合物および複層銀膜
CN108176845A (zh) * 2017-12-06 2018-06-19 常州凯奥机电科技有限公司 一种耐磨高强型自润滑电接触材料的制备方法
JP2018116995A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 三菱マテリアル株式会社 パワーモジュールの製造方法
US10043775B2 (en) 2014-02-10 2018-08-07 Mitsubishi Electric Corporation Bonding material, bonding method and semiconductor device for electric power
CN110752194A (zh) * 2018-07-23 2020-02-04 美科米尚技术有限公司 微型粘合结构和其形成方法
CN110752051A (zh) * 2019-10-28 2020-02-04 深圳第三代半导体研究院 一种铟覆金刚石掺杂纳米银烧结膏的制备方法及烧结方法
KR20200093678A (ko) 2018-01-23 2020-08-05 다나카 기킨조쿠 고교 가부시키가이샤 도전성 접착제 조성물, 도전성 접착제 경화물 및 전자 기기

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012253088A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体装置
US20130087605A1 (en) * 2011-10-06 2013-04-11 Fujitsu Limited Conductive bonding material, conductor bonding method, and semiconductor device production method
JP2013206765A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk ダイボンド用導電性ペースト及び該導電性ペーストによるダイボンド方法
JP2016536461A (ja) * 2013-08-29 2016-11-24 アルファ・メタルズ・インコーポレイテッドAlpha Metals, Inc. 電気部品および機械部品を接合するための複合物および複層銀膜
US10043775B2 (en) 2014-02-10 2018-08-07 Mitsubishi Electric Corporation Bonding material, bonding method and semiconductor device for electric power
DE112014006349B4 (de) 2014-02-10 2024-10-10 Mitsubishi Electric Corporation Bond-Material, Bond-Verfahren und Halbleitervorrichtung für elektrische Energie
JP2018116995A (ja) * 2017-01-17 2018-07-26 三菱マテリアル株式会社 パワーモジュールの製造方法
CN108176845A (zh) * 2017-12-06 2018-06-19 常州凯奥机电科技有限公司 一种耐磨高强型自润滑电接触材料的制备方法
KR20200093678A (ko) 2018-01-23 2020-08-05 다나카 기킨조쿠 고교 가부시키가이샤 도전성 접착제 조성물, 도전성 접착제 경화물 및 전자 기기
CN110752194A (zh) * 2018-07-23 2020-02-04 美科米尚技术有限公司 微型粘合结构和其形成方法
CN110752194B (zh) * 2018-07-23 2023-11-28 美科米尚技术有限公司 微型粘合结构和其形成方法
CN110752051A (zh) * 2019-10-28 2020-02-04 深圳第三代半导体研究院 一种铟覆金刚石掺杂纳米银烧结膏的制备方法及烧结方法

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