JP2019124549A - 処理装置および測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】良否の判定に用いる判定領域の変更を確実かつ迅速にしかも直感的に容易に行う。【解決手段】２つのパラメータ（ＬＣおよびＲＣ）をＸ軸およびＹ軸とする平面上に測定対象についての各パラメータの測定値を示すポイントＰをプロットしたときに、ポイントＰが平面上の判定領域Ｆｊ内に属しているか否かによって測定対象の良否を判定するための判定領域Ｆｊを設定する設定処理部と、平面上にポイントＰをプロットした画像および平面上における判定領域Ｆｊを示す判定領域画像Ｇｆを表示部に表示させる表示処理部と、判定領域画像Ｇｆの頂点Ｔを保持した状態で頂点Ｔを平面内で移動させるドラッグ操作が可能な操作部とを備え、表示処理部は、ドラッグ操作に応じて判定領域画像Ｇｆを変形させて表示させる変形処理を実行し、設定処理部は、判定領域画像Ｇｆの変形に応じて判定領域Ｆｊを変更する変更処理を実行する。【選択図】図８

Description

本発明は、測定対象の良否を判定する際の判定領域を設定する処理および判定領域を示す判定領域画像を表示させる処理を実行する処理装置、その処理装置を備えた測定装置に関するものである。

測定対象についてのパラメータを測定する測定装置として、下記特許文献１において出願人が開示したＬＣＲテスタが知られている。このＬＣＲテスタは、外部信号源から出力された測定用交流電圧を被測定試料の両端間に供給しつつ、この試料を流れる交流電流の電流値と、試料の両端間電圧の電圧値とを測定し、各測定値を用いた演算処理によって測定対象（試料）のインダクタンス（以下「Ｌ」ともいう）、キャパシタンス（以下「Ｃ」ともいう）およびレジスタンス（以下「Ｒ」ともいう）等のパラメータを測定可能に構成されている。

また、出願人は、測定対象の良否の判定に用いる判定領域を、２つのパラメータをＸ軸（横軸）およびＹ軸（縦軸）とするＸＹ平面上に設定し、測定対象についての２つのパラメータの測定値を示すＸＹ平面上のポイントがその判定領域内か否かによって測定対象の良否を判定する測定装置を開発している。この測定装置では、処理部が、良品の測定対象について複数回測定した２つのパラメータの各測定値を示す各ポイントをＸＹ平面上にプロットし、各ポイントを全て包含する矩形の範囲を判定領域として設定し、ＸＹ平面上に各ポイントをプロットした画像と、判定領域を示す矩形の判定領域画像とを表示部に表示させる。また、判定部が、ポイントが判定領域内か否かによって測定対象の良否を判定する。また、この測定装置では、処理部が設定した矩形の判定領域画像の４つの頂点の座標を操作部の操作によって変更することにより、判定領域を変更（大きさや形状を変更）することが可能となっている。

実開平６−３０７７９号公報（第１５−１９頁、第１−５図）

ところが、出願人が開発した上記の測定装置には、改善すべき以下の課題がある。具体的には、上記の測定装置では、良品の測定対象について測定したパラメータに基づいて処理部が設定した矩形の判定領域画像の各頂点の座標を操作部の操作によって変更することで、判定領域を変更する構成が採用されている。しかしながら、この構成では、操作が煩雑で判定領域の変更に時間を要し、また判定領域の変更を直感的に行うことが困難であるという課題が存在し、その改善が望まれている。

本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、良否の判定に用いる判定領域の変更を確実かつ迅速にしかも直感的に容易に行い得る処理装置および測定装置を提供することを主目的とする。

上記目的を達成すべく請求項１記載の処理装置は、２つのパラメータを横軸および縦軸とする平面上に測定対象についての当該各パラメータの測定値を示すポイントをプロットしたときに、前記ポイントが前記平面上の判定領域内に属しているか否かによって前記測定対象の良否を判定するための当該判定領域を設定する設定処理部と、前記平面上に前記ポイントをプロットした画像および当該平面上における前記判定領域を示す判定領域画像を表示部に表示させる表示処理部とを備えた処理装置であって、前記判定領域画像の縁部を保持した状態で当該保持した部位を前記平面内で移動させるドラッグ操作が可能な操作部を備え、前記表示処理部は、前記ドラッグ操作に応じて前記判定領域画像を変形させて表示させる変形処理を実行し、前記設定処理部は、前記判定領域画像の変形に応じて前記判定領域を変更する変更処理を実行する。

また、請求項２記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記設定処理部は、矩形の前記判定領域を設定する。

また、請求項３記載の処理装置は、請求項２記載の処理装置において、前記表示処理部は、前記矩形の判定領域を示す判定領域画像の頂点を保持した状態で前記ドラッグ操作がされたときに前記変形処理を実行する。

また、請求項４記載の処理装置は、請求項１記載の処理装置において、前記設定処理部は、円形または楕円形の前記判定領域を設定する。

また、請求項５記載の測定装置は、請求項１から４のいずれかに記載の処理装置と、前記測定対象についての前記各パラメータを測定する測定部とを備えている。

また、請求項６記載の測定装置は、請求項５記載の測定装置において、前記ポイントが前記平面上の判定領域内に属しているか否かによって前記測定対象の良否を判定する判定部を備えている。

請求項１記載の処理装置、請求項５記載の測定装置、および請求項６記載の測定装置では、表示処理部が、判定領域画像の縁部を保持した状態で保持した部位を平面内で移動させるドラッグ操作に応じて判定領域画像を変形させて表示させる変形処理を実行し、設定処理部が、判定領域画像の変形に応じて判定領域を変更する変更処理を実行する。つまり、この処理装置および測定装置では、判定領域画像の縁部を保持してドラッグ操作を行うだけで判定領域を変更することができる。このため、この処理装置および測定装置によれば、判定領域（判定領域画像）の各頂点の座標を変更して判定領域を変更する従来の構成と比較して、判定領域を確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変更することができる。

また、請求項２記載の処理装置、請求項５記載の測定装置、および請求項６記載の測定装置では、設定処理部が、矩形の判定領域を設定する。この場合、２つのパラメータの変化が線形関係にあるときには、各パラメータを横軸および縦軸とする平面上に各パラメータの測定値を示すポイントをプロットしたときに、各ポイントが横軸に対して傾斜する直線に沿って分布する。このため、測定対象の良否を判定する際に用いる判定領域は、その傾斜する直線に沿った矩形の領域であることが好ましい。したがって、この処理装置および測定装置によれば、線形関係にある２つのパラメータの測定値を示すポイントが判定領域内に属しているか否かによって測定対象の良否を判定する際の判定領域として好ましい矩形の判定領域を設定処理部によって自動的に設定させることができ、この判定領域をドラッグ操作によって確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変更することができる。

また、請求項３記載の処理装置、請求項５記載の測定装置、および請求項６記載の測定装置では、表示処理部が、矩形の判定領域を示す判定領域画像の頂点を保持した状態でドラッグ操作がされたときに変形処理を実行する。この場合、判定領域画像の縁部における頂点以外の部位を保持した状態でドラッグ操作したときに変形処理を実行する構成では、判定領域が四角形以外の形状に変更されるおそれがある。これに対して、判定領域画像の頂点を保持した状態でドラッグ操作がされたときに変形処理を実行するこの処理装置および測定装置によれば、四角形を維持したまま判定領域を変更することができる。

また、請求項４記載の処理装置、請求項５記載の測定装置、および請求項６記載の測定装置では、設定処理部が、円形または楕円形の判定領域を設定する。この場合、２つのパラメータを横軸および縦軸とする平面上に各パラメータの測定値を示す複数のポイントをプロットしたときに、各ポイントが円形または楕円形の領域に分布するときには、測定対象の良否を判定する際に用いる判定領域は、円形または楕円形であることが好ましい。したがって、この処理装置および測定装置によれば、このような２つのパラメータの測定値を示すポイントが判定領域内に属しているか否かによって測定対象の良否を判定する際の判定領域として好ましい円形または楕円形の判定領域を設定処理部によって自動的に設定させることができ、この判定領域をドラッグ操作によって確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変更することができる。

測定装置１の構成を示す構成図である。 判定領域設定処理５０のフローチャートである。 判定領域設定処理５０を説明する第１の説明図である。 判定領域設定処理５０を説明する第２の説明図である。 判定領域設定処理５０を説明する第３の説明図である。 判定領域設定処理５０を説明する第４の説明図である。 判定領域設定処理５０を説明する第５の説明図である。 変形処理および変更処理を説明する説明図である。 判定処理を説明する説明図である。 判定領域Ｆｊの他の例を説明する説明図である。 変形処理および変更処理の他の例を説明する説明図である。 判定処理の他の例を説明する説明図である。

以下、処理装置および測定装置の実施の形態について、添付図面を参照して説明する。

最初に、測定装置の一例としての図１に示す測定装置１の構成について説明する。測定装置１は、同図に示すように、信号生成部１１、測定部１２、表示部１３、記憶部１４、操作部１５および処理部１６を備え、測定対象の一例としてのモータの巻線１００についてのパラメータ（後述するＬＣ，ＲＣ）を測定すると共に、パラメータの測定値に基づいて巻線１００の良否を判定可能に構成されている。この場合、表示部１３、記憶部１４、操作部１５および処理部１６によって処理装置が構成される。

信号生成部１１は、一例として、直流電圧源、スイッチおよびコンデンサ（いずれも図示せず）を備えて構成され、測定部１２の指示に従って測定用のインパルス電圧を生成する。

測定部１２は、信号生成部１１によって生成されたインパルス電圧が巻線１００に印加されたときに巻線１００の両端部に生じる電圧信号を検出すると共に、その電圧信号に基づいて２つのパラメータを測定（算出）する測定処理を実行する。具体的には、測定部１２は、予め決められた時間間隔の各時点における電圧信号の電圧値を特定する。また、測定部１２は、巻線１００と巻線１００に接続された信号生成部１１の上記コンデンサとによって構成される回路をＲＬＣ直列回路と見なしたときの等価回路におけるレジスタンスをＲ、インダクタンスをＬ、キャパシタンスをＣとして、２つのパラメータに相当するＬＣ（ＬとＣとの乗算値：パラメータの１つに相当する）およびＲＣ（ＲとＣとの乗算値：パラメータの他の１つに相当する）の値を、各電圧値から算出する。この場合、測定部１２は、一例として、擬似逆行列を用いた式からＬＣ，ＲＣの値を算出する。

表示部１３は、処理部１６の制御に従い、処理部１６によって実行される判定処理の結果や、図８に示す画像Ｇ１を表示する。この場合、画像Ｇ１には、ＬＣ，ＲＣ（２つのパラメータ）の一方（例えばＬＣ）を横軸（以下「Ｘ軸」ともいう）とすると共に他方（例えばＲＣ）を縦軸（以下「Ｙ軸」ともいう）とする平面（以下「ＸＹ平面」ともいう）上にＬＣ，ＲＣの測定値を示すポイントＰをプロットした画像が含まれている。また、画像Ｇ１には、ポイントＰが属しているか否かによって巻線１００の良否を判定するためのＸＹ平面上の判定領域Ｆｊを示す判定領域画像Ｇｆが含まれている。

記憶部１４は、測定部１２によって測定されたＬＣ，ＲＣの測定値を記憶する。また、記憶部１４は、処理部１６によって実行される後述する判定領域設定処理５０（図２参照）において設定される判定領域Ｆｊを示す判定領域データＤｆを記憶する。

操作部１５は、各種のボタンやキーを備え、処理部１６に対する各種の処理の実行を指示する操作が可能に構成されている。また、操作部１５は、マウス等のポインティングデバイスを備え、上記した画像Ｇ１内の判定領域画像Ｇｆの頂点Ｔ（縁部の一例：図８参照）を保持した状態で頂点Ｔ（保持した部位）を画像Ｇ１におけるＸＹ平面内で移動させるドラッグ操作が可能に構成されている。

処理部１６は、操作部１５から出力される操作信号に従って各種の処理を実行する。具体的には、処理部１６は、設定処理部として機能し、図２に示す判定領域設定処理５０を実行して、巻線１００の良否を判定する際に用いる判定領域Ｆｊを設定する。また、処理部１６は、表示処理部として機能し、上記した画像Ｇ１を表示部１３に表示させる表示処理を実行する。また、処理部１６は、表示部１３に画像Ｇ１を表示させている状態において、上記したドラッグ操作がされたときに、ドラッグ操作（保持した部位の移動方向および移動量）に応じて判定領域画像Ｇｆを変形させて表示部１３に表示させる変形処理を実行する。また、処理部１６は、判定領域画像Ｇｆの変形に応じて判定領域Ｆｊを変更する変更処理を実行する。さらに、処理部１６は、判定部として機能し、測定部１２によって測定された巻線１００についてのＬＣ，ＲＣ（２つのパラメータ）の測定値を示すポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属しているか否かによって巻線１００の良否を判定する判定処理を実行する。

次に、測定装置１を用いて測定対象としてのモータの巻線１００についてのＬＣ，ＲＣ（パラメータ）を測定し、その測定値に基づいて巻線１００の良否を判定する方法について図面を参照して説明する。

測定対象としての巻線１００の良否を判定するのに先立ち、測定装置１を用いて判定領域Ｆｊを設定する。この判定領域Ｆｊの設定では、まず、測定対象としての巻線１００と同種の巻線１００であって、良品であることが知れている巻線１００（以下「サンプル巻線１００」ともいう）が組み込まれたモータを用意し、測定装置１を用いて、サンプル巻線１００についてのＬＣ，ＲＣを測定する。具体的には、サンプル巻線１００の両端に信号生成部１１の出力端子（図示せず）を接続し、次いで、操作部１５を操作して測定の開始を指示する。続いて、処理部１６が、操作部１５から出力された操作信号に従い、測定部１２を制御して測定処理を実行させる。

この測定処理では、測定部１２は、信号生成部１１にインパルス電圧を生成させる。この際に、生成されたインパルス電圧がサンプル巻線１００に印加される。また、測定部１２は、インパルス電圧の印加によってサンプル巻線１００の両端部に生じる電圧信号を検出する。次いで、測定部１２は、予め決められた時間間隔の各時点における電圧信号の電圧値を特定する。続いて、測定部１２は、サンプル巻線１００とサンプル巻線１００に接続された信号生成部１１の上記したコンデンサとによって構成されるＲＬＣ等価回路におけるＬＣ，ＲＣの値を、例えば擬似逆行列を用いた式から算出する。次いで、処理部１６が測定部１２によって算出されたＬＣ，ＲＣの値（測定値）を記憶部１４に記憶させる。

続いて、モータの回転子を任意の回動量（角度）だけ回動させ、次いで、上記した手順でＬＣ，ＲＣを測定して測定値を記憶部１４に記憶させる。以下、回転子の回動量を変えつつ、ＬＣ，ＲＣの測定を複数回行い（測定処理を複数回実行し）、各測定値を記憶部１４に記憶させる。以上により、サンプル巻線１００についてのＬＣ，ＲＣの測定が終了する。

続いて、操作部１５を操作して判定領域設定処理５０の実行を指示し、処理部１６が、操作信号に従って図２に示す判定領域設定処理５０を実行する。この判定領域設定処理５０では、処理部１６は、各測定処理によって測定されたＬＣ，ＲＣの測定値を記憶部１４から読み出す（ステップ５１）。

次いで、処理部１６は、図３に示すように、ＬＣをＸ軸としＲＣをＹ軸とするＸＹ平面上に、ＬＣ，ＲＣの測定値を示す（ＬＣの測定値をＸ座標とし、ＲＣの測定値をＹ座標とする）ポイントＰをプロットする（ステップ５２）。なお、ステップ５２から後述するステップ６０において説明する処理部１６による「ポイントＰのプロット」、「直線Ａの描画」、「領域Ｆ１，Ｆ２および判定領域Ｆｊの描画」および「ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属しているか否かの判別」等の処理は、処理部１６が仮想的に行う処理であり、図３〜図７に示す画像は、処理部１６が仮想的に行う処理を概念的に図示している。

ここで、上記したように、各測定処理においてモータの回転子の回動量を異ならせたことにより、回動量に応じてＲＬＣ等価回路特性が変化し、ＬＣ，ＲＣの測定値が回転子の回動量毎に異なることとなる。また、このように回動量を異ならせて複数回行った測定処理において測定したＬＣ，ＲＣをそれぞれ示す各ポイントＰをＸＹ平面上にプロットしたときには、図３に示すように、各ポイントＰがＸ軸に対して傾斜する直線Ｏに沿って分布する（つまり、ＬＣ，ＲＣの変化が線形関係にある）ことが知られている。

続いて、処理部１６は、図４に示すように、各ポイントＰをそれぞれ質量が互いに等しい質点としたときの各質点で構成される質点系の重心Ｃを特定する（ステップ５３）。次いで、処理部１６は、同図に示すように、各ポイントＰのうちの重心から最も遠いポイントＰ（以下「ポイントＰ１」ともいう）を特定する（ステップ５４）。続いて、処理部１６は、同図に示すように、重心ＣとポイントＰ１との間の直線距離（以下「直線距離Ｌ１」ともいう）を特定する（ステップ５５）。

次いで、処理部１６は、図５に示すように、重心ＣとポイントＰ１とを通る直線（以下「直線Ａ」ともいう）を特定（具体的には、Ｘ軸に対する直線Ａの傾斜角度θを特定）する（ステップ５６）。続いて、処理部１６は、図６に示すように、各ポイントＰのうちの直線Ａに直交する直交方向（同図に示す矢印Ｂの方向）に沿って直線Ａから最も遠いポイントＰ（以下「ポイントＰ２」ともいう）を特定する（ステップ５７）。次いで、処理部１６は、同図に示すように、ポイントＰ２と直線Ａとの間の直線距離（以下「直線距離Ｌ２」ともいう）を特定する（ステップ５８）。

続いて、処理部１６は、図７に示すように、直線Ａに平行で直線距離Ｌ１の２倍の長さの２つの辺（以下「辺Ｓ１」ともいう）と、各辺Ｓ１に対して直角をなして直線距離Ｌ２の２倍の長さの２つの辺（以下「辺Ｓ２」ともいう）とで構成されて重心Ｃを図心とするＸＹ平面上の矩形（長方形や正方形）の領域Ｆ１を特定する（ステップ５９）。次いで、処理部１６は、同図に示すように、領域Ｆ１の周囲に枠状の領域Ｆ２を加えた矩形の領域を判定領域Ｆｊとして設定して判定領域Ｆｊを示す判定領域データＤｆを記憶部１４に記憶させて（ステップ６０）、判定領域設定処理５０を終了する。この場合、領域Ｆ２は、測定誤差等を考慮して領域Ｆ１を拡げる（判定領域Ｆｊに余裕を持たせる）ための領域であって、一例として、辺Ｓ１に沿った方向の幅が辺Ｓ１の長さの５％程度の幅で、辺Ｓ２に沿った方向の幅が辺Ｓ２の長さの５％程度の幅に規定されている。以上により、判定領域Ｆｊの設定が終了する。

ここで、処理部１６が判定領域設定処理５０を実行することによって自動的に設定された判定領域Ｆｊを変更したいときがある。例えば、図７に示すように、サンプル巻線１００について複数回測定したＬＣ，ＲＣを示す複数のポイントＰのうちの、同図における右側上部に分布するポイントＰが判定領域Ｆｊにおける右の長辺側に偏っていて、判定領域Ｆｊ内における各ポイントＰの分布状態のバランスが悪いとには、判定領域Ｆｊにおける右の長辺の傾斜角度を減少させるように判定領域Ｆｊを変形することで、右側上部に分布するポイントＰと判定領域Ｆｊにおける右側の長辺との間隔が広がり、各ポイントＰの分布状態のバランスを改善することができる。この測定装置１では、このような判定領域Ｆｊの変形を容易に行うことが可能となっている。

上記した判定領域Ｆｊの変形を行うときには、操作部１５を操作して、変形処理の実行を指示する。これに応じて、処理部１６が変形処理を実行する。この変形処理では、処理部１６は、サンプル巻線１００についてのＬＣ，ＲＣの各測定値、および判定領域データＤｆを記憶部１４から読み出す。次いで、処理部１６は、図８に示すように、ＬＣをＸ軸とすると共にＲＣをＹ軸とするＸＹ平面上にＬＣ，ＲＣの各測定値を示す各ポイントＰをプロットした画像、および判定領域データＤｆによって特定される判定領域Ｆｊを示す矩形の判定領域画像Ｇｆを含む画像Ｇ１を表示部１３に表示させる。また、処理部１６は、画像Ｇ１内に操作部１５（ポインティングデバイスとしてのマウス）の操作によって移動するマウスポインターＭｐを表示させる。

次いで、操作部１５を操作して、図８に示すように、判定領域画像Ｇｆ（同図に破線で示す判定領域画像Ｇｆ）における例えば右上の頂点Ｔ（縁部の一例）にマウスポインターＭｐを移動させる。続いて、クリック操作によって頂点Ｔを保持した状態で、任意の向き（この例では、右下の向き）に任意の距離だけマウスポインターＭｐと共に頂点Ｔを移動させるドラッグ操作を行う。

これに応じて、処理部１６は、図８に示すように、移動前（ドラッグ操作前）の判定領域画像Ｇｆ（同図に破線で示す判定領域画像Ｇｆ）を、移動後の頂点Ｔを新たな頂点Ｔとする新たな四角形の判定領域画像Ｇｆ（同図に実線で示す判定領域画像Ｇｆ）に変形して表示部１３に表示させる。次いで、処理部１６は、判定領域Ｆｊを、変形処理後の新たな判定領域画像Ｇｆに対応する新たな判定領域Ｆｊに変更する変更処理を実行し、変更後の判定領域Ｆｊを示す判定領域データＤｆを記憶部１４に記憶させる。以上により、新たな判定領域Ｆｊの設定が終了する。

上記したように、この測定装置１では、判定領域画像Ｇｆの頂点Ｔを保持してドラッグ操作を行うだけで判定領域Ｆｊを変更することが可能となっている。このため、この測定装置１では、判定領域Ｆｊ（判定領域画像Ｇｆ）の各頂点Ｔの座標を変更して判定領域Ｆｊを変更する従来の構成と比較して、判定領域Ｆｊを確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変形することが可能となっている。

次に、測定対象としての巻線１００についてのＬＣ，ＲＣを測定する。具体的には、上記した手順と同様にして、測定対象の巻線１００が組み込まれたモータにおける巻線１００の両端に信号生成部１１の出力端子を接続し、続いて、操作部１５を操作して測定の開始を指示する。次いで、測定部１２が処理部１６の制御に従って上記した測定処理を実行してＬＣ，ＲＣの値を算出し、処理部１６がＬＣ，ＲＣの測定値を記憶部１４に記憶させる。以上により、測定対象の巻線１００についてのＬＣ，ＲＣの測定が終了する。なお、モータの回転子の回動量を変えつつ、測定処理を複数回実行し、各測定値を記憶部１４に記憶させてもよい。

次いで、操作部１５を操作して判定処理の実行を指示し、処理部１６が、操作信号に従って判定処理を実行する。この判定処理では、処理部１６は、測定対象としての巻線１００についてのＬＣ，ＲＣの測定値を記憶部１４から読み出し、続いて、図９に示すように、ＬＣ，ＲＣの測定値を示すポイントＰをＸＹ平面上にプロットすると共に、ＸＹ平面に判定領域Ｆｊを描画する。また、処理部１６は、同図に示すように、ＸＹ平面にポイントＰをプロットした画像と判定領域Ｆｊを示す判定領域画像Ｇｆ（実線の画像）とを含む画像Ｇ１を表示部１３に表示させる。

次いで、処理部１６は、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属しているか否かを判別し、その結果に基づいて測定対象の巻線１００の良否を判定する。この場合、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属していると判別したときには、測定対象の巻線１００を良品と判定し、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属していないと判別したときには、測定対象の巻線１００を不良と判定する。

この際に、上記したように変形処理によって判定領域Ｆｊを変形したことにより、図９に示すように、変更処理前の判定領域Ｆｊ（同図に破線で示す判定領域Ｆｊ）との比較では、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属していないと判別されて不良と判定される巻線１００が、変更処理後の判定領域Ｆｊ（同図に実線で示す判定領域Ｆｊ）との比較では、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属していると判別されて良品と判定される。このように、判定領域Ｆｊを適正に変更することで、本来良品と判定されるべき巻線１００が不良と判定される事態を防止することが可能となる。

このように、この処理装置および測定装置１では、処理部１６が、判定領域画像Ｇｆの縁部を保持した状態で保持した部位をＸＹ平面内で移動させるドラッグ操作に応じて判定領域画像Ｇｆを変形させて表示させる変形処理を実行すると共に判定領域画像Ｇｆの変形に応じて判定領域Ｆｊを変更する変更処理を実行する。つまり、この処理装置および測定装置１では、判定領域画像Ｇｆの縁部を保持してドラッグ操作を行うだけで判定領域Ｆｊを変更することができる。このため、この処理装置および測定装置１によれば、判定領域Ｆｊ（判定領域画像Ｇｆ）の各頂点Ｔの座標を変更して判定領域Ｆｊを変更する従来の構成と比較して、判定領域Ｆｊを確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変更することができる。

また、この処理装置および測定装置１では、処理部１６が、矩形の判定領域Ｆｊを設定する。この場合、２つのパラメータの変化が線形関係にあるときには、ＸＹ平面上に各パラメータの測定値を示す複数のポイントＰをプロットしたときに、各ポイントＰがＸ軸に対して傾斜する直線Ｏに沿って分布する。このため、測定対象の良否を判定する際に用いる判定領域Ｆｊは、直線Ｏに沿った矩形の領域であることが好ましい。したがって、この処理装置および測定装置１によれば、線形関係にある２つのパラメータの測定値を示すポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属しているか否かによって測定対象の良否を判定する際の判定領域Ｆｊとして好ましい矩形の判定領域Ｆｊを処理部１６によって自動的に設定させることができ、この判定領域Ｆｊをドラッグ操作によって確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変更することができる。

また、この処理装置および測定装置１では、処理部１６が、矩形の判定領域Ｆｊを示す判定領域画像Ｇｆの頂点Ｔを保持した状態でドラッグ操作がされたときに変形処理を実行する。この場合、判定領域画像Ｇｆの縁部における頂点Ｔ以外の部位を保持した状態でドラッグ操作したときに変形処理を実行する構成では、判定領域Ｆｊが四角形以外の形状に変更されるおそれがある。これに対して、判定領域画像Ｇｆの頂点Ｔを保持した状態でドラッグ操作がされたときに変形処理を実行するこの処理装置および測定装置１によれば、四角形を維持したまま判定領域Ｆｊを変更することができる。

なお、処理装置および測定装置は、上記の構成に限定されない。例えば、ＬＣを横軸（Ｘ軸）としＲＣを縦軸（Ｙ）とする例について上記したが、ＲＣを横軸（Ｘ軸）としＬＣを縦軸（Ｙ）とする構成を採用することもできる。

また、判定領域画像Ｇｆの縁部としての頂点Ｔを保持してドラッグ操作したときに変形処理を実行する例について上記したが、頂点Ｔ以外の縁部を保持してドラッグ操作したときに変形処理を実行する構成を採用することもできる。

また、２つのパラメータとしてＬＣ，ＲＣを測定し、ＬＣ，ＲＣについての判定領域Ｆｊを設定する例について上記したが、２つのパラメータは、ＬＣ，ＲＣに限定されず、２つのパラメータを横軸および縦軸とする平面上において一方のパラメータの変化に伴う他方のパラメータの変化が直線的に表される線形関係にある各種のパラメータについての判定領域Ｆｊを設定する際に適用することができる。一例として、モータに供給する電力の値およびモータの出力（仕事）のように、一方のパラメータの値が増加するとそれに比例して他方のパラメータの値が線形的に増加するような２つのパラメータについての判定領域Ｆｊを設定する際に適用することができる。

また、２つのパラメータの一方の変化に伴う他方の変化が直線的ではない（線形関係にない）各種のパラメータについての判定領域Ｆｊを設定する際に適用することもできる。この場合、例えば、ＸＹ平面上に各パラメータの測定値を示す複数のポイントＰをプロットしたときに、各ポイントＰが円形または楕円形の領域に分布するときには、上記したように、矩形の判定領域Ｆｊを設定したり、その判定領域Ｆｊを示す矩形の判定領域画像Ｇｆを表示させたりする構成に代えて、円形または楕円形の判定領域Ｆｊを設定したり、その判定領域Ｆｊを示す円形または楕円形の判定領域画像Ｇｆを表示させたりする構成を採用することができる。

具体的には、例えば、特定の周波数帯の入力信号に対してのみ反応して検出信号を出力するセンサの良否を判定する際に、図１０に示すように、入力信号の周波数ｆをＸ軸とすると共に検出信号の電圧値ＶをＹ軸とするＸＹ平面上に、良品の複数のセンサ（サンプル）について測定した周波数ｆおよび電圧値Ｖの各測定値を示すポイントＰをプロットして、これに基づいてポイントＰが含まれる円形（または楕円形の）判定領域Ｆｊを設定しその判定領域Ｆｊを示す判定領域画像Ｇｆを含む画像Ｇ１を表示させることができる。また、図１１に示すように、このようにして表示させた画像Ｇ１内の判定領域画像Ｇｆ（同図に破線で示す判定領域画像Ｇｆ）の縁部における任意の部位を保持してドラッグ操作して変形処理を実行させることによって判定領域画像Ｇｆを変形させ（同図に実線で示す判定領域画像Ｇｆ）、変更処理を実行させることによって同図に破線で示す判定領域Ｆｊを同図に実線で示す判定領域Ｆｊに変更することができる。

この構成においても、図１２に示すように、同図に破線で示す判定領域画像Ｇｆを変形処理によって同図に実線で示す変形処理後の判定領域画像Ｇｆに変形させ、同図に破線で示す判定領域Ｆｊを変更処理によって同図に実線で示す判定領域Ｆｊに変更することで、変更処理前の判定領域Ｆｊ（同図に破線で示す判定領域Ｆｊ）との比較では、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属していないと判別されて不良と判定されるセンサが、変更処理後の判定領域Ｆｊ（同図に実線で示す判定領域Ｆｊ）との比較では、ポイントＰが判定領域Ｆｊ内に属していると判別されて良品と判定される。このように、判定領域Ｆｊを適正に変更することで、本来良品と判定されるべきセンサが不良と判定される事態を防止することが可能となる。

また、この構成においても、判定領域画像Ｇｆの縁部を保持してドラッグ操作を行うだけで判定領域Ｆｊを変更することができる。このため、この構成によれば、判定領域Ｆｊ（判定領域画像Ｇｆ）の縁部の座標を変更する等の操作によって判定領域Ｆｊを変更する構成と比較して、判定領域Ｆｊを確実かつ迅速にしかも直感的に容易に変更することができる。

また、判定領域Ｆｊ（判定領域画像Ｇｆ）の形状は、矩形、矩形以外の四角形、円形および楕円形に限定されず、任意の形状に規定することができる。

１ 測定装置
１２ 測定部
１３ 表示部
１５ 操作部
１６ 処理部
１００ 巻線
Ｆｊ 判定領域
Ｇｆ 判定領域画像
Ｐ ポイント

Claims (6)

1. ２つのパラメータを横軸および縦軸とする平面上に測定対象についての当該各パラメータの測定値を示すポイントをプロットしたときに、前記ポイントが前記平面上の判定領域内に属しているか否かによって前記測定対象の良否を判定するための当該判定領域を設定する設定処理部と、前記平面上に前記ポイントをプロットした画像および当該平面上における前記判定領域を示す判定領域画像を表示部に表示させる表示処理部とを備えた処理装置であって、
   前記判定領域画像の縁部を保持した状態で当該保持した部位を前記平面内で移動させるドラッグ操作が可能な操作部を備え、
   前記表示処理部は、前記ドラッグ操作に応じて前記判定領域画像を変形させて表示させる変形処理を実行し、
   前記設定処理部は、前記判定領域画像の変形に応じて前記判定領域を変更する変更処理を実行する処理装置。
2. 前記設定処理部は、矩形の前記判定領域を設定する請求項１記載の処理装置。
3. 前記表示処理部は、前記矩形の判定領域を示す判定領域画像の頂点を保持した状態で前記ドラッグ操作がされたときに前記変形処理を実行する請求項２記載の処理装置。
4. 前記設定処理部は、円形または楕円形の前記判定領域を設定する請求項１記載の処理装置。
5. 請求項１から４のいずれかに記載の処理装置と、前記測定対象についての前記各パラメータを測定する測定部とを備えている測定装置。
6. 前記ポイントが前記平面上の判定領域内に属しているか否かによって前記測定対象の良否を判定する判定部を備えている請求項５記載の測定装置。

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