JP2010261914A

JP2010261914A - 電機子検査方法及び検査装置

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Publication number: JP2010261914A
Application number: JP2009114945A
Authority: JP
Inventors: Shinji Ikeda; 真二池田
Original assignee: Asmo Co Ltd
Current assignee: Asmo Co Ltd
Priority date: 2009-05-11
Filing date: 2009-05-11
Publication date: 2010-11-18
Anticipated expiration: 2029-05-11
Also published as: JP5204033B2

Abstract

【課題】電機子のコイルにおける短絡の有無をより確実に検査できる電機子検査方法を提供する。
【解決手段】Ｕ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４の内の２つのコイルの端子間から得られるインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両方を測定してその測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無が判断される。
【選択図】図３

Description

本発明は、電機子の巻線においてレアーショート等の短絡が発生しているか否かを検査する電機子検査方法及び検査装置に関するものである。

従来、回転電機の電機子においては、電機子コアのティース部に巻回されたコイル（例えばＵ相、Ｖ相及びＷ相の３相の各コイル）の端子間に検査パルスを印加して、端子間から得られる出力波形に基づいてコイルの短絡の有無を判定することが知られている（例えば特許文献１参照）。

特許文献１の電機子検査方法では、端子間から得られる出力波形のばらつき度合い（出力波形の違い）に応じて短絡の有無を判定している。

特開２００６−３４３２３５号公報

ところで、上記のような電機子検査方法では、短絡していない電機子（コイル）におけるばらつきの度合い（範囲）が小さい場合は短絡の有無を容易に検査することができている。

しかしながら、ばらつきの度合いが大きい電機子においては、上記のような電機子検査方法を適用した場合、コアの磁気特性のばらつきも大きくなり、端子間から得られる出力波形にばらつきが生じることとなる。特に回転電機としてのブラシレスモータの電機子コアが分割コアを一体化して構成される場合、分割コアの組合せによっては分割コア間の隙間量や歪み量等がばらつきやすい。この場合、コイルが短絡した電機子とそうでない電機子との差が小さくなり、コイルが短絡していない電機子であっても不良品として判断されかねず、これらの問題を解決する電機子検査方法の提案が望まれている。

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、その目的は、電機子のコイルにおける短絡の有無をより確実に検査できる電機子検査方法及びその検査装置を提供することにある。

上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、電機子コアに設けられる複数のティース部のそれぞれにコイルを巻回してなる回転電機の電機子における前記コイルの短絡の有無を判定する電機子検査方法であって、前記コイルの端子間から得られるインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の少なくとも一方を測定してその測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することをその要旨とする。

この発明では、コイルの端子間から得られるインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の少なくとも一方を測定してその測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無が判断される。ここで、レアーショートについて説明すると、絶縁材料からなる被覆部材にて被覆された金属線（例えば銅線等）の被覆部材が破れて金属線同士が接触した状態のことであり、レアーショートが発生したコイルにおいては電気的に閉ループが形成されることとなる。そのため、この部分に電流を流すと磁束が損失（減少）することとなり、インダクタンス成分が大幅に低下、そしてキャパシタンス成分が大幅に上昇することとなる。一方、例えば電機子を所謂分割コアタイプにした場合においては、コア間の隙間量や歪み量等のばらつきによってインダクタンス成分及びキャパシタンス成分は変化するものの、その変化量はレアーショートの場合と比較して十分に小さい（図４参照）ため、既設の合格領域を逸脱するか否かによって短絡の有無を判断することが容易となる。

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の電機子検査方法において、前記コイルの端子間からインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両方を計測し、その計測値が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することをその要旨とする。

この発明では、コイルの端子間からインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両方が計測され、その計測値が合格領域にあるか否かで短絡の有無が判断される。このように、両成分を確実に計測することで、両成分の計測値を利用してコイルの短絡の有無をより精度よく検査することが可能となる。

請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の電機子検査方法において、前記コイルの端子間から前記インダクタンス成分のみを測定するとともに、その測定したインダクタンス成分の測定値を基にしてインダクタンスとキャパシタンスとの相関関係からキャパシタンス成分を算出し、測定したインダクタンス成分及び算出したキャパシタンス成分が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することをその要旨とする。

この発明では、インダクタンス成分のみが測定され、インダクタンス成分とキャパシタンス成分との非常に強い相関関係（相関係数ｒ＝０．９９）からキャパシタンス成分が算出され、そして両成分が合格領域にあるか否かで短絡の有無が判断される。このような検査方法を用いることで、両成分を測定する場合と比較して測定誤差を小さくすることができるため、測定誤差による検査精度の低下を抑えることができる。

請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の電機子検査方法において、前記コイルの端子間から前記キャパシタンス成分のみを測定するとともに、その測定したキャパシタンス成分の測定値を基にしてインダクタンスとキャパシタンスとの相関関係からインダクタンス成分を算出し、測定したキャパシタンス成分及び算出したインダクタンス成分が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することをその要旨とする。

この発明では、キャパシタンス成分のみが測定され、インダクタンス成分とキャパシタンス成分との非常に強い相関関係（相関係数ｒ＝０．９９）からインダクタンス成分が算出され、そして両成分が合格領域にあるか否かで短絡の有無が判断される。このような検査方法を用いることで、両成分を測定する場合と比較して測定誤差を小さくすることができるため、測定誤差による検査精度の低下を抑えることができる。

請求項５に記載の発明は、請求項１〜４のいずれか一項に記載の電機子検査方法において、前記電機子コアは、前記ティース部毎に周方向分割された分割コアの前記ティース部に導線を巻回して前記コイルが形成されるとともに、環状に配置された前記分割コア同士の端部が接合されて構成されるものであり、前記コイルの端子間にて測定された前記測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することをその要旨とする。

この発明では、電機子コアは、ティース部毎に周方向分割された分割コアのティース部に導線を巻回してコイルが形成されるとともに、環状に配置された分割コア同士の端部が接合されて構成される。このような構成では分割コア同士の端部間を接合する際に分割コア間の隙間量がばらつく可能性があるが、このような場合であっても、その変化量はレアーショートの場合と比較して十分に小さい（図４参照）ため、既設の合格領域を逸脱するか否かによって短絡の有無を判断することが容易となる。

請求項６に記載の発明は、請求項１〜５のいずれか一項に記載の電機子検査方法において、前記電機子コアは、ティース部毎に周方向分割された分割コアがハウジングの内周面に圧接固定されて構成されるものであり、前記コイルの端子間にて測定された前記測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することをその要旨とする。

この発明では、電機子コアは、ティース部毎に周方向分割された分割コアがハウジングの内周面に圧接固定されて構成される。このような構成ではハウジングの内周面に圧接（例えば焼き嵌めなど）される際に、分割コアが歪む可能性があるが、このような場合であっても、その変化量はレアーショートの場合と比較して十分に小さい（図４参照）ため、既設の合格領域を逸脱するか否かによって短絡の有無を判断することが容易となる。

請求項７に記載の発明は、請求項１〜６のいずれか一項に記載の電機子検査方法を用いて電機子のコイルの短絡の有無を判定する判定手段を備えた電機子検査装置である。
この発明では、請求項１〜６のいずれか一項に記載の電機子検査方法を用いて電機子のコイルの短絡の有無を判定する判定手段を備えているため、請求項１〜６のいずれか一項に記載の効果と同様の効果を奏することができる。

従って、上記記載の発明によれば、電機子のコイルにおける短絡の有無をより確実に検査できる電機子検査方法及びその検査装置を提供することができる。

（ａ）はブラシレスモータの側面図、（ｂ）は図１（ａ）におけるＡ−Ａ線断面図。（ａ）はステータの側面図、（ｂ）は図２（ａ）におけるＢ−Ｂ線断面図。コイルと電機子検査装置との結線図。インダクタンス及びキャパシタンスの相関図。

以下、本発明を具体化した一実施形態を図面に従って説明する。
図１（ａ）及び図１（ｂ）に示す回転電機としてのブラシレスモータ１のハウジング２は、有底円筒状に構成され、その内周面には円筒状の電機子としてのステータ３が焼き嵌め等の圧接によって固定される。そして、ステータ３の径方向内側には、ロータ４が回転自在に配置されている。また、ステータ３におけるハウジング２の開口部側の端部には、絶縁性を有する例えば樹脂材料よりなるホルダ５が固定されるとともに、このホルダ５は、ステータ３の軸線方向一端側を覆っている。

図２（ａ）に示すように、前記ステータ３を構成する電機子コアとしてのステータコア６は、所定角度（図において３０°）ごとに中心に向かって放射状に延びる複数のティース部７（本実施形態では１２本）を有する分割コア６ａの外周側の端部を連結部材８にて周方向に連結してなり、円筒状をなしている。そして、各ティース部７には、各ティース部７の軸方向の両端面及び周方向の両端面を被覆する絶縁性のボビン９が軸方向の両側から装着されるとともに、ボビン９の上から導線１０が集中巻きにて複数回巻回されることによりコイル１１がそれぞれ巻装されている。導線１０は、導電性の金属材料（本実施形態では銅）よりなる金属線（例えば銅線等）の周囲を絶縁性の樹脂材料よりなる被覆部材にて被覆した構成である。尚、各コイル１１は、ブラシレスモータ１に供給される駆動電源としての３相の励磁電流（Ｕ相、Ｖ相、Ｗ相）に応じて、Ｕ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４とする。

Ｕ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４は、それぞれ所定のティース部７に巻装されるとともに、他の相のコイルを跨いで離間した（隣り合わない）ティース部７に連続して１本の導線１０にて巻装されている。本実施形態では、Ｕ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４は、それぞれ所定の隣り合う２つのティース部７に巻回されるとともに、他の相に対応したティース部７を跨いで１８０°反対側の２つのティース部７に巻装される。

具体的には、Ｕ相コイル１２は始端部１２ｓから終端部１２ｅまでそれぞれティース部７に巻装される。そして、図中上側に配置された２箇所のＵ相コイル１３の終端部１２ｅと図中下側に配置された２箇所のＵ相コイル１２の始端部１２ｓとの間には、渡り線１２ｗが渡される（図２（ｂ）参照）。同様に、Ｖ相コイル１３は始端部１３ｓから終端部１３ｅまでそれぞれティース部７に巻装され、終端部１３ｅ及び始端部１３ｓとの間には、渡り線１３ｗが渡される。また同様に、Ｗ相コイル１４は始端部１４ｓから終端部１４ｅまでそれぞれティース部７に巻装され、終端部１４ｅ及び始端部１４ｓとの間には、渡り線１４ｗが渡される。

各始端部１２ｓ〜１４ｓ、終端部１２ｅ〜１４ｅ及び渡り線１２ｗ〜１４ｗは、ステータ３の軸方向の一側（図２（ｂ）において左側）に配置される。尚、各始端部１２ｓ〜１４ｓ及び終端部１２ｅ〜１４ｅは、各コイル１１（Ｕ相コイル）の巻き始めと巻き終わりの端部である接続端部１１ａに相当するとともに、各接続端部１１ａは、導線１０を覆う被覆部材が除去されて金属線が露出している。各始端部１２ｓ〜１４ｓ及び終端部１２ｅ〜１４ｅ（接続端部１１ａ）は、ホルダ５のステータ３と反対側の面まで引き出されて（図１（ａ）参照）、ホルダ５におけるステータ３と反対側の面に配置された複数（本実施形態では４個）のターミナル１５にそれぞれ結線される。

ターミナル１５は、Ｕ相ターミナル１５ａ、Ｖ相ターミナル１５ｂ、Ｗ相ターミナル１５ｃ及び中性点ターミナル１５ｄとで構成されている。Ｕ相ターミナル１５ａには、Ｕ相コイル１２の接続端部１１ａ（例えば渡り線１２ｗが接続されていない２つの始端部１２ｓ）が結線される。そして、Ｖ相ターミナル１５ｂには、Ｖ相コイル１３の接続端部１１ａ（例えば渡り線１３ｗが接続されていない２つの始端部１３ｓ）が結線される。Ｗ相ターミナル１５ｃには、Ｗ相コイル１４の接続端部１１ａ（例えば渡り線１４ｗが接続されていない２つの始端部１４ｓ）が結線される。中性点ターミナル１５ｄには、各相コイル１２〜１４の残りの接続端部１１ａ（渡り線１２ｗ〜１４ｗが接続されていない終端部１２ｅ〜１４ｅ）が結線される。このように中性点ターミナル１５ｄに各相コイル１２〜１４の接続端部１１ａが接続されるスター結線構造となっている。

図１（ｂ）に示すように、前記ロータ４を構成する回転軸２０は、前記ハウジング２の底部中央に設けられた軸受２１にて軸支されている。そして、回転軸２０には、円筒状のロータコア２２が固定されるとともに、このロータコア２２の外周面には所定角度ごとに異なる極性（Ｎ極、Ｓ極）に着磁されたマグネット２３が固着されている。

上記のように構成されたブラシレスモータ１では、図示しない励磁回路からそれぞれ１２０°の位相差を持つＵ相、Ｖ相、Ｗ相の励磁電流がＵ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４に対して供給される。すると、Ｕ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４がそれぞれ励磁されてステータ３に回転磁界が発生し、その回転磁界によりロータ４が回転する。

次に、上記のように構成されたブラシレスモータ１のステータ３におけるコイル１１が短絡しているか否かを検査する検査方法について説明する。
ここで、ステータ３を製造する途中でステータコア６の各ティース部７にコイル１１を巻装する際に、コイル１１の絶縁被覆部材が剥がれる等してレアーショート等の短絡が生じる場合があり、レアーショートが生じたステータ３は不良品として外部への流出を防止する必要がある。そのため、製造されたステータ３は検査装置３０を用いて、レアーショートが生じているか否かが検査される。

検査装置３０は、２つの各コイル１１の端子であるターミナル１５ａ〜１５ｃ（図３ではＶ相コイル１３−Ｗ相コイル１４間）に接続されるＬＣＲメータ３０ａと、このＬＣＲメータ３０ａからの出力信号を得てレアーショート等の短絡が生じているか否か分析する分析装置３０ｂとで構成されている。分析装置３０ｂには、モータ１やステータ３の仕様に合わせてコイル１１が短絡しているか否か判断する指標である合格領域ＸＬ，ＸＣ（図４参照）が設定されている。

ここで、合格領域ＸＬ，ＸＣを設定するにあたり、本発明者は従来の検査方法にてコイル１１が短絡していない良品とコイル１１が短絡している不良品とに分けられたステータを用いてインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を測定した。その結果、図４に示すように、良品と不良品は概ね直線（相関線）ＣＬ上に位置することがわかる。つまり、良品及び不良品においてもインダクタンス成分とキャパシタンス成分とには強い負の相関関係（本実施形態においては相関係数ｒ＝０．９９）が存在することがわかった。更に、良品と不良品とでは、相関線ＣＬ上において、一定以上離間した箇所に位置することが分かり、この事から不良品か否かを判断することが可能となっている。これは、不良品、つまりレアーショートした（絶縁性の樹脂材料よりなる被覆部材が剥がれた状態の）コイル１１の場合では、導線同士が接触してコイル１１内に閉ループができる。そのため、この部分（導線同士接触部分）に電流が流れて磁束損失となることから、良品と比較してインダクタンス成分が大幅に低下するとともにキャパシタンス成分が大幅に上昇することとなる。

つまり、良品と不良品とでは、インダクタンス成分及びキャパシタンス成分が大きく異なり、これらの境界域を合格領域ＸＬ，ＸＣとし、分析装置３０ｂでは、測定結果が合格領域ＸＬ，ＸＣから逸脱するか否かで短絡の有無を判断するようになっている。

上記のように構成された検査装置３０のＬＣＲメータ３０ａは、先ず例えばターミナル１５ｂ，１５ｃに接続され、各ターミナル１５ｂ，１５ｃ間にあるＶ相コイル１３及びＷ相コイル１４間のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を測定する。そして、その測定したインダクタンス成分及びキャパシタンス成分が図４に示すように既設の合格領域ＸＬ，ＸＣにあるか否かでコイル１３，１４の短絡の有無が分析装置３０ｂによって判断される。

次いで、ＬＣＲメータ３０ａは、例えばターミナル１５ａ，１５ｃに接続され、各ターミナル１５ａ，１５ｃ間にあるＵ相コイル１２及びＷ相コイル１４間のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を測定する。そして、その測定したインダクタンス成分及びキャパシタンス成分が図４に示すように合格領域ＸＬ，ＸＣにあるか否かでコイル１２，１４の短絡の有無が分析装置３０ｂによって判断される。

次いで、ＬＣＲメータ３０ａは、例えばターミナル１５ａ，１５ｂに接続され、各ターミナル１５ａ，１５ｂ間にあるＵ相コイル１２及びＷ相コイル１３間のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を測定する。そして、その測定したインダクタンス成分及びキャパシタンス成分が図４に示すように合格領域ＸＬ，ＸＣにあるか否かでコイル１２，１３の短絡の有無が分析装置３０ｂによって判断される。

上記の検査方法によって、コイル１１（各相コイル１２〜１４）のレアーショート等の短絡を精度よく検査することができる。特に、本実施形態ではステータコア６を分割コア６ａ同士の端部を連結部材８にて接合し、僅かに分割コア６ａ間の隙間量にばらつきがあっても、不良品及び良品においてキャパシタンス成分及びインダクタンス成分の差が発生するため、容易に短絡しているか（良品か）否か検査することができる。また、ステータコア６をハウジング２の内周面に焼き嵌めし、僅かに分割コア６ａが歪んだとしても、同様に不良品及び良品においてキャパシタンス成分及びインダクタンス成分の差が発生するため、容易に短絡しているか（良品か）否か検査することができる。また、インダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両方を確実に測定し、その測定値を利用してコイル１１の短絡の有無をより精度よく検査することが可能となる。また、各ターミナル１５ａ〜１５ｃの全パターンの検査を行うことで各相コイル１２〜１４の内でどの相のコイル１２〜１４が短絡しているのか判断することも可能となる。

次に、本実施の形態の特徴的な作用効果を記載する。
（１）コイル１１（Ｕ相コイル１２、Ｖ相コイル１３、Ｗ相コイル１４）の端子間から得られるインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両方を測定してその測定値が既設の合格領域ＸＣ，ＸＬにあるか否かで短絡の有無が判断される。ここで、レアーショートについて説明すると、絶縁材料からなる被覆部材にて被覆された金属線（例えば銅線等）の被覆部材が破れて金属線同士が接触した状態のことであり、レアーショートが発生したコイルにおいては電気的に閉ループが形成されることとなる。そのため、この部分に電流を流すと磁束が損失（減少）することとなり、インダクタンス成分が大幅に低下、そしてキャパシタンス成分が大幅に上昇することとなる。一方、例えばステータ３（ステータコア６）を所謂分割コア６ａタイプにした場合においては、コア６ａ間の隙間量等のばらつきによってインダクタンス成分及びキャパシタンス成分は変化するものの、その変化量はレアーショートの場合と比較して十分に小さい（図４参照）ため、既設の合格領域を逸脱するか否かによって短絡の有無を判断することが容易となる。また、インダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両成分を確実に計測することで、両成分の計測値を利用してコイルの短絡の有無をより精度よく検査することが可能となる。

（２）ステータコア６は、ティース部７毎に周方向分割された分割コア６ａがハウジング２の内周面に圧接固定されて構成される。このような構成ではハウジング２の内周面に圧接（例えば焼き嵌めなど）される際に、分割コア６ａが歪む可能性があるが、このような場合であっても、その変化量はレアーショートの場合と比較して十分に小さい（図４参照）ため、既設の合格領域を逸脱するか否かによって短絡の有無を判断することが容易となる。

尚、本発明の実施の形態は、以下のように変更してもよい。
・上記実施形態では、ＬＣＲメータ３０ａにてコイル１１間のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分を計測し、それら計測値が共に既設の合格領域ＸＬ，ＸＣにあるか否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法を用いたが、これに限らない。例えば、インダクタンス成分のみを計測し、計測したインダクタンス成分が合格領域か否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法を用いてもよい。また、キャパシタンス成分のみを計測し、計測したキャパシタンス成分が合格領域か否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法を用いてもよい。

更に、インダクタンス成分のみを計測した後に、相関線ＣＬ（図４参照）を基にキャパシタンス成分を算出し、計測したインダクタンス成分及び算出したキャパシタンス成分が共に合格領域か否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法を用いてもよい。また、キャパシタンス成分のみを計測した後に、相関線ＣＬ（図４参照）を基にインダクタンス成分を算出し、計測したキャパシタンス成分及び算出したインダクタンス成分が共に合格領域か否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法を用いてもよい。このように、両成分のいずれか一方のみを計測して、相関線ＣＬを基に他方の成分を算出することによって、両成分を測定する場合と比較して測定誤差を小さくすることができるため、測定誤差による検査精度の低下を抑えることができる。

・上記実施形態では、分割コア６ａをハウジング２の内周面に焼き嵌め等によって圧接固定してステータコア６を構成したが、これ以外の固定方法にてステータコア６を構成してもよい。

・上記実施形態では、ＬＣＲメータ３０ａ及び分析装置３０ｂにて電機子検査装置を構成したが、これに限らず、例えばＬＣメータ及び分析装置３０ｂにて電機子検査装置を構成してもよい。要は、インダクタンス成分及びキャパシタンス成分のいずれか一方を測定する装置と分析装置にて構成すればよい。

・上記実施形態では、１つのステータ３に対し各コイル１２〜１４（各ターミナル１５ａ〜１５ｂ）間の３度の測定及び分析を行ったが、少なくとも２度計測及び分析を行えばよい。このような構成とすることで、ステータ３の各コイル１２〜１４が短絡しているか否かを検査でき、ステータ３が良品か不良品か判定することができる。

・上記実施形態では、ステータコア６を周方向分割された分割コア６ａにて構成したが、これに限らない。
・上記実施形態では、ブラシレスモータ１に本発明を適用したが、これに限らず、ブラシ付モータに適用してもよい。

１…回転電機としてのブラシレスモータ、２…ハウジング、３…電機子としてのステータ、６ａ…分割コア、７…ティース部１０…導線、１１…コイル、１２…Ｕ相コイル、１３…Ｖ相コイル、１４…Ｗ相コイル、３０…検査装置、３０ａ…電機子検査装置を構成するＬＣＲメータ、３０ｂ…電機子検査装置及び判定手段としての分析装置、ＸＬ…インダクタンス成分の合格範囲、ＸＣ…キャパシタンス成分の合格範囲。

Claims

電機子コアに設けられる複数のティース部のそれぞれにコイルを巻回してなる回転電機の電機子における前記コイルの短絡の有無を判定する電機子検査方法であって、
前記コイルの端子間から得られるインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の少なくとも一方を測定してその測定値が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法。
請求項１に記載の電機子検査方法において、
前記コイルの端子間からインダクタンス成分及びキャパシタンス成分の両方を計測し、その計測値が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法。
請求項１に記載の電機子検査方法において、
前記コイルの端子間から前記インダクタンス成分のみを測定するとともに、その測定したインダクタンス成分の測定値を基にしてインダクタンスとキャパシタンスとの相関関係からキャパシタンス成分を算出し、測定したインダクタンス成分及び算出したキャパシタンス成分が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法。
請求項１に記載の電機子検査方法において、
前記コイルの端子間から前記キャパシタンス成分のみを測定するとともに、その測定したキャパシタンス成分の測定値を基にしてインダクタンスとキャパシタンスとの相関関係からインダクタンス成分を算出し、測定したキャパシタンス成分及び算出したインダクタンス成分が合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断する電機子検査方法。
請求項１〜４のいずれか一項に記載の電機子検査方法において、
前記電機子コアは、前記ティース部毎に周方向分割された分割コアの前記ティース部に導線を巻回して前記コイルが形成されるとともに、環状に配置された前記分割コア同士の端部が接合されて構成されるものであり、
前記コイルの端子間にて測定された前記測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することを特徴とする電機子検査方法。
請求項１〜５のいずれか一項に記載の電機子検査方法において、
前記電機子コアは、ティース部毎に周方向分割された分割コアがハウジングの内周面に圧接固定されて構成されるものであり、
前記コイルの端子間にて測定された前記測定値が既設の合格領域にあるか否かで短絡の有無を判断することを特徴とする電機子検査方法。
請求項１〜６のいずれか一項に記載の電機子検査方法を用いて電機子のコイルの短絡の有無を判定する判定手段を備えたことを特徴とする電機子検査装置。